Статистические измерения интенсивности линий

Б. СТАТИСТИЧЕСКИЕ ИЗМЕРЕНИЯ ИНТЕНСИВНОСТИ ЛИНИИ [c.229]

Общая ошибка включает статистические флуктуации измерения интенсивности линии и фона Л л+ф и интенсивности фона Л ф. [c.230]

Помимо частоты (рис. 31.10) характеристическими параметрами спектров ЯКР являются ширина линии Дv и времена спин-спиновой и спин-решеточной релаксации. Ширина линии ЯКР определяется, как правило, беспорядочным статистическим разбросом значений градиента из-за дефектов или напряжений, возникающих в неидеальных кристаллах, содержащих примеси. Температура заметно влияет на частоту, ширину и интенсивность линий ЯКР. Поэтому измерение частот ЯКР для химических исследований обычно [c.743]

Когда источник излучения достаточно стабилен и сохраняет постоянную температуру, статистическая сумма по состояниям Z будет оставаться постоянной и число атомов (ионов) N будет пропорционально концентрации с. Для данной линии определяемого элемента дт. А, X к Е , постоянны. Следовательно, интенсивность линии I пропорциональна с, что позволяет проводить количественное определение. В относительном количественном анализе используют ряд образцов сравнения для построения градуировочного графика, т. е. зависимости интенсивности от концентрации определяемого элемента. Интенсивность линии определяемого элемента в неизвестной пробе используют для нахождения его концентрации по градуировочному графику. Теоретически возможно выполнить также абсолютный количественный анализ, т. е. анализ без использования процедуры градуировки. Однако абсолютный количественный анализ требует знания температуры, телесного угла испускания и т. д. Эти измерения в рутинном анализе осуществить нелегко. [c.16]

Под чувствительностью количественного микроанализа, как и в других методах анализа, основанных на измерениях интенсивности спектральных линий детектором в импульсном режиме, понимается такое количество элемента в анализируемом микрообъеме образца, которое создает интенсивность линии, в три раза превосходящую статистические флуктуации интенсивности фона за определенный интервал времени. [c.66]

Коэффициент поглощения излучателей резко меняется в зависимости от соотношения компонентов бинарной смеси, что связано с большим различием в атомных номерах ниобия (41) и тантала (73). От коэффициента поглощения, в свою очередь, зависит интенсивность рассеянного излучения (фона). Аналитический график, представляющий функцию суммарной интенсивности линии и фона /(Л+Ф) от концентрации (С, %), отражает указанную зависимость и позволяет избавиться от необходимости измерений и учета фона. Кроме того, анализ по графику приводит к нивелировке статистических ошибок и ошибок, связанных с изготовлением эталонов. [c.271]

Разумеется, метод автоматической обработки масс-спектров высокого разрешения не лишен недостатков, которые, если не считать аппаратурной сложности, являются издержками быстроты анализа. В частности, при случайных флуктуациях магнитного поля или под воздействием интенсивной внешней помехи на отдельных участках масс-спектра погрешность определения массы может возрасти настолько, что потребуется повторное сканирование. Возрастает влияние статистических флуктуаций ионного тока, повышаются требования к стабильности каналов питания масс-анализатора и к стабильности потока реперного вещества. Сложность автоматической обработки масс-спектров увеличивается при наличии в масс-спектре неразрешенных дублетов, особенно если одним из партнеров дублета является реперный пик. При неточном выборе порога регистрации и алгоритма обнаружения пика может наблюдаться расщепление пиков и появление ложных пиков на хвостах интенсивных линий. Измерение точных значений масс ионов позволяет уста- [c.30]

Были выбраны в основном элементы с высокими потенциалами ионизации, не оказывающие заметного влияния на условия возбуждения в дуге (кроме Na). Окислы этих элементов, в пересчете на металл, смешивали с угольным порошком и кварцем и помещали в анод размером 3x4 мм. В катод (2 X10 мм) набивался чистый угольный порошок. Нами проведена статистическая обработка результатов измерений, показавшая высокий коэффициент корреляции г = 0,89 между потерями на излучение и суммой по состояниям атомов Z. Значения Z брались из работы [3L Как видно из рис. 3, потери на излучение плазмы растут с увеличением суммы по состояниям влияющего элемента, что, по-видимому, обусловливает наблюдаемое на практике снижение интенсивности линий в спектре в присутствии больших количеств элементов с много линейчатым спектром, [c.88]

В общем случае строят градуировочные графики по значениям интенсивности линий с учетом фона Л д+ф — ф, где Л +ф — общее число импульсов, соответствующее интенсивностям линии и фона, ф — число импульсов, соответствующее фону, измеренное за тот же отрезок времени. Учет фона не всегда обязателен (при некоторых условиях интенсивность фона достаточно постоянна, так что ею можно пренебречь). В таком случае график зависимости интенсивности от концентрации не проходит через начало координат, но пересекает ось ординат (ось интенсивности) на уровне, соответствующем фону. Не всегда целесообразно вводить поправку на фон, в связи с тем что при этом вводится дополнительная статистическая ошибка. Абсолютная стандартная ошибка счета интенсивности линии в случае учета фона определяется как [c.230]

Различные способы измерения температуры и электронной концентрации в плазме достаточно подробно описаны [244, 980]. К числу наиболее распространенных относятся способы, основанные на измерении относительной интенсивности соответствующих спектральных линий, принадлежащих одному элементу. Так, температура плазмы может быть вычислена из относительной интенсивности,/1/72 для двух атомных (или двух ионных) линий с длиной волны Я] и Яг, с известными энергиями возбуждения б1 и ег, статистическими весами возбужденных состояний и вероятностями излучательных переходов (Я )1 и gA)2 по следующей формуле, вытекающей из выражений (48) и (49) [c.102]

При добавлении 15% СРзСООН все сигналы резко сужаются, но их интенсивность по-прежнему сильно зависит от молекулярной массы (рис. 13.18,6 и 13.19,6). Для полимера с СП = 55 сигналы протонов а-СН, р-СНг (7,7т) и -СНг (7,5т) отчетливо различаются. Их положение не изменяется, а оптические измерения показывают, что полипептид в этих условиях сохраняет форму а-спирали. При 30% СРзСООН (рис. 13.18, а и 13.19,а) происходит дальнейшее сужение линий, хотя оно и не столь значительно, как на (Первой стадии. Оптические методы показывают, что полипептид при этом переходит в конформацию статистического клубка [107, 141], для которой ширина сигналов ЯМР не зависит от молекулярного веса. [c.312]

Пробы первой группы (твердые, порошкообразные, в виде растворов, биологические пробы) анализируются непосредственно, хотя и требуется некоторая подготовка нроб для анализа. Основное требование к приготовлению проб для анализа — получение воспроизводимых проб для возбун дения рентгеновского спектра. Сюда относятся такие факторы, как величина пробы, размер частиц пробы и обработка поверхности пробы. Для достижения максимальной чувствительности в определении следов элементов необходимо оптимизировать параметры прибора, введение поправки на фон, статистические методы счета импульсов при измерении интенсивности линий и т. д. Поскольку определение следов связано с измерением малых сигналов, которые должны быть отделены от фона спектра, необходимо выбирать оптимальную область спектра. Так, Кемпбелл и Тетчер [24] рекомендуют применение линий -серии для определения элементов с атомным номером менее 40, -серии для онределения элементов с атомным номером более 60 и линии К- или -серии для элементов с атомным номером между 40 и 60. Несмотря на то что -спектр менее интенсивен, чем 7 -спектр, -линии располагаются на непрерывном спектре меньшей интенсивности, что иногда улучшает отношение сигнала к фону. [c.231]

Заключительные замечания. В данном рассмотрении приближенно учитывается изменение интенсивности линий с волновым числом в пределах колебательно-вращательпой полосы, но пренебрегается тонкой вра-1цательной структурой. В результате зависимость от давления предсказывается этой моделью неправильно. Статистическое рассмотрение с учетом тонкой вращательной структуры дает приемлемую зависимость излучательной способности от давления, но предполагает одинаковую интеисив-пость линий в пределах эффективной ширины полосы и стремящуюся к нулю интенсивность линий вне ширины полосы. С практической точки зрения важно установить, какой метод приближения более надежен для предсказаний излучательной способности до опыта и для экстраполяции экспериментальных данных. Можно ожидать, что в конце концов оценки излучательной способности для водяного пара, как и для других более простых молекул, будут основываться на теоретических расчетах, отправляющихся от количественных (низкотемпературных) измерений интегрального показателя поглощения для колебательно-вращательных полос. Так как статистическая модель содержит явную зависимость излучательной способности от полного давления, мы полагаем, что статистическое приближение является предпочтительным при условиях, когда спектральный показатель поглощения быстро изменяется с давлением. [c.306]

Наибольшие ограничения спектрометрического метода связаны с тем, что выходная щель обычно много шире собственной ширины измеряемой линии. Ранее было показано, что это делается для того, чтобы устранить мешающие эффекты оптической нестабильности. Хотя это обстоятельство является достоинством при определении высоких концентраций (см. выше), его следует рассматривать в качестве недостатка при определении следов элеменов. Вследствие широких выходных щелей отношение суммарной интенсивности линии и фона к интенсивности фона, т. е. (/ + 1и)/1и, заметно изменяется, что приводит к увеличению предела обнаружения. Другой недостаток с точки зрения определения следов элементов состоит в том, что на приборах обычной конструкции невозможно произвести точный учет фонового излучения. Иными словами, нельзя одновременно интегрировать интенсивности // + / и / , где / — интенсивность фона рядом с линией. Следовательно, невозможно вычесть величну / из суммарной величины / + / и тем самым ввести поправку на фон. Вместо этого приходится последовательно определять величины I -Ь 1и) 1г и 1и11г и затем вычислять / //г путем вычитания последней из первой величины. Точность определения этой расчетной величины зависит от воспроизводимости неоднократно повторенных измерений, т. е. по существу от статистической воспроизводимости измеряемых данных. В противоположность этому в спектрографическом методе величины 5/+и и измеряются рядом в одном спектре. Измерения можно повторить в параллельных спектрограммах, и поэтому такой способ дает более точный учет фона. Однако в спектрографическом анализе главные погрешности обусловлены локальной неоднородностью фотопластинки. Возможности [c.260]

Помимо частоты характеристическими параметрами спектров ЯКР являются также ширина линии Av и времена релаксации Ti (спин-решеточное), (спин-спиновое) и Т (обратно пропорциональное ширине линии Av) [5]. Ширина линии ЯКР определяется, как правило, беспорядочным статистическим разбросом значений градиента из-за дефектов и напряжений, возникающих в неидеаль-иых кристаллах, содержащих примеси. Температура заметно влияет на частоту, ширину и интенсивность линий ЯКР. Поэтому измерения частот ЯКР для химических исследований проводят обычно при температуре кипения жидкого азота (77 °К). [c.16]

Применение кристаллодержателей, в которых изгиб кристалла осуществляется между двумя металлическими шаблонами, вследствие несовершенства изгиба кристалла не позволяет добиться постоянства ширины и интенсивности линии на достаточно большом участке ее длины. Величина Г, характеризующая ширину линии, может в этом случае изменяться иногда до 50% при смещении вдоль линии на 30—40 мм. Поэтому при ис пользовании спектрографов, снабженных подобными кристаллодержате-лями, при проведении ренп-еиоспектральных анализов необходимо тем или иным способом строго фиксировать участок линии, па котором осуществляется измерение. Можно рекомендовать, например, проводить измерение ширины линии всегда в том месте по ее длине, в котором наблюдается максимум интенсивности. При таком методе иа точности измерения ширины линии не сказывается даже пресловутый эффект сползания спектра , вызываемый недостаточной устойчивостью положения фокусного пятна рентгеновской трубки спектрографа. Возможная ошибка в выборе положения точки, в которой производятся замеры ширин, не превышает обычно 1 мм, а связанная с этой ошибкой погрешность измерения ширины линии оказывается намного меньше статистической ошибки измерения. [c.54]

Глава 2. Получение и измерение рентгенограмм. 2-1. Оборудование рентгеновских лабораторий (рентгеновские установки, рентгеновские трубки и кенотроны, рентгеновские камеры, микрофотометры). 2-2. Получение сфокусированных линий. 2-3. Методы исследования превращений и состояния кристаллической решетки при высоких и низких температурах. 2-4. Фотографический метод регистрации (режимы съемки рентгенограмм некоторых металлов, номограмма для установки рентгеновских камер обратной съемки, номограмма для установки рентгеновских камер экспрессной съемки). 2-5. Ионизационный метод регистрации (свойства счетчиков излучения, поглощение рентгеновских лучей в счетчиках Гейгера — Мюллера, эффективность различных типов счетчиков излучения). 2-6. Селективно-пог.чощающие фильтры. 2-7. Характеристики кристаллов-монохроматоров (характеристики отражения и свойства кристаллов-монохроматоров, отражательная способность кристаллов-монохроматоров, оптимальная толщина кристаллов-монохроматоров при съемке на прохождение, свойства плоских кристаллов-монохроматоров, углы отражения для изогнутых кристаллов-монохроматоров). 2-8. Параметры съемки с изогнутым кварцевым монохроматором. 2-9. Измерение положения дифракционных линий на рентгенограммах (определение угла скольжения при съемке на плоскую пленку, поправка на нестандартность диаметра рентгеновской камеры, поправка на толщину образца, поправка на эксцентриситет образца в рентгеновской камере). 2-10. Измерение интенсивности (число импульсов, нужное для получения заданной вероятной ошибки на ионизационной установке, поправка на статистическую ошибку счета, поправка иа размер частиц для неподвижного образца, поправка на размер частиц при вращении образца, поправка на просчет счетчика). 2-11. Междублетные расстояния. 2-12. Некоторые данные для расчета лауэграмм (сетка для расчета лауэграмм, снятых методом обратной съемки, сетка для расчета лауэграмм, снятых на прохождение, вспомогательная таблица для построения проекции кристалла по лауэграмме). 2-13, Определение ориентировки крупных кристаллов в поликристаллических образцах. [c.320]

Вывод о пропорциональности интенсивностей составляющих узкого сериального дублета статистическим весам расщепленного уровня был обобщен Доргело и Бюргером С ] на случай перехода между простым и расщепленным уровнями, относящимися к любой мультиплетности. При этом, если расщепленным -является верхний уровень, правило оправдывается лишь при выполнимости закона Больцмана (при статистическом равновесии). Указанное обобщение подтверждается измерениями интенсивностей составляющих главных и вторых побочных серий 5Р и Р5. Как мы указывали ( 39), линии главной и 2-й побочной серий для всех мультиплетностей, начиная с трех, образуют группы по три линии, которые отличаются друг от друга интервалами и относительными интенсивностями. Теперь мы можем вычислить эти интенсивности. Для Р-терма ( = 1), характеризуемого суммарным спиновым квантовым числом 5, квантовое число У принимает три следующих значения УJ = 5+l 2 = Соответственно интенсивности трех [c.409]

В ней удачно сочетается достаточно строгое изложение фундаментальных теоретических основ с подробным опнсаиием обширного методического материала, касающегося различных аспектов практического использования эмиссионного спектрального анализа, например способов подготовки проб к анализу, выбора источника излучения и условий возбуждения спектров, измерения и преобразования интенсивности спектральных линий, а также статистической обработки полученных данных. Обсуждаются специфические особенности, преимущества и недостатки спектрографического спектрометрического и визуального методов регистрации спектров, рассматриваются вопросы организации работы спектральной лаборатории и, наконец, даются конкретные рекомендации по анализу металлов и сплавов. Большое внимание уделено также применению ЭВМ для обработки результатов измерений. Кроме того, в книге приведены полезные в практическом отношении таблицы физико-химических постоянных, таблицы наиболее удобных для анализа спектральных линии и вспомогательные таблицы, необходимые при преобразовании интенсивностей и определении погрешностей анализа. [c.5]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология