Дуговые и искровые спектральные линии

Необходимо отметить, что чисто дугового и исключительно искрового спектра любого элемента не существует. В каждом линейчатом спектре независимо от применяемого источника света можно обнаружить значительное количество и дуговых и искровых спектральных линий. Естественно, что в дуговом спектре будут преобладать дуговые линии, а в искровом — искровые линии. [c.24]

ДУГОВЫЕ И ИСКРОВЫЕ СПЕКТРАЛЬНЫЕ ЛИНИИ [c.14]

Дуговые спектральные линии обозначаются следующим образом за символом химического элемента ставится римская цифра I и значение длины волны, например Na I 5889,95 А. В случае искровых спектральных линий однократно ионизированного атома за символом химического элемента ставится цифра II, например Na II 3092,73 А, двукратно ионизированного— цифра III, трехкратно ионизированного — цифра IV и т. д. [c.15]

Свентицкий И. С. Возбуждение искровых спектральных линий и спектров металлоидов в дуговом разряде переменного тока. ЖТФ, 1914, 14, вып. 10-11, с. 605—610. [c.55]

Качественный спектральный анализ. При качественном анализе достаточно поместить между электродами небольшую навеску (0,1—1 мг), возбудить ее электрической дугой или искрой и сфотографировать спектр. Затем необходимо определить, к излучению какого элемента относится та или иная линия в спектре анализируемой пробы. Для этого определяют длину волны линии по ее положению в спектре, а затем с помощью таблиц устанавливают ее принадлежность к тому или иному элементу. При известном основном составе пробы под спектром анализируемого вещества снимают спектр чистого образца, не содержащего примесей. Для расшифровки спектров применяют таблицы спектральных линий и атласы, которые бывают двух типов. Первый содержит комплекты планшетов с фотографиями дуговых и искровых спектров железа, на которых указаны длины волн всех его спектральных линий, а второй имеет изображение спектра железа рядом со шкалой длин волн в ангстремах, положением наиболее характерных линий элементов периодической системы и длинами их волн и интенсивностей. [c.44]

Интенсивность спектральных линий достигает наибольшей величины в разных частях дуги в зависимости от их потенциалов возбуждения и ионизации. На рис. 31 показано, как меняется интенсивность дуговых и искровых линий в разных участках плазмы. [c.58]

Для проведения качественного анализа необходимы таблицы спектральных линий, атласы спектральных линий и спектропроектор. Атласы спектральных линий бывают двух типов атласы дуговых и искровых спектров железа и атласы спектральных линий железа и других элементов. Дуговые и искровые спектры железа применяют в качестве вторичного эталона длин волн. Первичным эталоном длин волн служит оранжево-красная линия криптона Кг 587,09 нм. В одном метре укладывается 1 650 763,73 длины волны в вакууме оранжево-красного излучения криптоновой лампы. Атласы спектральных линий выпускают применительно к каждому типу спектрографа. Чаще других применяют кварцевые спектрографы средней дисперсии ИСП-28, ИСП-30. Основу атласов составляет увеличенное в двадцать раз изображение спектра железа, что соответствует увеличению выпускаемых промышленностью спектропроекторов ПС-18 нли ДСП-1. В атласах дуговых и искровых спектров железа встык сфотографированы два спектра железа при разных выдержках. При большой экспозиции в спектре появляются малоинтенсивные линии, а при малых— отчетливо видны те линии, которые перекрываются в спектрах, снятых при больших выдержках. Увеличенное в двадцать раз изображение спектра железа имеет длину более двух с половиной метров. Поэтому его разбивают на отдельные участки, которые наносят на планшеты, в правом верхнем углу которых указан порядковый номер. Против каждой линии в спектре железа имеется стрелка с указанием длины волны. [c.666]

Наиболее полными являются таблицы спектральных линий Гаррисона [1], содержащие данные о длинах волн и интенсивностях 110000 спектральных линий. Оценки интенсивностей в этих таблицах даны в основном для дугового и искрового источников возбуждения спектров. Для некоторых линий приведены также оценки их интенсивностей в тлеющем разряде. [c.354]

Количественный анализ. При количественном анализе методом АЭС можно использовать все основные способы градуировки — внешних стандартов (градуировочного трафика), внутреннего стандарта и метод добавок. Целесообразность применения каждого способа зависит от характера возможных помех и природы анализируемого объекта. Так, метод добавок позволяет эффективно устранить косвенные мультипликативные погрешности, вызываемые главным образом физико-химичес-кими помехами, однако против аддитивных спектральных помех — таких, как наложение спектральных линий, — он бессилен. Следует в то же время иметь в виду, что метод добавок легко реализуем технически только при анализе растворов (атомизаторы — главным образом пламя, ИСП), но не твердых проб (дуговой, искровой разряды). В любом случае при построении градуировочной зависимости следует стремиться к тому, [c.240]

Атласы первого типа содержат комплекты планшетов с фотографиями дуговых и искровых спектров железа, на которых указаны длины волн всех его спектральных линий. [c.177]

Отождествление спектральных линий железа производится на спектропроекторе ПС-18 или ДСП-1 с помощью атласа дугового и искрового спектров железа (см. литературу). [c.57]

Спектроскопические методы. Из спектроскопических наиболее распространен эмиссионный спектральный анализ. Атомы или ионы, возбужденные дуговым или искровым разрядом, испускают световую энергию. Каждый элемент характеризуется своим набором спектральных линий, поэтому элементы можно отличить друг [c.66]

При прохождении через газы электрических разрядов могут возникнуть как нейтральные радикалы, так и ионы. В искровых спектрах обычно появляются спектральные линии, характерные для ионов. Дуговые спектры и спектры, обусловленные тихими разрядами, обычно испускаются нейтральными атомами или активированными молекулами. [c.93]

В импульсном разряде в отличие от дугового наряду с линиями атомов возбуждаются и линии ионов. Изучение импульсного разряда методом спектральных разверток показало, что искровые линии возбуждаются [c.58]

Воспроизводимость дугового и искрового спектрального анализа малых проб зависит от качества слоя (расположения, плотности, прочности) на торце электрода. Авторадиограммы осадка на торце медного электрода показывают, что сухой остаток анализируемого раствора распределяется по периферийной части в виде кольца [1295]. Такое же расположение осадка солей характерно и для графитизированного угольного электрода с пропиткой, если защитная пленка не разрушена [1109]. Характер расположения и прочность осадка меняются в зависимости от способа нанесения и режима высушивания раствора, а также в присутствии посторонних солей и свободных кислот в растворе. В частности, характеристики слоя зависят от избыточного аниона раствора осадок нитратов более плотен, компактен и прочнее связан с поверхностью электрода, чем осадки сульфатов и хлоридов. В результате, интенсивность линий ряда элементов (Мп, Мо, 81, 2п) при нане- [c.354]

Для расшифровки неизвестного спектра на предметный столик кладут спектрограмму, а на экран спектропроектора накладывается соответствующий планшет атласа дугового или искрового спектра железа так, чтобы линии железа в изображении спектра совпали с линиями атласа. Отметки в виде штрихов на планшете атласа укажут место, где должны быть чувствительные линии различных элементов. Против соответствующих штрихов в исследуемом спектре должна находиться спектральная линия того или иного элемента. Необходимо иметь в виду, что спектропроектор дает обратное изображение на экране. Поэтому спектрограмму кладут на предметный столик эмульсией кверху и коротковолновой частью спектра влево. Предметный столик 3 (рис. 12), на который кладется спектрограмма, передвигается с помощью двух ручек управления в двух взаимно перпендикулярных направлениях. [c.41]

Фотографируют спектр железа, линии которого используют для построения дисперсионной кривой данного спектрографа. Полезно произвести несколько снимков спектра железа с разным временем экспозиции (6, 10 и 15 с). После фотографирования дугового спектра железа фотопластинку проявляют, фиксируют и сушат. Берут из атласа дугового и искрового спектров железа [3,4] планшеты № 5, 6 и другие и выписывают из них длины волн нескольких наиболее интенсивных спектральных линий в коротковолновой области спектра, например 1) 230,168—237,142 нм 2) 237,142— 243,63 нм и др. После этого на предметный столик кладут спектрограмму с коротковолновой областью спектра, а на экран спектропроектора — планшет № 5, при помощи которого отождествляют длины волн линий для начала отсчета 230, 168—237, 142. Затем на [c.53]

С изменением условий возбуждения меняется характер спектра, т. е. число спектральных линий, их почернение и ширина. Из того, что аналитические линии свободны от мешающих влияний со стороны атомного спектра, не следует, что они не будут совпадать с ионными линиями других элементов, входящих в состав анализируемого материала. Поэтому при дуговом и искровом возбуждении аналитические линии, свободные от мешающих влияний, необязательно являются одними и теми же линиями. [c.19]

Приемник X перемещается вдоль спектра относительно быстро между демпферами и медленно в местах демпферов. Магнитное тормозное устройство автоматически включается и управляется сигналом, зависящим от отношения фототока приемника х к фототоку нулевой линии. Если середина выходной щели совпадает с серединой измеряемой спектральной линии, то фототок достигает своего максимального значения, и с помощью тормозной системы измерительный блок останавливается. В тот же момент включается потенциометрическое записывающее устройство и на регистрирующей ленте отмечается отклонение, соответствующее отношению интенсивностей (разд. 5.12.3 в [3]). Такой способ применяют в случае искрового возбуждения. При дуговом возбуждении в течение периода измерения от фотоумножителей, регистрирующих линии х и г, заряжаются накопительные конденсаторы, а регистрирующий потенциометр записывает отношение интегральных интенсивностей (разд. 5.12.2 в [3]). После выполнения этой операции измерительный блок X перемещается в соседнее место, определенное программной линейкой, и вышеописанный процесс повторяется. При этом в новом месте движущейся регистрирующей бумаги записывается отношение интенсивностей для соседней линии. [c.206]

Спектральные линии нейтральных атомов принято называть дуговыми, а ионизированных — искровыми, так как первые легче всего получаются в электрической дуге, а вторые— в электрической искре. [c.14]

Энергия, соответствующая потенциалу ионизации, приводит нейтральный атом в такое возбужденное состояние, при котором он может излучать все линии своего спектра (дуговые). Если же атому сообщить энергию большую, чем величина потенциала ионизации, это приведет к возбуждению спектральных линий уже ионизированного атома (искровых). Для данного химического элемента потенциалы возбуждения для искровых линий всегда будут больше, чем для дуговых (табл. 3), и больше, чем потенциал ионизации. [c.15]

Зависимость, интенсивности ряда линий Мо (для молибденового катода) от силы тока показана на рис. 3. Обращает на себя внимание различное поведение искровых и дуговых линий. Если интенсивность дуговых линий (кривые 2 и < ) с увеличением тока обнаруживает максимумы при разной силе тока, то искровые линии показывают либо непрерывный рост интенсивности, либо ее стабилизацию (кривые 4 и 5). Это явление наблюдалось нами у большого числа искровых и дуговых линий Мо и, по-видимому, может быть использовано при изучении природы его спектральных линий. [c.112]

Этот вывод был сделан на основании специально поставленных нами опытов, которые показали, что нанесение на электрод значительных количеств (доли миллиграмма) любого элемента приводит к резкому уменьшению интенсивности как дуговых, так и искровых спектральных линий всех микроэлементов. Воздействие основного компонента на плазму разряда, которое, во-обихе говоря, можно было бы также считать причиной ослабления линий примесей, неизбежно приводило бы к селективному усилению или ослаблению определенных групп спектральных линий. Подавление спектральных линий примесей спектром основного компонента пробы серьезно ограничивает метод медной искры, затрудняя достижение высокой относительной чувствительности анализа. [c.278]

Потенциал ионизации представляет собой энергию, необходимую для отрыва одного электрона от атома или иона. По первому потенциалу ионизации элемента можно оценить оптимальную температуру плазмы, при которой ионизация его нейтральных атомов еще не будет проявляться, а резонансные спектральные линии будут иметь максимальную интенсивность. При возбуждении легкоионизируемых элементов (щелочные и щелочноземельные металлы) используют низкотемпературные пламена, для среднеионизируемых элементов (остальные металлы) — дуговой разряд или высокотемпературные пламена и, наконец, для неметаллов — искровой разряд. Для подавления ионизации и поддержания постоянной температуры плазмы в течение экспозиции при эмиссионном спектральном анализе проб различного состава в них вводят буферные компоненты, содержащие элементы с подходящими потенциалами ионизации. [c.11]

Из инсгрументальных методов определения токсичных микроэлементов в объектах окружающей среды наиболее экспрессным и универсальным является атомно-эмиссионный спектральный анализ (6-8). В сочетании с предварительным концентрированием он применяепгся для определения большого числа элементов (до. 15) Для возбуждения спектров испускания обычно используют дуговой или искровой разряд. При этом атомы и ионы переходет из возбужденного сосгояния в более энергетически низкое и излучают свет, что приводит к появлению характерных для каждого элемента спектральных линий. [c.245]

Температура пламени ниже температуры дугового и искрового разр5[да, поэтому вероятность перехода электронов на более высокий энергетический уровень мала и интенсивность соответствующих спектральных линий невелика. В пламени, как правило, получают линейчатые спектры. Обычно в спектре появляются только резонансные и основные линии (соответствующие электронным переходам с первого возбужденного уровня на основной), которые являются наиболее интенсивными. Это и есть последние линии спектра. При подводе большого количества энергии к атому электроны могут даже удалиться из [c.373]

Наиболее детальные и полные сведения о спектрах атомов многих элементов можно найти в различных справочных изданиях (см., например, [1]). В Советском Союзе наиболее широко распространено справочное издание Зайделя [2], в котором приведены таблицы спектральных линий, содержащие полную информацию о положении спектральных линий и их относительных интенсивностях для атомов и ионов практически всех элементов периодической системы. Отметим, что данные таблицы составлены по спектрам, возникающим при использовании для их возбуждения дугового или искрового раз))яда. Использование иных источников возбуждения может привести к появлению других линий и к другому соогиошению интенсивностей. [c.16]

Можно измерять температуру источника света и контролировать ее постоянство по относительной интенсивности спектральных линий. Для этого удобнее всего взять две линии одного элемента с разными потенциалами возбужде1шя (фикспара). Часто в качестве фикспары берут искровую и дуговую линии одного элемента. Относительная интенсивность R линий фикспары зависит только от температуры источника [c.52]

В качестве источника света в атомно-абсорбционном анализе используют стабилизированные излучатели, лампы полого катода или высокочастотные ша-риковые лампы, испускающие дуговой или искровой спектр определяемого элемента. Такой источник света должен давать узкие и яркие спектральные линии определяемых элементов со стабильной интенсивностью. Для выделения спектральных линий применяют монохроматоры с фотоэлектрическими приемниками света. [c.699]

Для получения свечения вещество помещается в источник света (дуговой или искровой разряд). Излучение анализируемого образца проектируется на щель прибора спектрографа, который с помощью призмы (или дифракционной решетки) разлагает излучение в спектр. Полученный спектр регистрируется фотографически (или фотоэлектрически). Спектр излучения и является аналитическим сигналом, который дает информацию о качественном и количественном составе вещества. Критерием количественного анализа является величина интенсивности спектральной линии, критерием качественной оценки является присутствие в спектре линий определенной длины волны. [c.177]

Наличие теплового движения атомов также приводит к расширению спектральных линий вследствие явления Допплера. Допплерова ширина линий велика в дуговых и искровых разрядах, в которых имеют место высокие температуры 5000—10 000°, и может быть вычислена но формуле [c.168]

Энергия разряда определяется величиной разрядного промежутка и емкостью. Как правило, хотя известны и исключения [25 ], во внешних слоях кольца возбуждаются спектральные линии с большей энергией возбуждения, чем во внутренних слоях. Поэтому кольцевой разряд оказывается полезным в работах по классификации спектров [255-238] дает возможность одновременно наблюдать линии, принадлежащие нормальным и ионизованным атомам. Если спроектировать изображение светящегося кольца на щель стигматического спектрографа, то получаются снимки с длинными линиями — дуговыми и короткими — искровыми. При увеличении разрядного промежутка искровые линии, принадлежащие однозарядному иону, удлиняются, и появляются короткие линии дважды ионизованных атомов. Возможность одновременного наблюдения спектральных лииий, которые требуют различной энергии возбуждения, указывает на целесообразность использования этого источника для спектрально-аналитических задач и, в частности, для анализа газов, где основная трудность и заключается именно в том, чтобы заставить одновременно светиться два компонента смеси с сильно отличаюищмися нотенциала.ми ионизации. [c.54]

Первые сведеция о спектр.е гафния были опубликованы вскоре после его открытия Хевеши и Костером [290]. Детальное изучение дугового и искрового спектров гафния было выполнено Меггерсом 6201, в распоряжении которого имелись сравнительно чистые препараты гафния. Им выявлено в области 2150—9250 А примерно 1500 спектральных линий гафния, часть которых была впоследствии классифицирована Меггерсом и Скрибнером [622]. [c.168]

На рис. 95 показана зависимость почернений спектральных линий от давления сжатого воздуха и времени лоступления аэрозоля в иокровой разряд. Равновесие в зоне разряда устанавливается в течение первых 40—50 сек, после чего абсолютные почернения дуговых и искровых линий железа остаются практически постоянными в течение длительного времени с увеличением давления сжатого воздуха увеличивается и почернение линий (рис. 95). [c.150]

Первому требованию обычно удовлетворяют наиболее легко возбуждаемые линии, или так называемые последние линии [1]. Эти спектральные линии исчезают в спектре последними, если при постоянной энергии возбуждения уменьшать концентрацию определяемого элемента в анализируемой пробе или постепенно снижать энергию возбуждения. Однако следует отметить, что на практике последние линии — это не всегда линии с наименьшей энергией возбуждения, а только те из них, которые находятся в обычно используемых ультрафиолетовой и видимой областях спектра. При использовании этих линий нужно принимать во внимание, что исчезновение линий различных длин волн зависит также от свойств системы, поглощающей излучение (например, эмульсии). Величина энергии возбуждения плазмы источника излучения и ее температура также очень важны. Так, например, вероятность возбуждения ионных линий существенно выше в искровой, чем в слабоионизиро-ванной дуговой плазме. При уменьшении концентрации легкоионизируемых элементов ионные линии с наименьшими энергиями возбуждения часто исчезают из спектра последними. Эмиссия атомных линий прекращается еще раньше. Таким образом, в зависимости от способа возбуждения наиболее чувствительными, т. е. в полном смысле последними, могут быть различные линии элементов. Однако, строго говоря, последними являются те спектральные линии, которые при уменьшении концентрации элемента экспериментально наблюдаются в плазме источников излучения с низкой энергией возбуждения дуги, пламени) дольше остальных линий. [c.18]

При размещении оборудования и организации работы лаборатории визуальных методов спектрального анализа прежде всего необходимо иметь в виду технику безопасности [1]. Наиболее важна защита от электрического шока. Пол лабораторной комнаты должен быть покрыт хорошо изолирующим слоем (например, резиновым ковриком, резиновым покрытием, покрытием из поливинилхлорида). Источники должны быть снабжены блокировкой, отключающей электрическую сеть, если безопасный корпус дугового (искрового) штатива открыт. При анализе больших образцов может оказаться необходимым закоротить блокировку. В этом случае увеличивается опасность для лица, выполняющего анализ. Контакт источника возбуждения с анализируемым образцом совершенно необходим, если большие детали анализируются на месте и невозможно в целях безопасности работы заземлить соответствующий полюс источника. На заводах даже с заземленной нулевой линией электрической сети может существовать некоторая разность потенциалов между местной землей и нулевой линией, которая обусловлена периодически появляющейся или постоянно существующей утечкой фазового тока в различном неисправном оборудовании. Поэтому, особенно при анализе на месте, источник возбуждения не должен быть связан непосредственно с электрической сетью. Для этого следует всегда использовать разделительный трансформатор по возможности с коэффициентом трансформации 1 1 и с раздельными первичной и вто- [c.309]

Ниобий и тантал можно определить обычными дуговым и искровым спектральными методами. Наиболее чувствительные линии для ниобия 4079,729 и 4058,938, а для определения тантала—3311,162 и 2714,674, но спектры содержат очень много линий. Предел чувствительности при анализе на тантал составляет 0,01%, а при анализе на ниобий — 0,001%. С помощью хроматографического и радиохимического методов разделения можно снизить содержание ТазОв в спектрально-чистой NbaOg менее чем до 0,0001 % [26]. [c.182]