Фотометрическое почернение

Основное достоинство метода фотометрического интерполирования заключается в том, что получаемый с его помощью градуировочный график должен быть прямолинеен, а его параметры не должны зависеть от свойств применяемой фотоэмульсии. Это обстоятельство позволяет при работе пользоваться постоянным градуировочным графиком, что существенно ускоряет анализ, особенно, если учесть, что все оценки относительной интенсивности линий выполняются визуально, при просмотре спектрограмм на экране спектропроектора. Возможно также применение метода в варианте, предусматривающем измерение почернений на микрофотометре. Производительность метода при этом, естественно, снижается, однако точность результатов возрастает. [c.120]

На рис. VI. 24 приведены кривые фотометрирования по кругу и радиусу рентгенограммы. Значения /р + ф отсчитывают от темповой отметки до фотометрической кривой. Темповая метка соответствует интенсивности света, прошедшего через непрозрачное место пленки, и практически равна нулю. Для нахождения /ф под кривой фотометрирования по радиусу проводят плавную линию FF, которая и определяет фон рентгенограммы (рис. VI. 24,6). По условию фотометрирования /ф равна отрезку ВО. Пересчитав интенсивности прошедшего через рефлекс света на почернение Еп по формуле (VI. 9), строят кривую зависимости — ф (рис. VI. 25, а). Пло- [c.194]

При анализе металлов широко применяются метод трех эталонов, метод постоянного графика, а также метод фотометрического интерполирования. Большое внимание уделяется подготовке пробы. На результаты анализа влияют форма, размеры и степень обработки поверхности площадки, которая подвергается действию искры, форма самого об )азца, его механические и физические свойства. Кроме того, для получения точных результатов должны более строго соблюдаться условия гомологичности аналитических линий. Как правило, элементом сравнения служит основной компонент сплава. Градуировочные графики строятся большей частью в координатах относительная интенсивность или относительное почернение — логарифм концентрации. На положение и наклон градуировочных графиков влияют состав сплава и условия проведения анализа. [c.116]

Метод фотометрического интерполирования несколько ускоряет определение относительной интенсивности по сравнению с другими методами, но имеет обычно меньшую точность. Его можно использовать независимо от того, в какой области характеристической кривой лежат почернения линий. Но наибольшая точность достигается при работе в области нормальных почернений. [c.184]

Рентгенографическое определение величины кристаллов основано на том, что ширина полос на рентгенограмме зависит от величины участков вещества с упорядоченным расположением атомов. Чем больше эти участки, тем уже и резче выражены полосы на рентгенограмме. Для измерения ширины полос с рентгенограммы снимают фотометрическую кривую, т. е. кривую интенсивности почернения фотоэмульсии на рентгенограмме. Затем по кривой находят ширину полос. Для этого существует несколько способов и соответствующих формул расчета величины кристаллов. Этот метод применим для определения величины кристаллов в пределах 20—300 А. Для более крупных кристаллов ширина полос остается практически неизменной. [c.206]

Радиоактивные лучи, попадая в фотографическую эмульсию, оказывают на молекулы галогенидов серебра такое же действие, как и лучи видимой части спектра. И так же, как и в случае обычного фотографического процесса, количество восстановленного серебра пропорционально интенсивности облучения. Таким образом, степень экспонирования фотопластинки пропорциональна количеству радиоактивных лучей, попавших на фотоэмульсию. В настоящее время имеют-( ся прецизионные методы определения степени почернения пластинок (фотометрия), с помощью которых можно надежно измерять интенсивность облучения. Тем не менее, в химии фотографические методы регистрации радиоактивного излучения имеют ограниченное применение, потому что достаточно точным этот метод может быть лишь при работе с большими активностями. Фотометрические методы поэтому с успехом применяются в дозиметрии радиоактивного излучения (см. гл. 9). [c.115]

Для расчета кривых распределения определяются относительные значения плотностей рентгеновского почернения по кругу (рис. 4.27) путем микрофотометрирования рентгенограмм (в пределах углов от О до 180°). По измеренным значениям АВ микро-фотометрической кривой (рис. 4.28) и известной величине сдвига (в мм), соответствующей Г, вычисляется угол полушироты Н [c.87]

Авторадиограммы можно также рассчитать количественно, используя фотометрическое определение почернения и сравнивая его со стандартами [671. Авторадиография предназначена главным образом для простого обнаружения радиоактивных веществ на хроматограммах и совместно с радиометрическими методами служит для установления однородности и идентичности изучаемых веществ. [c.674]

Способ фотометрического интерполирования состоит в том, что спектры образцов фотографируют через ступенчатый ослабитель и при помош,и спектропроектора. или лупы визуально определяют, какие ступеньки двух линий аналитической пары будут иметь одинаковые почернения. Ступенчатый ослабитель — это кварцевая или стеклянная пластинка, которая устанавливается перед щелью прибора. На эту пластинку напыляют тонким слоем металлическую платину в виде параллельных полос разной толщины. Пройдя через такие полосы, свет ослабляется. В прилагаемом к ИСП-28 ступенчатом ослабителе имеется 9 ступенек первая и девятая имеют 100% пропускания. [c.183]

Пользуясь ступенчатым ослабителем, можно измерять непосредственно отношение интенсивностей двух близко расположенных линий, не прибегая к измерениям с микрофотометром, а визуально сопоставляя почернения ступенек. Такой прием измерений называют методом фотометрического интерполирования. Он основан на том, что равенство почернений двух линий одного и того же спектра, близких по длине волны, наступает при равенстве освещенностей (интенсивностей), поскольку время экспозиции для них одно и то же. На рис. 126 схематически изображены обе сравниваемые линии. [c.210]

Для фотометрических работ наибольший интерес представляет область нормальных почернений. Иногда, однако, приходится пользоваться и областью недодержек. [c.197]

В монохромной фотометрии применяются визуальные и объективные способы. В данной работе используются объективные способы фотографического фотометрирования, в которых для измерения плотности почернения применяются микрофотометры. Визуальные способы фотометрирования используются при работе со стилоскопом и стилометром, а также при фотометрическом интерполировании (см. 35 и 37). [c.222]

Измерение интенсивности спектральных линий. Методику фотографического метода спектрального анализа можно было бы значительно упростить, если бы можно было непосредственно измерять интенсивность спектральных линий. Тогда процентное содержание элемента в пробе определялось бы по однажды построенному графику зависимости отношения интенсивностей спектральных линий от его концентрации. Однако неоднократно предпринимавшиеся попытки трансформирования кривых почернений в кривые интенсивностей с помощью различного рода шаблонов — механических [21.1], электромеханических [21.2], электронно-механических [21.3] и фотометрических [21.4 21.5], построенных на усредненной характеристической кривой, не привели к удачному [c.190]

Клиновые ослабители известны давно [1 ], однако определение точек одинакового почернения пары линий производилось визуально поэтому получаемая точность была невысока (порядка 10%). Применение фотометрического кубика позволило [21.6— 21.8] снизить ошибку при измерении интенсивности пары линий до 4—5%. Применение фотоэлектрического микрофотометра позволит еще более повысить точность измерений. [c.191]

Фотометрический метод более точен, чем визуальный, так как он дает возможность учитывать большее количество факторов и более объективен. Почернения линий, определяемые микрофотометром, переводятся в интенсивности, как это делается в оптическом спектральном анализе, с использованием зависимости 5 = /(/). Кроме того, микрофотометр позволяет оценить ширину линии изотопа основы и примесного элемента. [c.106]

В16. Е л а 1 d II., Фотометрическое определение редких изотопов. (Относительное содержание изотопов и атомный вес никеля. Известный метод, описанный в ссылке В. 15, модифицирован с целью провести точное сравнение между распространенными и редкими изотопами. Использовали ионный источник с постоянным током кривая почернения фотографической пластинки может быть неизвестной.) Там же, pp. 686—696. [c.603]

Для ускоренного оиределения фосфора в сталях можно использовать метод сравнения линий, обычно применяемый при работе со стилоскопом. В данном случае сравниваются почернения (под спектропроектором рассматривают мокрую пластинку). Преимущество такого варианта перед способом фотометрического интерполирования — возможность увеличить производительность работы, так как на фотопластинку можно сфотографировать большее число спектров. [c.65]

Чувствительной пробой на присутствие сероводорода, применяемой в промышленности природных и синтетических газов, является реакция с уксуснокислым свинцом [293, 356—358], позволяющая обнаруживать 0,0127 г НгЗ в I м газа [357]. Недавно была опубликована принципиальная схема автомата-анализатора для НгЗ. Автомат-анализатор основан на фотометрическом определении степени почернения киноленты с эмульсией, пропитанной раствором уксуснокислого свинца в буферном растворе (pH 6,7). Прибор позволяет непрерывно [c.39]

Метод фотометрического интерполирования. Это способ визуального фотографического фотометрирования. Он основан на очевидном принципе от двух неравных интенсивностей /] и 2 одинаковой длины волны можно получить равные почернения, если ослабить их соответственно в р1 и рг раз [c.112]

В методе фотометрического интерполирования используется свойство глаза количественно оценивать равенства или неравенства почернений спектральных линий (визуальное фотометрирование). [c.73]

Следует отметить, однако, что обычно наблюдаются различия в оценке одинаковых почернений фотометрическим и визуальным способами. Так, кажущееся почернение линий зависит как от профиля линии (резкая или диффузная), так и от окружающих линий. Обычно почернение линии кажется меньще истинного, если рядом расположена интенсивная линия. [c.51]

Кривую lg с, ДУ, полученную с помощью описанного выше метода, называют первичным градуировочным графиком [1а]. Этот график обычно линеен в области двух-трех порядков величины концентраций, если для анализа как следует выбраны условия возбуждения, дисперсия прибора, пары линий, способы фотометрического измерения и преобразования почернений. [c.76]

Количественную оценку спектрограмм начинают с фотометрического измерения. Цель этой первой основной операции заключается в определении интенсивности сигналов, используемых для калибровки эмульсии, т. е. в определении точных величин почернений аналитических линий, линий сравнения, фона и контрольных линий. [c.100]

Реостат лампы держать постоянно введенным полностью, увеличивая накал лишь на 10—20 сек при оценке почернения линий (при проведении оценки почернений методом фотометрического интерполирования, работа 16). [c.146]

Цель работы. Нахождение линий искомого элемента в пробе, визуальная оценка почернения выбранных спектральных линий и анализ стали методом фотометрического интерполирования. [c.181]

Возможно количественное определение лития и рубидия путем фотометрической оценки почернения соответствующих спектральных линий на спектрофотометре МФ-2. В качестве линий сравнения можно пользоваться линиями калия или фотометрировать по почернению фона около аналитических линий. Градуировочный график строят по данным фотометрической оценки почернения выбранных линий в спектрах эталонов. [c.347]

Для изменения экспозиции Н = И (люкс на единицу площади) можно варьировать как освещенность I, так и время экспозиции /, но вследствие невзаимозаместимости получаются неадекватные результаты. Поэтому варьируют освещенность при постоянном например с помощью ступенчатого сенситометрического клина, имеющего 20 полей с константой 0,15 каждое. Так получают всю шкалу экспозиции. После проявления при постоянных условиях с помощью денситометра фотометрически определяют оптическую плотность О — — 1 Г, где Т — пропускание проявленного серебра (почернение) или образованного цветного изображения. Часть / кривой характеризует область оптической плотности вуали (Во), которая возникает в неосвещенных фотоматериалах после проявления в виде слабого равномерного почернения (рис. II. 14, а). Между участками / и // лежит область недодержек, которая возникает при фотографировании теневых деталей объекта. Относительно прямолинейный участок 11 — 111 показывает область пропорциональной передачи, тангенс угла а его наклона к оси логарифмов экспозиций дает коэффициент контрастности у = ос. Участок кривой, начинающийся от 111, отвечает области передержки, участок IV дает максимальную плотность Омакс, которая у позитивных фотоматериалов может достигать значений больше 3. При еще большей экспозиции V наблюдается уменьшение О (соляризация). Желаемый интервал экспозиций получают из нужной части характеристической кривой. [c.76]

При фотометрических задачах, в том числе, следовательно, и количественном спектральном анализе, работа, однако, ведётся при довольно больших почернениях, лежащих в нормальной области характеристической кривой. Поэтому здесь мерой чувствительности должна служить интенсивность света, соответствующая достижению определённого почернения — обычно принимается =1,0 или S = 0,5. [c.130]

Кстати, наши данные, полученные в результате промеров микро-фотометрических кривых (после их пересчета от почернений на истинные интенсивности) совершенно совпадают с теми, которые получаются, если в основание расчета положить кривую интенсивности Кя .2 меди, полученную Аллисоном ионизационным методом. [c.38]

Область нормальных почернений начинается около 0,3—0,4 единиц оптической плотности. Таким образом, интервал почернений, в пределах которого ведутся фотометрические измерения, равен —2,0. Разность lg Н. —lg Я,, соответствующая точкам максимального В) и минимального (Л) почернения прямолинейной части характеристической кривой, называется широтой эмульсии. Широта эмульсии характеризует отношение максимального количества освещения к минимальному, которое может быть передано фотоэмульсии в прямолинейной части характеристической кривой. Из уравнения (4) широта эмульсии равна [c.171]

Электронограмма паров исследуемого вещества представляет собой фотопластинку с системой диффузных концентрических колец различной плотности почернения. Заключительной стадией эксперимента является фотометрирование — измерение светопропуска-ния электронограммы по радиусу дифракционной картины. Результаты фотометрических измерений позволяют рассчитать интенсивность рассеяния электронов / в зависимости ог координаты 8=(4ту>.)зт(0/2), где X — длина волны электронов 0 — угол рассеяния. [c.279]

Метод фотометрического интерполирования. В основу метода положена возможность получить одинаковые почернения на фотопластинке, обусловленные двумя линиями разной интепсивио- [c.102]

Методически задача рентгенографического определения степени кристалличности сводится к измерению интенсивности дифракционного спектра неориентированного образца и его делению на составные части, соответствующие аморфной и кристаллической фракциям полимера. Самым ответственным моментом в рентгенографическом анализе является правильное и для всех образцов одинаковое определение площади, соответствующей кристаллической и некристаллической (аморфной) частям полимера на микро-фотометрической кривой. Выполнение этой операции в случае полиморфных веществ сопряжено с большими трудностями, так как не удается получить при нормальных условиях чисто аморфный полимер. В случае полипропилена подобных затруднений не возникает, поскольку для некристаллической фракции можно точно определить максимум интенсивности почернения на микрофотоме-трической кривой, равно как и изменение интенсивности почернения, если степень кристалличности изменяется в зависимости от диапазона измеряемых углов [7, 41]. [c.72]

Для ускоренного определения фосфора в сталях можно использовать метод сравнения линий, аналогичный стилоскопическому. В данном случае сравнивать почернения, рассматривая под спект-ропроектором мокрую пластинку. Преимущество такого варианта перед способом фотометрического интерполирования заключается в возможности увеличения производительности работы, так как на фотопластинку можно сфотографировать большее число спектров. Аналитические признаки приведены в табл. 23. [c.143]

Основные способы регистрации спектров в АЭС — фотоэлектрический и фотохимический (фотографический). Для массовых полуколичественных анализов используют приборы с визуальной регистрацией спектров (стилоскопы). Детекторами для фотоэлектрической регистрации служат фотоэлектрические преобразователи — устройства, преобразующие световой поток в электрический сигнал (фотоэлементы, фотоэлектронные умножители, фотодиоды). При этом величина электрического сигнала щ)опорциональна интенсивности светового потока, падающего на детектор. Наиболее распространенные фотохимические детекторы — это фотопластинки или фотопленки. В этом случае интенсивность светового потока определяет величину почернения (оптической плотности) изображения спектральной линии на пластинке (пленке). Величину почернения измеряют фотометрическим методом (см. разд. 11.4). [c.241]

Анализ шлаков и агломератов. Определяют содержание SIO2, СаО, Ре бщ. в пределах от нескольких процентов до нескольких десятков процентов, а содержание МпО, MgO, AljOg в пределах от нескольких десятых до 10—20%, пользуясь линиями атомных спектров соответствующих металлов и кремния. При построении градуировочных графиков по оси абсцисс откладывают концентрации или логарифмы концентраций их окислов в эталонах. Обычно точный анализ характеризуется относительной квадратичной ошибкой 2—5% в зависимости от определяемого элемента. Анализ продолжается 0,5 ч с применением фотометрического интерполирования или же 2 ч с измерением почернений микрофотометром. Для экспрессного анализа часто прибегают к фотоэлектрической регистрации продолжительность анализа 7—15 мин. [c.257]

На одну пластинку фотографируется ряд спектров исследуемого раствора в слоях различной толщины от 1 мм до Ю см (обычно для этой цели имеется соответствующий набор стандартных кювет). Пользуясь призмой Тюфнера или другим фотометрическим устрой-ством одновременно и рядом с каждым спектром раствора снимается для сравнения спектр растворителя, ослабленный в несколько раз специальным ослабляющим приспособлением чаще всего вращающимся сектором. Затем определяются места равных почернений в каждой паре спектров, и коэфициент поглощения раствора вычисляется по уравнениям (1) или (2). [c.8]

Для ускоренного оиределения кремния в интервале 0,01 — 0,10% при выплавке углеродистой (кипящей) стали, кроме метода фотометрического интерполирования, описан способ оценки интенсивности линий, аналогичный применяемому при работе со стилоскопо м (способ разработан в фотографическом варианте [67]. При этом используется трехступенчатый ослабитель и сравниваются почернения линий на разных ступеньках. Учитывая, что пропускаемость различных экземпляров ослабителей неодинаковая и условия возбуждения спектров не тождественны, аналитические признаки, приведенные в работе [67], по-видимому, следует откорректировать применительно к условиям лаборатории. [c.62]

Часто применяют метод определения относительной интенсивности линий без помоши микрофотометра — фотометрическое интерполирование. Для этого каждый спектр фотографируется через девятиступенчатый ослабитель, соблюдая при этом все предосторожности, указанные выше. Рассматривая увеличенное изображение спектра с помощью микроскопа или спек-тропроектора, выбирают такие ступеньки для аналитической линии и линии сравнения, которые "имеют одинаковые почернения (рис. 122). Зная, во сколько раз ослаблена линия соответствую- [c.201]

Второй этап Р. а. требует знания интенсивности дифракционных пятен. При фотографич. способе регистрации рентгеновских лучей значения интенсивности определяются визуально (сравнением с эталонами почернения) либо фотометрически. При диф-ракциометрическом методе регистрации непосредственно измеряют интенсивности дифракционных максимумов. [c.330]

Как уже указывалось на стр. 101, кассеты многих спектрографов предусматривают изгибание пластинок. Это заставляет использовать пластинки с толщиной стекла порядка 1,2—1,7 мм, подобрать которые иногда бывает трудно. С этой точки зрения может иметь преимущества применение фотоплёнок. С помощью специально разработанной рецептуры клея плёнка наклеивается на стекло необходимой толщины, и в таком виде производится съёмка спектра, проявление, фиксирование и сушка плёнки ). Затем плёнка снимается, и стекло может быть использовано для наклеивания следующей плёнки (при этом одйн и тот же слой клея может быть последовательно использован для приклеивания 8 —12 плёнок). Исследование фотометрических свойств позитивных плёнок чувствительности 9 по А и D показало большую однородность их, нежели пластинок, что обусловлено иной технологией полива эмульсии. Фактор констрастности этих плёнок постоянен в области 2500—3000 А и равен 1. Область нормального почернения простирается от 5 = 0,5 до 5 = 2,4. [c.139]

Использование мокрых пластинок с целью ускорения анализа возможно лишь при визуальной оценке почернения (метод фотометрического интерполи- [c.142]

Спектр образца, зарегистрированный на одной экспозиции, интерпретировали визуально. Линии масс-спектра сравнивали с подходящими линиями из серии возрастающих экспозиций, набранных на фотографических пластинах обычным порядком. Сравниваемые линии должны соответствовать ионам одной и той же или близкой массы. Фотометрическая расшифровка спектра одиночной экспозиции аналогична той процедуре, которая производится обычно, за исключением того, что вместо обычных денси-тометрических калибровочных кривых используется зависимость области почернения линии от интенсивности ионного тока. Калибровочные кривые проводятся для каждой определяемой массы или производится нормировка ширины изображения в зависимости от массы. Калибровочные кривые можно построить по результатам измерения линии одного изотопа, зарегистрированной на нескольких экспозициях, или нескольких изотопов на одной экспозиции. Результаты анализа методом единичной экспозиции пленок, полученных анодированием образцов из алюминиевого сплава, приведены в табл. 9.11. [c.323]

Сплошная кривая — фотометрическая кривая, пунктирная — та же кривая пооле пересчета от почернений к истинным интенсивностям Оо — истинная полуширина спектральной линии. [c.57]