Размер, форма и тип дефекта

Таким образом, размер наибольшего дефекта, модуль упругости (Е) материала и параметр, связанный с работой разрушения поверхности ( с), по-видимому, определяют прочность, т. е. макроскопическую величину о одноосного напряжения, при которой наступает необратимое распространение трещины. Выражение (3.13) служит математической формой ранее использованного понятия о том, что размер дефекта (или его напряженность) определяет прочность образца. Это также объясняет, почему реально получаемая макроскопическая прочность много меньше теоретической прочности образцов, не содержащих дефектов. [c.72]

По изображению осуществляется оценка формы дефектов, их размеров, ориентации и взаимного расположения. [c.201]

Оценка формы дефекта имеет очень важное значение для решения вопроса о его допустимости. С точки зрения эксплуатационной надежности ОК особенно опасны плоскостные дефекты с малым раскрытием (трещины, тонкие непровары). Объемные дефекты (шлаки, поры) часто считаются допустимыми, если их размеры не превосходят определенной величины. Дефекты, вытянутые в некотором направлении (цепочки пор, волосовидные поры, непровары с большим раскрытием заполненные шлаком), занимают промежуточное положение с точки зрения влияния на эксплуатационные свойства. [c.196]

При контроле вручную оператор перемещает преобразователь по контролируемому изделию со скоростью 1.. .15 м/мин. Большие значения скоростей сканирования соответствуют ОК с гладкими поверхностями. Шаг сканирования составляет 60.. .80% от минимальной протяженности допустимого дефекта. Контуры выявленных дефектов отмечают на поверхности ОК по показаниям дефектоскопа. Для механизации контроля используют установки, обеспечивающие сканирование ОК по заданной программе и запись результатов контроля. Диаграмма записи представляет собой план или развертку ОК в определенном масштабе и позволяет определить размеры, форму и расположение выявленных дефектов. [c.228]

Перенос заряда в кристалле происходит за счет дефектов кристаллической решетки, когда вакансии занимаются свободными соседними ионами. Вакансии идеально соответствуют определенному иону в отношении размера, формы и распределения заряда, поэтому занять их могут только определенные подвижные ионы. Все другие ионы не в состоянии перемещаться в кристалле и не вносят вклад в процесс переноса заряда. [c.22]

Цвет И прозрачность алмазов различны. Встречаются алмазы от бесцветных до темных (белые, голубые, зеленые, желтоватые, коричневые, красноватые, темно-серые). В зависимости от качества кристаллов (размера, формы, цвета, числа и вида дефектов) и назначения различают два вида алмазов ювелирные и технические. [c.344]

Методика контроля сварных соединений и конструкции установок. Обнаружение дефекта во многом зависит от способа сканирования. Характеристики ультразвукового поля искателя, которыми производят поиск дефектов, существенно изменяются при изменении расстояния от излучателя. Среди переменных параметров основными являются изменение размеров сечения пучка, уменьшение интенсивности ультразвуковых колебаний от центра к его периферии и их поглощение и рассеяние в контролируемом материале изделий. Форма, ориентация, размеры, природа дефектов и их координаты также являются переменными факторами. Поэтому при выборе способа сканирования необходимо стремиться уменьшить влияние этих факторов на результаты контроля. [c.196]

В качестве чувствительных материалов для электродов с кристаллическими мембранами применяют вещества, которые при комнатной температуре имеют ионную проводимость. Обычно в процессе переноса заряда участвует один из ионов кристаллической решетки, имеющий наименьший радиус и наименьший заряд. Упрощенно ионную проводимость можно представить в соответствии с механизмом, при котором перенос заряда в кристалле происходит за счет дефектов кристаллической решетки, когда вакансии занимаются свободными соседними ионами. Занятие вакантных мест допускается только определенными ионами. При этом сами вакансии идеально соответствуют этим ионам по размеру, форме и распределению заряда. Все другие ионы не в состоянии перемещаться в кристалле и не могут внести свой вклад в процесс переноса заряда. [c.192]

Напряженность Е поля у осадительного электрода зависит от напряжения на электродах, их размеров, формы, состояния (запыленности, влажности, наличия дефектов и т.д.), от параметров выбросов и множества других факторов. Для трубчатого электрофильтра с коронирующим проволочным электродом, установленным строго по оси цилиндрического осадительного, величину Е ориентировочно можно вычислить по формуле [c.290]

Изготовление изделия (копии) состоит из следующих операций контроль размеров формы по чертежам монтаж формы в подвеске оценка качества обезжиривания методом смачивания поверхности формы установление параметров режимов наращивания (/ , 4. т), частоты вращения, качения катодной штанги, скорости перекачивания и т. д. корректирование концентрации веществ (влияющих на поверхностное натяжение, напряжения в покрытии) по количеству электричества периодическое изменение pH и поддержание его величины в заданных пределах выполнение при необходимости экспресс-анализа (на ст, у и механические характеристики слоев металлов) отделение копии от формы (эту операцию следует выполнять с особой осторожностью, чтобы не нанести на копию дефектов механического характера). [c.232]

Для кристаллов, выращенных методом Чохральского с выпуклым фронтом кристаллизации, характерно присутствие так называемого объемного дефекта, характеризующегося повышенной концентрацией примеси в сердцевине выращиваемого кристалла. В поперечном сечении кристалла объемный дефект наблюдается в виде лепестков просветления в скрещенных николях, что обусловлено возникновением двойного лучепреломления из-за напряжений в кристалле. Размер этого дефекта в поперечном сечении кристалла определяется размером площади развития на фронте кристаллизации гранных форм. Рельеф фронта кристаллизации хорошо сохраняется при быстром отрыве растущего кристалла от расплава. В этом случае в центре выпуклой поверхности роста кристалла наблюдаются три или четыре плоских грани овальной формы, иногда одна грань, перпендикулярная к направлению роста. На периферии конуса также бывает несколько граней овальной формы. [c.214]

Не следует ожидать, что изображения дефектов на В-, С- и Д-развертках точно соответствуют истинной форме дефектов. Очертания изображений зависят от ширины раскрытия пучка УЗ-лучей. Дефекты, меньшие ширины раскрытия пучка, изображаются на этих развертках точками приблизительно одинакового размера. [c.148]

В первом из них ОК является самостоятельным изделием, не связанным с другими элементами конструкции. Строго говоря, его собственные частоты и потери -это параметры акустически не нагруженного (например, преобразователями) и не закрепленного ОК, находящегося в вакууме. Собственные частоты и потери такого ОК определяются его размерами, формой, физико-механическими характеристиками материала (упругими постоянными, плотностью, коэффициентом затухания), а также возможными дефектами разных типов. [c.291]

Механический импеданс многослойной конструкции, в доброкачественной зоне этот импеданс определяется размерами, количеством, толщинами и материалами слоев конструкции. В зоне дефекта импеданс зависит от его размеров, формы, глубины залегания, а также параметров остальных элементов конструкции. Ввиду огромного разнообразия типов многослойных конструкций и при- [c.308]

Рис. 3.17, а показывает, что даже отражатель в виде бокового отверстия имеет временную и пространственную огибающие. Это обусловлено диаграммой направленности преобразователя, часто довольно широкой. Чтобы выделить условные размеры, связанные с формой дефекта, необходимо сравнивать их с условными размерами точечного отражателя (например, бокового отверстия), о чем пойдет речь в разд. 3.2.4. [c.358]

Следует отметить, что в теории прочностных расчетов и определения ресурса накоплен значительный опыт. Созданы и утверждены методики расчетов влияния дефектов на прочность конструкции. Для их широкого применения не хватало лишь знаний конкретных размеров и формы дефектов, которые предоставила акустическая голография. По результатам прочностных расчетов принимается решение о целесообразности ремонта шва. [c.374]

Необходимость УЗ-контроля заготовки, его объем и нормы недопустимых дефектов должны устанавливаться в технической документации на изделие. Характер и действительные размеры дефектов обычно УЗ-методами не определяют, хотя достижения, изложенные в разд. 3.2.7, в ряде случаев позволяют довольно точно оценить форму дефекта. [c.375]

Модели дефектов обычно имеют форму квадрата, их размеры выбирают в зависимости от параметров ОК и рабочих диаметров преобразователей. При настройке имитатор накладывают на поверхность ОК в зоне контроля. В зоне меньшего дефекта УЗ-сигнал должен проходить между преобразователями, в зоне большего - полностью задерживаться. Например, при рабочем диаметре преобразователей 20 мм сигнал проходит, если размеры искусственных дефектов равны [c.503]

Однако пенетранты работают одинаково хорошо на любом плотном металле, независимо от его магнитных свойств, размера, формы или химического состава изделия. Пенетранты особенно хорошо различают микрозагрязнения поверхности, выглядящие, как дефекты, и действительные поверхностные несплошности. [c.685]

Функция точечного источника и инверсия размеров внутренних дефектов в пространстве Фурье. Общий подход к определению размеров и формы внутренних дефектов по экспериментальным температурным сигналам разработан Р. Фавро [43] и др. для импульсных процедур ТК и Г. Вальтером и др. [44] для процедур с использованием тепловых волн. Предлагаемый метод заимствован из астрономии и оптики и предполагает независимость оценок от времени и параметров дефектов. [c.130]

Размер, форма и тип дефекта [c.531]

Чувствительность метода может быть также определена расчетным путем из уравнений, связывающих минимальный размер обнаруживаемого дефекта с частотой УЗ-волн и глубиной залегания дефекта. В первом прибли -жении оценка минимальной величины дефекта-отражателя, имеющего форму круга в плоскости, перпендикулярной направлению прозвучивания, может быть проведена по формуле [c.148]

Для механизации контроля используют установки, обеспечивающие сканирование изделия по заданной профамме и запись результатов контроля. В одной из таких установок, использующей совмещенный преобразователь, возбуждаемый непрерывными колебаниями, диафамма записи представляет собой план или развертку изделия в определенном масштабе и позволяет определить размеры, форму и расположение выявленных дефектов. [c.269]

Чувствительность магнитопорошкового метода, определяемая минимальными размерами обнаруживаемых дефектов, зависит от многих факторов, таких как магнитные характеристики материала контролируемой детали, ее формы и размеров, характера (типа) выявляемых дефектов, чистоты обработки поверхности детали, ре- [c.344]

В результате можно определить распределение температур на ОК в зависимости от его формы, размеров, наличия дефектов. Обычно при ТНК скорость ОК мала и конвекцией можно пренебречь. [c.529]

НИИ металла происходит изменение размеров, формы и ориентации магнитных доменов, при этом домены вступают во взаимодействие с дефектами кристал.1шческой решетки и макроскопическими дефектами [76, 77], Следовательно, величина магнитной проницаемости щ в значительной степени определяется поврежденностью материала, что делает возможным использование данной характеристики для анализа механизмов повреждения исследуемых сталей. [c.36]

Портативный дефектоскоп ВД-89Н, изображенный на рисунке 3. 4.18, применяется для дефектоскопии металлоконструкций в процессе эксплуатации, позволяет контролировать изделия сложной формы из ферромагнитных и не-магаитных материалов и сплавов, имеющих отливы, галгельные переходы и т. п. Минимальные размеры выявляемых дефектов, мм глубина - 0,2 протяженность - 5 (разработчик МНПО "Спектр). [c.177]

Для определения дефектов в (нинах используется система измерения на рассеивающих новерхностнх с использованием лазерной техники и телевидения. С помощью интерферограмм опреде тяют место, размер, форму д,ефеюй. [c.135]

Кристаллические мембраны обладают высокой селективностью. Перенос заряда в кристалле происходит за счет дефекта решетки в соответствии с механизмом, нри котором вакансии занимают соседние ионы. Вакансия идеально соответствует онределенному иону в отношении размера, формы и рас-иределения заряда, поэтому занятие ее благоприятно только для определенных ионов. Специфичность кристаллического электрода зависит от произведения растворимости соли, образующей кристалл. Схема ионоселективного электрода иредставлена на рис. 37. [c.95]

Несмотря на то, что моиокристагшы являются самыми совершенными кристаллическими структурами, степень кристалличности у них никогда не достигает 100%. При этом области с меньшей упорядоченностью рассматривают не как аморфную фазу, а как дефекты кристаллической решетки. Они возникают, например, в областях складок, проходных макромолекул и т. п. Размеры, форма и дефектность монокристаллов зависят от природы полимера и условий кристаллизации. Аморфную фазу с поверхностью раздела в кристаллическом пслимере можно обнаружить лишь в виде примеси, например, глобул. Следует подчеркнуть, что в случае однофазньгх кристаллических полимеров структурное и термодинамическое понятия фазы совпадают. [c.141]

Следовательно, индивидуальные особенности диэлектрических параметров отдельных кристаллов синтетического алмаза определяются количественным содержанием дефектов в объеме кристаллов, их природой, структурой, размерами, формой и отражают локальные условия алмазообразования. Очевидно, этим объясняется зависимость диэлектрических свойств алмазов от условий выращивания. Как правило, все исследованные кристаллы алмаза были получены в закалочном режиме охлаждения ( 33 °С в 1 с) от температуры синтеза. Следовательно, можно полагать, что состав включений и неоднородное распределение компонентов среды кристаллизации в них зафиксированы при закалке. [c.452]

Разрабатывают новые способы обработки информации, где очень перспективна вычислительная ультразвуковая голография. Например, используя пьезопреобразователи, как на рис. 1.4, сканируют больщой участок (порядка 200X200 мм) поверхности объекта контроля. Получаемую при этом информацию направляют в память ЭВМ. Дальнейшую обработку всей информации, полученной на большом участке сканирования, выполняют на ЭВМ, используя те же алгоритмы, которые реализуются в оптической голографии при наложении световых пучков. Благодаря этому удается значительно точнее представить форму и размеры выявляемых дефектов и более обоснованно судить об их влиянии на работоспособность изделия. [c.19]

TOB, где основным типом дефектов являются дефекты конструктивного характера, т. е. отклонение от нормального положения элементов конструкции (арматура, крепежные детали, полости и т. п.), определение взаимного положения элементов, недоступных непосредственному контролю геометрических размеров, формы и др. Преимуществом применения аппаратуры для визуализации СВЧ-полей по сравнению с одноточечными дефектоскопами является высокая информативная способность, возможность непосредственного наблюдения формы, структуры, местоположения наблюдаемых дефектов и высокая производительность конгроля, а недостатком— пониженная пространственная разрешающая способность. Технические данные по некоторым наиболее характерным типам радиовол-новых дефектоскопов приведены в табл. 4.6. [c.146]

Промышленные телевизионные установки успешно применяются для решения задач, которые можно решить визуальным и визуаль-но-оптическим методами, причем в более широком спектральном диапазоне излучений и в большем объеме. Их применение особенно зффективно в тех случаях, когда непосредственное наблюдение или присутствие оператора в зоне контроля невозможно из-за ограниченного объема пространства, опасных излучений или условий работы и т. д. Промышленные телевизионные установки позволяют решать задачи измерения геометрических размеров, формы полуфабрикатов и изделий, обнаружения дефектов, размеры которых превышают ширину строки телевизионного растра и достаточно контрастны, а также следить за ходом производственного процесса. В крупносерийном и массовом производстве контроль геометрических показателей целесообразно вести, установив перед экраном видеоконтрольного устройства шаблоны или маски, облегчаюшие работу проверяющего. [c.258]

Дпах> тдих - параметры, характеризующие размер и форму дефекта Т (х) - полином Чебышева Д(ф), До - текущее и среднее значения радиуса дорожки качения ф - угловая координата ф - амплитуда и фазовый угол А -й гармоники радиуса дорожки качения (/с = 1 для эксцентриситета, к = 2 для овальности, к = Ъ - для огранки и т.д.) р - предельный номер учитываемой при анализе гармоники а - координата ближайшего к Е, тела качения и р - модуль и аргумент вектора смешения кольца у = 2п/2 - угловое расстояние между телами качения [c.530]

На эталонные дефекты и эталонные образды затрачивается много ненуж-адых средств. Хотя теперь уже общеизвестно, что размеры эталонного дефекта. лишь весьма условно связаны с размерами действительного дефекта, эталонные дефекты часто изготавливают похожими на естественные дефекты, например, для шлаковых строчек в сварных швах в виде поперечных отверстий, а для трещин — в виде канавок. Однако они имеют тот недостаток, что их форма слишком правильна они отражают сигнал зеркально, что естественный дефект может сделать лишь в очень ограниченном масштабе. Для нарушения постоянства фазы достаточно ведь различия в пути прохождения звука всего в одну четверть длины волны, что отверстие на пути звукового. луча в противоположность строчке шлаковых включений при перпендикулярном прозвучивании никогда не может обеспечить. Однако совершенно неправильные эталонные дефекты не могут быть воспроизводимо изготовлены. Важное значение имеет также различный закон влияния расстояния. Отверстие, выступаюн1ее из хода звукового луча с обеих сторон, подчиняется согласно разделу 5.2 закону типа 1/2 /2, тогда как естественный дефект более или менее точно подчиняется закону типа 1/2 . Следовательно, не имеет особенно существенного значения, используются ли в качестве эталонного дефекта, например для трещин в трубе, канавки и отверстия те и другие являются эталонными дефектами второго рода и пригодны только при условии постоянства параметров аппаратуры. Ничуть не хуже можно задать критическую величину дефекта, указав различие в усилении по сравнению с одним большим и просто изготавливаемым отражателем, например в виде трубы, полностью разрезанной в продольном направлении. Установление соответствия с величиной фактического дефекта в обоих случаях должно обеспечиваться последовательными измерениями естественных дефектов, если это Необходимо. [c.382]

Образование тяжей можно рассматривать как процесс расслоения ориентированного полимерного материала в неоднородном поле напряжений. Как следует из наблюдений Гуля и Черни-на39,4о, следы тяжей начинают образовываться в сечении образца впереди растущего надрыва. Следовательно, так же как у пластмасс впереди трещины имеется зона расслоившегося материала в виде трещины серебра , так и у резин впереди надрыва имеется зона материала, подготовленного к расслоению на тяжи. Это подтверждается исследованиями в которых было показано, что структура полимерного материала вблизи дефекта, разрастающегося в процессе разрыва, сильно отличается от структуры, характерной для образца в целом. По существу, рвется не исходный полимерный материал, а материал иной структуры, ориентированный и обладающий иными (по сравнению с исходным) релаксационными свойствами. Изменения, которые претерпевает материал в месте роста надрыва, определяют характер процесса разрущения образца. При существенном изменении степени дополнительной ориентации соответственно изменяются все характеристики прочности материала. Скоростной киносъемкой процесса разрыва удалось измерить дополнительную ориентацию в месте растущего надрыва, определить форму и размеры растущего дефекта при быстром разрушении и скорость роста надрыва на различных стадиях процесса разрушения. К концу процесса разрушения скорость роста надрыва быстро и скачкообразно увеличивается, что, вероятно, связано с обрывом тяжей. [c.112]

Основное соотношение (128) позволяет оценить зависимость минимальных размеров обнаруживаемого дефекта от контраста рентгеновской плотности и формы дефекта, пространственно-частотных характеристик томофафа и уровня шумов томофаммы. [c.145]

Определение координат, размеров и формы дефекта. Целью НК является не только обнаружение дефектов, но и распознавание их образа для оценки потенциальной опасности дефекта. Методы визуального представления дефектов эффективны, когда размеры объектов (дефекта в целом или его фрагментов) при контроле обычным дефектоскопом превышают ширину акустического поля преобразователя (10. .. 12 мм и более). Положение радикально изменяется при использовании когерентных методов контроля (см. Ультразвуковые интроскопы ). В практике обычного контроля дефекты идентифицируют по признакам, рассчитанным по изме-реннлш характеристикам дефектов посредством дефектоскопов с индикатором типа Л. [c.244]

Определение формы дефекта. При ультразвуковом контроле важно различить плоскостные и объемные дефекты. Дефекты промежуточного типа, как правило, идентифицировать не удается. В табл. 14 приведены некоторые способы определения формы дефектов, размеры которых превосходят длину волны. Способы применяют при контроле сварных швов и других объектов. Предполагается, что плоскостные дефекты ориентированы вертикально (т.е. перпендикулярно или почти перпендикулярно к поверхности ввода). В фафе 3 таблицы амплитуды даны в отрицательных единицах, а в фафах 4 и 5 в отрицательных децибелах. [c.246]

К первым относятся напряжение а (деформации е), температура размеры, форма и место возникновения дефектов (трещин) /, изменяющиеся во времени т. Эти параметры оказываются зависящими от условий эксплуатационного нагружения (давления р, механические и электромагнитные усилия скорости, ускорения), геометрических форм и размеров конструктивных элементов, свойств конструкционных материалов. Так как возникновение и развитие практически всех аварийных ситуаций начинается с повреждения несущих элементов (разрушение, деформирование, разуплотнение, потеря устойчивости), то в процессе диагностирования подлежат обязательному определению максимальные ((Утах-> тя тах) [c.93]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология