Методы регистрации данных

Рассматриваемые эффекты часто преобразуются в электрический ток импульсного или непрерывного характера. Для удобного отсчета или записи этих токов могут быть необходимы сложные электронные схемы (см. 2.3). Современными методами измерения интенсивности рентгеновского излучения занимаются прежде всего физики-экспериментаторы. Однако некоторые представления об этих методах должен иметь и химик-аналитик, поскольку детекторы рентгеновского излучения являются в настоящее время одним из орудий его деятельности. Данная глава, не претендующая на полное описание современных методов регистрации рентгеновских лучей, должна дать химику-аналити-ку необходимый минимум знаний. [c.56]

Точность, которую дают прямые фотоэлектрические методы регистрации, выше той, которую может дать фотопластинка. Несмотря на это, прн определении малых концентраций предпочтение все еще отдается последней. Это связано с рядом обстоятельств. [c.63]

Даже при образовании крупных комплексов (например, комплексов субъединиц) спектры КД остаются чувствительными главным образом к локальным взаимодействиям. Таким образом, изменения КД отражают в основном изменения локальной структуры, если таковые происходят. Главным преимуществом КД по сравнению с другими методами регистрации конформационных изменений является его очень высокая чувствительность. Даже когда невозможно дать детальную структурную интерпретацию, изменения в структуре почти наверняка проявятся в виде изменения КД. [c.83]

Эти методы хроматографии используют контролируемое термическое и (или) каталитическое разложение анализируемых веществ на входе или внутри колонки. Регистрация образующихся фрагментов обычными методами газовой хроматографии может дать информацию [c.405]

Имеющийся пока весьма ограниченный опыт по объективному установлению пределов обнаружения элементов в эмиссионном спектральном анализе не позволяет дать всеобъемлющих рекомендаций для всех случаев анализа. Тем не менее, некоторые предварительные заключения применительно к методам анализа с фотографической регистрацией спектров все же могут быть сделаны. [c.29]

Метод сравнения парных поверхностей раскола по спайности. Если расколоть кристалл по плоскости спайности и протравить две парные поверхности раскола, то дислокации, пересекающие поверхность раскола, должны дать зеркально-симметричную картину соответствующих фигур травления, что и наблюдается в действительности (рис. 305). Метод сравнения парных граней очень удобен для регистрации изменения дислокационной структуры кристалла в результате каких-либо внешних воздействий. Например, раскалывая кристалл по спайности, подвергают затем одну из полученных половинок кристалла пластической деформации и сравнивают распределение дислокаций на деформированной и не-деформированной половинах образца. [c.350]

Для неразрушающего контроля остаточных напряжений практическую ценность имеют физические методы рентгеновский, ультразвуковой, электромагнитный, диэлектрический. Эти методы основаны на оценке изменения структуры материала, в которой под воздействием остаточных напряжений возникают те или иные искажения. Однако измерение деформации кристаллической решетки при рентгеновском методе, скорости прохождения в материале упругой волны в зависимости от напряжения при ультразвуковом методе и регистрация других величин представляют собой значительные трудности. Очень часто использование методов этой группы способно дать лишь качественную оценку остаточным напряжениям. [c.94]

Фотографическая регистрация спектра незаменима, когда требуется объективный документ для повторного контроля или более подробного изучения состава пробы. В условиях серийных анализов это и самый производительный метод определения состава, так как необходимо всего лишь по 3—6 мин на определяемый элемент. Вместе с тем обработка фотопластинки и ее изучение требуют затрат дополнительного времени, а неоднородности эмульсии и процессов проявления могут дать дополнительную ошибку в определениях до 2—3% от содержания элемента. Это не всегда соответствует требованиям быстроты выполнения экспресс-анализа одиночных проб и точности арбитражных анализов. [c.117]

Количественное изучение люминесценции требует использования специальных методик, часть из которых описана в этом разделе. Интенсивности флуоресценции, фосфоресценции и хемилюминесценции обычно существенно ниже, чем у световых потоков, применяемых для фотолиза или возбуждения. Поэтому фотографическая регистрация спектров люминесценции может дать данные об интенсивности, усредненные по периоду времени экспозиции, а также о спектральном распределении излучения. Однако обычно при количественных исследованиях используются фотоэлектрические методы регистрации из-за их лучщей чувствительности и скорости отклика. Можно изготовить фотоэлементы типа описанных в предыдущем разделе для регистрации излучения вплоть до длины волны света порядка 1300 нм, подбирая подходящий катод (Ад—О—Сз). Коротковолновая граница регистрации определяется в большей степени пропусканием окон фотоэлемента, чем свойствами катода. Стандартный способ расширения области регистрации в УФ-область состоит в покрытии передней стенки фотоприемника флуоресцирующим материалом, преобразующим УФ-из-лучение в видимое, которое и регистрируется фотоприемником через стеклянное окно. Слабый ток фотоприемника можно усилить с помощью стандартных электронных устройств, этим путем удается регистрировать слабые свечения. Усиление неизбежно приводит к появлению некоторого уровня шума, поэтому слабое свечение лучше регистрируется фотоумножителями. Фотоумножитель фактически является фотоэлементом с внутренним усилением, который почти лишен шума. Рис. 7.3 по- [c.189]

Некоторые преимущества за фотографическими методами регистрации спектра остаются лишь при проведении качественных анализов, так как фотографии спектра более привычны, чем записи самописцев. Однако расшифровка спектра может проводиться и при обработке записей самописца. Фотографические методы в некоторых случаях за тот же промежуток времени могут дать больше информации о составе излучения, чем фотоэлектри- [c.107]

Можно выделить три основных направления использования метода меченых атомов. 1. Применение меченых атомов для изучения перемещения веществ в различных объектах. Меченые вещества вводят в ту или иную систему или организм и через определенные промежутки времени устанавливают наличие меченого соединения в определенных точках системы. Например, по перемещению меченых атомов в металлах можно определить коэффициенты диффузии и самодиффузии. 2. Метод меченых атомов используют для выяснения механиз1ма различных процессов и превращений, изучения химического строения веществ, подвижности атомов и групп. Введение изотопной метки устраняет химическую неразличимость атомов, благодаря чему появляется возможность однозначного выбора механизма процесса, для которого химические методы могут дать только начальное и конечное состояния. При помощи метода меченых атомов намечаются широкие перспективы в области изучения важнейших химических превращений и способы управления ими. Например, с помощью меченых атомов решены основные проблемы процесса фотосинтеза. 3. Использование метода меченых атолюв для определения количества вещества. Применение радиоактивных индикаторов дало принципиально новые методы количественного определения веществ, К ним относятся метод изотопного разбавления, активационный анализ, радиометрическое титрование и др. При высокой чувствительности и точности эти методы позволяют выполнять определения быстро и точно, осуществлять автоматическую регистрацию, что особенно важно при массовых анализах. [c.9]

Рентгеновская интерферометрия является замечательным достижением современной экспериментальной физики. Действительно, подобные интерферометры позволили реализовать возможность абсолютных измерений длин с точностью порядка ангстрема. В первых же экспериментах с таким прибором было обнаружено явление муара при рентгеновской дифракции, которое является, по-видимому, самым чувствительным методом регистрации и точных измерений нарушений идеальной структуры кристаллов. В отличие от оптических интерферометров, в рентгеновских приборах для разделения и отклонения когерентных пучков используется дифракция. Явление преломления в линзах не может дать надлежаш,его эффекта ввиду ничтожной величины разности (1 — п) для рентгеновских лучей. [c.270]

Вопрос о том, какой метод регистрации — фотографический или фотоэлектрический — приводит к большей чувствительности определений, пока остается открытым, так как подавляющее число исследований было выполнено фотографическим методом. В принципе следует считать, что фотоэлектрический метод MOHieT дать большую чувствительность, так как квантовый выход фотокатода, как уже отмечалось, больше квантового выхода фотоэмульсии. [c.145]

Мы здесь не стремимся дать подробное изложение стационарной регистрации многоквантовых переходов, но обратим внимание на такие ее стороны, которые важны для сравнения с непрямыми методами измерения, описанными в разд. 8.4 и 8.5. Основополагающая теория стационарной регистрации многоквантовых переходов была развита Яцивом [5.1]. Буччи и др. [5.67] ввели обозначения, которые особенно удобны для практических расчетов. Применению многоквантового стационарного ЯМР в спектроскопии высокого разрешения в жидкостях содействовали работы Андерсона и др. [5.2], Каплана и Мейбума [5.68], Коэна и Виффена [5.69], Мушера [5.70], а также Мартина и др. [ 5.71]. [c.302]

Благодаря большой чувствительности УЗ-волн к изменению свойств среды с их помощью регистрируют дефекты, не выявляемые другими методами. Возможны различные варианты УЗ-методов, осуществляемые в режиме бегущих и стоячих волн, свободных и резонансных колебаний, а также в режиме пассивной регистрации упругих колебаний, возникающих при механических, тепловых, химических, радиационных и других воздействиях на объект контроля. При обработке информахщи могут быть определены различные характеристики УЗ-сигналов - частота, время, амплитуда, фаза, спектральный состав, плотности вероятностей распределения указанных характеристик. Наконец, простота схемной реализации основных функциональных узлов позволяет соз -дать простые и легко переносимые приборы для УЗ-контроля, имеющие автономные источники питания, рассчитанные на многие месяцы работы в полевых условиях. Отмеченные достоинства УЗ-метода в полной мере реализуются при проектировании и эксплуатации УЗ-приборов и систем НК только при правильном и достаточно глубоком понимании физических основ УЗ-конт-роля. Даже при автоматизированном УЗ-контроле остается значительной роль человеческого фактора в определении оптимальных условий контроля, интерпретации его результатов и обратном влиянии контроля на технологический процесс. Не менее важным является и дальнейшее развитие УЗ-метода с целью улучшения основных показателей его качества - чувствительности и достоверности - применительно к конкретным задачам технологического и эксплуатационного контроля. [c.138]

Точность эмиссионных спектральных Методов колеблется в очень широких пределах и зависит от многих параметров. Так, при определении очень низких концентраций (ниже ошибка определения значительна и находится в пределах 10—30%. Очень велика — от нескольких до десяти процентов — ошибка и при определении элементов, находящихся в высокой концентрации. Сравнительно лучшая точность достигается при определении концентраций в интервале Ю —10 %. Однако всегда нужно Делать оговорку, что дo тигнyтaя точность Существенно зависит от таких факторов, как агрегатное состояние пробы, ее физико-химические свойства, степень однородности, условия испарения и возбуждения, способ регистрации спектров и др. Поэтому трудно дать какую-то среднюю оценку точности спектральных методов. Обычно при аккуратной и внимательной работе и соблюдении условий достижения максимальной точности и воспроизводимости точность обычных спектральных методов может быть доведена самое большее до нескольких процентов, причем в отдельных случаях может достигать 2—5%. [c.372]

При организации лаборатории визуальных методов спектрального анализа необходимо предусмотреть надежную административную работу. При рутинном анализе малых образцов в лаборатории металлургической промышленности образцы, не удовлетворяющие предъявляемым требованиям, достаточно собирать в специальный ящик. Нужно организовать отдельную регистрацию образцов, удовлетворяющих и неудовлетворяющих требованиям анализа, а также регистрацию общего числа проанализированных образцов. Ко нечно, необходимо готовить несколько копий регистрации каждого аналитического результата, которые должны содержать также сведения о шифре образца, дате его поступления и анализе. Сертификаты анализов и соответствующие номера лабораторного учета должны заноситься в регистрационную карточку лицом, выполняющим анализ. Такая же информация должна регистрироваться на все анализы, выполненные на месте с помощью портативных спектроскопов местных лабораторий. [c.308]

Анализируя эти, а также ряд других экспериментальных данных, мы показали [4], что возможности применявшихся методов наблюдения ни в коей мере не соответствовали поставленной задаче. В частности, ни высокоскоростной фотографический метод Уитроу-Рассвейлера, ни новые методы ионизационной регистрации пламен Шнауфера не смогли дать ответа на вопрос, имеет ли место при стуке действительно мгновенное воспламенение последней части заряда, или же происходит распространение пламен с большой, но конечной скоростью, свойственной, например, детонационному сгоранию. Несколько позже те же соображения были приведены в работе Миллера [5]. [c.186]

Очень чувствительным методом обнаружения ионизации в стеклах является рекомбинационная люминесценция. Осветив стекло видимым или ИК-светом после освещения, вызвавшего ионизацию, можно за короткое время высветить всю запасенную светосумму. Этого же можно достигнуть быстрым нагреванием стекла. Регистрация Ь(1) во время стимулированной РЛ позволяет измерить выход ионизации в относительных единицах [23, 27—31]. Спектр РЛ и спектр фотовозбуждения РЛ могут дать сведения о продуктах низкотемпературного фотолиза или радиолиза [32]. Этой же цели может служить запись интенсивности РЛ при медленном нагревании стекла с контролируемой скоростью. Пики, возникающие на кривой Ь 1), указывают на рекомбинацию различных заряженных частиц (см. раздел 1.11). [c.68]

Регистрация интенсивности вносит свои, специфические для каждого способа, ошибки. Фотографическая регистрация приводит к ошибкам, определяемым главным образом свойствами фотопластинки. Здесь трудно спуститься ниже величины в несколько процентов. Наоборот, с помощью фотоэлектрических методов можно достичь точности измерения отношения интенсивности линии в доли процента, а по некоторым данным — до 0,1%. Очевидно, для того чтобы полностью использовать точность, которую могут дать фотоэлектрическне методы регн [c.72]

Процесс возбуждения спектров значительной группы летучих примесей в методе фракционной дистилляции стабилизован достаточно хорошо, и если регистрация спектров (оптическая схема) и обработка фотопластинок стандартизованы, то для этой группы примесей можно пользоваться внешними стандартами. В некоторых случаях, когда требуется дать сведения только о наличии или отсутствии тех или иных примесей, можно пользоваться заранее приготовленными фотопластинками с заснятыми в одинаковых условиях спектрами эталонов. Такой прием значительно сокрашаег время анализа. [c.331]

Несмотря на необычный состав 40-дневное потребление этой воды не отразилось на состоянии здоровья подопытной группы испытуемых при объективной регистрации показателей водно-солевого обмена, величин вязкости крови, состояния почечного аппарата и субъективным реакциям. Однако наличие некоторых микроэлементов (бор, бром) заставляет ставить вопрос о необходимости проведения специальных длительных наблюдений за подопытными животными при использовании более тонких методов исследований. Завершение их позволит дать окончательный отврт о биологической полноценности и безвредности таких вод. [c.182]

Для определения толщины и однородности тонких пленок в настоящее время широко используют методы, основанные на поглощении а- и -частиц в веществе [1]. Для этой цели применяют коллимированные пучки моноэпергетических а- или -частиц низкой энергии исследуемую фольгу помещают между источником излучения и детектором. Методы, основанные на использовании а-излучателей, дают более точные результаты в том случае, если а-частицы достигают детектора почти в самом конце пробега. Тогда даже незначительные изменения толщины образца в большой степени отражаются на скорости счета детектора. Приборы для определения толщины материала, основанные на регистрации прошедшего через него а- или -излучения, могут быть сравнительно простыми, если предназначаются для относительных измерений и контроля однородности. Однако при тщательной калибровке их можно использовать и для абсолютных измерений толщины с точностью до 1—2 мкг1см . Один из наиболее удачных методов измерения толщины состоит в регистрации хорошо коллимированного пучка а-частиц до и после фольги с помощью спектрометра с высокой разрешающей способностью, например состоящего из полупроводникового детектора с амплитудным анализатором. Мерой средней толщины фольги, помещенной на пути луча, является сдвиг спектральной линии в сторону низких энергий уширение линии может дать некоторую информацию о неоднородности фольги в микромасштабе. Вместо радиоактивного источника а-лучей можно использовать также моноэнергетический пучок из ускорителя [3]. [c.389]

Только исследования в динамических условиях позволяют объединить эти два различных подхода к изучению физикомеханического поведения порошков. Действительно, при выполнении ряда требований макрореологические характеристики разрушаемой структуры порошка могут дать информацию о ее микрореологической характеристике — силе контактного взаимодействия частиц. К таким требованиям относятся 1) наличие адекватной модели, связывающей количество энергии, поглощаемой структурой при разрушении ее под действием внешних нагрузок, с энергией связи в единичном контакте 2) наличие экспериментальных методов изотропного разрушения структуры и регистрации степени ее разрушения 3) наличие модели, связывающей число контактов, приходящихся на единицу объема, с такими характеристиками порошка, как концентрация дисперсной фазы и размер частиц. [c.96]

Рецепторные потенциалы. Каким образом фотопревращения родопсина приводят к электрическому ответу рецепторной клетки Ответ на этот вопрос позволяют дать данные, полученные методами отведения потенциалов, и сведения по конформационным превращениям родопсина, представленные выше. Регистрация электроретинограмм (экстраклеточное отведение потенциалов от сетчатки) позволила получить рецепторные потенциалы, изображенные на рис. ПО. Позднее аналогичные потенциалы непосредственно на цитоплазматической мембране палочек и колбочек были получены микроэлектродными методами. Сразу после освещения палочки короткой вспышкой света наблюдается продолжающийся примерно 1 мс ранний рецепторный потенциал (РРП), амплитуда которого растет с увеличением интенсивности вспышки, но не превышает 5 мВ. Затем, примерно через I мс, развивается поздний рецепторный потенциал (ПРП). В отличие от всех других известных клеток на цитоплазматической мембране наружных сегментов палочек потенциал имеет знак плюс внут- [c.249]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология