Рентгеновские спектрографы в приборе

Независимо от способа, при помощи которого достигается повышение светосилы рентгеновского спектрографа, должно быть выполнено по крайней мере два следующих условия. Во-первых, надо иметь возможность повысить мощность рентгеновской трубки спектрографа и, во-вторых, необходимо, чтобы энергия рентгеновских лучей, исходящая из рентгеновской трубки, использовалась нри регистрации рентгеновских спектров наиболее эффективным образом. Известно, что рентгеновские спектры, которые регистрируются обычно в спектрографах с плоским кристаллом (спектрограф Брегга и т. п.), гораздо менее интенсивны, чем получаемые в современных светосильных приборах. Это объясняется в первую очередь тем, что в спектрографах с плоским кристаллом обычно эффективно используется [c.3]

Будем различать две группы светосильных рентгеновских спектрографов с изогнутым кристаллом. К первой группе можно отнести приборы, в которых осуществляется так называемая вертикальная, или аксиальная, фокусировка рентгеновских лучей кристаллом. Для приборов этого типа условие компланарности выполняется не всегда достаточно строго и тем лучше, чем в большей мере фокусировка лучей в спектрографе приближается к аксиально-симметричной. Ко второй группе отнесем приборы с плоскостной или, как ее иногда называют, горизонтальной фокусировкой лучей кристаллом. В приборах этого типа оба вектора о и 5, характеризующие направления падающей и отраженной от кристалла волн рентгеновской радиации, лежат в плоскости кругового сечения цилиндра, и поэтому условие компланарности выполняется автоматически. [c.12]

В предыдущей главе были рассмотрены общие вопросы, связанные с использованием изогнутого цилиндрического кристалла для целей фокусировки рентгеновских лучей. При этом поведение кристалла при изгибе уподоблялось поведению идеально упругой пластины. Такой способ рассмотрения удобен для выяснения наиболее общих, принципиальных вопросов, связанных с работой рентгеновских фокусирующих спектрографов. Однако он не позволяет учесть важных для практики деталей явления, сопровождающих изгиб реальных кристаллов и обусловливающих появление дополнительных по сравнению с теорией усложнений и помех в работе этих приборов. Между тем именно эти явления практически ограничивают возможность эффективного использования в рентгеновских спектрографах изогнутых кристаллов больших размеров и таким образом кладут предел дальнейшему повышению светосилы этих приборов. [c.39]

Первым прибором, в котором были использованы кристаллодержатели нового типа [691, был светосильный рентгеновский спектрограф для коротковолновой области спектра РСК-3. Так же как и описанный выше спектрограф РСД-2, этот прибор предназначался для проведения научно-исследовательских работ в области рентгеновской спектроскопии и мог быть использован для решения некоторых задач рентгеноспектрального анализа. Он должен был поэтому обладать большой светосилой и обеспечивать стабильную работу прибора. Так как многие из ошибок, возникающих при проведении рентгеноспектрального анализа, являются следствием несовершенства используемой рентгеноспектральной аппаратуры, то при конструировании спектрографа РСК-3 казалось целесообразным поставить следующие технические требования. [c.99]

Рис. 19. Структура /(а -дублета моди в фокусе прибора при различных углах поворота трубки рентгеновского спектрографа

Конструкции приборов, применяемых в рентгеновском спектральном анализе, различают по типу источников возбуждения, характеристикам диспергирующего элемента и свойствам приемника излучения. Если, например, спектр регистрируется с помощью фотопленки, прибор называют рентгеновским спектрографом, если регистрация ионизационная, — спектрометром. В зависимости от используемой спектральной области приборы подразделяют на длинноволновые и коротковолновые. Сконструированы приборы, предназначенные для работы как с эмиссионными рентгеновскими спектрами, так и по поглощению рентгеновского излучения. [c.128]

Для устранения этих помех авторы [79] проводили исследования на вакуумном рентгеновском спектрографе, работающем на отражении . Была улучшена система закрепления пленки в кассете спектрографа, изготовлен новый механизм для качания кассеты, осуществлено масляное охлаждение анода и непрерывный контроль за состоянием вакуума в приборе и в рентгеновской трубке. Анализируемая проба наносилась на одну из граней четырехгранного анода, [c.436]

Ранее нами были рассмотрены счетчики (гл. 2) и принципиальные схемы рентгеновских спектрографов (гл. 4). В действительности все они являются только узлами общей схемы рентгеновского спектрометра. На рис. 89 показана блок-схема современного одноканального прибора, которая может рассмат- [c.255]

При работе с фокусирующими рентгеновскими спектрографами следует считаться с возможными искажениями дисперсионной формы спектральных линий из-за неблагоприятных геометрических условий фокусировки и с непостоянством ширины и формы линии по ее длине, вызванной неравномерностью изгиба кристалла в кристаллодержателе прибора. [c.54]

Второе из упомянутых выше возможных затруднений легко обойти, если изгиб кристалла в спектрографе осуществлять специальным методом [51]. Тогда ширина линии в фокусе прибора остается практически неизменной на протяжении десятков миллиметров ее длины. Повидимому, такие же, или сходные, результаты можно получить, применяя некоторые другие методы изгиба кристаллов в рентгеновских спектрографах [42, 52—54]. [c.54]

Одним из важнейших элементов юстировки спектрографа при его пуске является такая установка анода рентгеновской трубки прибора, при которой лучи, исходящие из фокусного пятна антикатода, при их падении на кристалл оказались бы расположенными в горизонтальной плоскости. Не меиее важной является возможность следить за нарушениями положения анода, которые могут быть следствием вынужденной разборки спектрографа в процессе работы с ним. Выполнение этих операций может быть сильно облегчено, если пользоваться специальным приспособлением, изображенным на рис. 90. При правильном положении анода рентгеновской трубки изображение креста нитей, которое направляется при помощи осветителя на блестящую поверхность медного анода, после отражения от него должно попасть в определенную точку экрана. [c.152]

Так как незначительность избытка напряжения по сравнению с потенциалом возбуждения для линии гафния (которая даже при У= 18 кв составляет лишь 60% потенциала возбуждения линий) ограничивает величину предела чувствительности этого метода анализа и делает интенсивность j-линии гафния в большей мере, чем это имеет место в других случаях, зависящей от колебаний величины рабочего напряжения на рентгеновской трубке прибора, то при проведении анализа по описываемому методу следует применять специальные меры для уменьшения поглощения лучей на пути от анода рентгеновской трубки к фотопленке и для поддержания постоянства условий возбуждения спектров. Анализ проводится в вакуумной области спектра с помощью фокусирующего спектрографа с изогнутым кристаллом [c.213]

Во многих отраслях промышленности твердые образцы регулярно доставляют в контрольную лабораторию с помощью пневматической почты. После доставки образцы подготавливают к анализу (разрезают, полируют, превращают в порошок для прессования и т. д.) с помощью полуавтоматического оборудования. Если измерительным устройством является эмиссионный спектрограф, работающий в видимой, ультрафиолетовой или рентгеновской областях спектра, подготовленный образец следует ввести в прибор вручную. Поскольку на каждом образце проводится много определений, эта ручная стадия не влияет значительно на экспрессность анализа. Однако оператору приходится выполнять скучные и однообразные операции, утомительность которых снижается только при переходе к исследованию других материалов, когда требуется настройка показывающих приборов. [c.541]

В области оптических методов анализа имеется большой опыт создания спектрографов, микрофотометров и других приборов для эмиссионного спектрального анализа, включая квантометры, инфракрасных спектрофотометров, спектрофотометров для видимой и ультрафиолетовой части спектра, в том числе регистрирующих (СФ-8 и др.). Давно выпускаются газоанализаторы, особенно для контроля содержания метана в шахтах, но также и для других целей. Налаживается широкое производство хороших приборов для рентгенофлуоресцентного анализа и рентгеновского микроанализа. Есть вполне современные приборы для электрохимических методов анализа. [c.163]

Этот метод был впервые предложен Иогансоном [21], который продемонстрировал его эффективность на примере усовершенствования спектрографа типа Иоганна. Уменьшение ширины спектральных линий в приборе достигается улучшением условий фокусировки рентгеновских лучей. Это сводит к нулю один из членов, образующих геометрическую ширину спектральных линий Ь ). Величина двух других членов (6а и Ь ) в формуле для ширины линий остается при этом без изменения. [c.29]

При этом (что можно показать геометрически) нормали к отражающим плоскостям в любой точке внутренней поверхности кристалла пересекаются строго в одной точке на окружности изображения. Поэтому на той же окружности должны так же строго фокусироваться и отраженные кристаллом монохроматические рентгеновские лучи. Таким образом, должна осуществляться идеальная фокусировка рентгеновских лучей изогнутым кристаллом. Так как в спектрографе Иогансона дисперсия прибора остается той же, что и при фокусировке по Иоганну, а ширина линий уменьшается, то разрешающая способность приборов этого [c.29]

Рентгеновские пгспектры поглощения самария в гексаборидах получали с помощью длинноволнового рентгеновского спектрографа ДРС-3 в первом порядке отражения от плоскости (1340) кристалла кварца. Регистрация спектров — фотографическая. Радиус кривизны кристалла 500 жлг. Дисперсия 2,9 Х/мм. Разрешающая сила прибора —15 000. Режим работы рентгеновской трубки 30 ма, 15 кв. Анод — вольфрамовый. Экспозиция 5—10 час. Оптимальная толщина поглотителей 5—6 мг/см . [c.46]

Более простым и радикальным путем для повышения мощности рентгеновских трубок, применяющихся в светосильных рентгеновских спектрографах, является не использование острофокусных трубок, а разработка таких методов получения рентгеновских спектров, которые позволили бы эффективно использовать энергию лучей, возникающую на большой поверхности антикатода при сохранении в дозволенных пределах удельной нагрузки анода. При помощи таких трубок можно легко повысить мощность возникающих в них рентгеновских лучей, уменьшить нагрев анализируемого вещества на поверхности антикатода и свести к минимуму зависимость результатов рентгеноспектрального анализа от степени однородности пробы или от неравномерности ее нанесения на анод. Однако повышение мощности рентгеновской трубки спектрографа, как уже указывалось, само по себе еще не решает вопроса о создании рентгеновского спектрографа большой светосилы. Для этого необходимо разработать такие приемы получения рентгеновских спектров, которые позволили бы эффективно использовать в приборе, без нарушения качества спектральных линий, кристаллы больших размеров. При прочих равных условиях све- [c.4]

В настоящей книге автор не ставит перед собой задачи рассмотреть с исчерпывающей полнотой все появившиеся за последние годы модели рентгеновских спектрографов и все возможные типы подобных приборов. В процессе работы над книгой автор имел возможность убедиться в крайней фрагментарности имеющегося в литературе материала и чрезвычайной пестроте взглядов на пути развития этой отрасли приборостроения у различных исследователей. В связи с этим написание всеобъемлющей монографии казалось преждевременным. Было решено, остановившись на одном из главнейших вопросов из этой области — на вопросе о создании приборов большой светосилы, рассмотреть основные из имеющихся в настоящее время данных и подытожить результаты работ, проводившихся в этом направлении в течение ряда лет автором самостоятельно или совместно с другими исследователями (Д. Б. Гого-беридзе, К. И. Нарбутт, А. Б. Гильварг и др.). Если настоящая книга поможет специалистам, работающим в многочисленных лабораториях СССР, быстрее и более активно включиться в работу, связанную с созданием новой рентгеноспектральной аппаратуры, и будет способствовать внедрению этого метода исследования веществ в практику, автор с удовлетворением будет считать, что его труд достиг своей цели. [c.7]

Разработкой теории и конструированием спектрографов с вертикальной фокусировкой лучей занимались в середине тридцатых годов Кунцль, Далейшек и Таерле [10, 11, 12]. В 193/—1938 гг. последние описали оригинальную конструкцию спектрографа, основанного на этом принципе. По данным этих авторов, им удалось добиться значительного повышения светосилы рентгеновских спектральных приборов и, работая при больших расстояниях между щелью спектрографа, кристаллом и фотопленкой, довести разрешающую способность спектрографов этого типа до величины около 2700, что сопоставимо с разрешающей способностью существующих двойных кристалл-спектрографов. Особенностью геометрических условий фокусировки таких приборов, как показал Кунцль [10], является зависимость радиуса кривизны их кристалла от длины волны и, следовательно, от угла (Брегга — Вульфа) отражающихся от него рентгеновских лучей. Если р — радиус кривизны кристалла, — радиус окружности изображения спектро- графа, а 6 — угол Брегга — Вульфа, то [c.17]

Рассмотрение соотношения (28) показывает, что при заданных угловом интервале Д9 и величине открытого участка кристалла размер эффективно используемого в спектрографе фокусного пятна рентгеновской трубки тем больше, чем меньше радиус кривизны кристалла. Это соображение следует иметь в виду при решении вопроса об оптимальных размерах приборов, использующихся при проведении рентгеноспектрального анализа. Оно является, в частности, одной из причин, делающих нецелесообразным, при проведении рентгенохимического анализа сложных по составу и недостаточно однородных образцов, использование фокусирующих рентгеновских спектрографов, особенно большой дисперсии, с радиусом кривизны большим, чем 300—500 мм. [c.36]

Тонкие кристаллы слюды, каменной соли, гипса или кварца, полученные либо выкалыванием из естественных кристаллов большой величины, либо специально вырезанные, отшлифованные и отполированные вдоль определенных кристаллографических направлений и плоскостей, осторожно изгибаются по цилиндру в специально приготовленных кристаллодержателях, радиус кривизны которых меняется последовательно от 500 до 1000 мм. После этого кристаллодержатель с кристаллом укрепляется в рентгеновском спектрографе и в фокусе прибора наблюдается четкое изображение / iXi,2-дублета какого-либо элемента. Основная серия спектрограммы регистрируется не в фокусе спектрографа, а на различных расстояниях за или перед ним. Очевидно, что вид и структура линий, полученных в таких условиях спектрограмм, должны зависеть от индивидуальных особенностей кристалла и условий его деформации в спектрографе. Это обстоятельство может быть использовано для качественной и количественной оценки процессов, [c.44]

В основу кинематики спектрографа РСК-3 была положена кинематика рентгеновского спектрографа РСК-2, разработанного К. И. Нарбуттом. Как видно из рис. 42, ее особенностью является наличие плеча, вращающегося вокруг оси, проходящей через центр кристалла. Вдоль этого плеча свободно перемещается вал, на конце которого укреплена двойная втулка, несущая кассету. Нижний конец этой втулки связан радиальной тягой с центром окружности изображения прибора. Радиус окружности изображения — 500 мм. Предусмотрена лишь незначительная регулировка длины тяги и положения его центра. [c.107]

Идеализированные расчеты эффективности отдельных частей рентгеновского спектрографа (см. 4.3 и 4.4) могут быть конкретизированы для лабораторного прибора, если учесть пульсирующий характер приложенного к трубке напряжения, полихромгтичность рентгеновского пучка и его поглощение на своем пути. [c.139]

В целях создания равномерной шкалы чувствительности прибора можно осуществлять неравномерное качание кассеты спектрографа так, чтобы время пребывания кассеты в каждом из отражающих положений было бы пропорционально величинам isin 0 — Такая система качания кассеты спектрографа была предложена авторами недавно созданного светосильного рентгеновского спектрографа для мягкой области спектра — РСД-2 [98]. При равномерном качании кассеты в спектрографах этого типа, аналогичного результата можно достигнуть путем закономерного (по тангенсоидальному закону) изменения расстояния между заслонкой, ограничивающей размеры действующего изогнутого кри-с талла и его поверхностью. [c.134]

Когда было установлено, что существуют и другие виды электромагнитного излучения, распространяющиеся со скоростью света, стало-ясно, что свет не уникальное явление природы, а лишь видимое проявление гораздо более общего эффекта, к которому относятся также инфракрасное излучение (открытое Гершелем в 1800г.), электрическое излучение (открытое Герцем в 1887 г.) и рентгеновское излучение (открытое Рентгеном в 1896 г.). Все эти виды излучения относятся к той или иной части электромагнитного спектра (рис. 2.14). Электромагнитный спектр непрерывен и простирается от области чрезвычайно коротких длин волн и высоких частот, соответствующей космическим лучам, до области чрезвычайно длинных и низкочастотных электрических волн. Все виды излучения отличаются только длиной волны X, т.е. расстоянием между двумя последовательными максимумами волнового процесса. Любое электромагнитное излучение распространяется с одинаковой скоростью, которая в вакууме составляет 3,00-10 м/с (обозначается с), и проявляет волновые свойства. В спектре электромагнитного излучения принято выделять разлитаые области, однако между ними не существует четких границ правда, видимая часть спектра (380—760 нм) имеет довольно определенные границы, но это обусловлено ограниченной способностью человеческого глаза к восприятию излучения. Для обнаружения излучения в различных областях электромагнитного спектра созданы специальные приборы, называемые спектроскопами, спектрометрами или спектрографами в зависимости от того, каким образом в них производится регистрация излучения. [c.33]

Перед тем как передать приборы аналитикам, участвующим в контроле производственных процессов, их попросили указать области длин волщ излучения, в которых они предполагают проводить количественные измерения. При этом необходимо было учитывать, что рентгеновский спектрометр снабжен двумя кристаллами-анализаторами (например, топазом и МаС1), но область его применения ограничена элементами с атомным номером больше 20. Вакуумный эмиссионный спектрограф можно использовать для определения элементов, присутствующих в концентрациях <1%, внутренним стандартом служат линии железа. [c.116]

Одним из важнейших вопросов, стоящих перед исследователями в области рентгеновской спектроскопии, является вопрос о создании новой и об усовершенствовании уже вошедшей в употребление спектральной аппаратуры в направлении повышения ее светосильности и разрешаюш,ей силы. С точки зрения задач практического использования рентгеноспектрального метода для целей элементарного анализа веш,еств особенно важной является повышение светосильности приборов. Разрешаюш ая способность современных спектрографов, как правило, вполне достаточна для проведения рентгеноспектрального анализа. Повышенные требования к разрешаюш,ей силе приборов возникают главным образом при рептении вопросов, связанных с изучением химической связи и взаимодействия между атомами в твердых, жидких и газообразных телах на основе исследований тонкой структуры рентгеновских спектров испускания и поглош,ения. [c.3]

В спектрографах с коллиматором Соллера, получивших за последнее время достаточно широкое распространение за рубежом, на пути широкого пучка рентгеновских лучей, исходящих от анода рентгеновской трубки в направлении кристалла, располагается диафрагма, имеющая в сечении сотообразное строение. Она расчленяет пучок лучей, падающих на плоский кристалл спектрографа, на большое число узких параллельных пучков, каждый из которых отражается в одном и том же направлении, в согласии с требованиями закона Брегга — Вульфа, от соответствующей области кристалла. Одновременное отражение рентгеновского излучения заданной длины волны от большой площади поверхности кристалла позволяет получить отраженный пучок лучей значительной интенсивности и обеспечивает большую светосилу прибора. В то же время разрешающая сила такого устройства может быть достаточно велика. Она, очевидно, зависит от соотношения длины коллиматора и диаметра каждой из его секций. Эта величина тем больше, чем длиннее диафрагма и чем меньше диаметр каждой из состав-ляющих ее трубочек. Отличительной особенностью спектрографов этого типа является малая расходимость используемых в нем пучков рентгеновских лучей и то обстоятельство, что их ширина определяется величиной поперечного размера диафрагмы Соллера. Параллельность хода пучка лучей в спектрографе в некоторых отношениях очень удобна, однако большая их ширина делает невозможным использование фотографического метода регистрации спектров. Поэтому во всех таких спектрографах в качестве приемников рентгеновской радиации применяются ионизационные камеры. [c.5]

Лауэ, Брегга и Вульфа. Первыми исследователями, указавшими на такую возможность, были М. Де Бройль и Линде-ман (1914), М. Гюи (1916) и П. Капица (1918). Однако практически осуществить одновременную фокусировку монохроматического рентгеновского пучка лучей удалось впервые лишь много позже (в 1930г.) Дю-Монду и Киркпатрику П], которые в своих опытах по созданию мультикристалл-спектрографа хотя и не пошли по линии непосредственного использования в приборе изогнутых отражающих кристаллов, но вплотную подошли к этому, использовав фокусировку лучей набором плоских кристаллов, и в большой мере предвосхитили результаты работ, выполненных в дальнейшем. [c.9]

Анализатором рентгеновских лучей в каждом из этих приборов служило устройство, состоявшее из 50 плоских, слегка повернутых друг относительно друга кристалликов кварца, вблизи отражающей поверхности которых располагали не прозрачный для рентгеновских лучей клин. Таким образом, каждый из кристаллов анализатора мультикристалл-спектрометров Дю-Монда и Киркпатрика отражал рентгеновские лучи в условиях, аналогичных тем, которые имеют место в спектрографах, работающих по методу Зеемана. Все 50 плоских кристалликов прибора ориентировали один относительно другого таким образом, чтобы монохроматические лучи после отражения их от поверхности кристалла пересекались в одной точке или в небольшой узкой области пространства. Это будет иметь место, если кристаллы расположены так, что продолжения их поверхностей (в случае, представленном на рис. 1,а) или нормалей к ним (рис. 1,6) пересекаются в одной точке. Если обозначить это расстояние буквой то сфокусированные прибором пучки монохроматических лучей различных длин волн будут располагаться на одной общей окружности, радиус которой равен Совмещая с этой окружностью — так называемой окружностью изображения — фотопленку, можно зарегистрировать на ней достаточно узкие линии рентгеновского спектра, характеризующие радиацию, излучаемую поверхностью антикатода рентгеновской трубки спектрографа. Очевидно, что ширина [c.9]

Строгой фокусировки линий и значительно большей, чем в методе Хамоша, интенсивности спектров можно было бы достигнуть, практически осуществив бесщелевой спектрограф со строго аксиальным ходом лучей [6]. Одна из возможных схем такого устройства изображена на рис. 3. Использование в спектрографе, изображенном на рис. 3, мощной разборной рентгеновской трубки с кольцеобразным фокусом и обратным ходом лучей позволяет существенно приблизить источник рентгеновских лучей к кристаллу-анализатору и уменьшить интенсивность непрерывного спектра [9]. Исходящий из кольцевого фокуса конус рентгеновских лучей падает на цилиндрически изогнутый кристалл. В центре кристаллодержателя, подобно тому как это принято в методе Зеемана, располагается клин зазор, образуемый клином с поверхностью кристалла, играет роль входной щели спектрографа. В точке пересечения отраженных кристаллом лучей помещается диафрагма ионизационной камеры. Кинетическая схема позволяет синхронизировать движение кристалла вдоль горизонтальной оси прибора и движение каретки записывающего устройства в перпендикулярном направлении. [c.16]

Говоря о приборах с вертикальной фокусировкой рентгеновских лучей, нельзя не указать на попытки ряда исследователей создать спектрограф, отражающая поверхность которого представляла бы собою сферу. Создание такого прибора позволило бы в известной мере объединить оба принципа используемых при создании современных светосильных спектрографов—рассматривающегося до сих пор метода вертикальной фокусировки и метода горизонтальной фокусировки лучей, о котором более подробно речь пойдет в следующем параграфе. Как показывает расчет, в таких приборах можно было бы при работе с мягкими рентгеновскими лучами и при углах отражения, близких к 90°, ожидать дополнительного (7соз 6) выигрыша в интенсивности рентгеновских лучей. Однако и в этом случае радиус кривизны кристалла оказывается зависящим от [c.18]

В спектрографах типа Иоганна и Кошуа нельзя добиться строгой фокусировки пучка рентгеновских лучей, падающих на изогнутый кристалл и отражающихся от него в точку наблюдения. Степень совершенства этой фокусировки и, следовательно, разрешающая способность прибора зависят от соотношения геометрических величин, характеризующих спектрограф радиуса кривизны кристалла и расстояний от него до источника рентгеновских лучей и их регистратора. Для выяснения оптимальных соотношений между этими величинами рассмотрим вначале идеализированный случай фокусировки лучей бесконечно тонким кристаллом, образующим двухмерную совокупность рассеивающих центров. [c.21]

При использовании спектрографа Иогансона можно работать как с широкофокусными, так и с острофокусными рентгеновскими трубками. В первом случае спектрограф должен быть неподвижным. В случае использования острофокусных трубок кристалл и кассету прибора приходится совместно качать вокруг общей оси. [c.30]

Аналогичный по существу прием, заключающийся в использовании для отражения рентгеновских лучей системы атомных плоскостей кристалла, образующих некоторый угол с его поверхностью, для спектрографов с плоским кристаллом был в целях повышения светосилы приборов предложен и широко использован Фанкухеном [23]. Более подробно об этом см. [24]. [c.31]

Обратимся к рассмотрению другой группы приборов с плоскостной (горизонтальной) фокусировкой лучей в спектрографе—-к приборам типа ] оганна. В приборах этого типа с точечным источником рентгеновских лучей, [c.36]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология