фактор ячейка

Хотя рассчитанные по нашей модели значения А оказываются заниженными по сравнению с опытом, а В —завышенными, ясно, что выбранная нами модель учла главный динамический фактор ячейки и поэтому может быть использована для дальнейшего анализа. [c.59]

Отношение АТ)1х можно считать специфичным сигналом и, как показывает уравнение (X. 12), величина его пропорциональна разности температур в ячейке и функции от теплопроводностей газа-носителя и веш ества, заключенной в скобки. При > кд сигнал противоположен но знаку тому, который получается при кд > ка. На рис. Х-6 показано применение этого уравнения для смесей гелий-гептан и аргон-гептан с использованием данных, полученных с помош ью термокондуктометрического детектора с платиновой нитью. Значения АТ рассчитаны по известному температурному коэффициенту сопротивления платины и сопротивлению нити, отвечающему замеренным величинам тока и напряжения при прохождении одного газа-носителя через ячейку. Измерялись площади пиков, полученные при различных значениях АТ для постоянного количества к-гентана и постоянной скорости потока при температуре ячейки 140° С. Полученные данные в обоих случаях показывают сильное искривление графиков, обусловленное нелинейным характером изменения теплопроводности, теплоемкости и электрических факторов ячейки с повышением темпера туры нити. Однако, мгновенный наклон таких кривых должен соответствовать рассчитанным значениям величины к 1к, — 1). Экспериментально получены, как показывает рис. Х-6, наклоны = 1 и = 0,021, дающие отношение, равное 47. Экстраполируя значения теплопроводности для Не, Аг и и к-гептана, приведенные в табл. Х-3, до 140° С, получим отношение 8 8 = 40, что вполне соответствует эксперименту. Этот результат является [c.216]

Величина Л акс означает, что все пространство между пластинами будет заполнено набухшей целлюлозой. Принимая во внимание другие факторы, ячейки заполняют не полностью, а с учетом коэффициента надежности, который составляет 25%. Таким образом, практически имеем [c.76]

О связи между фактором обновления поверхности и условиями перемешивания в ячейке Льюиса. [c.268]

Второй момент состоит в том, что структурные факторы рассчитываются, как если бы все рассеяние в элементарной ячейке происходило на электронной плотности в начале координат. Для этого рассеивающие способности атомов, дающих вклад в должны быть сложены [c.391]

Здесь мы должны суммировать вклады структурных факторов всех атомов ячейки. В то же время важно ввести комплексное представление структурных факторов, поскольку это значительно облегчает расчет фазовых соотношений. Напомним, что сложение двух волн и г2, имеющих свою амплитуду и фазу, можно рассматривать как сложение двух векторов на комплексной плоскости. Это проиллюстрировано на рис. 17.23, где справедливы следующие соотношения [c.392]

Особенно прост и важен случай, когда т = 2 и две асимметрические ячейки связаны центром инверсии, т. е. х, у, z = х, у, z. Вклад в структурный фактор каждой пары атомов равен [c.394]

Однако вначале мы займемся только методом, дающим величины оьч пустые элементарные ячейки. Используя ряд Фурье, электронную плотность в любой точке ячейки можно выразить через наблюдаемые структурные факторы следующим образом (см. работу [3], стр. 222) [c.398]

Для удобства исследования влияния некоторых факторов (например, концентрации) на характеристики полупроницаемых мембран разработана конструкция ячейки (тип III), принцип действия которой ясен из рис. III-5. Давление в рабочей емкости 1 создается с помощью сжатого инертного газа. Жидкость перемешивается лопастной мешалкой 6, приводимой во вращательное движение магнитами 5, жестко закрепленными на подшипнике, вращающемся вокруг рабочей емкости 1. [c.112]

При оценке величины Ки здесь использована эмпирическая зависимость фактора массопередачи числа Ке (см. раздел 111.1). Примерно такая же оценка получается для поправки к коэффициенту теплопередачи, если заменить в уравнении (VI. 141) на а/ и диффузионные числа Ки и Рг на тепловые. Безразмерный фактор формы а1 —величина порядка нескольких единиц (о/ = п для простой кубической упаковки шаров ж а1 А для объемно-центрированной упаковки). Из формулы (VI. 141) видно, что при обычных скоростях потока (Ке > 10 ) поправки к коэффициентам переноса незначительна для жидкостей (Рг >1). Для газов (Рг 1) относительная поправка может составлять при Ке — 10 30—40% с увеличением числа Ке эта величина уменьшается, хотя и довольно медленно. Легко заметить, что величина рах характеризует максимальную степень превращения исходного вещества в одной ячейке, достижимую, когда реакция протекает в диффузионном режиме. Так как Ро8< 1, в кинетическом режиме (А < Р) степень превращения в одной ячейке всегда мала. [c.250]

