Почернение спектральной линии с фоном

Построение характеристической кривой фотопластинки и измерение почернений спектральных линий представляют собой основу техники количественного фотографического спектрального анализа. По характеристической кривой определяют область нормальных почернений фотоэмульсии и производят исключение фона из результатов измерений почернения линий. Характеристическая кривая необходима также для перехода от почернений спектральных линий к их интенсивностям. Другими словами, характеристическая кривая представляет собой градуировочную характеристику фотоэмульсии, с помощью которой может осуществляться переход от измеренных почернений фотослоя к значению воздействовавшей на него энергии за время экспозиции. [c.122]

Рассчитать почернение (и преобразованное почернение) спектральной линии на фотопластинке, если при измерении интенсивности света, прошедшего через данную линию, показание микроамперметра равно 45 делениям, а показание его для света, прошедшего через фон пластинки, 95 делений. [c.164]

Время экспозиции, выбранное по кривым испарения элементов, составляет 20 с. На спектрограммах, полученных после проявления, фиксирования и высушивания, измеряют почернение спектральных линий определяемых элементов и фона при помощи микрофотометра МФ-2. Используют следующие аналитические линии (нм) Fe 1—259,965, Sn I — 283,99, ul — 282,44, Pb I — 283,365, d I — 326,105, Pt I — 306,47. [c.79]

Случай постоянства почернений фона при смене спектрального прибора. Для лучшего обнаружения слабых спектральных линий фон на спектрограммах должен находиться в сравнительно узкой области оптимальных значений почернения (в зависимости от рода аналитической задачи — в переходной области или в начале прямолинейного участка характеристической кривой фотоэмульсии см. 2.1.2). Если это требование хотя бы приблизительно выполняется при замене одного спектрального прибора другим (что обычно происходит на практике), то, вследствие слабой зависимости.а. от величина минимального обна- [c.71]

По характеристической кривой определяют область нормальных почернений фотоэмульсии и производят исключение фона при проведении количественного спектрального анализа. Характеристической кривой также пользуются при переходе от почернений спектральных линий к их интенсивностям. [c.54]

Искривление градуировочного графика в начальной своей части может зависеть в очень большой мере от темного фона фотопластинки, почернение которого налагается на почернение спектральной линии. В таком случае почернение из.ме-ренной линии на микрофотометре будет больше, чем почернение, вызванное только величиной интенсивности, характерной для этой линии. Обычно интенсивность аналитических линий на фотопластинке значительно больше, чем интенсивность темного фона, и поэтому практически во многих случаях количественного спектрального анализа интенсивность фона не учитывается. Однако для малых концентраций величина интенсивности фона может превышать интенсивность спектральной линии и влияние фона сильно скажется на прямолинейности градуировочного графика. [c.120]

Анализ фосфора на микропримеси представляет собой сложную задачу, так как фосфор уменьшает плотность почернения спектральных линий, увеличивает фон, уменьшает интенсивность окраски при колориметрических определениях, а поэтому применять прямые методы можно только при больших концентрациях примесей (до 1-10 %). [c.358]

Следовательно, фактически измеряемое почернение будет выше того, которое должно было бы получиться только от линии при данном содержании элемента. На рис. 144 кривая а показывает фактический ход графика, получающийся вследствие влияния фона на почернение спектральных линий. Кривая Ь показывает ход графика, который получился бы в отсутствие фона. [c.224]

Точность метода невелика, количественные определения, связанные с измерением почернений спектральных линий на микрофотометре, затруднены из-за сильного фона. Обычно анализ проводился путем визуального сравнения почернений спектральных линий определяемого элемента в спектре образца с почернениями этих же линий в спектрах эталонных смесей. Поэтому надежными оказывались лишь определения с точностью до ко- [c.271]

На основании измерений почернений спектральных линий с помощью микрофотометра нами были построены графики (см. фиг. 15). На них по оси абсцисс нанесены логарифмы концентраций (Ig ), а по оси ординат величины соответствующих отношений почернения фона пластинки к величинам интенсивностей анализируемых линий, выраженные через разность этих величин (AiS) и характеризующих относительную интенсивность линий. Эта последняя величина (AiS"), как уже было указано выше, является функцией концентрации элемента в пробе. Поэтому, чем больше содержания элемента в пробе, чем больше интенсивность его линий, тем большее значение имеет AS и, следовательно, тем выше положение точки, характеризующей последнюю на кривой. [c.118]

Допустим, что линии А я В расположены на более или менее интенсивном фоне и надо найти отнощение их интенсивностей. Для учета фона следует отдельно измерить его почернение вблизи линий. Если фон неравномерен, то необходимо провести измерения почернения по обе стороны от спектральной линии и взять среднее. По кривой почернения находим соответствующие измеренным почернениям интенсивности. Введем следующие обозначения 1а, 1в — интенсивности линий А, В /ф,/ф — интенсивности фона вблизи линий А, В 1а + и , /в + ф — суммарные интенсивности этих линий и фона. Тогда искомое отношение интенсивностей определяется следующим выражением [c.145]

Из приведенных теоретических и экспериментальных данных о зависимости отношения сигнал/шум от экспозиции можно сделать следующие практические выводы относительно выбора фотоматериалов и условий регистрации с целью наилучшего обнаружения слабых спектральных линий при наличии интенсивного излучения сплошного фона. Условия регистрации должны быть такими, чтобы при оптимальных параметрах и условиях работы источника света и спектральной аппаратуры было обеспечено получение оптимального почернения сплошного фона 5ф. опт на спектрограммах (в соответствующей области спектра), при котором отношение сигнал/шум максимально. [c.50]

Микрофотометр МФ-2. Внешний вид прибора и его оптическая схема показана на рис. П5. Предметный столик с фотографической пластинкой для удобства работы расположен горизонтально. Он может перемещаться вдоль спектра с помощью микрометрического винта или свободно от руки при незакрепленном стопоре. Микрометрический винт позволяет точно выводить измеряемую линию на щель, а также измерять почернения сплошного фона всегда на одном и том же расстоянии от спектральной линии. Перемещение предметного столика вдоль спектральной линии позволяет фотометрировать разные спектры, сфотографированные на одной пластинке, а также измерять почернения разных по высоте участков одной линии. Перемещение столика в обоих направлениях можно контролировать по шкалам, деления которых соответствуют делениям шкал спектрографа ИСП-28,— миллиметровой, которая впечатывается на пластинку, и шкалы вертикального перемещения кассеты. Это помогает быстро выводить нужный спектр и находить аналитическую линию. Для правильной установки фотографической пластинки на предметном столике имеются три винта, которые могут слегка разворачивать фотографическую пластинку вокруг трех взаимно перпендикулярных осей. [c.189]

При недостаточном количестве анализируемой пробы чувствительность анализа ограничивается тем, что не удается получить сигнал, который можно надежно зарегистрировать. В этом случае чувствительность открытия можно повысить применением более яркого источника света, использованием спектрального аппарата с большой светосилой, увеличением чувствительности приемника света и т. д. Например, при фотографической регистрации спектра количество освещения, которое попадает на фотографическую пластинку за время полного сгорания небольшой пробы, может лежать ниже порога чувствительности пластинки и аналитическая линия окажется незарегистрированной. Переход к более чувствительным фотографическим пластинкам позволит при тех же условиях анализа получить почернение линии, которое лежит выше почернения вуали. Обычно же количество анализируемого вещества велико. Тогда достаточную интенсивность сигнала можно получить увеличением продолжительности анализа, суммируя действие света за все время экспозиции. Чувствительность ограничивается уже не абсолютной величиной сигнала, а его отношением к фону, если сигнал (спектральная линия) менее интенсивен, чем случайные изменения фона, то его невозможно (или очень трудно) обнаружить. Увеличение яркости источника света или увеличение чувствительности приемника не дадут в этом случае никакого выигрыша в чувствительности качественного анализа, так как отношение сигнала к фону осталось неизменным. [c.242]

Если фон вблизи обеих аналитических линий будет одинаков, его также необходимо исключать, так как влияние фона на почернение двух спектральных линий различной интенсивности различно. [c.115]

Прежде всего необходимо, чтобы почернение фона легко наблюдалось. В этом случае величина концентрации, при которой исчезает спектральная линия, не будет зависеть, например, от чувствительности примененных пластинок, экспериментальных условий проявления и светосилы спектрографа. [c.47]

В противоположность этому щирина щели спектрографа и его разрешающая сила оказывают влияние, так как разность почернений линий и фона неизбежно увеличивается с уменьшением ширины щели и увеличением разрешающей силы прибора. Интенсивность спектральных линий и, следовательно, почернений линий, за исключением случаев очень малой ширины щели (дифракция света), совершенно не зависит от ширины щели. В то же время интенсивность фона возрастает пропорционально ширине щели спектрографа. Фоновое излучение является частично непрерывным излучением. Поэтому количество световой энергии, падающее на место спектральной линии, тем больше, чем шире щель. Такое же объяснение можно дать и влиянию уменьшения разрешающей силы спектрографа на соотношение интенсивностей линии и фона. [c.47]

Измеряют почернение 5(+ы на месте спектральной линии и почернение фона 8и. [c.120]

Почернение темного фона в спектре налагается на почернение аналитической линии, поэтому для выявления истинного почернения аналитической линии необходимо произвести учет (вычитание) фона. Интенсивность фона измеряется на микрофотометре с одной и другой стороны аналитической линии, допуская, что полученные средние результаты соответствуют интенсивности фона под изображением спектральной (аналитической) линии. [c.126]

Буянов Н. В. Влияние фона в спектре на интенсивность спектральных линий, измеряемую по почернению фотопластинки. Изв. АН СССР. Серия физ., 1941, 5, № 2—3, с. 293—295. Резюме на англ. яз. 1198 Буянов Н. В. К вопросу о влиянии степени проявления фотографической пластинки на точность количественного спектрального анализа. Зав. лаб., 1941, 10, № 2, с. 176— 179. 1199 [c.53]

Возможно количественное определение лития и рубидия путем фотометрической оценки почернения соответствующих спектральных линий на спектрофотометре МФ-2. В качестве линий сравнения можно пользоваться линиями калия или фотометрировать по почернению фона около аналитических линий. Градуировочный график строят по данным фотометрической оценки почернения выбранных линий в спектрах эталонов. [c.347]

Например в ходе количественного эмиссионного спектрального определения с конечной фотографической регистрацией спектра осуществляются следующие основные процессы и операции а) испарение и перенос пробы из канала угольного электрода в плазму разряда б) возбуждение атомов элементов в плазме и излучение характеристических спектральных линий элементов в) отбор определенной доли светового потока из общего потока, излучаемого плазмой, с помощью дозирующей щели спектрографа г) пространственное разложение полихроматического излучения на соответствующие характеристические частоты (развертка спектра) с помощью призмы илн дифракционной решетки д) фотохимическое взаимодействие светочувствительного материала с квантами электромагнитного излучения (образование скрытого изображения спектра на фотопластинке или фотопленке) е) химические реакции восстановления ионов серебра до металла и растворения галогенидов серебра в комплексующих агентах (проявление и фиксирование) ж) поглощение света спектральными линиями на фотографической пластинке при измерении плотности почернения спектральных линий определяемого элемента и фона с помощью микрофотометра а) сравнение полученных значений интенсивностей спектральных линий с илтен-сивностью соответствующих линий эталонов или стандартов и интерполяция искомого содержания элемента в пробе по градиуровочному графику. [c.42]

О влЕяшш метода и времеш гомогенизации на результаты анализа судили во разности почернений спектральных линий злеиентов и фона (табл.З). Из табл.З.видно,что кокс, растертый в вибромельницэ, загрязняется из истирателя такими элементами, как железо, марганец, никель,а в ступке - кремнием. Бшш изучены также зависимости стандартного отклонения S ) разности почернений спектральной линии и фона от метода и времени гомогенизации при истиранвзх коксов и и их зол (рисунок). [c.116]

Фотографируют спектры синтетических эталонов с известными добавками примесей. Для исключения случайных погрешностей фотографического звена съемку производят небольшими сериями на многих фотопластинках (например, по три параллельных спектра каждого образца на 30—40 пластинках). На каждую пластинку фотографируют также спектр железа через девятиступенчатый ослабитель и строят характеристическую кривую фотопластинки. Почернения спектральных линий примесей, линии сравнения и фона переводят в интенсивности и производят исключение фона. Строят графики в координатах концентрация примеси с (в %), относительная интенсивность /л//ср [или 1л+ф1 ф — 1), если внутренним стандартом служит фон]. Установив по форме градуировочной зависимости, что самопоглощением для малых концентраций можно пренебречь, используют основную формулу /л//ср = = а сх + Сввед) [где Сх — неизвестная концентрация определяемого элемента (загрязнение) Сввед — концентрация добавки, т. е. концентрация определяемого элемента, введенная в основу при синтезе эталона]. [c.368]

Подбор условий для определения микроконцентраций 5г и Ва в водных растворах проводили методом крутого восхождения. Параметром оптимизации служила разность почернений спектральной линии элемента и фона. Для регистрации излучения использовали высокочувствительные пленки (250 ед. ГОСТ), обработанные в фенидоновом проявителе. Достигнутый предел обнаружения составляет для 5г 5.10 %, для Ва 2.10 % и может быть еще снижен. Тангенс угла наклона калибровочных графиков достигает 1,5—2,0. Условия определения расход пробы 0,3 мл1мин, расход аргона 1,2 л мин, содержание натрия в растворе 0,25 г/л, изопропилового спирта 10% об. Следует отметить, что присутствие в растворе неорганических кислот практически не влияет на результаты анализа. [c.144]

Рис. 44. Кривые зависимости величины почернения спектральных линий Оцот разности Ол-Ьф— >ф для разных значений почернения фона равных

В настоящей работе был исно.льзован метод фракционной дистилляции в дуге постоянного тока, позволивший избежать влияния спектра циркония. Для повышения чувствительности определений и стабильности дугового разряда применяли носитель — окись галлия GajOg [5]. Оптимальная добавка окиси галлия к эталонам и анализируемым образцам оказалась равной 2 вес. %. Влияние окиси галлия на интенсивность линий примесей иллюстрируется па примере железа (рис. 1). На этом рисунке, как и на всех последующих, AS означает разность почернений спектральной линии и фона. [c.142]

Работа проводилась на спектрографе ИСП-28 при ои-тималвных условиях. Для полного сжигания пробы и лучшего разогрева электрода выбрана определенная форма угля с тонкими стенками, небольшим углублением (2 мм) и перетяжкой ниже дна кратера. Измерение интенсивности почернения проводилось на микрофотометре МФ-4 по последним линиям, для марганца К = 2801,1 А, для свинца X = 2833,07 А. Концентрация этих элементов находилась путем построения градуировочного графика, выражающего зависимость интенсивности почернения спектральных линий исследуемого элемента от концентрации его в прО бе. В качестве внутреннего стандарта использовался фон, так как он равномерен и принадлежит элементу осно1вы (рис. 57). [c.240]

Он представляет собой одполучевой прибор, предпазначеппый для измерения почернения спектральных линий и сплошного фона. МФ-4 имеет более сложную конструкцию и позволяет получить ре-гистрограмму спектра па фотографической пластинке или фотобумаге. Оптическая схема приборов изображена на рис. 56. [c.49]

Na l. Полученные смеси плотно набивают в кратеры угольных анодов глубиной 6 жж и диаметром 4 мм катодом служит электрод, заточенный на полусферу. Для фотографирования спектров используют кварцевый спектрограф ИСП-30 (или ИСП-28) с трехлинзовой системой освещения щели и трехступенчатым ослабителем. Для поджига дуги постоянного тока (15 а) служит генератор ДГ-2. Область спектра 2000—2500 А регистрируют на фотопластинках типа УФШ, область 2500—4500 А — на спектральных пластинках тип II. Пробы и эталоны фотографируют с экспозицией 50 сек. по 3 раза, каждый раз меняя верхний электрод пластинки проявляют, фиксируют, промывают и сушат. Фотометрирование производят на микрофотометре МФ-2 по средней (логарифмической) шкале. Измеряют суммарное почернение аналитических линий и фона ( д. ф) и одного фона (5ф), и переводят их в относительные интенсивности по формуле [c.188]

Чувствительность спектрального анализа определяется в первом приближении отношением почернения аналитической линии к почернению фона. Буферное соединение на различных участках спектра не одинаково влияет на интенсивность фона. Это хорошо видно на примере двух линий хрома 3014,76 и 4254,33 А (рис. 48). С увеличением концентрации фтористого лития суммарное почернение ли-ни й Сг 3014,76 А и фона растет вплоть до 75%. Почернение фона возле лйнии также растет, сначала медленно, а- при содержани-и буфе- [c.99]

Микрофотометрирование. Для получения правильных результатов фотометрирования необходим ряд нредосторожностей при измерении почернений. Показания микрофотометра, вообще говоря, всегда завышаются за счет рассеянного света освещающей лампы, проходящего через измерительную щель прибора. Для уменьшения количества рассеянного света нужно, по возможности, сужать предварительную щель микрофотометра. При этом ширина ее изображения на экране должна быть больше, чем ширина измерительной щели. Последняя должна составлять не более 30—50% от ширины изображения измеряемой линии на экране. Дпя усреднения результатов щель спектрографа при фотографировании линейчатого спектра желательно расширить, наеколько это позволяют условия съемки. Рабочая ширина щели спектрографа ограничена ростом почернения фона и наложением изображений мешающих линий на измеряемую. С другой стороны, выбор чересчур узкой щели спектрографа может привести к ошибкам, обусловленным кривизной линий — прямая измерительная щель может частично выйти за пределы изображения линии. Последнее обстоятельство также заставляет ограничивать высоту измеряемого участка спектральной линии. Обычно для фотометрирования выбирают ширину изображения спектральной линии (на фотографической пластинке) около 0,05 мм, высоту изображения 1 мм. При этом площадь фотометрируемого участка эмульсии составляет около 0,05 мм и зернистость эмульсии практически не сказывается на результатах измерений. Необходимость уменьшить фотометрируемую площадку в 5—20 раз изменяет условия так, что ошибка, обусловленная зернистостью, может стать определяющей. [c.310]

Выведение очень слабой, плохо отличимой от фона аналитической линии на и ель нерегистрирующего микрофотометра следует производить не по максимуму почернения, а с помощью репера. Часто в качестве репера используют какую-либо постороннюю, отчетливо видимую спектральную линию, расположенную недалеко от аналитической линии и присутствующую на всех спектрограммах. Однако измерения от такого репера не всегда обеспечивают необходимую точность. Более точным является выведение измеряемой линии на щель с помощью спектра сравнения, содержащего отчетливую линию определяемого элемента и снятого рядом с исследуемым спектром через ступенчатую диафрагму. (Правда, в этом случае возрастают затраты времени и фотоматериалов.) Один из вариантов такого способа заключается в фотографировании точечного спектра сравнения непосредственно на место исследуемой спектрограммы, что осуществляют с помощью щелевой диафрагмы [430]. Измерение почернения аналитической линии в исследуемом спектре производят после выведения на щель фотометра опорной точки аналитической линии спектра сравнения. Этот прием наиболее эффективен при фотографировании высоких спектров анали-аируемых проб. (При фотографировании спектров сравнения не следует забывать об опасности загрязнения последующих анализируемых проб определяемыми элементами.) [c.58]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология