Приборы для измерения луче

Определение показателя преломления вещества сводится обычно к-измерению предельного угла преломления нд границе жидкость— стекло . Рассмотрим рис. 4.3. Допустим,-среда I — это жидкость, показатель преломления которой n нужно измерить среда II — стекло призмы с показателем преломления ti2 ( i и щ — показатели преломления по отношению к воздуху). Вторая среда оптически более плотная, чем первая, значит П2>П и угол преломления меньше угла падения. С увеличением угла падения увеличивается и угол преломления. Когда угол падения равен 90°, луч света скользит по поверхности раздела. Если же угол падения несколько меньше 90°, то луч претерпевает преломление и попадает в зрительную трубу прибора. Этот луч назыв-ается предельным лучом, а угол преломления — предельным углом преломления. [c.72]

Градуировка радиометра (интенсиметра) по р - л у ч а м. Устанавливают датчик переносного радиометра или интенсиметра (например, прибора типа Луч ) на расстоянии 10 см от источника Р-излучения активностью в 3— 5 мккюри. Записывают показания прибора. Повторяют измерения при расстояниях в 20, 30 и 40 см. от источника. Для каждого расстояния рассчитывают величину мощности дозы, создаваемой источником р-излучения (6—IV). Строят градуировочную кривую, откладывая по осям показания прибора и вычисленную мощность дозы. [c.268]

На фиг. 371 показана схема электропневматического регулирующего милливольтметра (Хартман и Браун), включенного в цепь термопары для измерения температуры. Экран регулирующего милливольтметра на стрелке прибора перекрывает луч света, направленного на фотоэлемент 2. При засвечивании фотоэлемента, включенного параллельно сопротивлению в цепь управляющей сетки трехэлектродной лампы, появляется ток в цепи фотоэлемента, в результате чего имеет место падение напряжения на сопротивлении 3, а также отрицательное смещение на управляющей сетке уменьшается, и лампа [c.471]

Применение радиоактивных изотопов ограничено их долговечностью. Практически трудно вести с ними исследования, продолжительность которых (включая конечное измерение активности) превышает больше чем в 10 раз полупериод их распада. С другой стороны, несмотря на высокую чувствительность радиоактивных измерений, работа с очень долговечными изотопами затрудняется их слабым излучением. Большинство широко применяемых для индикации радиоактивных изотопов имеет полупериоды в пределах от часов до тысяч лет. Другое существенное условие их удобного применения связано с жесткостью излучения. Почти все употребительные искусственные радиоактивные изотопы являются - или у-излучателями., 8-Лучи легко поглощаются и лишь при энергии выше 0,3—0,5 Мэв достаточно хорошо проходят через стенки обычных счетных трубок или ионизационных камер. При энергии -лучей порядка 0,15—0,3 Мэв нужно применять трубки с очень тонкими окошками, например торцовые, а при измерении малоактивных препаратов надо вводить последние внутрь трубки или камеры. Это во всех случаях необходимо при работах с радиоактивным изотопом водорода — тритием, дающим особенно мягкое 3-излучение в 0,018 Мэв. Гораздо легче проходят через стенки измерительных приборов у-лучи, но многие широко применяемые радиоактивные изотопы не являются у-излу-чателями или не имеют у-лучей с достаточно пригодной для измерений характеристикой. [c.197]

Первые исследования радиоактивного излучения. Способность радиоактивных излучений разряжать электроскоп была вскоре объяснена ионизацией молекул воздуха это явление было в то время изучено Дж. Дж. Томсоном и другими учеными в связи с исследованиями Х-лучей. Использование величины ионизации воздуха в качестве меры интенсивности излучения было развито в метод исследования радиации, который оказался более точным, чем применявшийся на первых порах фотографический метод. Новый метод широко применялся в лаборатории Кюри, где ионизационные токи измерялись с помощью электрометра. В 1899 г. свойства радиоактивного излучения начал изучать Резерфорд, используя аналогичный прибор. Измерения поглощения лучей в металлических фоль-гах показали, что излучение состоит из двух компонент. Одна компонента поглощалась слоем алюминия толщиной в несколько тысячных сантиметра и была названа а-излучением вторая компонента заметно поглощалась приблизительно в 100 раз более толстым слоем алюминия и получила название р-излучения. [c.13]

В первый класс условно относят приборы, служащие для эффективного измерения лучей, с максимальной энергией около [c.163]

Принципиальная схема измерения уровня жидкости при помощи радиоактивных изотопов показана на фиг. 47. В аппарате 1 находится жидкость, уровень которой может изменяться. В жидкость в специальном тугоплавком колпачке 2 помещают некоторое количество радиоактивного изотопа с большим периодом полураспада. На наивысшем возможном уровне жидкости расположен прибор-счетчик 3 лучей, излучаемых данным изотопом. Импульсы, поступающие на счетчик, усиливаются и при помощи автоматического потенциометра 4 могут быть записаны или показаны на вторичном [c.120]

Количество испаряемого продукта по нагревателю задается скоростью падения капель. Прибор фиксирует температуру не паров, а оставшейся жидкости. Для измерения температуры остатка в испарителе имеется хро-мель-копелевая термопара, которую вставляют в испаритель до упора и закрепляют. Капли, пересекая луч осветителя фотодатчика, вызывают в цепи фотодиода электрические импульсы, пропорциональные частоте падения капель, поступающих на электронный регулятор блока управления. Электронный регулятор преобразует [c.91]

Применяя электронные приборы, можно повысить точность регулирования давления до 0,1 мм рт, ст. Ртутный манометр можно заменить манометром, заполненным какой-либо высококипящей, электропроводной и дегазированной жидкостью, что обеспечивает повышение чувствительности прибора примерно в 10 раз. При этом разность давлений в 1 мм рт. ст. будет соответствовать разнице уровней жидкости в 10—13 мм. Наименьшее давление, измеряемое с помощью прибора, в этом случае определяется давлением паров заполняющей жидкости. В жидкостном манометре Дубровина, который основан на фотоэлектрическом методе измерения, на фотоэлемент направляют тонкий световой пучок. При увеличении давления в аппаратуре поплавок, всплывая, перекрывает луч света, и неосвещаемый фотоэлемент включает через реле вакуумный насос [42 ] . [c.444]

Спектры ДОВ и КД измеряются методом, имеющим много общего со спектрофотометрией. Поэтому на точность измерения аналогично влияют неправильная калибровка монохроматора, большая ширина выходной щели монохроматора, скорость записи спектра, наличие случайных световых лучей в приборе, флуоресценция исследуемого образца. [c.44]

Некоторые вещества, например полимеры, можно исследовать в виде тонких пленок, которые помещают на пути луча. Иногда пленки можно получить непосредственно на пластинке из хлорида натрия испарением растворителя, расплавлением вещества или его напылением в вакууме. Даже непрозрачная для видимого света пленка может пропускать ИК-излучение в достаточной степени, чтобы записать ее спектр. Однако для количественных измерений в пленках трудно контролировать толщину образца, а также потери на рассеяние света. В спектрах пленок часто наблюдаются интерференционные полосы, которые могут налагаться на полосы исследуемого вещества. При образовании пленки молекулы могут ориентироваться определенным образом, поэтому при частичной поляризации ИК-излучения в приборе (особенно с дифракционной решеткой) может наблюдаться зависимость спектра от положения образца в луче. [c.209]

Величины деформации образца и нагрузки на него измеряются при помощи зеркала 10 и шкал 13 следующим образом. Лучи света осветителя 12 отражаются от зеркал измерения деформации и силы и дают на матовых шкалах соответственно два зайчика. При работе прибора зеркала поворачиваются на углы, пропорциональные для одного зеркала — деформации образца, для другого — пружине. Соответственно этому перемещаются и зайчики на шкале. Величина перемещения зайчика тем больше, чем больше расстояние до шкалы. [c.109]

Как следует из уравнения (3.19), для увеличения разрешающей силы необходимо создать условия, обеспечивающие максимальную разность хода интерферирующих лучей. Такие условия, например, реализуются в устройстве, состоящем из двух полупрозрачных зеркал, параллельных друг другу. Этот прибор, названный эталоном Фабри-Перо , является основным прн изучении сверхтонкой структуры спектральных линий и широко используется во всем мире. Неудобство применения эталона Фабри-Перо заключается в том, что он может работать только в узком спектральном интервале длин волн и поэтому всегда должен использоваться в сочетании с более грубыми спектральными приборами, производящими предварительную монохрома-тизацию, т. е. выделение нужного узкого исследуемого участка спектра. Второй недостаток — узкий динамический диапазон измерений интенсивностей линий, что определяется поглощением света в пластинах или зеркальных покрытиях. [c.69]

При установлении оптической оси зрительной трубы перпендикулярно выходной грани призмы, т. е. совмещении ее с направлением падающего луча, очевидно, отсчет по лимбу микрометра (должен быть равен нулю. Однако в силу по грешностей в изготовлении прибора реально это условие не вьшолняется, и (при указанном положении трубы отсчетное устройство (показывает некоторый угол 0о, называемый нулевой точкой призмы. При измерении у(гла р эту нулевую точку надо-вычитать из показаний Щ(калы 0 Р = 0—0о. [c.184]

В настоящее время эти проблемы решены различными способами. Повышены интенсивность источников излучения и чувствительность детекторов. По существу, эти части установок для кругового дихроизма могут быть одинаковыми с таковыми в спектро-поляриметрах для измерений дисперсии оптического вращения. В связи с тем, что неизвестно такое дихроичное вещество, для которого один из коэффициентов поглощения е или бг был бы очень мал, принципиальным является узел прибора для формирования лучей с круговой поляризацией. Для этого используется так называемая четвертьволновая пластинка. [c.197]

Схема прибора для измерения кругового дихроизма показана на рис. IX.5. Источником света служит ксеноновая лампа высокого давления. Далее луч света проходит монохроматор и поляризатор. После формирования луча с круговой поляризацией в блоке четвертьволновой пластинки он пропускается через кювету с веществом. Поглощение регистрируется фотоумножителем и далее записывающей системой. Для каждого значения v (или X) в интервале от 185 до 600 нм получают //, h, la и, соответственно, е/. Er и Е или Ae(v) = E/(v)—Er(v) и е. Обычно измеряют Ae(v). При этом [c.200]

Для образца со степенью ориентации 300—500 % получают рентгенограмму по методике, описанной в работе VI. 2. Полученную рентгенограмму фотометрируют на микрофотометре с помощью приставки, позволяющей вращать рентгенограмму вокруг центра в горизонтальной плоскости. На экваторе рентгенограммы выбирают интенсивную дугу, расположенную возможно ближе к пятну от первичного пучка. Вращая рентгенограмму, измеряют по визуальной шкале изменение интенсивности прошедшего через рефлекс пучка света, причем измерения проводят через каждые 5°. Поскольку почернение дифракционного пятна определяется не только рассеянием рентгеновских лучей упорядоченно расположенными областями, но и некогерентным рассеянием, то фон, им обусловленный, необходимо исключить. Распределение фона на пленке от центра к периферии определяют фотометрированием по радиусу рентгенограммы в направлении, в котором отсутствуют рефлексы, обусловленные когерентным рассеянием. Фотометрирование по кругу и меридиану обязательно проводят при одинаковой настройке прибора. Почернение собственно дифракционного пятна в каждой точке дуги Еп рассчитывают по формуле [c.194]

Переносной универсальный радиометр Луч-А предназначен для обнаружения радиоактивных загрязнений поверхности аппаратуры, одежды, пола, мебели и т. п. Он может питаться от сети переменного тока или от сухих батарей, В качестве детекторов излучения применяют торцовый счетчик Гейгера — Мюллера для измерения мягкого р-излучения (с энергией не ниже 0,15 Мэе), цилиндрический счетчик Гейгера — Мюллера для измерения жесткого р-излучения и уизлучения. Шкала прибора калибрована на четыре диапазона в имп/сек. [c.344]

Второй тип — двухлучевой регистрирующий прибор он идеально подходит для качественного изучения спектра. Однако этот прибор менее точен и потому менее подходит для количественного анализа, чем однолучевой. В зависимости от регистрирующего устройства спектр получается непосредственно в процентах пропускания или поглощения. Одним из недостатков двухлучевого прибора является необходимость измерения поглощения вблизи сильного поглощения эталона. Для двухлучевых приборов в этой области интенсивность обоих лучей приближается к нулю, и поэтому энергии, достигающей приемника, недостаточно для предотвращения дрейфа. Этот недостаток можно устранить при работе с однолучевым прибором. Для снятия УФ-спектров обычно пользуются серийными, выпускаемыми промышленностью спектрофотометрами СФ-4А и СФД-2, СФ-4 и др. [c.203]

Фотоэлектроколориметр ФЭК-М имеет стеклянную оптику, прозрачную только для лучей видимого участка спектра. В качестве источника излучений служит лампа накаливания (вольфрамовая лампа), дающая излучение в видимой части спектра. Селеновые фотоэлементы чувствительны только к, излучениям видимого участка спектра. Следовательно, данный прибор пригоден для измерений в интервале 400— 700 нм. Кроме того, для работы в этом интервале прибор снабжен тремя светофильтрами с полушириной пропускания 80—100 нм (см. рис. 68) и поэтому его используют только при определении концентрации. Он непригоден для изучения спектров поглощения. [c.247]

Второй метод ускорения эксперимента — замена последовательного измерения отражений в обычных дифрактометрах одновременным измерением многих дифракционных пучков с помощью специальных устройств. В настоящее время разработаны так называемые многоканальные дифрактометры, оснащенные системой из нескольких (трех или пяти) параллельно перемещаемых счетчиков, которые регистрируют дифракционные лучи, возникающие одновременно (или почти одновременно) на разных слоевых линиях в процессе вращения кристалла. Эти приборы предназначены специально для кристаллов с большими периодами повторяемости, т. е. [c.79]

В световой луч вводят кювету с анализируемым раствором, поглощающим излучение данной длины волны, вследствие чего уменьшается фототок. Вращением отсчетного потенциометра уменьшают компенсирующее напряжение до тех пор, пока стрелка миллиамперметра не станет снова на нуль. Шкала отсчетного потенциометра градуирована в единицах оптической плотности и в процентах светопропускания. Как правило, выбирают длину волны, соответствующую максимуму полосы поглощения, благодаря чему достигается наибольшая чувствительность и точность определения. Устройство спектрофотометра и техника измерения на нем более подробно описаны в инструкции, прилагаемой к каждому прибору. [c.83]

Градуировка радиометра (интенсимет-р а) по у-лучам. Устанавливают датчик переносного радиометра или интенсиметра (например, прибора типа Луч ) на расстоянии 10 см от источника у-излучения активностью 1—2 мг-экв радия. Записывают показания прибора. Повторяют измерения на расстояниях в 30, 50, 70, 90, 110, 130 и 150 см. Для каждого расстояния рассчитывают величину мощности дозы, создаваемой источником у-излучения (10—IV). Строят градуировочную кривую, откладывая по абсциссе показания прибора, а по оси ординат — вычисленную мощность дозы. [c.268]

Фотоэлектроколориметр ФЭК-М имеет стеклянную оптику, прозрачную только для лучей видимого участка спектра. В качестве источника излучений служит лампа накаливания (вольфрамовая лампа), дающая излучение в видимой части спектра. Селеновые фотоэлементы, детекторы лучш той энергии, чувствительны также только к излучениям видимого участка спектра. Следовательно, на данном приборе измерения проводят в интервале [c.110]

Для измерения -лучей препаратов меченых атомов целесообразно вводить электроскоп внутрь камеры, что Рис. 82. Ионизационная камера с элект- уменьшает емкость приборя И ПОВЫ-роскопом Лауритсена. - [c.218]

Для измерения -лучей в практике работ с мечеными атомами часто применяют простой и удобный электроскоп Лауритсена, монтированный внутрь ионизационной камеры. Он имеет преимущества перед счетчиками. частиц при измерении высоких активностей, для которых счетчики менее удобны. Кроме того, в отличие от счетчиков, он дает суммарную активность, так что случайные флюктуации усредняются уже самим прибором. [c.218]

Проходящий через гальванометр 7 ток отклоняет зеркальце тем сильнее, чем больще сила тока. Отраженный зеркальцем луч света оставляет на фото бумаге тонкую линию, видимую после проявления. Таким образом прибор авто матически записывает вольт-амперную кривую вместе с рядом параллельно рас положенных вертикальных линий, расстояние между которыми равно 1 см, т. е соответствует увеличению напряжения на 0,1 (или на 0,2) в. На рис. 67 изобра жена полученная полярограмма и показан способ измерения высоты полярогра фической волны (отрезок h), по величине которой определяют концентрадию соответствующего иона в растворе. [c.454]

Ионизационный метод основан на измерении ионизирующего эффекта, вызванного излучением. В качестве датчиков, позволяющих обнаружить эффект, сопровождающий прохождение излучения через вещество, служат в o noBfiOM ионизационные камеры и газоразрядные счетчики. Этими приборами можно регистрировать не только заряженные частицы, но и гамма-лучи и нейтроны. [c.59]

Рефрактометр типа Аббе отечественной конструкции ИРФ-22 предназначается для непосредственного измерения показателя преломления жидких и твердых тел в интервале 1,3 —1,7 для линий с точностью до 2-10 ) а также для измерения средней дисперсии этих тел с точностью до 1,5-10 " Оптическая схема прибора состоит из визирной и отсчетной систем. Визирная система. Лучи света от зеркала 1 (рис. V. 7) направляются в осветительную призму 2, проходят тонкий слой исследуемой жидкости, измерительную нризму 5, защитное стекло 4, компенсатор 5 и попадают в объектив б далее, преломляясь в призме 7, проходят пластинку 8 с перекрестием и через окуляр 9 попадают в глаз наблюдателя. [c.83]

Последовательность выполнения работы. 1. Включить лампочку прибора. 2. Включить трансформатор отсчетного приспособления и установить корректором шкалу на ноль. 3. Установить начальную длину волны по таблице, прилагаемой к прибору. 4. Установить на пути луча света кювету с растворителем. 5. Открыть затвор 5 (см. рис. 20) и сделать отсчет по шкале отсчетного приспособления.Закрыть затвор. 6. Осторожно г ереместнть столик с кюветами, поставив на пути луча света кювету с раствором, открыть затвор и произвести отсчет по шкале отсчетного приспособления. Закрыть затвор. 7. Изменить положение барабана длин волн и произвести измерение интенсивности света, сначала прошедшего через кювету с раствором, а затем — через кювету с растворителем. Аналогично производятся измерения интенсивностей при всех заданных длинах волн. 8. Рассчитать оптические плотности, если необходимо, коэффициенты погашения при всех длинах волн. [c.34]

ПОЛЯРИМЕТРИЯ — метод физикохимического исследования, основанный на измерении вращения плоскости поляризации света оптически активными веществами. Чаще всего такими веществами являются органические соединения с асимметрическим атомом углерода. Измерения производят с помощью поляриметров — оптических приборов, в которых луч света последовательно проходит через систему двух поляризующих призм. Благодаря пропорциональности, существующей между углом вращения и концентрацией оптически активного вешества, поляриметрические измерения используют для количественного определения оптически активного вещества. П. является основным методом контроля в сахарной промышленности по величине угла вращения определяют содержание сахара в растворе. Методы П. используются также для анализа эфирных масел, алкалоидов, антибиотиков и др. Большое значение имеет поляриметрический метод исследования в органической химии, где на основании определения знака и величины вращения плоскости поляризации можно судить о химическом строении и пространственной конфигурации соединения, делать выводы о механизме реакций и др. Для этого в последнее время особенно успешно используется спектрополяри-метрия. [c.201]

Экспериментальные установки обычйо сочетают проведение в одной и той же вакуумной камере Оже-спектроскопии и измерений дифракции электронов низкой энергии. В результате получается информация как о химическом составе поверхности, так и о ее атомной структуре. Для изучения геометрической структуры поверхности используют электронный сканирующий микроскоп. Принцип действия этого прибора аналогичен передаче телевизионного изображения, только здесь на исследуемый объект направляется сфокусированный пучок электронов, а детектируется интенсивность отраженных электронов, которая затем передается на экран электронно-лучевой трубки. Движение сфокусированного пучка электронов вдоль исследуемого образца синхронизовано с движением луча электронно-лучевой трубки, в результате чего на ее экране получается изображение изучаемой поверхности. Разрешение современных сканирующих микроскопов составляет 5—10 нм. [c.86]

Приборы для измерения показателя преломления жидкости. Показатель преломления жидкости измеряют методом визуальных наблюдений при помощи оптического прибора, называемого рефрактометром. Принцип действ ия рефрактометра основан на использовании преломления. или полного внутреннего отражения светового луча, проходящего через границу раздела двух прозрачных веществ. Первое вещество по направлению распространения луча света является оптичесми более плотной средой, чем второе. [c.12]

Для измерения силы тока, проходящего через электролизер во время полярографирования, применяют зеркальный гальванометр с чувствительностью 10 а на 1 мм1м. Гальванометр установлен на кронштейне на высоте приблизительно 1,5 м от поверхност ) стола, на котором расположен полярограф. Зеркальная шкала гальванометра укрепляется на уровне глаз работающего так, чтобы луч света, отраженный от зеркальца гальванометра, падал на середину шкалы. Для понижения чувствительности гальванометра (при сравнительно больших концентрациях растворов анализируемых веществ) имеется шунт. Включение и установка его на определенную чувствительность проводится при помощи соответствующей ручки на панели прибора. [c.156]

После выходной щели лучи проходят через кювету 7 с растворителем или кювету 8, содержащую исследуемый раствор, и падают на фотоэлемент 9. Кюветы имеют кварцевые окошки. Перед фотоэлементом расположена шторка, которая дает возможность перекрывать поток света, падающий на фотоэлемент. Прибор снабжен двумя вакуумными фотоэлементами кислородноцезиевым — для измерений в области спектра от 650—1100 нм и сурьмяноцезиевым — для измерений в области спектра 220—650 нм. Соответствующий фотоэлемент устанавливают специальной рукояткой. При освещении фотоэлемента в нем возникает фототок, величина которого пропорциональна световому потоку, падающему на [c.255]

Скоро удалось построить приборы (приборы Лауэ, Браггов, Дебая и Шерера и др.), с помощью которых можно получить спектры рентгеновских лучей для почти всех известных элементов. Для этого делают антикатод из того металла, спектр которого желают исследовать, или на антикатод из платины (вольфрама) наносят слой соединения исследуемого элемента. Прямыми измерениями удалось исследовать рентгеновские спектры атомов, начиная от натрия и кончая ураном. [c.30]

При съемке кристаллов белков, нуклеиновых кислот и других объектов с очень большими параметрами решетки, когда общее число отражений достигает нескольких десятков или сотен тысяч, а также при съемке кристаллов, нестабильных во времени или разлагающихся под действием рентгеновского излучения, возникает необходимость ускорения рентгеновского эксперимента. Один из естественных методов ускорения — повышение мощности рентгеновских трубок, в частности использование трубки с вращающимся анодом или переход к другим источникам мощного у-излучения. Второй метод — замена последовательного измерения отражений в обычных дифрактометрах одновременным измерением многих дифракционных пучков с помощью специальных устройств. В настоящее время разработаны так называемые многоканальные дифрактометры, оснащенные системой из нескольких (трех или пяти) параллельно перемещаемых счетчиков, которые регистрируют дифракционные лучи, возникающие одновременно (или почти одновременно) на разных слоевых линиях в процессе вращения кристалла. Эти приборы предназначены специально для кристаллов с большими периодами. В стадии технического совершенствования находятся в принципе более перспективные координатные детекторы, как олтномерные, так и двумерные. Одномерный координатный детектор позволяет измерять интенсивность всех дифракционных лучей одной слоевой линии (в том числе возникающие одновременно) с регистрацией угловой координаты (а следовательно, и индексов) каждого луча. Аналогичным образом двумерный координатный детектор позволяет регистрировать дифракционные лучи всех слоевых линий. [c.64]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология