Спектральные линии в коротковолновой

Спектр атомного поглощения элемента проще эмиссионного, так как состоит только из спектральных линий резонансной серии. В то же время среди линий резонансной серии имеются такие, которые в спектре эмиссии отсутствуют вследствие высоких потенциалов их возбуждения. Последние спектральные линии некоторых элементов (Со, Сг) смещены в спектре абсорбции в более коротковолновую область по сравнению с наиболее яркой эмиссионной спектральной линией. [c.49]

Вакуумный квантометр ДФС-31. Другой тип квантометра ДФС-31 рассчитан для работы в более коротковолновой области (1600 — 3300 А), где расположены интенсивные спектральные линии многих элементов. Воздух сильно поглощает излучение в области короче 1850 А, поэтому корпус прибора откачивается механически насосом до давления 0,01 мм рт. ст., а штатив для электродов продувается током аргона, так как дуговой разряд не возникает при низком давлении. Прибор имеет десять выходных щелей и фотоумножителей (приемники света) два из них рассчитаны на работу в области короче [c.150]

Английскому физику Мозли (1913—1914) удалось установить, что спектр рентгеновских лучей очень прост и напоминает собой спектр водорода одни и те же линии повторяются для всех элементов, но смещаются в более коротковолновую часть спектра по мере возрастания порядкового номера элемента в таблице Менделеева (рис. 4). Серии спектральных линий описываются уравнением, похожим на уравнение Бальмера, но содержащим порядковый номер элемента [c.29]

В коротковолновой области спектра (0,4-2,5 А) составляющая /ф, как правило, равна нулю, так как используемые кристаллы-монохроматоры обычно не содержат в своем составе элементов, имеющих спектральные линии в указанной области. [c.11]

Угловое, высотное и спектральное распределения интенсивностей поля коротковолновой радиации определяются процессами отражения солнечного излучения подстилающей поверхностью, молекулярным и аэрозольным рассеянием радиации, молекулярным и аэрозольным поглощением коротковолновой радиации Солнца. В связи с изменением освещенности на верхней границе атмосферы в зависимости от угла визирования Солнца и вариациями оптической толщи аэрозоля, поглощательной способности газовых компонентов по линии визирования в зависимости от зенитного и азимутального углов наблюдения спектральные интенсивности коротковолновой радиации при фиксированном состоянии атмосферы в значительной мере будут определяться положением Солнца на небосводе. [c.183]

Спектры излучения молекул в видимой и ультрафиолетовой области состоят из ряда полос, каждая из которых при большей дисперсии прибора распадается на близко расположенные в спектре отдельные линии. Обычно полосы с одной стороны имеют резкую границу или кант, с другой стороны густота спектральных линий убывает. По расположению линий в спектре относительно канта различают длинноволновое (или красное) и коротковолновое (фиолетовое) оттенение. [c.51]

Чтобы проверить, не является ли указанная фосфоресценция результатом действия длинноволнового отрога коротковолновой полосы собственного поглощения, было исследовано [338] спектральное распределение возбуждения фосфоресценции в КС1 — Т1. Возбуждение свечения производилось при помощи выделявшихся монохроматором отдельных линий ртутнокварцевой лампы и конденсированных искр из А1, Си, Ni и d. Относительная интенсивность применявшихся спектральных линий определялась фотографическим фотометрированием и при помощи счетчика фотонов. Полученные кривые спектрального распределения фосфоресценции оказались почти тождественными с кривой длинноволновой полосы поглощения КС1 — Т1, и в пределах ошибок измерений совпадают также положения максимумов этих кривых. [c.245]

Вакуумный квантометр ДФС-31. другой тип квантометра ДФС-31 рассчитан для работы в более коротковолновой области (1600—3300 у4), где расположены интенсивные спектральные линии многих элементов. Воздух сильно поглощает излуче- о [c.165]

При конечной ширине щели ширина спектральной линии определяется отношением Р1ъ пг в зависимости от длины волны. Для спектрографа ИСП-22 геометрическое изображение щели увеличивается при переходе от коротковолнового участка спектра к длинноволновому почти в полтора раза (табл. 8). [c.60]

Спектрограф ИСП-22 в течение длительного времени был надежным и наиболее распространенным прибором для фотографических методов анализа. Его новая модель — спектрограф ИСП-28 — имеет конструктивные отличия корпус прибора состоит из отдельных секций и легко снимается касс,ета имеет другое устройство, ее движение управляется и со стороны щелевого механизма. Оптические схемы обоих приборов одинаковы. Разрешающая способность спектрографа ИСП-28 в области 3000 А = = 10 000. Здесь же он разрешает спектральные линии, различающиеся не менее чем на 0,3 А. В коротковолновой части искрового спектра железа разрешается дублет 2383,25 и 2383,04, а также 2348,099 и 2348,305 А. [c.69]

Для расшифровки неизвестного спектра на предметный столик кладут спектрограмму, а на экран спектропроектора накладывается соответствующий планшет атласа дугового или искрового спектра железа так, чтобы линии железа в изображении спектра совпали с линиями атласа. Отметки в виде штрихов на планшете атласа укажут место, где должны быть чувствительные линии различных элементов. Против соответствующих штрихов в исследуемом спектре должна находиться спектральная линия того или иного элемента. Необходимо иметь в виду, что спектропроектор дает обратное изображение на экране. Поэтому спектрограмму кладут на предметный столик эмульсией кверху и коротковолновой частью спектра влево. Предметный столик 3 (рис. 12), на который кладется спектрограмма, передвигается с помощью двух ручек управления в двух взаимно перпендикулярных направлениях. [c.41]

Фотографируют спектр железа, линии которого используют для построения дисперсионной кривой данного спектрографа. Полезно произвести несколько снимков спектра железа с разным временем экспозиции (6, 10 и 15 с). После фотографирования дугового спектра железа фотопластинку проявляют, фиксируют и сушат. Берут из атласа дугового и искрового спектров железа [3,4] планшеты № 5, 6 и другие и выписывают из них длины волн нескольких наиболее интенсивных спектральных линий в коротковолновой области спектра, например 1) 230,168—237,142 нм 2) 237,142— 243,63 нм и др. После этого на предметный столик кладут спектрограмму с коротковолновой областью спектра, а на экран спектропроектора — планшет № 5, при помощи которого отождествляют длины волн линий для начала отсчета 230, 168—237, 142. Затем на [c.53]

Заметим еще коротко, что следует соблюдать большую осторожность при применении метода сенсибилизации. Нижний спектр рис. 18 дает нам тот же интервал, снятый с помощью отрывной цинковой дуги. Искровые линии, поэтому, совершенно отсутствуют, но и основная линия дугового спектра 2139 совершенно не видна, потому что она совершенно поглощается парами цинка. Перед нами так называемое самообращение спектральных линий. Но чем слабее концентрация цинка, тем больше проявляется эмиссия этих линий. Следует также сенсибилизировать только коротковолновую часть пластинки, так как обилие масла понижает чувствительность длинно- [c.26]

Так как и дв/дп и множитель (п — 1)/п возрастают с увеличением показателя преломления, линии искривляются сильнее в коротковолновой части спектра. В соответствии с (П.б) кривизна спектральных линий зависит также от угла 1 падения лучей на призму в главном сечении и от преломляющего угла призмы А. Для положения минимума отклонения выражение (П. 12) приводится к виду [c.35]

Угловая дисперсия дифракционной решетки почти не зависит от длины волны, что удобно для измерений длин волн отдельных спектральных линий. У призмы же дисперсия значительно меняется с длиной волны, быстро возрастая по мере приближения к коротковолновой или длинноволновой границе поглощения материала. [c.61]

Легко заметить, что хотя при движении вправо по графику частоты колебаний излучений все возрастают (излучения становятся все более коротковолновыми), но прирост увеличения частот колебаний от излучения к излучению все уменьшается (сравните ряд чисел 0,138—0,187—0,210—0,222...), что соответствует все большему и большему сближению спектральных линий. [c.71]

Несмотря на бол шую сложность спектров излучения, спектральные линии в них можно сгруппировать в серии. Коротковолновая граница спектральной серии соответствует кванту света с [c.9]

Найти длину волны коротковолновой границы серии спектральных линий в спектре излучения атома лития. Величину ионизационного потенциала взять из справочника [М., стр. 96 С. X., т. I, стр. 325]. [c.26]

Зная длину волны коротковолновой границы серии спектральных линий в спектре излучения атомов или ионов, определить первый (для атомов) или второй (для ионов) потенциал ионизации в дж/кмоль. Полученную величину сопоставить с данными справочника [М., стр. 96]. [c.31]

Относительная интенсивность рентгеновских спектральных линий для большого числа элементов в настоящее время хорошо известна. Она не зависит от условий получения спектров, химического состава пробы и содержания в ней анализируемого элемента. В принципе это позволяет использовать рентгеновские спектральные линии в качестве марок интенсивности для построения характеристической кривой эмульсии. Для этого, конечно, необходимо, чтобы спектральная чувствительность используемого для получения спектра прибора не зависела от угла отражения, иными словами, чтобы пространственная разобщенность линий рентгеновского спектра элемента на спектрограмме не приводила к искажению истинного соотношения их интенсивностей. Этому условию не удовлетворяют, например, спектрографы типа Иоганна с постоянным по величине протяженным фокусом рентгеновской трубки при равномерном качании кассеты спектрографа. По некоторым причинам здесь наблюдается систематическое искажение величины интенсивности рентгеновских спектральных линий элемента, приводящее к относительному возрастанию интенсивности коротковолновых линий. Это делает нерациональным использование описываемого метода построения характеристической кривой при работе с такими приборами. [c.42]

Здесь /г — фокусное расстояние линзы а — угол падения. Из этого выражения видно, что, чем короткофокуснее камерный объектив Ьч, тем больше кривизна спектральных линий. Кривизна возрастает также с ростом показателя преломления, в частности при переходе в более коротковолновую область спектра (см. рис. 32). [c.56]

В табл. 33 приведены длины волн спектральных линий щелочных металлов, лежащих в видимой части спектра, выраженные в миллимикронах т . — миллионных частях миллиметра). Эта единица длин волн является наиболее пригодной для обычного спектрального анализа, так как употребляемые при этом спектроскопы не в состоянии измерить десятые доли миллимикрона. Следует учесть, что коротковолновый свет при прохождении через призму разлагается сильнее, чем длинноволновый свет. Так как на рис. 32 линии представлены в таком виде, как они наблюдаются при разложении призматическим спектроскопом, красная часть спектра по сравнению с фиолетовой оказывается сильно сжатой. В табл. 33 ради полноты приведены также некоторые линии, которые обычно не видны, если излу- [c.174]

Потенциалы ионизации. Сложность уравнения Шредингера не дает возможности строго рассчитать энергию орбиталей многоэлектронных атомов. В связи с этим разработан ряд приближенных методов, которые требуют применения быстродействующих электронных счетных машин, однако погрешности получаемых результатов большие. Поэтому по точности теоретический расчет энергий атомных орбиталей не может пока конкурировать с экспериментальными способами. Наиболее разработанными и универсальными методами экспериментального определения эргергий атомных орбиталей являются спектроскопические. Спектры атомов, как известно, представляют собой совокупности серий спектральных линий, причем каждая из таких серий отвечает переходам электронов с различных удаленных орбиталей (в том числе и из бесконечности) на одну из близлежащих к ядру. При этом самой коротковолновой границе спектральной серии, которая характеризует переход электрона из бесконечности на ближайщую к ядру незанятую орбиту (переход в основное состояние), будет соответствовать выделение энергии, численно равной энергии отрыва электрона, т. е. энергии ионизации, или потенциалу ионизации [c.215]

Исследуемый образец в виде металлографического или минералогического аншлифа помещают в вакуумную объектную камеру микроанализатора. В процессе анализа образец наблюдается в оптический микроскоп и может перемещаться с помощью микроподач без нарушения вакуума. Таким образом осуществляется выбор и анализ строго фиксированной точки на поверхности шлифа. Специальная электронно-оптическая система, состоящая из электронной пушки и электромагнитных линз, создает сфокусированный на образце электронный пучок диаметром около 1 мк. Электроны с энергией до 50 кэв возбуждают атомы вещества в объеме в несколько кубических микрон и вызывают рентгеновское излучение. Излучение разлагается в спектр на рентгеновских спектрометрах с изогнутыми монокристаллами. Интенсивность спектральных линий измеряется счетчиками Гейгера, сцинтилляциопными (в коротковолновой области длин волн) и пропорциональными проточными счетчиками (в длинноволновой области) с соответствующими радиотехническими блоками для регистрации импульсов и записи интенсивности на самопишущем потенциометре. [c.60]

Отметим, что тригонометрические множители выражений (99) и (21) совпадают. Так как N п, то Aiip > О, т. е. лучи света, соответствующие концам спектральных линий, отклоняются в сторону больших углов преломления. Поэтому вогнутой частью линии обращены в коротковолновую область спектра и спектральная линия принимает вид, показанный на рис. 43. [c.80]

Поступательные температуры из уширения Допплера. Оитические методы определения поступательных температур отдельных типов молекул основаны на том факте, что при низких давлениях и высоки) температурах основной вклад в конечную ширину спектральных линии дает уширение Допплера. Это имеет место по крайней мере в ультрафиолетовой и коротковолновой видимой областях спектра. Чтобы использовать эффект Допплера, необходимо проводить измерения с приборами чрезвычайно высокой разрешающей способности, такими, как интерферометр Фабри —Перо или пластинка Люммера — Герке ). Интерферометр Фабри—-Перо применялся для определения поступательной температуры СН в пламенах при низком давлении [6]. [c.416]

Несмотря на большую сложность спектров излучения, спектральные линии можно сгруппировать в серии. Коротковолновая граница спектральной серии Хмин соответствует кванту света с энергией, достаточной для удаления наружного электрона от атома на такое расстояние, на котором сила связи электрона с ядром не способна вернуть его в прежнее состояние. Эта энергия равна первому ионизационному потенциалу I, дж [c.11]

Однако при проведении анализа по методу ип1рины спектральной линии и исиользслзании в качестве опорной Зо-линин олова прих( дится столкнуться с затруднением, связанным с присутствием с коротковолновой стороны линии группы неразрешенных сателлитов, которые искажают дисперсионную форму диаграммной линии олова. Наблюдаемая форма йо-линии олова представлена на рис. 106. Поэтому при построении градуировочных графиков, представленных на рис. 107, использовали только длинноволновую (не искаженную сателлитами) часть линии элемента сравнения, полунифина которой перед подстановкой в формулу (19) удваивалась. Градуировочные графики строили, как обычно, с помощью группы искусственных эталонных смесей, содержание тантала в которых изменялось от 1 до 15%. Роль наполнителя играло олово. [c.200]

На рис, 79 внизу схематически представлена структура резонансной линии 6707,8 А, а вверху дана схема переходов, объясняющая эту структуру. Исходя из рисунка, видно, что помимо изотопического смещения каждая спектральная линия изотопов Ы и расщепляется в результате мультиплетного расщепления верхнего терма на две компоненты а и Ь, с и ё. Однако вследствие равенства величин изотопиче- ского смещения и ширины расщепления коротковолновая компонента изотопа Ы совпадает с длинноволновой компонентой изотопа Поэтому в структуре линии 6707,8 А наблюдаются вместо четырех компонент три компоненты, из которых две крайние а и й принадлежат изотопам Ы и а средняя является суммарной компонентой Ь- -с тех же изотопов. Поскольку теоретическое отношение интенсивности дублетов 1а -1ь и с - равно 1 2, то при отсутствии самопоглощения соотношение интенсивности трех наблюдаемых компонент в естествен- ном литии выражается следующим образом [c.161]

Заметим, что длины воли края полосы поглощения всегда немного короче длины волны коротковолновой линии соответствующей серии. Так, д.лина волны самой короткой линии /i-серии (а имеппо /i a), обусловлеипой переходом электрона с периферии на A -оболочку, несколько больше длины волны края соответствующей полосы поглощения. Для объяснения этого необходимо иметь в виду, что край полосы поглощения соответствует энергии, необходимой для полного отделения электрона от атома, тогда как переходы, соответствующие спектральным линиям, происходят между существующими оболочками внутри атома. [c.207]

При определении величины относительной интенсивности линий учитывают закономерное изменение интенсивностей спектральных линий элементов по спектру. Закономерное ослабление интенсивности длинноволновых рентгеновских спектральных линий гю сравнению с коротковолновыми характеризуют величиной поправочного коэффициента К [3]. Этот коэффициент находят экспериментально при помопщ эталонных смесей, содержащих равные и известные количества р. з. э. [c.144]

Согласно классической теории, причину диффузного рассеяния света следует искать только в колебании плотности среды, через которую проходит свет. Идеально правильные кристаллы по этой теории при абсолютном нУле не дают рассеяния, между тем как газообразные, жидкие и твердые вещества, не обладающие идеально правильной кристаллической формой, рассеивают. При этом природа рассеивающей среды никакой роли не играет рассеянный свет не вступает ни в какое особое взаимодействие с материей и имеет тот же спектральный состав, что и падающий свет. Процесс рассеяния, вызванный колебанием плотности, сокращенно называют как тиндалевским рассеянием, так и р э л е е в-ским рассеянием. Однако тщательные исследования рассеянного света, проведенные Раманом [9] в 1928 г., показали, что тиндалевское рассеяние не является единственным эффектом, наблюдаемым при процессе рассеяния. Кроме спектральных линий падающего света, которые наблюдаются в виде интенсивных линий в рассеивающемся свете, направленном перпендикулярно к падающему, у каждой линии отмечаются слабые спутники. Таким образом, из каждой линии образуется спектр, который в отношении числа, расстояния и интенсивности линий зависит от природы среды рассеяния. Для каждого же данного вещества спектр любой линии остается одинаковым. Разность частот Лv между главной линией (рэлеевской) и ее спутниками (раман-линиями) всегда одна и та же. Она соответствует собственным частотам данного вещества, расположенным в инфракрасной области спектра. Другими словами, данная разность частот Ау не зависит от частоты возбуждающего излучения. Таким образом, при рассеянии возникает свет, который, кроме света первоначальной длины волны, содержит еще свет других длин волн. В общем, раман-линии расположены по отношению к главной линии в области более длинных волн реже встречаются линии, которые находятся в коротковолновой области спектра. Последние называют фиолетовыми или антистоксовыми линиями. Это наименование введено в соответствии со способом обозначения при флуоресценции для нее за чрезвычайно редкими исключениями выполняется закон Стокса, согласно которому спектр флуоресценции всегда располагается с длинноволновой стороны возбуждающей частоты. Кроме этого, раман-эффект ничего общего с явлением флуоресценции не имеет общность обоих явлений состоит единственно в том, что свет после прохождения через среду обладает другой частотой, чем падающий. [c.121]

Для выделения света определенной длины волны при фотохимических исследованиях в настоящее время в основном используют светофильтры. По принципу действия различают абсорбционные, интерференционные и дисперсионные светофильтры. Наибольшее распространение получили абсорбционные светофильтры стеклянные и жидкостные. Стеклянные светофильтры обладают по сравнению с другими рядом преимуществ, к которым в первую очередь следует отнести устойчивость к световым и тепловым воздействиям, а также однородность и высокое оптическое качество. Ассортимент цветных стекол достаточно широк и почти во всех случаях позволяет решать задачу предварительной монохроматизации или отсечения нежелательной (особенно коротковолновой) части спектра. Промышленность выпускает наборы оптического стекла (ГОСТ 9411-75) размером 80x80 мм или 40x40 мм. Комбинации из нескольких стеклянных светофильтров позволяют получать довольно узкополосные фильтры для всей видимой и ближней ультрафиолетовой части спектра. Принятые обозначения стеклянных светофильтров указывают спектральную область пропускания УФС — ультрафиолетовое стекло, ФС — фиолетовое стекло, ОС — синее стекло, СЗС — сине-зеленое стекло, ЗС — зеленое стекло, ЖЗС — желто-зеленое стекло, же — желтое стекло, ОС — оранжевое стекло, КС — красное стекло-, ПС — пурпурное стекло, НС — нейтральное стекло, ТС — темное стекло, БС — бесцветное стекло. Спектральные характеристики некоторых светофильтров приведены на рис. 5.13, а в табл. 5.1 указаны комбинации из стеклянных светофильтров для выделения наиболее ярких линий ртутного спектра. [c.247]

Чтобы уменьшить влияние наложения линий других элементов, рекомендуется [192] определять калий по паре линий в длинноволновой части спектра (7698,98 и 7664,91 А) и одновременно по паре линий в коротковолновой области (4047,20 и 4044,14 А). Точность результатов зависит от характера анализируемого объекта, от способа возбуждения спектра, от особенностей применяемых приборов и других факторов, а также от содержания калия в исследуемом веществе. Ошибка определения калия по разным данным находится в пределах 2—20% [68, 180, 372, 402, 2764, 2795]. Спектральное определение калия дает практически такие же по точности результаты, как и хлороплатинатный и нитрокобальтиатный методы [372]. [c.120]

МКМ , благодаря чему УФ-свет в этой области глубоко проникает в микронный слой ПММА с полосой при 215 нм совпадает и максимум спектральной чувствительности слоя ПММА [6]. При контактной печати одномикронных или более тонких слоев ПММА с Л ш = 9-10 и Мш/М = 3,04 и его аналогов па 8102/81 с помощью источника коротковолнового УФ-света, последующем проявлении метилизобутилкетоном, бутилацетатом или быстродействующим целлозольвацетатом (а также смесями этих растворителей с другими) удается получить исключительно высоко разрешенный позитивный рельеф с АЙ = 5, например, с шириной линий 0,6—1 мкм и интервалом между ними 0,3 мкм. Время экспонирования уменьшается на 13%, если поглощающий коротковолновый УФ-свет кислород отдуть азотом. [c.178]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология