спектроскопии оптической микроскопии

Кристаллизация полимеров представляет собой фазовый переход 1-го рода. Для ее исследования можно пользоваться обычными физическими методами, к которым относятся структурные методы (рентгенография, электронография, инфракрасная спектроскопия и ЯМР-спектроскопия), методы светового рассеяния и рефрактометрии, непосредственные визуальные исследования с помощью электронного и оптического микроскопов, дилатометрия, калориметрические методы, а также механические методы, определяющие изменения механических свойств полимеров при кристаллизации. Механические методы позволяют непосредственно судить об изменении работоспособности резин под действием кристаллизации и поэтому весьма эффективны для исследования кристаллизации резин при низких температурах. [c.259]

Для изучения поверхности электродов и явлений адсорбции используют оптические методы. Часть этих методов предназначена для исследования поверхностного слоя электродов, погруженных в раствор электролита и включенных в электрохимическую цепь. Таким образом получается информация о состоянии границы раздела фаз при заданном составе раствора и заданном потенциале электрода. К этим методам относятся эллипсометрический метод, а также методы обычного зеркального и неполного внутреннего отражения. Другая часть оптических методов изучения поверхности электродов требует удаления их из раствора, просушки и последующего исследования в глубоком вакууме. К этим методам относятся дифракция медленных электронов, Оже-спектроскопия, фотоэлектронная спектроскопия (рентгеновский микроанализ), сканирующая электронная микроскопия и некоторые другие методы. Эти методы дают информацию о микроструктуре поверхности твердых электродов, о химическом составе поверхностного слоя, изменение которого могло произойти в результате необратимой адсорбции тех или иных компонентов раствора, о составе и структуре возникших на поверхности окисных пленок. Однако для изучения обратимых адсорбционных явлений на электродах эти методы не подходят. [c.80]

Наиболее полные идентификационные характеристики при исследовании кристаллогидратов получают при применении дифференциально-термического анализа, а в случае достаточно крупных кристаллов — также рентгеновского анализа. Формы связи воды в кристаллах гидратов идентифицируются методом инфракрасной спектроскопии, а форма и размеры кристаллов — методами электронной и оптической микроскопии. [c.273]

В зависимости от размеров структурных форм различаются и экспериментальные методы, используемые для их исследования. К числу важнейших структурных методов относятся изучение дифракции рентгеновских лучей и поляризованного света под различными углами, электронография и электронная микроскопия, спектроскопия в инфракрасной области, поляризационная и оптическая микроскопия. [c.163]

Структура кристаллических высокополимеров исследуется различными методами, включая дифракцию рентгеновских лучей, инфракрасную спектроскопию, оптическую и электронную микроскопию. Элементарная ячейка является такой структурной единицей, из которой образуются кристаллы. В элементарной [c.150]

В настоящее время для изучения разрушения используются инфракрасная спектроскопия, электронный парамагнитный резонанс, масс-спектрометрия, хроматография, ядерный магнитный резонанс, рентгеновская дифракция в малых и больших углах, дифракция видимого света, электронная микроскопия, оптическая и электронно-микроскопическая фрактография, фотолиз и др. [c.141]

Под влиянием жидких сред изменяются как свойства (механические, диэлектрические и др.), так и микроструктура материала. Ухудшение свойств стеклопластиков под воздействием жидких сред является следствием многообразных по природе физико-химических процессов, приводящих в первую очередь к изменениям на микроуровне. Микроструктурные изменения в конечном счете приводят к ухудшению макросвойств. Именно поэтому наряду с определением прочностных, диэлектрических и других свойств, а также проницаемости все большее внимание уделяется методам исследования, позволяющим выявить химико-физические изменения в материале инфракрасной спектроскопии, оптической, электронной и рентгеновской [40] микроскопии. [c.56]

Таким образом, следует добиваться строгого выделения процессов, происходящих в период образования поверхности раздела. Особенно необходимо всегда использовать образцы, имеющие одинаковое число потенциальных центров зародышеобразования. С другой стороны, для того чтобы провести точное исследование процесса, нужно использовать чувствительные физические методы наблюдения для независимого измерения влияния химической реакции, протекающей на поверхности раздела, и процесса образования зародышей критического размера (измерения электропроводности, магнитной восприимчивости и поверхностного потенциала, инфракрасная спектроскопия, дифракция рентгеновских лучей или электронов — для выяснения роли первого процесса электронная или оптическая микроскопия, рентгеновские лучи или дифракция электронов — для выяснения роли второго процесса). [c.207]

Для исследования кинетики кристаллизации могут быть применены методы измерения показателя преломления, диэлектрической проницаемости и метод инфракрасной спектроскопии (последний метод успешно использовали в прошлом). Все эти методы с рассмотренными выше можно разделить на две группы — методы, основанные на каком-либо свойстве, являющемся функцией общей степени превращения вещества в кристаллическое состояние и отражающем в совокупности процесс зародышеобразования и роста (типичный пример — дилатометрия), и методы, которые, подобно оптической микроскопии, позволяют исследовать отдельные структурные образования в процессе развития. Методы первой группы применяются более часто, но, как будет показано ниже, механизм кристаллизации слишком сложен, так что данные, получаемые этими методами, не могут быть вполне однозначными. Поэтому в будущем наиболее широкое развитие, по-видимому, получат методы, позволяющие раздельно исследовать процессы зародышеобразования и роста, или системы, в которых можно надежно прерывать процесс кристалли- [c.76]

Наиболее детально развитие разрушения изучено прямыми структурными методами в твердых полимерах и главным образом в волокнах (инфракрасная спектроскопия, электронный парамагнитный резонанс, масс-спектрометрия, ядерный магнитный резонанс, рентгеновская дифракция на малые и большие углы, дифракция видимого света, электронная микроскопия, оптическая и электронно-микроскопическая фрактография и др.) [61 11.27]. [c.324]

Для испытания материалов на локальные виды коррозии существует две основные группы методов исследования - химические и электрохимические. В отдельную подгруппу можно выделить физические методы исследования поверхности металла, применяемые обычно в сочетании с химическими или электрохимическими (оптическая и растровая электронная микроскопия, рентгеноспектральный микроанализ, Оже-электронная и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и др.). [c.143]

При рассмотрении вышеизложенных методов становится очевидным, что каждый из них имеет те или иные недостатки. Так, измерение оптической активности еще не дает нам строгих доказательств существования а-спиралей, поглощение света при 190 ммк боковыми радикалами снижает точность ультрафиолетовой спектроскопии, при высушивании образцов для электронной микроскопии возникают различные артефакты и т. д. Все это, естественно, заставляет относиться с известной осторожностью к данным, получаемым каким-либо одним методом, и требует применения нескольких независимых приемов при изучении вторичной структуры белка или полипептида. Для ряда белков результаты, достигнутые с помощью различных методов, часто хорошо совпадают, тогда как в некоторых случаях они весьма противоречивы (табл. 4). Особенно четко это видно на примере рибонуклеазы. [c.112]

Использование высоких давлений в микроскопии и спектроскопии позволяет получить информацию о природе межмолеку-лярного взаимодействия в веществе и о возможных внутренних искажениях молекулы под действием высокого давления. Алмазная кювета заметно облегчила оптические исследования при высоких давлениях. Для кристаллографических и спектроскопических исследований при высоком давлении был сконструирован или модифицирован целый ряд устройств, но компактная, предоставляющая много возможностей и простая в обращении алмазная кювета является, вероятно, наиболее широко применимой [9, 25—27, 33, 35, 36, 43, 44, 52, 73, 74, 79]. В этой главе мы в первую очередь рассмотрим применение алмазной кюветы к исследованию влияния давления на ИК-спектры. [c.285]

Сложность структуры ударопрочного полистирола и АБС-пластиков потребовала для их детального анализа разработки ряда специальных методов, описанных в данной книге. Наряду с химическими методами это ИК-спектроскопия, а также оптическая и электронная микроскопия. [c.6]

Для осуществления автоматизации контроля и регулирования процессов производства по составу исходного сырья, полупродуктов и готовой продукции в последнее время применяют различные приборы, служащие для определения химического состава веществ с помощью физических и физико-химических методов анализа. К ним относятся методы электронной микроскопии, оптической и рентгеновской спектроскопии, масс-спек- [c.27]

Кроме того, для анализа лакокрасочных материалов применяются оптические методы — поляриметрия, рефрактометрия, колориметрия, нефелометрия, а также методы электронной микроскопии, рентгеновской спектроскопии, масс-спектрометрии, электронного парамагнитного резонанса, ядерного магнитного резонанса. [c.9]

Для осуществления автоматизации контроля и регулирования процессов производства по составу исходного сырья, полупродуктов и готовой продукции в (последнее время применяют различные приборы, служащие для определения химического состава веществ с помощью физических и физико-химических методов анализа. К последним относятся методы электронной микроскопии, оптической и рентгеновской спектроскопии, масс-спектрометрии, радиоактивных излучений, электронного парамагнитного резонанса, ядерного магнитного резонанса, хроматографии, полярографии и др. [c.18]

Непосредственное наблюдение за процессом ориентации анизотропных растворов ПБА в магнитном поле с использованием комплекса физико-химических методов (рентгенография, ИК-спектроскопия, микроскопия) было выполнено в работах [37, 40]. Конструкция примененного в этих исследованиях электромагнита позволяла устанавливать его непосредственно в рабочий канал прибора, оптическая ось которого всегда была перпендикулярна поверхности окна кюветы. [c.140]

В брошюре, подготовленной Охтинским научно-производственным объединением. Пластполимер. подробно описаны специфические методы исследования ударопрочных полистиролов, отличающихся от многих полимерных материалов многофазностью полимерной системы. Наряду с традиционными химическими методами широко представлены инструментальные методы анализа с использованием ИК-спектроскопии, оптической микроскопии и др. [c.2]

Методами оптической микроскопии, Рамановской спектроскопии и измерения микротвердости исследовано влияние температуры (300-1100°С) и длительности (0,5-350 час) отжигов на воздухе и в вакууме на структуру и свойства сверхтвердых частиц аморфного углерода в объеме металлической матрицы. Образцы были получены с помощью высокотемпературного изостатического прессования при 1200°С и давлении 5 ГПа смесей порошков железа или никеля и 5-10 вес. % фуллеритов Сбо+С7о- Условия прессования обеспечивают одновременный синтез сверхтвердых углеродньгх частиц (размером до 0,5 мм) и компактирование (спекание) порошковых композиционных материалов, содержащих до 15 об. % таких частиц, относительно равномерно распределенных в объеме металлической матрицы. [c.204]

Данные о кинетике формирования надмолекулярной структуры сетчатых полимеров могут быть получены с помощью различных методов электронной и оптической микроскопии [167—170], электронно- и рентгенографии [171]. Полезную информацию могут дать также и некоторые другие методы [116, 168, 170, 172—176], в частности ИК- и ЯМР-спектроскопия, различные варианты релаксационной спектрометрии, методы парамагнитных и люминесцентных зондов и меток, исследование процессов диффузии различных жидкостей и газов. Эти методы решения указанной выше задачи не имеют принципиальных отличий от приемов решения аналогичных задач для линейных полимеров, однако следует обратить внимание на трудности интерпретации надмолекулярной организации сетчатых полимеров, полученных в виде тонких пленок на различных твердых поверхностях [177]. Эти исследования приобрели большой размах, поскольку сетчатые полимеры широко используются в качестве связующих для композиционных материалов, клеев, покрытий, лаков и т. п. Формирующаяся в процессе синтеза сетчатого полимера на поверхности твердого тела надмолекулярная структура в значительной мере будет определяться не только химическим строением исходных мономеров (олигомеров) и условиями синтеза, но и наличием твердой поверхности. Дифференциация этих факторов является трудной задачей, а пренебрежение влиянием твердой поверхности на процесс С1штеза сетчатого полимера и формирование его надмолекулярной организации может привести к серьезным ошибкам в интерпретации экспериментальных данных [176]. [c.36]

Анализ проводится с помощью методов оже-элсктронной спектроскопии, фотоэлектронной рентгеновской и ультрафиолетовой спектроскопии, растровой электронной микроскопии, рентгеновского микроанализа, спектроскопии характеристических потерь энергии, масс-спсктрометрии вторичных ионов, рамановского микроанализа, оптической микроскопии, профилометрии. [c.187]

Исследования проводили методами оптической микроскопии, рентгеноструктурного анализа, ИК-спектроскопии и дифференциально-термического анализа. Образцы были приготовлены кристаллизацией полимера из раствора и из расплава по разработанной ранее методике [3] в температурном интервале 20—75 и 48—85° С соответственно. Изучение надмолекулярной структуры этих образцов позволило определить характерные для ПУТТЭГ типы сферолитов, которые приведены на рис. 1. Кольцевые отрицательные сферплиты (рис. 1, а), густота колец которых меняется с температурой кристаллизации, наиболее преобладают, так как образуются при изотермической кристаллизации полимера из раствора и из расплава почти по всей исследованной области температур. В образце, приведенном на рис. 1, б, кроме названных кольцевых сферолитов, виден сферолит более высокого и положительного двулучепреломления. Такие сферолиты образуются наряду с кольцевыми нри кристаллизации вплоть до 65° С, но их количество в образцах относительно невелико. Образцы с наибольшим содержанием указанных сферолитов удалось получить в пленках, закристаллизованных из расплава при 50—53° С, но морфологические особенности их остались неясны. [c.107]

Для определения точки плавления кристаллических полимеров гспользовались многие приемы, включая оптическую микроскопию, инфракрасную спектроскопию и дилатометрию. Для того чтобы получить воспроизводимые знa ieния температуры плавления, образец должен нагреваться очень медленно. Если это условие соблюдается, то результаты показывают, что точка плавления не зависит от термической предыстории испытуемого образца и условий кристаллизации. [c.157]

Из большого числа оптических методов мы в этом разделе остановимся лишь на двух, нашедших весьма широкое применение, а именно на методе дисперсии оптического вращения и на методе светорассеяния. Методы спектроскопии и дифракции рентгеновских лучей мы не можем здесь рассматривать, поскольку это потребовало бы слишком много места. Электронная микроскопия, по сути дела, использует тот же подход, что и оптическая микроскопия, и результаты ее хорошо известны многим читателям. Поляризация флуоресценции, по крайней мере в настоящее время, используется меньи1е других методов п поэтому также не рассматривается. Интересное изложение воз-мол<ностей этого метода дано в обзоре Вебера [36]. [c.433]

Для решения самого важного вопроса — установления закономерностей между четырь.мя важнейшими характеристиками осадков гидроокисей металлов (условия осаждения, состав, структура и свойства) необходимо сочетание нескольких физико-химических методов исследования растворимости и потенциометрии, дифференциальной термографии и термогравиметрии, рентгенографии и ИК-спектроскопии, оптической и электронной микроскопии, измерения кажущегося объема осадков. [c.140]

Многие способы создания изображений, разработанные в оптической микроскопии (а именно создание стереоизображений, темнопольный, фазовый и дифференциальный фазовый контраст), имеют точные аналогии в акустической микроскопии [86]. При возбуждении РЧ-сигналом пьезоэлектрические преобразователи генерируют когерентные волны, которые в режиме приема снова превращаются в когерентный РЧ-сигнал. Следовательно, в каждой исследуемой точке развертки можно измерить как фазу, так и амплитуду. Для получения стереоизображения берут два изображения при различных углах плоскости сканирования при формировании темного поля излучатель заменяют плосковолновым преобразователем, а перед приемной линзой помещают апертурную диафрагму нулевого порядка. Принципы фотоакустической спектроскопии используют также в акустических микроскопах. При этом в каждой исследуемой точке возможны количественные измерения. [c.452]

Методами рентгенофазового анализа, оптической микроскопии и ИК-спектроскопии изучены фазовые равновесия в системах сополимер акрилонитрила и бутадиена - гексафторарсенат лития (Ь1А5р(,) при варьировании содержания электронодонорных групп в сополимере. Построены фрагменты фазовых диаграмм систем СКН-26 - СКН-40 - и СКН-50-5 - Ь1А5р в ин- [c.9]

Для определения предела растворимости Ь1А8Рб в полимерных матрицах СКН-26, СКН-40 и СКН-50-5 использовали методы рентгенофазового анализа (81ое ЗТАВЬР, Си Г -излучение, 20 = = 5-90°), оптической микроскопии в поляризованном свете (МИК-8) и ИК-спектроскопии (ЦК-20, область частот 700-3600 см ) [7]. Приготовление образцов, оптическую микроскопию, съемку дифрактограмм и ИК-спектров проводили в условиях, исключающих попадание влаги в пленки. [c.10]

Таблица 2. Фазовый состав образцов ЬьАзРб - полимерная матрица при 25°С (по данным РФА, оптической микроскопии и ИК-спектроскопии) в зависимости от концентрации ЫЛвР (мол. %)

Силу трения обычно измеряют динамометрически или с помощью методов тензометрии, а также по декременту затухания маятника. О характере трущихся поверхностей удобно судить по профилограммам, а также по результатам электронной и оптической микроскопии. Физико-механическую оценку поверхности производят с помощью масс-спектроскопии, электронографии и рентгеноструктурного анализа. Возрастание в современной технике скоростей, температур и нагрузок приводит к соответствующему ужесточению условий испытаний материалов на трение. К этим условиям иногда присоединяется воздействие глубокого вакуума, излучений, агрессивных сред. В связи с этим разработано много методик испытаний на трение, воспроизводящих специфические условия эксплуатации материалов и изделий. [c.97]

Примесь -углерода оказывает существенное влияние на качество алмазных пленок, как электродов. И все же современные физические и оптические методы исследования (Рамановская и Оже-спектроскопия, атомно-силовой микроскоп) не дают исчерпывающей характеристики включений неалмазного углерода в поликристаллические алмазные пленки более тонкие эффекты выявляются с помоиц>ю именно электрохимических измерений [40] (см. ниже, раздел 6.3). [c.18]

При изучении физической структуры полимеров (формы макромолекул и конформационных превращений, водородных связей, надмолекулярной структуры), а также и химического строения применяются разнообразные физические методы исследования микроскопия (световая, ультрафиолетовая, электронная) рентгеносчруктурный анализ электронография спектроскопия (ультрафиолетовая, инфракрасная, ядерного магнитного резонанса и др.) оптические методы (метод двойного лучепреломления) и др. [c.143]

В лабораторной практике и научных исследо ваниях ценные свойства кварцевого стекла используют, пожалуй особенно широко и разнообразно. Из кварцевого стекла изгото вляют всевозможную лабораторную посуду и приборы—-тигли чаши, колбы, трубки, реакторы, холодильники, дефлегматоры пикнометры, дилатометры, сосуды Дьюара и т. п. приборы I их детали для службы погоды, для измерения времени, для иссле дования земной коры эталоны мер длины и индуктивности, опти ческие образцовые приборы окна и приборы для стратосферной и батисферной аппаратуры разнообразные оптические приборы нерасстраивающиеся дальномеры, ультрафиолетовые микроскопы, интерферометры, спектрографы и спектроскопы, астрономические зеркала и пр. [c.326]

Чтобы обеспечить получение материалов с заданными свойствами, предварительно необходимо всесторонне изучить условия осаждения (реакции образования), состав, структуру и свойства гидроокисных систем. Это можно достичь только путем сочетания нескольких методов и особенно дифференциальной термографии и термограви-метрии (дериватография), ИК- и ПМР-спектроскопии, рентгенографии и электрографии, оптической и электронной микроскопии, качественного и количественного (фазового) химического анализов. [c.5]

Для оценки качества травленой поверхности единый критерий отсутствует. Поэтому пользуются несколькими различными по своей природе показателями. Микрошероховатость поверхности оценивают виз) ально с помощью микроскопов (оптического, металлографического, растрового, электронного сканирующего) или по светорассеянию, а также при помощи профилометров, профилографов. Для определения микромеханических свойств можно использовать методы микровдавливания, склерометрии, трибометрии или определять износостойкость поверхности. Физико-химические свойства легче всего оценивать по смачиваемости и окрашиваемости поверхности, а также по прилипанию липких лент и приклеиванию полосок материи желатином. Весьма детальные и ценные сведения о химическом состоянии поверхности пластмасс можно получить методом рентгенофотоэлектронной спектроскопии. [c.35]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология