Контура линии измерение

Пробу отобранной реакционной массы в количестве 6—10 мл вводят в хроматографическую колонку и записывают хроматограммы. Площадь пиков (мм ) определяют как произведение высоты пика и его ширины, измеренной по половине высоты (полуширины). Высота измеряется с помощью линейки, а полуширина — лупой с ценой деления 0,1 мм от внешнего контура линии одной стороны пика до внутреннего контура другой. [c.113]

Плош д > пика каждого компонента (мм ) — произведение высоты пика и его ширины, измеренной на половине высоты. Высота определяется с помощью линейки, а полуширина — лупой с ценой деления 0,1 мм от внешнего контура линии одной стороны пика до внутреннего другой. [c.119]

При проведении измерений на расстоянии 1 м от наружного контура машины точки измерений располагают на измерительной поверхности вдоль двух линий измерений, в вертикальной и горизонтальной плоскостях. Точки измерений не должны располагаться на расстоянии менее 1 м от ограждений и поверхностей соседних машин и менее 2 м от углов помещения. Высота распо- [c.209]

В этом случае АА, измеряется долями ангстрема. Поэтому приборы высокого разрешения являются спектральными приборами узких спектральных интервалов. Они требуют предварительной монохроматизации. Приборная ширина б А сравнима с физической шириной линии в разряде. Это и дает возможность использовать такой прибор для точных измерений длин волн или контуров спектральных линий. Основную долю ширины контура линии составляет физическая ширина спектральной линии в разряде, в то время как в призменном или дифракционном спектральном приборе небольшой дисперсии, наоборот, приборная ширина [c.167]

Однако можно этого и не делать, если измеряется лишь ширина спектральной линии, а распределение интенсивности в линии по контуру несущественно. Для измерений могут быть использованы приборы МФ-2 или МФ-4. Построив характеристическую кривую фотопластинки и измерив / ,ах кольца, можно с помощью характеристической кривой найти почернение 5 в контуре линии, [c.177]

На рис. 15,6 показаны контуры линии Нр, полученные из этого снимка. Видно, что вследствие сильного самопоглощения измерения концентрации ионов будут давать завышенные результаты. Поэтому в этом случае измерения концентрации следует проводить по крылу линии Нр, т. е. сравнивая крыло экспериментального контура линии с крылом теоретического контура [9, 19]. [c.211]

Погрешности измерений. Зная контур линии поглощения, можно по приведенным выше формулам определить любую ее характеристику. [c.336]

Второй упрощенный метод определения эквивалентной ширины линии, так называемый метод широкой щели [13.3], не требует интегрирования контуров линий поглощения. В этом случае используется независимость измеренной величины. 4 от разрешающей способности прибора. Операция интегрирования световых потоков по контуру линии проводится широкой выходной щелью монохроматора, через которую на фотоэлектрический приемник попадает участок сплошного спектра с линией поглощения в середине. [c.343]

Эта дополнительная информация тоже способствует повышению точности. Поэтому, например, градуировочные графики, построенные по результатам измерений площади, ограниченной контуром аналитической линии на регистрограмме, имеют больший угол наклона и лежат выше, чем обычные графики, построенные по почернениям линий в максимуме. Предел обнаружения элемента в этом случае снижается примерно вдвое (рис. 15). Даже визуальная оценка контура линии на регистрограмме, производившаяся с помощью специального шаблона [1067], позволяет заметно снизить предел обнаружения. Все это является следствием того факта, что интегральная фотографическая плотность в более широком интервале, чем обычные почернения в максимуме контура линии, пропорциональна интегральной интенсивности аналитической линии и концентрации определяемого элемента [1011]. [c.59]

Как отмечалось в ряде работ [244, 506, 319], повышение линейной дисперсии и разрешающей способности спектральных приборов имеет смысл, пока разрешаемый спектральный интервал больше физической полуширины линии в источнике возбуждения спектра. Вопрос о выборе оптимальных параметров спектрографа при учете собственной ширины линии в источнике света был подробно рассмотрен в работе 1217]. На рис. 22 представлена полученная расчетным путем зависимость относительного предела обнаружения от приведенной разрешающей силы спектрографа (приведенная разрешающая сила, по определению авторов [121/], есть отношение разрешающей силы спектрографа к разрешающей силе, необходимой для разрешения контура линии, / прив = Я/кь, где кь — Х/ЬК). Как видно из рис. 22, при ширине щели спектрографа, близкой к нормальной, величина предела обнаружения-оказывается обратно пропорциональной разрешающей способности вплоть до значений / = 2RL. Согласно измерениям физической полуширины аналитических линий различных элементов, величина Яь при использовании дугового и искрового возбуждения спектров достигает значений 100—120-10 и, таким образом, максимальная полезная разрешающая сила спектральных приборов должна составлять 200 ООО—300 ООО. [c.74]

Рис. 15. Установление предела обнаружения олова в чистой сурьме /-визуальная оценка наличия аналитической линии на спектрограммах 2 —по результатам измерений почернений линий на спектрограммах 5 — по высоте пика аналитической линии на регистрограммах 4 —по площади контура линии на регистрограммах 5 —визуальная оценка регистрограмм с помощью специаль ного шаблона [10671.

Таким образом, независимо от условий эксперимента и причин, обусловливающих ту или иную форму контура линии поглощения, интегральный коэффициент поглощения непосредственно связан только с произведением Nf. В том случае, когда одна из этих величин известна, представляется возможность измерения другой величины. [c.29]

Насколько предпосылки, положенные в основу этого метода измерения поглощения, выполняются в реальных условиях, мы обсудим позднее. Сейчас же необходимо отметить, что в принципе непосредственное измерение коэффициента поглощения в определенной точке контура линии значительно упрощает методику определений и расчет результатов анализа, поскольку коэффициент поглощения в этом случае пропорционален концентрации атомов в поглощающем слое независимо от того, какими причинами обусловлена форма контура. Поэтому для аналитических целей предложенный Уолшем метод безусловно предпочтительнее описанных выше методов измерения интегрального коэффициента поглощения или полного поглощения. [c.38]

Действительно, определение интегрального коэффициента поглощения требует применения приборов высокой разрешающей силы, позволяющих регистрировать контур атомных линий. Измерение интеграла связано с фотомет-рированием контура всей линии и графическим интегрированием, что существенно осложняет и удлиняет процедуру измерений. Определение полного поглощения не требует применения высокоразрешающей аппаратуры, и измерительная операция проста. Однако величина полного поглощения в зависимости от интервала определяемых оптических плотностей различным образом связана с концентрацией атомов, причем вид этой зависимости (положение кривых роста ) определяется условиями опыта, в частности величиной а = (Ау /Ауд) ]/1п2. Кроме того, как мы увидим далее, чувствительность метода при использовании источника непрерывного спектра на два порядка ниже, чем при использовании линейчатого источника света. [c.38]

Зависимость ширины резонансных линий металлов от силы тока и рода газа [8]. Соответствующие измерения проводились путем интерферометрической регистрации контуров линий с помощью интерферометра Фабри — Перо типа ИТ-28-30, скрещенного с зеркальным монохроматором ЗМР-3. Блок-схема установки представлена [c.73]

Интерферометрические измерения контура линии Не 3369 А, возбуждаемой в лампе подобной конструкции, показывают, что при потребляемой ВЧ-генератором мощности 32 вт полуширина линии при охлаждении жидким азотом на 0,036 сж меньше, чем без охлаждения. При температуре неохлажденного электрода 400° К эта разница соответствует изменению температуры на 250° К. Таким образом, температура внутри охлаждаемого жидким азотом (7 кип = 77°К) электрода лампы составляет 150° К, т. е. отличается от температуры стенок катода всего на 70° К. [c.88]

В экспериментальной технике [63] для получения контуров линий используется очень сложный и дорогой интерферометр Фабри—Перо. Этот метод распространен и на измерение скоростей и давлений выхлопных газов ракеты [64]. [c.408]

Оценка разрешающей способности. Методы измерения разрешающей способности решеток сводятся к определению разности длин волн двух близко расположенных спектральных линий приблизительно равной интенсивности, находящихся на преде.те разрешения. Чаще всего разрешающую способность оценивают по наблюдениям сверхтонкой структуры спектральных линий кадмия и ртути, некоторых групп линий спектра железа или полос поглощения паров иода, а также по расщеплению спектральных линий в магнитном поле. Однако выбор линий, пригодных для этих целей, очень ограничен, а процедура измерения при высоких разрешениях достаточно сложна. На точность измерений этими методами влияют не только ошибки решетки, но и аберрации оптической системы спектрографа, а также естественная ширина контура линии. Кроме того, с ростом фокусного расстояния спектрографа возрастает влияние колебаний воздуха и отдельных элементов системы, что создает дополните.льные трудности при наблюдениях и снижает их точность. При наиболее благоприятных условиях измерений относительная ошибка определения разрешающей способности составляет 5—10%, что в некоторых случаях недостаточно для характеристики решетки по этому параметру. Поэтому непосредственные наблюдения спектральных лгг-ний дополняются исследованиями формы фронта дифрагированной волны теневым и интерференционным методами, которые взаимно дополняют друг друга. [c.54]

При измерении области, занимаемой фотографическим контуром линий. [c.108]

Так как линия комбинационного рассеяния имеет некоторую ширину, различают интенсивность линии в ее максимуме и интегральную интенсивность, т. е. интенсивность по всему контуру линии. При фотоэлектрической регистрации спектра возможно измерение и той и другой интенсивности линий. [c.360]

На рис. 8.2 контур линии поглощения сопоставляется с более широким контуром полосы испускания источника излучения, причем полуширина такой полосы испускания (АЛисп) гораздо больше полосы пропускания монохроматора (Д 1монохр). При облучении таким источником атомов с линией АЯ огл часть интенсивности света в центре полосы испускания источника будет поглощена атомами. Контур полосы испускания источника излучения после прохождения через монохроматор представлен на рис. 8.2, а. Из рисунка видно, что доля поглощаемой энергии настолько мала по сравнению с полной энергией, испускаемой источником излучения (заштрихованная площадь), что такой способ измерения поглощения малочувствителеи и при нем наблюдается отклонение от закона Бера, т. е. отсутствует прямолинейная зависимость величины поглощения А от концентрации свободных атомов. [c.140]

Если же контур линии поглощения взаимодействует с узкой линией испускания источника (ДЯисп<АЯпогл), то энергия последней поглощается в пределе ее полной ширины и измеренная величина оптической плотности находится в прямой пропорциональной зависимости от концентрации свободных атомов определяемого элемента (см. рис. 8.3). Лампы с полым катодом. Наиболее распространенным источником для атомно-абсорбцион- Схема устройства лам- [c.143]

Все известные экспериментальные измерения штар-ковских параметров выполнены эмиссионным методом. Техника таких измерений проще, чем измерений интенсивности, так как не требуется энергетическая калибровка установки. Большинство экспериментальных данных получено с помощью дуговых и импульсных разрядов, обеспечивающих достаточную плотность электронов в плазме. Наряду с шириной и сдвигом изучают также непосредственно контур линии и его асимметричность. [c.356]

Метод поглощения чб-и9] Классический вариант метода поглощения предполагает применение двух идентичных разрядных трубок. Определяется доля интенсивности света от одной трубки, прошедшего через другую трубку. По измеренному значению коэффициента поглощения определяется концентрация возбужденных атомов Она может быть измерена и в том случае, если условия разряда неодинаковы в излучающей и поглощающей трубке. Тогда необходимо, исходя из контура линий излучения и поглощения, выяснить зависимость между коэффициентом поглощения и концентрацией возбужденных атомов. Задача, таким образом, осложняется и может быть решена только в том случае, если имеются точные да1шые об обоих контурах. [c.26]

Условие (13.29) не накладывает ощутимьЕХ ограничений на условия эксперимента. Оно не выполняется лишь при использовании вместо сплошного неразрешенного многолинейчатого спектра (например, водородного) или при наложении на сплошной спектр молекулярного фона с неразрешенной структурой (например, угольная дуга с циановыми полосами). В остальных случаях обычно можно считать, что инструментальная деформация контура линии ведет лишь к перераспределению ноглош,енной энергии по спектру и не меняет эквивалентной ширины линии. Сказанное, конечно, не означает, что любые аппаратные искажения спектра не влияют на измеренные значения эквивалентной ширины. Напротив, такие причины, как рассеянный свет, духи решеток, вуаль при фотографической регистрации и т. д., вносят ошибки в результат и должны быть устранены или учтены. [c.342]

На пилообразное напряжение накладывается радиочастотное напряжение V = (о/2я = 460 кгц от ГСС-6. Промодулированная по частоте микроволновая мощность проходит через волноводную ячейку й затем детектируется кристаллическим детектором. Далее сигнал усиливается на частоте 460 кгц и демодулируется фазовым детектором. Для медленной и небольшой по амплитуде модуляции па экране осциллографа будем иметь первую производную от контура линии поглощения. Используя основные положения работы [3], можно показать, что кажущаяся ширина линии, измеренная между дву-мя дублетами кривой, равна [c.36]

Первые два десятилетия XX в. знаменуются значительными достижениями в области теории атомной абсорбции. В этот период были установлены основные соотношения, связывающие величину поглощения с атомными постоянными (Кравец Т. П. [1], Фюхтбауэр [2], Ла-денбург [3]), сформулирована теория уширения линий с давлением (Лорентц [4]), выведено соотношение для контура линии поглощения при суммарном действии нескольких эффектов уширения (Фойхт [5], Райхе [6]), разработаны методы измерения атомной абсорбции (Ладенбург и Райхе [7], Фюхтбауэр с сотрудниками [2, 8]). [c.10]

Это затруднение в ряде случаев можно обойти, если использовать линии, сильно уширенные, например, за счет давления постороннего газа. Подобная методика была использована Фюхтбауэром с сотрудниками [8] при измерении силы осциллятора линии Нд 2537 А, причем давление посторонних газов (Аг, СОг, Иг, Ог) варьировалось в пределах от 10 до 50 атм. При этом линия Hg 2537 А оказалась настолько уширенной в результате лорентцевского эффекта, что стало возможным применить для разрешения контура линии спектрограф. [c.30]

Уолш учитывает при этом, что контур линий в пламенах обусловлен не только допплеровским, но и лорентцевским эффектом. Поэтому для определения ка в измеренный коэффициент поглощения реальной линии необходимо вводить соответствующую поправку. Такой подход основан на следующих допущениях [c.39]

Интерферометрическое измерение контура линии Нд 2537 А при использовании одноизотопной ртути Нд-198 показало, что полуширина линии с учетом аппаратурного ущирения линии составляет около 0,09 см К Допплеровская полуширина линии при температуре нагретой части капилляра -700°К должна быть равна 0,054 СЖ". Итак, уширение линии в результате самопоглощения оказывается меньше допплеровской ширины линии. [c.91]

Особенно большие успехи в этом направлении достигнуты Гримом, Колбом и Шеном [8]. Контуры линий водорода они рассчитали с учетом уширяющего действия электронов, тогда как статистическое уширяющее действие ионов они вычислили с помощью функции Эккера [9], учитывающей корреляцию ионов и экранирующее действие электронов. Цикл работ [10] по сопоставлению контуров линий водорода, излучаемых дугой и ударной трубкой, с теорией Грима, Колба и Шена выявил вполне удовлетворительное соответствие теории с экспериментом, показав тем самым справедливость этой теории и обосновав возможность надежного измерения плотности заряженных частиц в области концентраций от 10 до 10 uohI m . Нижняя граница измеримых концентраций определяется тем, что при температурах порядка 10 000° К и iV- <10 кок/сж форма линий водорода в основном определяется эффектом, Допплера, тогда как верхняя граница устанавливается областью применимости теории Грима, Колба и Шена. Это связано с тем, что при iV > 10 uohI m неприменимы как приближение, принятое при решении волнового уравнения Шредингера для атома водорода, возмущенного столкновением с электроном, так и распределение Эккера для статистических полей, создаваемых ионами. [c.6]

Численное определение абсолютных значений наблюдаемых спектральных показателей поглощения было выполнено рядом авторов [5—8]. В частности, максимальные значения наблюдаемых показателей поглощения и ширина спектральных линий с дисиерсионным или допплеровским контуром были рассчитаны [8] как функции отношения аппаратной ширины щели к полуширине линии и максимального значения истинного показателя поглощения. Аппаратная функция предполагалась гауссовой или дисперсиоппой формы. В дополнение к искажению контуров линий рассматривались также малые (5% и менее) абсолютные ошибки П1)и измерениях интегральных показателей поглощения [8]. Хотя ошибки при оценках интегральной интенсивности понятны только применительно к расчетам, включающим онределенный допуск для инструментальных потерь, следует помнить, что для гауссовой или дисперсионной аппаратной функции и реальных показателей поглощения интервал сканироваиия, требуемый для удовлетворения условий, установленных в разд. 5.1, бесконечно широк. [c.75]

Проведенное исследование позволяет сделать следующие выводы. Лазер в режиме модулированной добротности является эффективным атомизатором. При давлении окружающей атмосферы ниже 400 Па факел представляет собой пространственно однородное, лишь незначительно искаженное на краях, облако поглощаюгцих паров. Контур линии поглощения можно считать чисто доплеровским, так как ло-ренцовские уширение и сдвиг при пониженном давлении незначительны. Высокая температура поглощающих паров ведет к значительному увеличению монохроматичности излучения спектральной лампы. Таким образом, в лазерном факеле при пониженном давлении реализуются все условия атомно-абсорбционных измерений по методу Уолша. [c.73]

Для вычисления этих данных из последовательного набора поточечных измерений необходимо как минимум 5—10 точек для каждой линии [42. Фон вычисляли усреднением [20, 32] или аппроксимацией [30] почернений ряда точек. Точки, лежащие выше некоторого порогового уровня [16, 29, 30], считаются точками спектральной линии. Интенсивность линии можно вычислить численным интегрированием [31, 33, 35, 43, 44], в том числе с параболической интерполяцией по нескольким точкам [27, 30 ]. Положение линий с проявленными пиками и симметричным профилем хорошо. определяется по обращению в ноль первой,[16, 22] или второй [45] производной от контура линии. Для самообращенных, асимметричных линий, линий с наложениями или со сверхтонкой структурой применяются специальные методы [12, 16, 35, 46]. Важнейшей задачей является опознание и отбраковка фальшивых линий , возникающих из-за поврен<-Дйния эмульсии, случайных флуктуат ий фона и т. п. [16]. [c.99]

Фирма Джойс Лоебл производит автоматизированную микрофо-тометрическую установку, оснащенную ЭВМ. Такая установка позволяет полностью использовать информацию, содержащуюся на фотопластинке, тогда как обычно полностью теряется ценная информация о фоне, почернениях различных. линий одного элемента и распределении почернений в контуре линий. Для полного измерения спектра на фотопластинке длиной 25 см требуется меньше минуты. Точность определения длины во.пны на пластинке 0,1 мкм. [c.111]

Как обсуждалось в разд. 6.4, существуют три способа измерения интенсивности линий измерение максимального почернения в пике, измерение максимального почернения, умноженного на ширину линии, и измерение общей площади почернения. Простейший способ — измерение максимального почернения. Имея определенный опыт, экспериментатор может вручную устанавливать пластину в микрофотометре точно на вершине линии. Другой возможный способ, требующий меньшего мастерства, но более длительный, — запись почернения линий на ленту и измерение высоты каждого пика. При этом время срабатывания измерительной системы и скорость сканирования должны быть выбраны так, чтобы измерялись истинные контуры линий. Это можно быстро проверить измерением той же линии при большей скорости сканирования или с другой постоянной времени. Скорость сканирования или постоянную Bpei ieHH, при которых кажущаяся высота линий начинает уменьшаться, и следует считать предельно допустимыми. Измерение линий по максимуму почернения обеспечивает точность не выше 40%. [c.209]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология