Излучение Частицы обратного рассеяния

Обратное рассеяние Р-частиц веществом зависит от их энергии, толщины слоя абсорбирующего материала и порядкового номера абсорбирующего элемента. Связь между толщиной слоя т, обеспечивающего наибольшее отражение Р-частиц веществом, и максимальной энергией р-излучения (МэВ) выражается формулой [c.305]

Концентрацию трудно доступных для исследования аэрозолей, например концентрацию воды в облаке, можно определять с помощью радиолокаторов. Прощупывающий пространство направленный радиолуч испускается источником в виде импульсов через определенные промежутки времени и регистрируется на экране осциллографа. С помощью осциллографа регистрируется и излучение, возвратившееся обратно в результате рассеяния объектом (облаком). По интервалу времени, прошедшему от подачи радиосигнала до приема рассеянного луча, можно определить расстояние до объекта, а по интенсивности отраженного луча можно судить о концентрации дисперсной фазы в объекте, так как рассеяние радиолучей малыми частицами описывается уравнением, в общем аналогичным уравнению Рэлея. [c.342]

При изучении обратно рассеянных р-частиц на большом р-спектрометре мы обнаружили большие энергетические потери в более легких элементах и несколько меньшие — в тяжелых. Экспериментальные данные по относительному обратному рассеянию, полученные на этом прецизионном приборе, еще раз подтверждают вывод о зависимости обратного рассеяния от и ее линейности в каждом периоде. Данные результаты, кажется, говорят о том, что уменьшение энергии А , умноженное па среднее число р-частиц, также измененное, остается постоянным. Это трудно установить с высокой точностью, однако можно почти определенно утверждать, что полная энергия, потерянная в процессе обратного рассеяния, не зависит от Ъ. Часто можно слышать, как, говоря об изотопе, называют его чистым р-излучателем , и это подтверждается каталогами тех предприятий, которые производят и распространяют радиоизотопы. Однако все такие источники наряду с Р-частицами создают внутреннее тормозное излучение. Так как многие р-излучающие изотопы являются продуктами деления, они, вероятно, содержат как р-, так и у-излучающие примеси. [c.234]

Существуют также и другие взаимодействия и эффекты, способные влиять на форму получаемого 7-спектра. Из-за совпадающего детектирования двух или более 7-квантов из каскада распадов, приводящего к импульсу с амплитудой, которая соответствует сумме энергий квантов, наблюдаются дополнительные пики, так называемые суммарные пики. Тормозное излучение с непрерывным распределением образуется в процессе торможения /3-частиц и электронов конверсии как в детекторе, так и в окружающем материале. Тормозное излучение может значительно увеличить фон в низкоэнергетической области спектра. Образование тормозного излучения вне детектора можно эффективно уменьшить за счет использования окружающих материалов с низким Z. 7-Излучение комптоновского рассеяния в окружающих детектор материалах образует так называемый пик обратного рассеяния. [c.111]

Счетчики Гейгера — Мюллера в отсутствие радиоактивных препаратов всегда регистрируют некоторую скорость счета. Эта скорость счета называется фоном счетчика. Фон появляется потому, что счетчик регистрирует космическое излучение и излучение радиоактивных загрязнений окружающих предметов. Кроме того, в счетчике образуются так называемые ложные импульсы. Для снижения фона счетчика его помещают в свинцовую защиту (домик). Внутренняя часть домика обычно покрыта или алюминием, или плексигласом, что заметно снижает обратное рассеяние Р Частиц от свинца. [c.50]

I — регистрируемая счетчиком активность, в имп мин (исправленная на разрешающее время счетной установки и наличие фона — см. работу 1) т — геометрический коэффициент счета к — коэффициент поглощения излучения данной энергии в стенках счетчика и в слое воздуха, отделяющем препарат от счетчика 5 — коэффициент ослабления излучения в слое препарата ц — коэффициент обратного рассеяния излучения от материала подложки р — доля Р-частиц (и электронов конверсии), приходящаяся на один распад. [c.255]

Обнаружение и спектрометрия (получение частотного спектра энергии) электронов (в том числе 3-частиц) проводится с использованием органических сцинтилляторов. Обладая малым эффективным атомным номером, эти материалы дают незначительное обратное рассеяние, которое приводит к потере части энергии электронов. Малый эффективный атомный номер сводит к минимуму интерференцию у-излучения (см. раздел П.З). В качестве сцинтилляторов могут применяться как монокристаллы, так и растворы. [c.48]

Использование радиоактивных изотопов в качестве меченых атомов практически затронуло все области науки и техники [1, 2].Имеются все основания утверждать, что эффект взаимодействия излучения с веществом вскоре будет более важным критерием нри выборе источника, чем вид излучения или частиц, эмитируемых данным источником. К числу таких взаимодействий относятся ноглощение, обратное рассеяние р-частиц, тормозное излучение, характеристическое рентгеновское излучение, возбуждаемое р-частицами и флуоресцентное рентгеновское излучение, возбуждаемое у-излучением, и многие другие. [c.233]

Очень трудно непосредственно сравнивать активности двух препаратов одинаковой формы, содержащих различные радиоактивные изотопы, так как обычно они имеют неодинаковую энергию испускаемых частиц. Дал<е при совершенно одинаковых условиях измерения абсолютные коэффициенты счета (см. стр. 81) для различных изотопов не равны между собой, так как поглощение, обратное рассеяние, эффективность регистрации и самопоглощение в препарате сильно зависят от энергии излучения. Поэтому, как правило, проще и выгоднее для каждого изотопа измерить эталон по методике абсолютного определения активности (см. разд. 6) и уже с ним сравнивать неизвестный препарат. [c.88]

Введение [1—3]. На практике часто оказывается необходимым измерять уровни жидкостей, расплавов и пр. в недоступных или непрозрачных резервуарах, а также вести непрерывный контроль за изменением уровня. В подобных случаях возможно использование многочисленных методов, связанных с у-излучением. Либо радиоактивный излучатель помещают в качестве поплавка в резервуар и измеряют излучение снаружи, либо препарат укрепляют на дне резервуара, а счетчик — над резервуаром и измеряют зависимость интенсивности излучения от высоты жидкости (раб. 17.1). Можно укреплять препарат с одной стороны резервуара, счетное устройство с другой и передвигать их одновременно, например снизу вверх. При достижении уровня жидкости будет наблюдаться резкое увеличение интенсивности регистрируемых частиц (раб. 17.2). Наконец уровень жидкости можно определять методом обратного рассеяния. В этом случае препарат и регистрирующее устройство помещают над резервуаром и хорошо изолируют друг от друга. [c.186]

Поскольку масса -частиц очень мала, они легко рассеиваются в результате взаимодействия с электронной оболочкой атома. Как уже было указано в работе 15.3, интенсивность рассеянного излучения зависит от порядкового номера рассеивающего материала. Поэтому измерением интенсивности обратного рассеянного излучения можно определять природу различных материалов (работа 15.3. [c.403]

Рис, 189. Зависимость максимального пробега излучения, получающегося при обратном рассеянии -частиц различных излучателей, от порядкового номера материала. [c.403]

В системе всей мощности. Однако при вычислении необходимо ввести поправки на а) неоднородность частиц по энергии, б) обратное рассеяние, в) поглощение в окнах и г) энергию, выходящую из системы в виде тормозного излучения. Подобный расчет осуществим даже и при неполном поглощении энергии частиц в облучаемой системе, хотя при этом он становится менее точным. [c.59]

Согласно уравнению (85) рассеяние на малых частицах обратно пропорционально четвертой степени длины волны падающего излучения. Поэтому при прохождении теплового излучения через слой частиц малых размеров прошедшее излучение обогащается длинноволновыми компонентами, а рассеянное — короткими. При больших размерах частиц такого явления не будет. [c.52]

Следует отметить еще одно существенное с практической точки зрения обстоятельство. Поскольку масса электрона мала по сравнению с массой атомных ядер, то электрон при отдельных соударениях может испытывать большие отклонения от первоначального направления движения. Это явление особенно сильно проявляется в тех случаях, когда электроны, обладающие сравнительно невысокими энергиями, рассеиваются ядрами элементов с большим атомным номером. В результате такого процесса обратного рассеяния некоторая часть 3-частиц может отклоняться более чем на 90° от своего первоначального направления. Отношение интенсивности пучка Р частиц, отклоненных на угол больше 90°, к интенсивности падающего пучка, называемое коэффициентом обратного рассеяния, зависит как от толщины рассеивающего материала и его эффективного атомного номера 2эф., так и от энергии падающего, 8-излучения. [c.25]

Это удобно в том отношении, что отпадает необходимость вводить поправки на обратное рассеяние и на самопоглощение а- и -частиц в активном слое загрязненной поверхности, которые практически невозможно учесть, а при измерениях вводить только поправки на геометрию и поглощение излучения в измерительных датчиках. [c.245]

Хотя обычно не удается измерить интенсивность рассеяния под углом 0°, ее можно получить линейной экстраполяцией прямой к оси ординат. При прочих равных условиях интенсивность рассеяния под нулевым углом пропорциональна молекулярному весу или объему частицы. При рассеянии под этим углом не обнаруживается различия между фазами амплитуды вторичных волн аддитивны, и, следовательно, результирующая амплитуда пропорциональна числу эффективных электронов в частице. Интенсивность излучения, рассеянного одной частицей, пропорциональна квадрату числа электронов или квадрату ее молекулярного веса. Однако, поскольку при данном количестве вещества число частиц обратно пропорционально их величине, мы имеем прямую пропорциональную зависимость интенсивности от молекулярного веса для всей системы. [c.198]

Методы анализа частиц и грубых поверхностей — это область, которая еще продолжает свое развитие. Метод отношения пик/фон подает большие надежды, но необходимы дополнительные исследования, в частности определение гистограммы ошибок, получаемых при анализе образцов известного состава с грубой поверхностью. Даже в том случае, если разработан совершенный метод анализа, при анализе грубых образцов и частиц исследователя подстерегают ловушки, которые он практически не может контролировать. Если вернуться к рис. 7.20, становится очевидно, что могут возникнуть ситуации, в которых электрон, рассеянный исследуемой областью, может возбуждать близлежащие области с другим составом, так что в спектре присутствует рентгеновское излучение от двух разнородных по составу областей. Такой спектр нельзя подвергнуть обработке, обратной свертке, поскольку неизвестны относительные вклады компонентов. Аналогично при анализе негомогенных частиц, которые часто наблюдаются на практике, область взаимодействия электронов может распространяться из интересуемой области в соседние области с другим составом, приводя к появлению сложного спектра, не поддающегося анализу. [c.56]

Используя в таких приборах совершенную электронику и систему детектирования с временной разрешающей способностью, можно изучить загрязнение атмосферы на разных расстояниях от прибора. Метод основан на постоянной скорости электромагнитного излучения. Лазер обладает очень коротким импульсом излучения во времени, который составляет порядка десятых долей микросекунды. Поскольку это излучение направляется от спектрометра, рассеянное излучение попадает в него в строго определенное время, после того как лазерный импульс пройдет известное расстояние до определяемых частиц и обратно. Ограничивая регистрируемое рассеянное излучение некоторым очень коротким интервалом времени, прибор может обнаруживать и измерять только то излучение, которое рассеивается молекулами на определенном расстоянии от спектрометра. [c.749]

При пламенном анализе нефтепродуктов проблема фона приобретает особо важное значение. Это объясняется тем, что анализируемый образец (сама проба и растворитель) оказывает существенное влияние на состав и характер пламени, изменяя отношение С/О. Заметная часть пробы с тяжелой основой служит источником образования сажистых частиц, рассеивающих свет. Отрицательное последствие от этого процесса усугубляется значительным различием нефтепродуктов по вязкости, в результате чего также изменяются состав пламени и отношение С/О. Интенсивность рассеивания падающего излучения достаточно мелкими частицами (размером примерно на порядок меньше длины волн падающего излучения) в соответствии с законом Рэлея обратно пропорциональна четвертой степени длины волны измеряемой линии. Поэтому с уменьшением длины волны аналитической линии отрицательное влияние рассеяния излучения резко возрастает. При этом особенно ухудшаются аналитические характеристики при использовании резонансных линий с длиной волны около 200 нм (РЬ 217,0 нм Sb 206,8 нм As 197,2 нм As 193,7 нм Se 196,1 нм). При введении в воздушно-ацетиленовое пламя водного раствора, содержащего мелкодисперсные твердые частицы, кажущаяся абсорбция на длине волны резонансной линии никеля 232,0 нм состав- [c.129]

Если электромагнитная волна (рентгеновское излучение) падает на ПОКОЯЩИЙСЯ электрон, то под действием электрического поля волны электрон приходит в колебательное движение с частотой, равной частоте колебаний электрического поля падающей волны. Но всякое колебательное движение заряженной частицы сопровождается излучением электромагнитных волн во всех направлениях (с разной интенсивностью в разных направлениях), частота которых равна частоте колебаний частицы. Таким образом, когерентное рассеяние (рассеяние без изменения длины волны) описывается в виде двух последовательных процессов энергия первичной волны передается электрону, который отдает ее обратно в виде вторичных (рассеянных) рентгеновских лучей той же частоты. [c.148]

На протяжении главы мы могли видеть, что со времен Ньютона объяснение природы лучистой энергии изменялось от одной точки зрения к противоположной и обратно. До исследования Планком проблемы излучения абсолютно черного тела все экспериментальные работы подтверждали волновую теорию излучения. Однако с 1900 г. накопившееся очень большое число экспериментальных фактов несомненно указывало на корпускулярную природу электромагнитного излучения. Так, Эйнштейн, а позднее Дебай разрешили проблему удельной теплоемкости твердых тел на основе квантовых положений, а Комптон объяснил рассеяние рентгеновских лучей электронами при их взаимодействии, как если бы оно произошло между релятивистскими частицами. Поскольку уже нельзя было отрицать, что электромагнитное излучение имеет волновой характер, возможна дилемма фотон—волна или частица Эта проблема не относится к числу легко разрешимых, она не может быть решена при простом химическом или физическом подходе. Здесь приоткрывается новая страница естествознания, а проблема имеет и определенный философский характер. [c.35]

Рассеивание излучения Для автоматического анализа химического состава газов и жидкостей можно применять рассеянное р-из-лучение. При облучении анализируемой среды Р-частицами часть из них рассеивается средой в обратном направлении. Зависимость [c.116]

Коэффициент ослабления металлических частиц также приближается по величине к 2 при увеличении диаметра частиц (рис. 13) причем в этом случае переход происходит более плавно и при меньшем диаметре. На рис. 13 нанесены также значения кд- Он достигает максимума при х 1,25. При дальнейшем увеличении х коэф-. фициент кд уменьшается вследствие вытягивания индикатрисы рассеяния в направлении распространения падающего излучения. Все же у больших (л Э>1) металлических частиц ке не снижается меньше 1, т. е. металлическая частица рассеивает в обратном направлении излучение, падающее на площадь, равную или большую, чем ее поперечное сечение. [c.51]

Измерение толщины покрытия осуществляют компенсационным методом по интенсивности рассеянного 3-излучения. По схеме и конструктивному оформлению прибор ИТП-47Ь аналогичен Р-толщиномеру ИТУ-495 и отличается от последнего лишь тем, что в измерительную часть дифференциальной ионизационной камеры попадают 8-частицы, рассеянные в обратном направлении. Соответственно, измерительный излучатель и камеру ИТП-476 помещают с одной стороны контролируемого листа. [c.207]

В сухой и чистой атмосфере, состоящей только из молекул газ.ч (что характерно для высокогорных условий и больших высот), рассеяние инфракрасного излучения подчиняется закону Рэлея. Этот закон устанавливает, что рассеяние лучистой энергии частицами, размеры которых много меньше длины волны излучения %. обратно пропорционально четвертой степени длины волны. [c.34]

В потоке электронов отдельные частицы взаимодействуют друг с другом [4]. Рассеяние электронов ведет к распространению электронного излучения по всем направлениям, Сле.довательно, и электронорезист (рис. Vn. 1) экспонируется в тех местах, куда первоначально не направлялся пучок электронов. Поток электронов в слое резиста делят на излучение, сохраняющее направление первоначального пучка, и обратно отраженное электронное излучение. На рис. VH.2 показаны рассчитанные методом Монте-Карло траектории 100 электронов в слое резиста на подложке при разных ускоряющих напряжениях. Хорошо заметна доля электронов, имеющих направление первоначального пучка, и рассеянных. При 10 кВ рассеянные электроны расходятся на расстояние около [c.214]

Толщиномеры типа Бетамикрометр предназначены для измерения толщины разнообразных гальванических покрытий по обратному р-рассеянию. Принцип их действия основан на зависимо-мости числа обратно рассеянных р-частиц от толщины покрытия, которая должна быть меньше толщины насыщения. В зависимости от того, какой материал покрытия или основания имеет больше атомный вес, число рассеянных р-частиц будет нарастать или убы< вать при увеличении толщины покрытия (см. 7.5). Упрощенная функциональная схема покрытия, использующая р-излучение, изо бражена на рис. 7.30. [c.349]

При измерении активности препаратов часто можно получить значительные ошибки, вызванные самопоглощением излучения в образце. Самопоглощение даже в очень тонких препаратах особенно заметно для изотопов -с мягким Р-излучением, например для углерода-14 и серы-35. В то время как для фосфора-32 ( макс = 1,708 Мэе) можно не учитывать самопоглощение при толщине препаратов до 30 мг1см , в препарате углерода-14 ( макс = = 0,156 Мэе) толщиной 1 мг1см поглощается до 13% всех Р-частиц. Теоретически возможно аналитически точно рассчитать самопоглощение. Однако, поскольку в расчете используется ряд экспериментально трудно определяемых величин, таких, как толщина препарата, геометрический коэффициент, поправка на обратное рассеяние и т. д., практически нельзя провести точные вычисления. [c.77]

Введение [1—8]. Из работ разд. 4 и 10 ясно поведение Р-лучей при прохождении через вещёство. При прохождении через вещество Р-лучи взаимодействуют с ним и, в зависимости от скорости (энергии) частиц, природы и толщины материала, тормозятся, поглощаются или рассеиваются. Поглощение и обратное рассеяние Р-частиц можно использовать для контроля или измерения сравнительно тонких слоев. (При работе с очень тонкой фольгой применяют а-излучение — см. раб. 9.3 при работе с толстыми слоями используют у-излучение — см. работы разд. 16.) [c.171]

Для выполнения анализа используют внешний источник -частиц постоянной активности. Толш,ипа анализируемого образца, на который падает излучение этого источника, должна быть не менее 0,5 i max данного -излучателя, чтобы обеспечить независимость эффекта обратного рассеяния от толщины образца. При этом условии отношение числа частиц, отражаемых образцом в единицу времени, к числу частиц, падающих на образец в единицу времени (степень отражения Аотр) и отношение максимальной энергии отраженных Втах(отр) И падающих шахспад) частиц следующим образом зависят от Z отражающего элемента [c.234]

Доля рассеянных -частиц растет с увеличением атомного номера подложки и с ростом энергии -излучения. Последнее связано в основном с тем, что -частицы большей энергии глубже проникают в подложку, а стало быть, взаимодействуют на своем пути с большим числом атомов, что увеличивает вероятность обратного рассеяния. Насыщение здесь наступает при энергиях порядка 0,6 Мэв. Кривые зависимости поправки на обратное рассеяние q от максимальной энергии -спектра и от атомного номера подложки даны на рис. 9. 6. Эти кривые справедливы при толщине подложки свыше 0,2 / макс или 0,4 Rmuk . соответственно, и при толщине активного слоя меньше чем 0,1 Av, [5, 16]. Кроме того, принято, что конверсионное излучение практически отсутствует. Поскольку рассеянное излучение несколько мягче прямого, то при значительной толщине слоя между источником и чувствительным объемом счетчика (например, при снятии кривой поглощения) [c.347]

Для контроля толщины тонких пленок и покрытий получил распространение метод, основанный на зависимости интенсивности обратно рассеянного р-излучения от атомного номера и толщины рассеивателя. Как правило, плотность потока отраженных р-частиц пропорциональна контролируемой толщине. В качестве р-источника чаще всего используют радиоизотопы Фт, 204Т1, Кг. Регистрация рассеянных от исследуемого [c.81]

Для определения следов элементов целесообразно применять спектрографы болыпох дисперсии и разрешающей способности. Интенсивность непрерывного фона ослабевает обратно пропорционально величине дисперсии (или прямо пропорционально обратной дисперсии), интенсивность спектральных. линий остается неизменной. Каждая спектральная линия представляет собой изображение входной щели, и поскольку увеличение почти всех дифракционных спектрографов независимо от их размеров равно единице, теоретически полуширина спектральной линии должна равняться ширине щели. Поскольку непрерывны спектр можно рассматривать как наложение бесконечного числа перекрывающихся изображений щели, обладающих определенной энергией в заданном интервале длин волн, ясно, что интенсивность фона в этом интервале уменьшается по мере увеличения дисперсии. Фон спектра может быть обусловлен раскаленными частицами пробы, рассеянным внутри спектрографа светом, излучением молекулярных полос, образующихся в результате реакций пробы и электродов с атмосферой разряда и другими причинами. В пределах любого заданного интервала длин волн падающий на фотопластинку ноток, соответствующий фону, остается почти постоянным. Так, в спектрографе с малой дисперсией, папример 20 А1мм, энергия излучения фона в области 2000—3000 А падает на часть фотопластинки длиной 50 мм. Если же применяют спектрограф с дисперсией в 10 раз большей, та же энергия распределяется уя е по длине 500 мм. Поэтому интенсивность спектра фона уменьшается в каждой точке в 10 раз, тогда как интенсивность линии при этом почти не меняется. [c.167]

Обратное рассеяние. Явление обратного рассеяния электронов было описано в гл. IV, раздел Б. Для достижения воспроизводимости при счете -частиц образцы, очевидно, следует устанавливать таким образом, чтобы для всей серии образцов обратное рассеяние было или одинаковым или пренебрежимо малым. Если интересуют только относительные скорости распада, образцы лучше всего наносить на толстые подложки, изготовленные из материалов с низким значением Z (полимерные материалы или алюминий), и проводить все измерения в одинаковых геометрических условиях. Если необходимо с большой точностью сравнить активности различных -излучателей, следует учитывать возможные различия между рассеянием - и +-чa тиц и зависимость обратного рассеяния от энергии частиц (особенно в случае мягкого -излучения). В тех случаях, когда необходима максимальная точность, образцы предельно малой толщины следует наносить на практически невесомые полимерные пленки (<0,1 мг см ) и измерять активность с помощью 4л -счетчиков (см. раздел Е). [c.406]

В этом эксперименте короткий импульс тока с энергией от 300 до 500 Мэе инжектируется из линейного ускорителя в накопительное кольцо. Магнит инфлектора отключается до того, как траектории первоначально инжектируемых частиц снова возмущаются его магнитным полем. Амплитуда колебаний, которая привела бы частицы обратно в возмущающее поле, затем затухает из-за син-хротронного излучения. В силу значительного интервала времени от начала инжекции амплитуда колебаний достаточно затухает, так что частицы уходят из окрестности возмущающего движения поля инфлектора при инжекции последующих оборотов. Окончательный размер пучка зависит от противоборствующих эффектов радиационного затухания и раскачки из-за рассеяния на остаточном газе, тормозного излучения и квантовых флуктуаций. Рассеяние на остаточном газе ведет к бетатронным колебаниям, тормозное излучение и квантовые флуктуации излучения усиливают синхротронные колебания. [c.207]

Дифракционные методы. В дифракционных методах исследования рентгеновское излучение, поток электронов или нейтронов взаимодействуют с атомами в молекулах, жидкостях или кристаллах. При этом исследуемое вешество играет роль дифракционной решетки. А длина волны рентгеновских квантов, электронов и нейтронов должна быть соизмерима с межатомными расстояниями в молекулах или между частицами в жидкостях и твердых телах. Сама же дифракция (закономерное чередование максимумов и минимумов) представляет собой результат интерференции волн. Она зависит от химического и кристаллохимического строения, следовательно, соответствует структуре исследуемого вещества. Поэтому есть принципиальная возможность для решения обратной задачи дифракции, т. е. установление структуры вещества по его дифракционной картине. Обратная задача дифракции для рентгеновского излучения, дифрагирующего в конденсированных средах, называется рентгеноструктурным анализом. Методы применения электронных и нейтронных пучков вместо рентгеновского излучения называются электронографией и нейтронографией соответственно. Общим для этих методов является анализ углового распределения интенсивности рассеянного рентгеновского излучения, нейтронов и электронов в результате взаимодействия с веществом. Но природа рассеяния рентгеновских квантов, нейтронов и электронов не одинакова. Рентгеновское излучение рассеивается электронами атомов, входящими в состав вещества. Нейтроны же рассеиваются атомными ядрами а электроны — электрическим полем ядер и электронных оболочек атомов. Интенсивность рассеяния электронов пропорциональна электростатическому потенциалу атомов. [c.195]

Для частиц малого размера (р 0) индикатрисы рассеяния симметричны относительно плоскости, проходящей через центр частицы и перпендикулярной к направлению распространения падающего свёта. Интенсивность рассеяния достигает максимума в направлении, совпадающем с направлением падающего излучения (р = 0), и в обратном направлении (Р == 180°). Минимум интенсивности рассеяния наблюдается при р = 90°. При увеличении размера частицы (р 1) симметрия формы индикатрисы нарушается (см. рис. 2.3), причем в направлении падающего светового пучка интенсивность рассеяния больше, чем в обратном направлении. [c.25]

Светорассеяние. Если пучок света падает на молекулы растворенного вещества в разбавленном растворе, то он рассеивается во всех направле-виях, что обусловлено вторичной эмиссией осциллирующих диполей, наведенных в молекулах растворенного вещества под действием электрического вектора излучения. Если в растворе находятся макромолекулы, например молекулы нуклеиновой кислоты, то по крайней мере в одном из направлений их размер будет всего лишь в 20 раз меньше длины волны падающего света (обычно это свет ртутной лампы, которая дает монохроматическое излучение с Я 4358 или 5461 А). В этих условиях частицы растворенного вещества ун<е не являются точечными диполями их необходимо рассматривать как частицы с несколькими центрами рассеяния. Количество света, рассеянного в любом данном направлении, зависит от угла 0 между этим направлением и направлением падающего пучка оно максимально в прямом направлении (0 = 0) и минимально в обратном (0 == 180°). Данным обстоятельством можно воспользоваться для того, чтобы определять на основании одного и того же типа измерений не только величину но также и форму макромолеку.пы. К сожалению, методические трудности (требуется проведение измерений под малыми углами — порядка 10° и менее) становятся практически непреодолимыми как раз в той области молекулярных весов, которая наиболее интересна с точки зрения химии ДНК, а именно для 7кГ>3-10 (если только не пользоваться специальными приборами). Для более мелких молекул ДНК и для большей части видов РНК этот метод весьма эффективен и отличается большой точностью. Следует, однако, помнить, что данный метод пригоден не для всех макромолекул и может применяться лишь в тех с.11учаях, когда длина волны света больше V2o максимальной длины молекулы, но меньше /2 этой максимальной длины. [c.142]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология