Спектральные приборы для ИК-области спектра

Регистрирующие спектрофотометры этого типа позволяют записывать спектры поглощения и пропускания, а также измерять коэффициенты отражения различных образцов. Запись по всей длине видимого спектра может быть проведена несравненно в более короткое время, чем промер этого же участка спектра на спектрофотометре типа СФ-4. Приборы имеют двойной монохроматор, поэтому монохроматизация света здесь достаточно высока. Ширина входной и выходной щелей монохроматора изменяется во время работы прибора автоматически, соответственно дисперсии призм. Таким образом, при достаточно высокой монохроматизации вырезае.тся спектральный участок постоянного спектрального интервала. Источником освещения служит кинопроекционная лампа К-30. Рабочий диапазон приборов охватывает только видимую область спектра от 400 до 700 нм, и, следовательно. [c.84]

Спектральный диапазон прибора. Область спектра, регистрируемая призменным прибором, ограничена главным образом прозрачностью материала призм (материал других прозрачных деталей подбирают в соответствии с материалом призмы), а также особенностями конструкции прибора. Обычно в приборах для эмиссионного спектрального анализа установлены призмы и линзы из кварца или из некоторых сортов оптического стекла. Имеются оптические стекла прозрачные для длин [c.199]

В первом отечественном квантометре ДФС-10 (позднейшая модификация — ДФС-36) полихроматор снабжен 36-ю передвижными щелями, позволяющими одновременно выделять из спектра 36 спектральных линий. Прибор имеет рабочую область спектра 190—700 нм. В качестве диспергирующего элемента использована вогнутая дифракционная решетка с 1200 или 1800 штрих/мм и радиусом кривизны 2 м. Входная щель, дифракционная решетка и выходные щели размещены по кругу Роуланда (диаметр круга равен радиусу кривизны решетки). Для уменьшения габаритных размеров прибора круг Роуланда расположен вертикально. Прибор позволяет выполнять анализ по 12-ти различным программам, причем число определяемых элементов по каждой из программ можно варьировать от 1 до 35. Для одновременного определения десяти элементов в одном образце требуется не более 2 мин. [c.70]

Спектральный диапазон прибора. Область спектра, регистрируемая призменным прибором, ограничена главным образом прозрачностью материала призм (материал других прозрачных деталей подбирают в соответствии с материалом призмы), а также особенностями конструкции прибора. Обычно в приборах для эмиссионного спектрального анализа установлены призмы и линзы из кварца или из некоторых сортов оптического стекла. Имеются оптические стекла прозрачные для длин волн, заключенных в интервале ЗбОО—10 000 А. Кварц прозрачен для длин волн от инфракрасной области спектра до 1850 А. (Коротковолновая граница спектрального диапазона прибора указана для лучших сортов кварца и стекла.) Таким образом, при помощи приборов со стеклянной оптикой регистрируется вся видимая область и примыкающая к ней инфракрасная область спектра. Пользуясь призмами и линзами из специальных стекол, можно регистрировать также небольшой участок ближней ультрафиолетовой области. [c.199]

ФЭК-М. Прибор снабжен селеновыми фотоэлементами, чувствительными к излучениям только видимой области спектров (400—700 нм). Поскольку ФЭК-М снабжен только тремя светофильтрами с широкой областью пропускания ( 100 нм), не представляется возможным получить на этом приборе спектральную характеристику исследуемых растворов. Прибор используется в основном для количественного анализа. [c.472]

При выполнении качественного спектрального анализа необходимо определить длины волн спектральных линий, наблюдае-мы. в спектре исследуемого вещества. Для этого измеряют относительное положение спектральных линий в спектре, а длины волн находят по дисперсионной кривой спектрального прибора. На стилометре СТ-7 положение линии в спектре фиксируется отсчетом по шкале барабана микрометрического винта, поворачивающего диспергирующую призму и перемещающего весь спектр в поле зрения окуляра. Нулевой (реперной) чертой при этом считается левый край прямоугольной рамки, вырезающий небольшой участок в наблюдаемой области спектра (рис. 1.5). Спектр в рамке имеет несколько большие размеры по высоте и может быть перемещен вправо или влево специальным барабаном стилометра. При этом остается темный вырез в остальном спектре. Однако при определении положения спектральной линии в спектре, т. е. при качественном анализе, рамка должна точно вписываться в вырез, а яркость спектра в ней должна быть несколько уменьшена при помощи одного из фотометрических клиньев 12 (см. рис. 1.4). При измерении выбранную спектральную линию поворотом микрометрического винта призмы точно устанавливают на левой границе рамки и затем берут отсчет по его шкале с точностью до 1—2 десятых долей деления. Измерения повторяют 3—4 раза, записывая среднее значение отсчета. В темно-красной и фиолетовой областях спектра, в которых глаз с трудом различает свечение фона, спектральную линию выводят в отсчетное положение до уменьшения вдвое ее наблюдаемой ширины. [c.15]

Спектральные приборы характеризуются следующими величинами дисперсией, разрешающей способностью, светосилой, спектральным диапазоном (областью спектра). [c.194]

Определение малых примесей иногда затрудняется тем, что наиболее интенсивные линии элемента располагаются в области, недоступной для данного спектрального прибора. Последние линии щелочных металлов Ы 6707,84 А К 7664,91 и 7698,98 А ДЬ 7800,23 и 7947,60 А Сз 8521,10 и 8943,50 А невозможно зарегистрировать на средних кварцевых спектрографах, так как они выходят за пределы кассеты. Однако в некоторых случаях удается при помощи сравнительно простых Приемов значительно расширить регистрируемую прибором область спектра. [c.141]

Дисперсия призменных приборов в длинноволновой части спектра всегда меньше, чем в коротковолновой, поэтому спектр сильно сжат в длинноволновой области и растянут в коротковолновой. Это определяет выбор сменной оптики в спектральных приборах. Область пропускания призм всегда значительно шире, чем применяемая для работы (см. таблицу 1), так как для каждой области спектра используется призма из материала, обеспечивающего максимальную дисперсию. [c.54]

Микроволновые и радиочастотные спектры. В отличие от оптических спектральных приборов в радиоспектроскопе нет диспергирующего устройства, подобного призме или дифракционной решетке. Радиоспектроскоп — полностью электронный прибор очень высокой чувствительности. Его обязательными частями являются источник излучения, отражательный клистрон (область с V — = 1,5 — 0,5 см ), поглощающая ячейка, прибор для измерения частоты, детектор излучения СВЧ, усилитель детектированной мощности и индикатор. [c.150]

На рис. 2.2 представлена принципиальная оптическая схема спектрального прибора. В зависимости от материала, из которого изготовлены оптические детали, такой прибор будет работать в. той области спектра, где эти материалы прозрачны. Например, стекло прозрачно в видимой области спектра, кварц — в видимой и ультрафиолетовой областях. [c.19]

Область электромагнитного спектра, которая изучается при помощи спектральных приборов, основанных на оптическом методе разложения излучения, называется областью оптических спектров. Эти спектры простираются от дальней инфракрасной области, граничащей с микроволновой областью, до рентгеновского излучения (табл. 168). [c.275]

Определяют область спектра, в которой расположена исследуемая линия спектра пробы (с помощью дисперсионной кривой прибора и миллиметровой шкалы). Отыскивают в атласе спектральных линий планшет, содержащий соответствующий участок спектра железа. Кладут планшет на экран спектропроектора так, чтобы линии одинаковой длины волны в спектре железа на экране и на планшете совпадали. [c.201]

Ультрафиолетовая область спектра примыкает к фиолетовому участку видимой области и продолжается в сторону коротких волн вплоть до рентгеновских лучей. В связи с некоторыми различиями в спектральных приборах и методах регистрации спектра ее разделяют на три участка область ближнего и среднего ультрафиолета (4000— 2300 A), область дальнего ультрафиолета (2300—1850 A) и область вакуумного ультрафиолета (1850—50 A), излучение в которой поглощается воздухом. [c.26]

Изменение линейной дисперсии прибора в зависимости от длины волны приводит к тому, что спектральная ширина щели в разных областях оказывается различной, хотя ее геометрическая ширина остается постоянной. Но с помощью другого кулачкового механизма подобного устройства можно автоматически изменять раскрытие входной и выходной щелей прибора, с тем чтобы оставалась постоянной спектральная ширина щелей в любой области спектра. Начальная величина раскрытия устанавливается с помощью микрометрического винта. [c.303]

Выбор материалов для спектральной оптики зависит в основном от их прозрачности и линейной дисперсии в рабочей области спектра. Линейная дисперсия представляет собой величину, измеряемую отношением расстояния между двумя близкими линиями на фокальной поверхности прибора к разности длин волн. Дисперсия показывает, на каком расстоянии друг от друга находятся две спектральные линии, если длины волн различаются на один ангстрем. [c.52]

Для получения спектров в далекой УФ-области (длины волн от 0,8-10- —3,3 10- м) применяют вакуумные спектрографы. Вакуумирование необходимо потому, что в этой области спектра поглощают молекулы многих газов и паров, входящих в состав воздуха. На рис. 7.20 дано схематическое изображение вакуумного спектрофотометра ДСФ-31 со спектральным диапазоном в далекой УФ-области 1,6—3,3-10 м и дифракционной решеткой, выступающей в качестве диспергирующей системы. Регистрация спектра в нем осуществляется фотоэлектрическим способом. Прибор рассчитан на определение в анализируемых пробах таких легких элементов, как углерод, фосфор, мышьяк, сера и др. [c.178]

Для выполнения закона Бера с высокой точностью полоса пропускания монохроматора должна быть не хуже 10 нм. В этом случае спектральный прибор в области 500 нм должен иметь разрешающую силу = 500/10 3 = 500000. Следует напомнить, что лучшие приборы, выпускаемые отечественной промышленностью, имеют разрешающую силу —120000. Поэтому при использовании источников непрерывного спектра в атомно-абсорбционной спектрометрии необходим монохроматор с очень высокой разрешающей силой, что непригодно для приборов массового применения. [c.142]

С помощью эмиссионного атомного спектрального анализа можно открывать химические элементы и визуально, используя простейшие спектральные приборы — спектроскопы, стилоскопы, которые позволяют установить положение линии в видимой области спектра и ее цвет. [c.519]

В зависимости от разрешающей способности приборов и области спектра выбирают различные группы близких спектральных линий. Их длины волн указывают в аттестате к прибору. [c.106]

Для разложения в спектр рентгеновского излучения, испускаемого анализируемым образцом, применяются спектральные приборы с дифракционной решеткой для сравнительно больших длин волн или с изогнутым кристаллом, который благодаря упорядоченному расположению в нем отдельных атомов работает так же, как дифракционная решетка с очень маленькой постоянной — около одного ангстрема. Приборы с дифракционной решеткой делают вакуумными, так как воздух не прозрачен для этой области спектра. Приборы с кристаллом рассчитаны на работу в более коротковолновой области и в них ненужно поддерживать вакуум, так как для этих волн воздух снова становится прозрачным. Принципиально действие рентгеновского спектрального аппарата не отличается от оптического с вогнутой дифракционной решеткой. [c.347]

Спектрографы с большой дисперсией позволяют разрешать линии, отличающиеся на 0,1—0,2 А, а приборы средней дисперсии дают раздельное изображение спектральных линий с разностью в длине волны от 0,3 до 0,8 А в зависимости от области спектра. Несмотря на более низкую разрешающую способность во всех случаях, когда позволяет сложность спектра, а также требуемая чувствительность анализа, стараются применять спектрографы со средней дисперсией. Они имеют более высокую светосилу и относительно небольшую длину спектра, что позволяет одновременно регистрировать всю рабочую область или значительную ее часть. [c.126]

Рабочая область спектрального аппарата должна охватывать все участки спектра, где лежат наиболее чувствительные линии открываемых элементов. Для большинства металлов эти линии лежат в ультрафиолетовой области спектра, поэтому наибольшее применение находят приборы, работающие в этой области. [c.220]

Спектральный аппарат. Обычно прибор выбирают так, чтобы можно было одновременно анализировать все определяемые элементы. Если это не удается, то каждую пробу приходится последовательно анализировать на двух приборах или на одном, но при разных рабочих диапазонах спектра. При количественном анализе регистрируют только более или менее узкий участок спектра, где расположены аналитические линии. Здесь нет необходимости охватывать каждый раз широкую область спектра. [c.263]

Для работы в определенной области спектра прибор должен быть снабжен источником излучений достаточной интенсивности -с соответствующим спектральным интервалом. [c.234]

Спектральная чувствительность селенового фотоэлемента и глаза очень близки (см. рис. 75), поэтому приборы с селеновыми фотоэлементами пригодны для работы только в видимой области спектра. Селеновые фотоэлементы получили широкое распространение, так как имеют ряд положительных свойств. Интегральная чувствительность их достаточно велика (350—500 лм), что позволяет использовать гальванометры с чувствительностью 10 —10 А. Селеновые фотоэлементы обладают инертностью и после включения источника освещения ток стабилен. Чувствительность данных фотоэлементов уменьшается по прошествии года не более чем на 1%. [c.241]

Спектрофотометры СФ-4, СФ-4А, СФ-16 имеют кварцевую оптику, что позволяет производить измерения, помимо видимой и ближней ИК-области, также в УФ-области спектра. В качестве источников сплошных излучений в них используются водородная лампа в УФ-области (200—350 нм) и вольфрамовая лампа в видимой и ближней ИК-областях (320—1100 нм). Кроме того, в спектрофотометре СФ-16 имеется дейтериевая лампа для работы в области 185—200 нм, что требует полной эвакуации или вытеснение воздуха азотом на всем оптическом пути. Для измерений в широком спектральном интервале используют в качестве детекторов два фотоэлемента сурьмяно-цезиевый в области 186—650 и кислородно-цезиевый—в области 600—1100 нм. Длина волны, при которой следует переходить от измерений с одним фотоэлементом к измерениям с другим, указана в аттестате прибора. [c.257]

Атомные спектры, оптич. спектры, получающиеся при испускании или поглощении электромагн. излучения свободными или слабо связанными атомами (напр., в газах или парах). Являются линейчатыми, т.е. состоят из отдельных спектральных линий, характеризуемых частотой излучения V, к-рая соответствует квантовому переходу между уровнями энергии Ei и Ек атома согласно соотношению hv=Ei Ek, где й-постоянная Планка. Спектральные линии можно характеризовать также длиной волны X = /v (с-скорость света), волновым числом l/X = v/ и энергией фотона /IV. Частоты спектральных линий выражают вс, длины волн-в нм и мкм, а также в А, волновые числа-в M , энергии фотонов-в эВ. Типичные A. . наблюдаются в видимой, УФ- и ближней ИК-областях спектра. Спектры испускания, или эмиссионные, получают при возбуждении атомов разл. способами (фотонами, электронным ударом и т.д.), спектры поглощения, или абсорбционные,-при прохождении электромагн. излучения, обладающего непрерывным спектром, через атомарные газы или пары. Для наблюдения A. . применяют приборы с фотографич. или фотоэлектрич. регистрацией. [c.218]

Промежуточное положение занимают решетки эшелле. По частоте штрихов они ближе к эшелеттам, но используются в видимой и ультрафиолетовой областях в высоких порядках спектра. Типовые эшелле отечественного производства имеют 300, 75 и 37,5 штр/мм, угол блеска вблизи 63,5°. Свободная спектральная область у эшелле значительно меньше, чем у решеток для низких порядков спектра, и составляет при 37,5 штр/мм около 5 нм. В спектральном приборе порядки спектров эшелле в направлении, перпендикулярном его дисперсии, разделяются вспомогательным диспергирующим элементом. Благодаря этому получается двухмерная спектрограмма и за одну экспозицию удается зарегистрировать очень широкий участок спектра с высокой дисперсией и разрешением. Например, теоретическое разрешение эшелле шириной 250 мм с углом блеска 63,5° при длине волны 500 нм приближается к миллиону. [c.29]

Лучше это можно проследить на соединениях, содержащих ароматические радикалы, так как их спектры лежат в области доступной обычным спектральным приборам, и они лучше изучены. Пока атом серы отделен от ароматического хромофора несколькими насыщенными углеводородными звеньями, спектр почти количественно является суммой спектров поглощения алкилсульфида и алкиларила. При непосредственной связи атома серы с ароматическим радикалом тонкая структура спектра, характерная для последнего, исчезает, интегральная интенсивность поглощения резко возрастает. В большинстве случаев изменяется не только форма и интенсивность полос поглощения, но и их положение относительно соответствующих параметров монофункциональных соединений (насыщенных соединений серы и ароматических или непредельных углеводородов). Отсутствие аддитивности в ультрафиолетовых спектрах непредельных (в.том числе ароматических) органических соединений двухвалентной серы свидетельствует о наличии более или менее значительного взаимодействия 1г-связей с неподеленными Зр-электронами атома серы, осложненного, вероятно, влиянием Зй-орбиталей серы. Фрагмент структуры, состоящий из ненасыщенного элемента с присоединенной к нему серой становится новым хромофором, с характерным для него спектром, а присоединенные к нему углеводородные насыщенные радикалы действуют на спектр поглощения как ауксохромы. Вопрос же о характере взаимодействия электронной оболочки атома серы с тг-электронами ненасыщенных хромофоров в настоящее время еще не решен, теория явления стала предметом оживленной дискуссии, по-видимому, еще далекой от завершения. [c.162]

Схема спектрографической установки показана на рис. 56, б. Регистрирующим прибором служит спектрограф J2, а в качестве спектроскопического источника света используется спектроскопическая импульсная лампа /, свет от которой, пройдя реакционный сосуд и спектрограф, попадает на фотопластинку 13. Спектроскопическая лампа зажигается через определенный промежуток времени после вспышки фотолитической лампы при помощи блока временной задержки 14. Таким образом по.лучается полный спектр поглощения фотолизуемого раствора. Меняя время задержки, можно получить набор спектров, изменяющихся во времени. В качестве импульсных фотолитических ламп обычно используются трубчатые импульсные ксеноновые лампы. Такие лампы имеют электрическую мощность до нескольких килоджоулей. Световая отдача таких ламп составляет 5- 20% от электрической мощности. Время вспышки ламп колеблется от 10 до 10 с (по уровню 1/е). Иногда для увеличения излучения в УФ-области к ксенону добавляют другие газы, например Нг, или ртуть. Используют им-пульсные лампы и с другим наполнением (Ог, N2, Аг). Ксенон обладает рядом преимуществ перед другими газами он имеет хорошие спектральные характеристики (сплошной спектр излучения), химическую инертность (нет взаимодействия с электродами), низкий потенциал ионизации. С увеличением энергии разряда максимум излучения смещается в ультрафиолетовую область. Разрешающее время импульсной установки определяется временем затухания светового импульса фотолитической вспышки. А время вспышки импульсной лампы в свою очередь зависит от нескольких факторов от типа лампы, электрической энергии и от емкости и индуктивности контура питания. Электрический контур составляют конденсатор, импульсная лампа и соединительные провода. Электрический разряд в контуре носит колебательный или затухающий характер в зависимости от соотнонюния между сопротивлением R, индуктивностью L и емкостью С элементов контура. Наиболее выгодным с точки зрения длительности импульса является соотпошепие Lj . Уменьшение времени затухания т достигается снижением индуктивности соединительных проводов, а также снижением емкости и индуктивности конденсатора (r yZ, ). При этом уменьшение энергии вспышки E = Wj2 компенсируется за счет увеличения напряжения на конденсаторе U. Увеличение [c.157]

Преимуществом шкалы длин волн, которое способствует сохранению ее применения, является то, что в этой шкале дисперсия применяемых в инфракрасной области спектральных приборов значительно более постоянна по спектру. В спектралт.ных приборах измеряются длины волн , и для определения частот следует воспользоваться известным соотношением (1) [c.483]

Каждый спектральный прибор характеризуется той областью, в которой он может быть использован. Наиболее важные характеристики спектрального прибора линейная дисперсия, разрешающая сила и светосила. Линейная дисперсия определяется как отношение 116Х, где с1/ —расстояние в спектре между центрами монохроматических изображений щели, отстоящих на интервал (1Х. Разрешающая способность / (или разрешающая сила) характеризуется минимальным спектральным интервалом между близкими монохроматическими линиями Я.1 и 2, которые данный спектральный прибор может разрешить. Светосила прибора характеризуется величиной относительного отверстия дЦ чем больше д/ , тем большее количество излучения может войти в спектральный прибор. [c.9]

Спектры диффузного отражения обычно малоинтенсивны, т.к. удается собрать и направить в спектральный прибор только очень малую часть рассеянного (отраженного) излучения. Поэтому в этом случае необходимо применять ИК фурье-спектрофотометры, обладающие высокими светосилой и соотношением сю-нал шум (ок. 10 ). Получаемые при диффузном отражении спектры часто оказываются подобными спектрам пропускания. Исследуемыми образцами м. б. массивные твердые тела, порошки (иногда содер-жанще разл. наполнители-КВг, КС1, sl, прозрачные в исследуемой области спектра), волокнистые (ткани, войлок) н ячеистые (напр., электроды с раэл. наполнителями) материалы, пены, суспензии и аэрозоли, разрядные промежутки с электронными запалами дл анализа возможных загрязнений и т.д. Перед исследованием твердый образец обычно натирают на наждачную бумагу на основе карбида кремния тонкого помола, спектр к-рого либо не проявляется в спектре исследуемого образца, либо м. б. вычтен из полученного спектра и использоваться как спектр сравнения. Спектры отражения при диффузном рассеянии могут наблюдаться от достаточно малых кол-в в-ва, напр, от пятен на хроматографич. пластине. Метод используют также для определения диэлектрич. св-в образцов. [c.395]

Колебательно-вращательный спектр называют также ин -фракрасным спектром. Такие спектры очень разнообразны, особенно в случае свободных молекул (в газах при уменьшенном давлении). Разрешающая способность обычного спектрального прибора слишком мала для разделения индивидуальных линий, вызванных вращательными Переходами. При повышении давления или при конденсировании фаз эти линии исчезают, так как продолжительность существования отдельного вращательного состояния настолько сильно изменяется. при соударениях молекул, что наблюдается уширение и перекрывание линий. Спектры в ближней инфракрасной области 1(Л от 1000 до 50 000 нм) обусловлены колебаниями атомов. При этом, различают колебания вдоль валентных связей атомов (валентные) и колебания с изменением валентных углов (деформационные). Колебания возникают, если поглощение электромагнитного излучения связано с изменением направления и величины дипольного момента молекул. Поэтому молекулы, состоящие, например, из двух атомов, не могут давать инфракрасные спектры. Симметричные валентные колебания молекул СОг также нельзя возбудить абсорбцией света. Отдельные группы атомов в молекулах больших размеров дают специфические полосы поглощения, которые практически не зависят от строения остальной части молекулы. Этот факт используЮ Т для идентификац,ии таких групп. В симметричных молекулах колебания одинаковых групп энергетически равноценны и поэтому вызывают появление одной полосы поглощения. По такому упрощению ИК-спектра можно сделать вывод [c.353]

Спектры отражения изучаются, как правило, в оптической (ИК, УФ и видимой) области с помощью спектрофотометров (см. Спектрофотометрия), снабженшх спец. устройствами. При исследовании зеркального отражения применяют обычно систему зеркал, к-рая отклоняет пучок излучения, направляет его на изучаемый объект и возвращает отраженное излучение вновь в спектральный прибор. Для наблюдения спектров НПВО используют такие же приставки, но с той разницей, что в этом случае излучение направляется на призму, находящуюся в контакте с исследуемым образцом. Для изучения спектров диффузного отражения обычно используют т.наз. полую фотометрич. сферу, внутр. пов-сть к-рой Покрыта отражающим материалом, не поглощающим в исследуемой области спектра для входа и выхода излучения и размещения образца в сфере предусматриваются соответствующие окна . [c.396]

Атомно-ионизационный метод анализа был бы невозможен без использования лазеров. Поскольку наиболее селективным методом ио1П1зации атомов является нх предварительный перевод в одно из возбужденных состояний и поскольку в видимой и ультрафиолетовой областях спектра лежат спектральные линии атомов многих элементов, то имеиио лазеры, генерирующие излучение в этих областях, являются неотъемлемой частью любого прибора для атомно-ионизационного метода. В основном это лазеры, работающие на органических красителях как активных средах. Непрерывная перестройка длины волны излучения, достаточная для достижения (во многих случаях) режима насыщения, сделала лазеры на органических красителях незаменимым средством селективного возбуждения атомов многих элементов. Существует много типов таких лазеров. Наиболее часто используемые лазеры имеют следующие xapaivTepH THKH область непрерывной перестройки от —300 до 800 нм, выходная мощность 1—20 кВт в линии генерации, ширина которой варьируется от 1 до 0,01 нм при длительности 7— 12 НС в случае лазерной накачки и 1—50 мс при ламповой накачке лазера на красителях. Следующей неотъемлемой частью установки является атомизатор, в качестве которого наиболее широко, как это уже упоминалось, используется пламя, а также электротермические атомизаторы с испарением находящихся в них образцов в вакууме. Находят применение и различного вида электротермические атомизаторы, работающие при атмосферном давлении. [c.185]

Спектрофотометр модели 124 фирмы Hita hi — двухлучевой регистрирующий прибор, работающий в области спектра 190—800 нм. Диспергирующим элементом в нем служит дифракционная решетка, позволяющая работать с излучениями трех различных спектральных интервалов 0,5 1,0 2,0 нм. Прибор позволяет измерять проценты пропускания и оптические плотности жидкостей и газов по отношению к выбранному сравнительному образцу. Измерения могут быть сделаны непосредственно по шкале прибора или зарегистрированы на линейном самописце. [c.268]

Спектры регистрируют с помощью спектрографов и спектрометров (квантометров). Имеется много типов этих приборов, различающихся светосилой, дисперсией, разрешающей способностью, рабочей областью спектра. Большая светосила необходима для регистрации слабых излучений, большая дисперсия-для разделения спектральных линий с близкими длинами волн при анализе в-в с многолинейчатыми спектрами, а также для повышения чувствительности анализа. В качестве устройств, диспергирующих свет, используют дифракц. решетки (плоские, вогнутые, нарезные, голографич., профилированные), имеющие от неск. сотен до неск. тысяч штрихов на миллиметр, значительно реже-кварцевые или стеклянные призмы. [c.393]