Пусть при каждом сочетании уровней факторов А и В проводится п параллельных опытов. Так, в табл., 7 в ячейке, образован- [c.91]

Метод элементарной ячейки требует относительно простой вычислительной процедуры для определения различных сомножителей в к а- Расчет этих факторов в каждом случае сводится, как правило, к определению пространственного распределения нейтронов всех энергий. [c.476]

В состав электролитической ячейки входят два или три электрода, один из которых — индикаторный или рабочий, второй— электрод сравнения и третий — вспомогательный. Электрод, действующий как датчик, реагируя на фактор возбуждения и на состав раствора (не оказывая влияния на состав раствора за время измерения), является индикаторным. Если под действием тока, протекающего через ячейку, происходит значительное изменение состава раствора, электрод — рабочий. Электрод сравнения служит для создания измерительной цепи и поддержания постоянного значения потенциала индикаторного (рабочего) электрода. Используемый в трехэлектродной ячейке вспомогательный электрод (противоэлектрод) вместе с рабочим электродом включен в цепь, через которую проходит электрический ток. В состав электролитической ячейки могут входить два идентичных электрода, выполняющих одинаковую функцию. [c.102]

Форма кривой высокочастотного титрования зависит от многих факторов, характер влияния которых следует предварительно выяснить, варьируя частоту переменного тока, концентрацию анализируемого раствора и титранта, тип ячейки. Точка эквивалентности на кривой титрования должна находиться на изломе кривой, который находится на пересечении прямолинейных участков. [c.112]

Результаты зависимостей очистной способности электрофоретической ячейки от исследованных факторов представлены на рис. 4.8-4.13. [c.72]

Третий способ является наиболее совершенным. Используемая в этом случае ячейка показана на рис. 8. Рабочий электрод /, подвешенный к внутренней части цилиндрического шлифа 2, после выдерживания в исследуемом растворе при выбранном потенциале опускают на дно ячейки, затянутое тонкой пленкой из инертного материала (тефлона или терилена толщина пленки не более 2- м). Радиоактивность, которая фиксируется счетчиком 3, расположенным непосредственно под ячейкой, складывается из радиоактивности адсорбированных на электроде ионов радиоактивности слоя раствора, остающегося между мембраной и электродом радиоактивности ионов, адсорбированных мембраной, и радиоактивного фона раствора, находящегося за электродом. Для определения радиоактивности адсорбированных на электроде ионов необходимо из общей радиоактивности вычесть долю, обусловленную перечисленными факторами. Поэтому в раствор вводят избыток стабильного изотопа исследуемых ионов и после того, как они вытеснят с электрода практически все радиоактивные ионы, снова при опущенном электроде измеряют радиоактивность. [c.34]

От расположения атомов в элементарной ячейке, т.е. от структуры кристалла, зависит только структурный фактор F - квадрат амплитуды волны, рассеянной одной элементарной ячейкой в направлении, определяемом индексами hkl. Структурный фактор Р равен произведению [c.181]

Из-за большого объема ячейки есть несколько групп линий, которые не разрешаются на рентгенограмме (12 линиям из 46 можно приписать по 2-3 индекса). При этом целесообразно различать два случая 1) одна из этих линий индицируется в субъячейке, и на первой стадии определения структуры вся интенсивность приписывается этой линии, а остальным линиям приписывается нулевая интенсивность 2) все линии сверхструктурные, и интенсивность делится пропорционально факторам повторяемости (т.е. для всех линий принимаются равными). На каждой последующей стадии определения структуры величины F совпадающих линий необходимо пересчитать пропорционально f g . [c.195]

Искажение вольтамперограмм может происходить не только -за омического фактора ячейки, но и под влиянием остаточных Ягврков. Природа остаточных токов и их влияние на точность измерений достаточно подробно изучены [37]. В составе остаточного тока, как известно, выделяют емкостную и фарадеевскую составляющие, соотношение между которыми зависит от условий микроэлектролиза, т. е. способа регистрации вольтамперограммы. Емкостный ток преобладает в случае электродов с переменной поверхностью (например, р.к.э.). При использовании твердых электродов и особенно в методах с устранением емкостного тока [38, 391 доминирует фарадеевская составляющая остаточного тока. Не-воснроизводимость величины остаточного тока и наклона линии остаточного тока в области регистрации вольтамперограммы и является причиной ошибок в измерениях. Отмечая сложный состав остаточного тока, авторы работы [37] обращают внимание на важность тщательной очистки растворителей от возможных загрязнений, а также на необходимость применения пористых перегородок, отделяющих электрод сравнения от анализируемого раствора, чтобы предотвратить попадание в катодное пространство продуктов реакции на аноде. [c.17]

В этом разделе описаны некоторые факторы, влияющие на из.неряе-мую интенсивность отраженных пучков, а также математическая процедура, используемая для расчета интенсивности любого отражения на основе данных о содержимом элементарной ячейки. Мы увидим, что измерение интенсивности само по себе не может дать достаточной информации для прямого расчета положения атомов, и поэтому должен использоваться итерационный метод, в котором сравниваются измеренные и рассчитанные интенсивности и применяемая атомная. модель улучшается до тех пор, пока не будет достигнуто адекватное соответствие двух наборов величин. [c.390]

Атом металла—главный атом в модели элементарной ячейки, теперь же мы займемся доведением последней. Для этого требуются всего лишь две программы для ЭВМ программа Фурье, которую можно использовать для расчета функции Паттерсона, карт электронной плотности или карт плотности IF sl - l-F aid, и программа доведения по методу наименьших квадратов, которая, если модель завершена, но не точна, варьирует все неизвестные параметры таким путем, чтобы получить наилучшее соответствие между величинами и (найденной из этой модели). Вторая программа также отвечает за расчет структурных факторов, используемых в программе Фурье. [c.400]

Если структура завершена, то карта АР в любой области элементарной ячейки не имеет пиков или провалов. Если даже положения всех атомов определены, часто обнаруживают, что вокруг атомов, чьи электронные плотности нельзя хорошо согласовать с моделью стационарного атома, возникают странной формы области положительной и отрицательной плотностей. Теперь мы подошли к моменту, требующему введения концепции температурного фактора. Этот фактор отвечает за колебания молекул, вследствие чего атомы следует рассматривать, исходя из их усредненных по времени положений. Атомы можно рассматривать как колеблющиеся либо изотропно (в сферически симметричной форме), либо анизотропно (в форме эллипсоида). Различие состоит в том, что в первом случае для описания движения необходим только один параметр, а во втором случае — шесть. Смысл математического подхода заключается в простой корректировке фактора рассеяния на тепловое движение исходя из того, что размазывание электронной плотности вызывает более быстрое чем обычно уменьшение / в зависимости от 81п0Д. Для изотропного и анизотропного случаев соответственно можно записать [c.401]

Морфология образующихся частиц зависит от целого ряда факторов, но наиболее важным является соотношение скоростей их зарожд ения и роста, которые в свою очередь в значительной степени зависят от пересыщения системы. Окончательный размер частиц определяется числом центров кристаллизации и скоростью осаждения вещества. Умеренно растворимые вещества, например карбонаты, обычно осаждаются в виде очень мелких частиц. При медленном, регулируемом росте умеренно растворимых солей можно получать монодисиерсные осадки. При высоких степенях пересыщения первичный критический центр кристаллизации может быть меньше размера элементарной ячейки решетки и начинает расти, не имея упорядоченной кристаллической структуры. Таким путем можно получать аморфные или частично кристаллизованные осадки [И]. При низких степенях пересыщения образуется хорошо сформированный кристаллический осадок, причем форма частиц зависит от структуры кристалла и от процессов, преобладающих на поверхности раздела фаз в ходе роста. На морфологию осадка сильно влияет скорость роста кристаллов. При низких скоростях образуются компактные кристаллы, форма которых соответствует кристаллической структуре. Ионы в растворе вблизи поверхности раздела кристалл — жидкость играют важную роль в модификации формы кристалла. При высоких степенях пересыщения нередко образуются объемистые осадки с дендритными частицами. При еще больших уровнях пересыщения получаются очень мелкие частицы, способные к агломерации или образованию золей. [c.19]

Энергетические факторы необходимо сочетать со структурными соответствиями молекул реагентов и катализаторов [55]. Так, например, в элементарной ячейке пятиокиси ванадия имеются такие расстояния между атомами кислорода, которые весьма близки к длине связи между атомами углерода в молекуле бензола и других ароматических веществ. Пятиокись ванадия — хорощий катализатор для процессов окисления толуола и нафталлна во фталевый ангидрид [17]. [c.36]

С увеличенпем кратности пены (отношение объема пены к объему жидкости, пошедшей на ее образование) возрастает роль структурно-механического фактора в ее устойчивости. До кратности пены 10—20 пузырьки ее имеют обычно сферическую форму, так как они разделены достаточно толстыми прослойками жидкостн. С ростом кратности пены ее структура переходит в ячеистую, или сотообразную, в которой каждая ячейка представляет собой многогранник. Кратность таких пен доходит до нескольких десятков и даже сотен. Пузырьки газа в них разделены тончайшими пленками жидкости, образующими каркас, прочность которого определяется свойствами пенообразователя и его концентрацией. [c.350]

Пластичные смазки занимают промежуточное положение между жвдкими и твердыми смазочными материалами. Они представлякл собой структурированные коллоидные системы. Их свойства зависят прежде всего от особенностей трехмерного структурного каркаса, образующегося из дисперсной фазы, который в своих ячейках удерживает большое количество (80-90 %) дисперсионной среды. Устойчивость структурированной системы зависит от прочности структурного каркаса, сил взаимодействия между его отдельными частицами, между элементами структурного каркаса и дисперсионной средой на транице раздела фаз, числа контактов частиц каркаса в единице объема, электростатических свойств, критической концентрации ассоциации различных мыл и других коллоидно-химических факторов. [c.354]

Из рис. 152 и 153 видно, что тангенсы углов наклона прямых обеих зависимостей имеют противопюложные знаки. Поэтому зависимость перехода примесей в катодный никель одновременно ог обоих факторов будет выражена кривой второго порядка, имеющей минимум (рис. 154). Например, при использовании высоко очищенного раствора и незначительном содержании примесей в аноде раствор в ячейку следует подавать с небольшой скоростью, но все же достаточной, чтобы не вызывать осложнений вследствие чрезмерного обеднения католита никелем. [c.328]

Ha опыте обычно фиксируют не AR, а относительную величину AR/Ro, которая не зависит ни от интенсивности падающего света, ни от дефокусировки его в ячейке, ни от диффузионного рассеивания света. Это позволяет избавиться от трудностей, связанных с необходимостью учета этих факторов в методе прямого зеркального отражения. Величины AR/Ro регистрируют в зависимости от среднего потенциала Во при заданной длине волны света (X= onst) либо от длины волны при 0 = onst. Впервые для изучения поверхностных свойств серебряного и золотого электродов метод модуляционной спектроскопии отражения был применен Дж. Фейнлейбом (11966). [c.183]

Рентгено-, нейтроно- и электронографические методы позволяют находить квадраты модулей структурных амплитуд Р (Н) называемые обычно структурными факторами, и далее Р (Н) 1, в которой содержатся данные об электронной плотности элементарной ячейки кристалла. [c.234]

С точки зрения строго термодинамической нет необходимости связывать коэффициент активности растворенного вещества с механизмом поведения этого вещества. С другой стороны, нельзя не пытаться объяснить, почему происходят отклонения от идеального поведения. Опираясь на современные знания химии растворов, стало возможным показать, что коэффициент активности электролита тесно связан с такими факторами, как взаимодействие ионов, ионная ассоциация и ионное отталкивание, большая часть которых может быть понята с позиций электростатического взаимодействия. По-видимому, эти факторы зависят от диэлектрической проницаемости растворителя, и поэтому можно ожидать прямой связи между диэлектрической проницаемостью растворителя и коэффициентом актив1юстн растворенного вещества. Обычным способом определен я коэффициента активности электролита является использование гальванической ячейки. Связь между мольным коэффициентом активности электролита и измеренной э. д. с. ячейки для одно-одновалентного электролита дает уравнение Нернста [c.356]

Особенно близки между собой рентгенограммы Сар2 и Si (у qF2 и Si нет линий, соответствующих второй, пятой и восьмой линиям UO2 иУцР). Однако при сопоставлении относительных интенсивностей линий в обоих случаях можно заметить разницу 2-я и 3-я, 8-я и 9-я линии U О2 примерно равной интенсивности, в то время как у аР 2-я и 8-я линии значительно слабее 3-й и 9-й, у СцГ и Si значительно различаются интенсивности первых двух линий. Определение параметров решетки (с точностью хотя бы до 0,002 X) также дает однозначный ответ на вопрос о том, какое вещество исследуется в данном случае. Расхождения в значениях интенсивностей у разных авторов могут быть вызваны разными условиями съемки. В отличие от различий, обусловленных разницей в расположении атомов в ячейке, они более или менее плавно зависят от угла отражения и длины волны применяемого излучения. Это связано в основном с различием во влиянии абсорбционного фактора на рент- [c.42]

Электролитические ячейки (электролизеры). При разработке конструкции электролитической ячейки для потенциостатической кулонометрии необходимо принимать во впимапие следующие факторы [c.80]