Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Кривые отражения построение

    При фотометрическом определении количества вещества в смеси хроматографирование последней проводят па небольшой узкой пластинке с сорбентом. Вещества на хроматограмме окрашивают подходящим проявителем. Затем интенсивность окраски пятен измеряют фотометром в отраженном свете. Полученные данные наносят на график последний сравнивают с калибровочной кривой, при построении которой используют известные количества определяемых веществ [105]. [c.53]


    Измерения для построения кривой отражения лучше всего выполнять на приборах с геометрией измерения % Id или d/8° (сфера Ульбрихта), влияние блеска в которых не исключается. Влияние блеска надежно исключается только при измерении образцов с особенно ровной поверхностью и высоким блеском. На неровных блестящих образцах неконтролируемая доля света отражается мимо ловушки блеска, поэтому измерения производят на гладких пробах, обладающих некоторой структурностью, лучше без ловушки блеска, а влияние блеска исключают расчетным путем, вычитая 0,04 из каждого показателя степени отражения. [c.63]

Рис. 1.45. Построение кривой отражения смеси из минимумов отражения составляющих компонентов. Рис. 1.45. Построение кривой отражения смеси из минимумов отражения составляющих компонентов.
    Расчет цвета выполняется путем обращения процесса расчета констант пигмента, т. е. предполагается, что коэффициенты поглощения и рассеяния известны и уравнения решаются относительно концентрации пигментов. По спектрофотометрической кривой образца, который должен быть воспроизведен, решают, какие пигменты потребуются для построения заданной кривой отражения, Для такого решения требуются опыт и верное суждение. Часто из-за ограниченного выбора пригодных пигментов для лучшего визуального воспроизведения цвета приходится допускать отклонения от спектрофотометрической кривой образца. Опыт и верное суждение необходимы и здесь. Когда приходится [c.123]

    Прибор построен по амплитудно-фазовой схеме, в которой используется зависимость коэффициента отражения от влажности. На рис. 49 приведена типичная градуировочная кривая такого влагомера. [c.451]

    Кривая, показанная на рис. 1.22, соответствует произведению квадрата пропускательной способности, построенной на рис. 1.20, и энергии солнечного излучения, падающего на границу земной атмосферы (левая кривая на рис. 1.21). Энергия, отраженная от поверхности Земли, получается умножением площади под этой кривой на коэффициент [c.51]

    Поскольку масштаб обратной решетки пропорционален X, решетки, построенные для лучей аир, подобны друг другу. Радиальные узловые прямые будут проходить через одноименные узлы обеих решеток. Следовательно, отражения Ка и /Ср от одних и тех же плоскостей также ложатся на общую интерференционную кривую этого типа. [c.330]


Рис. 221. Построение интерференционной кривой, соответствующей точкам радиальной узловой прямой п-ной сетки обратной решетки а—радиальная узловая прямая и сфера отражения б — интерференционная Рис. 221. Построение <a href="/info/604572">интерференционной кривой</a>, соответствующей точкам <a href="/info/986191">радиальной узловой</a> прямой п-ной сетки <a href="/info/19576">обратной решетки</a> а—<a href="/info/986191">радиальная узловая</a> прямая и <a href="/info/128885">сфера отражения</a> б — интерференционная
    В заключение интересно отметить влияние толстых вязких слоев на теплоотдачу. На рис. 20 приведены результаты расчетов Ву [Л. 67] для числа Рейнольдса на ударной волне, равного 1000. (В этом случае градиент скорости очень сильно уменьшается с ростом 8ъ. Это нашло свое отражение и в рис. 24, где при построении соответствующей кривой мы умножали величины, при- [c.60]

    Этот анализ может быть также выполнен по методу стандартных серий. Шкалу и испытуемый раствор приготовляют точно так же, как и для построения калибровочной кривой. Интенсивность окрасок испытуемого образца со шкалой сравнивают визуально в отраженном свете на белом фоне. Шкалу необходимо готовить перед каждым определением. [c.365]

    Удобный и быстрый способ определения гафния в смеси окислов циркония и гафния предложили Р. С. Лауэр и Н. С. Полуэктов-11351, в котором для анализа достаточна навеска 60 мг, а источником Р-излучения служит радиоизотоп Число отраженных р-частиц подсчитывается счетчиком типа Т-20 в течение 5 мин, содержание двуокиси гафния определяется по калибровочной кривой или по формуле с учетом счета отраженных Р-частиц для чистой двуокиси гафния и двуокиси циркония. Калибровочная кривая, построенная в координатах количество (%) двуокиси гафния в сумме окислов — отношение числа импульсов для проб с двуокисью гафния к числу импульсов для окиси циркония, представляет собой прямую-линию в интервале концентраций О—100% НЮп. Точность анализа 3%, начиная с содержания двуокиси гафния 10% и выше. [c.447]

    Ровняющую способность кислотных и хромовых красителей определяют сравнением интенсивности окрасок двух образцов, внесенных в кипящую 1%-ную красильную ванну с интервалом 5 мин. После крашения в течение 1 ч образцы промывают, сушат и определяют интенсивность окраски по коэффициенту отражения на фотометре ФТ-2. По калибровочной кривой находят концентрацию красителя на обоих образцах. Для построения калибровочной кривой ткань красят в растворах с концентрацией красителя 0,3 0,6 0,9 1,2 и 1,5% от массы ткани, измеряют коэффициенты отражения этих образцов и строят график зависимости коэффициента отражения от концентрации красителя. [c.275]

    На рис. 62 приведены некоторые типичные формы максимумов при различных значениях X и g, построенные в соответствии с расчетами по формулам (8.102) и (8.105). Заметим, что формы максимума при х О и Х/1 <С О для данного значения Kh = Xhi/Xhr являются зеркально симметричными относительно оси ординат. Как можно видеть из приведенных кривых, возрастание х приводит к усилению асимметрии максимума, в то время как увеличение g— к уменьшению плош ади максимума или интегрального отражения. При значениях х = [c.223]

    Всюду на характеристике АК 3 < О, т. е. вектор скорости в точке Q лежит под прямой QP. Построим зеркальное отражение QS отрезка характеристики QK с касательной QR к кривой QS в точке Q. Ясно, что прямолинейная характеристика первого семейства QT лежит ниже прямой QR которая расположена ниже кривой QS в силу ее выпуклости. По построению, точка S ниже Е поэтому характеристика QT пересекает характеристику КС внутри области течения, что и требовалось доказать. [c.89]

    Измеряют, как указывалось выше, зависимость скорости реакции от начальной концентрации реагента. Практически определение проводят следующим образом. Как и в первом случае, строят кривую по экспериментальным точкам, но проводят серию экспериментов с различной начальной концентрацией реагента, А (мы рассматриваем реакцию А В). В результате получают несколько кинетических кривых (см. рис. 1.1). Далее к начальной точке каждой кривой проводят касательную и определяют наклон. Обычно построение касательных не вызывает затруднений, так как начальный участок кинетической кривой слабо искривлен. Если же кривизна значительна, прибегают к помощи зеркала. Прямоугольное зеркало устанавливают вертикально так, что отражение кривой в зеркале (й заданной точке) является плавным без излома продолжением кривой на рисунке. Этл означает, что зеркало установлено строго перпендикулярно касательной, которую следует построить в заданной точке. Вдоль нижней грани зеркала проводят прямую линию, из точки ее пересечения с кривой строят перпендикуляр. Скорость реакции в данной точке рассчитывают как тангенс угла наклона касательной к оси абсцисс с учетом выбранного масштаба координатной сетки. [c.18]

    Цвет. Цвет является важны.м свойством пигментов некоторые пигменты вводятся только для придания покрытию цвета. Част( тот или иной пигмент называют по его цвету, например желтая окись железа , так как окислы железа вообще имеют широкую гамму цветов. Однако охарактеризовать цвет только словами нельзя для этого необходимо построение спектрофотометрической кривой в видимой части спектра при стандартных условиях. Спектрофотометрическая кривая графически характеризует отражение света во всем диапазоне волн видимой части спектра. [c.166]


    Приведем один дополнительный пример. Предположим, что используется уравнение (57) и кривая должна быть воспроизведена смешением белого, красного и черного пигментов. Несмотря на то, что здесь имеются три степени свободы для построения спектрофотометрической кривой, в этом случае обычно нецелесообразно пытаться рассчитать концентрации для трех пигментов смеси по трем уравнениям, т. е. воспроизвести коэффициенты отражения для трех длин волн. В то время как уравнения (67) и (68) имеют единственное решение, в случае трех пигментов два аналогичных уравнения  [c.130]

    Метастабильные равновесия находят отражение при построении диаграмм равновесия. Например, если имеет место переохлаждение жидкости, то получается кривая, продолжающаяся за тройную точку. [c.133]

    Для построения первой половины кривой использованы экспериментальные данные, а другая половина получена симметричным отражением первой. Гиперболический характер кривой достаточно хорощо соответствует ожидаемому для этого типа реакций замещения, в которых самопроизвольная координация X и Y должна сопровождаться увеличением длин связей d — X и d — Y относительно их нормальных равновесных величин. [c.204]

    Исследования конденсации водяного пара в условиях молекулярного потока подтвердили справедливость геометрического закона распределения конденсата, а также возможность его применения для нахождения распределения конденсата на внутренней поверхности цилиндра и на плоскости. Схема распределения конденсата в цилиндрической трубе, полученная экспериментальным путем, хорошо совпадает с графиком функции распределения, построенным по формуле (28). Интересно, что линия распределения за точкой максимума, образующаяся при конденсации водяного пара в высоком вакууме, близка к прямой линии, в то время как теоретическая кривая отклоняется от прямой. Такое несовпадение кривых распределения вызвано идеализацией процесса при выводе уравнения. Заменяя источники, расположенные в плоскости входного сечения, одним источником, сосредоточенным в точке пересечения оси конденсатора с этой плоскостью, не принимаем во внимание возможность сдвига молекул пара по отношению к источнику при отражении их от стенок входной трубки. [c.68]

    Относительная интенсивность рентгеновских спектральных линий для большого числа элементов в настоящее время хорошо известна. Она не зависит от условий получения спектров, химического состава пробы и содержания в ней анализируемого элемента. В принципе это позволяет использовать рентгеновские спектральные линии в качестве марок интенсивности для построения характеристической кривой эмульсии. Для этого, конечно, необходимо, чтобы спектральная чувствительность используемого для получения спектра прибора не зависела от угла отражения, иными словами, чтобы пространственная разобщенность линий рентгеновского спектра элемента на спектрограмме не приводила к искажению истинного соотношения их интенсивностей. Этому условию не удовлетворяют, например, спектрографы типа Иоганна с постоянным по величине протяженным фокусом рентгеновской трубки при равномерном качании кассеты спектрографа. По некоторым причинам здесь наблюдается систематическое искажение величины интенсивности рентгеновских спектральных линий элемента, приводящее к относительному возрастанию интенсивности коротковолновых линий. Это делает нерациональным использование описываемого метода построения характеристической кривой при работе с такими приборами. [c.42]

    Согласно разделу 2.6, угловое отражение поперечных волн эффективно только для диапазона углов от 35 до 55°. При крайних значениях угла и за пределами этого диапазона угловая характеристика искажается, так что трещина, которая лишь немного наклонена к поверхности, будет отражать иначе, чем канавка. Кроме того, в случае длинной канавки постоянной глубины закон изменения с расстоянием как и при цилиндрическом отверстии получается иным, чем у отдельных дефектов типа коротких поверхностных тре-1ЩИН, которые располагаются целиком на пути звукового луча. Согласно разделу 2.6, на канавке происходят различные преобразования моды, поперечные волны превращаются в поверхностные и обратно, а также в краевые волны, которые в канавке с гладкой поверхностью и постоянной глубиной искажают эхо-имцульс совершенно иначе, чем естественная трещина с шероховатыми поверхностями и непостоянной глубиной. Таким образом, при построении тарировочной кривой отражения от канавки в зависимости от ее глубины и угла прозвучивания, особенно если канавка имеет глубину, близкую к длине волны, получают плохо воспроизводимые результаты, в особенности если при замене прибора добавляется еще влияние различных частот и форм импульса или если варьируется ширина канавки. Некоторые из вышеназванных факторов помех могут быть устранены короткими надрезами дисковой пилой см. также рис. 17.1). [c.382]

    Решение задачи идентификации модели нелинейного химико-технологического процесса [10]. Построение адекватной модели технологического процесса предполагает адекватное отражение гидродинамической структуры потоков в аппарате и адек-кватное описание кинетики процесса. В настоящее время решение первой задачи сводится в основном к обработке кривых отклика системы на типовое (импульсное, ступенчатое, гармоническое) или произвольное (детерминированное, случайное) возмущение по концентрации индикатора в потоке с использованием методов теории линейных систем автоматического регулирования. Эти методы, подробно рассмотренные выше, ограничиваются линейным случаем и не пригодны для решения нелинейных задач. Решение задачи идентификации линейных кинетических уравнений не представляет математических трудностей и ограничивается в основном использованием аппарата линейной алгебры. [c.461]

    Наблюдатель перемещает образец с помощью подвижной плоскости и фиксирует участки витринита. В каждом отмеченном пункте он регистрирует показатели отраженного света и это дает (в выбранных единицах) отражательную способность витринита в рассматриваемом участке. Изучение образца представляет собой накопление данных по нескольким сотням участков и нанесение показателей на диаграмму, аналогичную диаграммам, представленным на рис. 70, как это осуществляется при построении кривой Гаусса. Если образец однородный, то все точки группируются вокруг определенного значения отражательной способности, в противном случае рефлектограмма принимает форму более или менее растянутую. При наличии двух или трех отчетливых пиков следует полагать присутствие в образце двух или трех основных компонентов, содержание которых в % выражается отношением площадей пиков .  [c.240]

    На рис. 11.68 приведен спектр диффузного отражения сорбированного на кремнеземе малахитового зеленого, построенный в координатах Л = ДД) и F = /(Я). Как видно из рис. 11.68, спекгр диффузного отражения сорбата (кривая 2) во многом аналогичен спектру водного раствора красителя (кривая 3). [c.319]

    Е2 и т. д. при энергии Е2 концы волновых векторов описывают поверхность, которая существенно усложняется возле границ зоны Бриллюэна (вертикальные линии на схеме), а при еще более высокой энергии Е поверхность разрывается, образуя различные ветви. Подобное построение можно сделать не только для волновь векторов Ка, но и для /Со+ёГь - о+ г и т. д., где Ц, 2 — векторы ОР кристалла, т. е. поверхности Ферми можно показать вокруг каждого узла ОР (рис. 21.19,6). В таком построении при достаточно больших значениях энергии однотипные ветви единой дисперсионной поверхности смыкаются (сравнить ветви дисперсионной поверхности для Ез и для E на рис. 21.19,6). На рис. 21.19, в представлена ограниченная часть ветвей (/) и (2) такой поверхности и соседние узлы ОР ООО (точка 0) и НКЕ (точка С). Окружности, проведенные с центрами в точках О и С, являются асимптотами для дисперсионных кривых —гипербол (1) и (2). При точном вульф-брэгговском положении точки >1 и попадают на грань зонь Бриллюэна, проходящую перпендикулярно вектору ОР д и делящую его пополам), при уменьшении возмущающего потенциала Vg и, соответственно, при ослаблении вульф—брэгговских отражений ветви (1) и 2 сближаются, превращаясь в две пересекающиеся сферы. Разностный вектор АК должен быть перпендикулярен внешней поверхности кристалла значение А — = ( ) , т. е. экстинкционная длина lg равна обратной величине расстояния между ветвями дисперсионной новерхности в точном вульф—брэгговском положении кристалла. [c.503]

    Подобно типичным кристаллическим растворам, цеолиты можно рассматривать как кристаллические фазы с однородной структурой, в которых вода или другие пропитывающие или адсорбированные вещества удерживаются в свободноподвижном состоянии. Физические свойства цеолитов определенно указывают на такое Однородное внедрение. Типичность отражения на кривых дегидратации определенных молекулярных отношений соответствует главным образом дисперсному состоянию воды в этих кристаллических растворах. На кривых, построенных Вейгелем по данным равновесий дегидратации, эти определенные точки лежат на одной линии каждой целой молекуле воды в определенном стехиометрическом гидрате (на определенной ступени) соответствует разница температур около 62°С. Шёйман попытался интерпретировать внутренние динамические равновесия в цеолитах с точки зрения теории Смитса аллотропических модификаций (см, В. I, 82, сноску 9) и псевдосистем . Согласно этой теории, гейландит следует рассматривать состоящим из двух или более квазигидратов , между которыми существуют все переходы и которые непрерывно проникают друг в друга. [c.663]

    Поглощение и отражение света растворами красителей может быть из 5ерено на специальных приборах, называемых спектрофотометрами. В спектрофотометрах свет лампы с помощью кварцевых призм разлагается на отдельные составляющие этот свет монохроматические излучения. Монохроматические излучения с разными длинами волн пропускают поочередно через раствор исследу емого красителя и измеряют значения оптической плотности, соответствующие той или иной длине волны. Для построения спектральной кривой поглощения на оси абсцисс откладывают длины волн, на оси ординат — оптические плотности D, или коэффициенты поглощения s, пли Igs (рис. 1). Положение максимума спектральной кривой на оси абсцисс характеризует цвет вещества. Если Ямакс лежит в пределах 400—435 нм, раствор красителя поглощает световые лучи, соответствующие спектральному фиоле- [c.24]

    Количественный анализ можно вести фотометрическим методом путем измерения интенсивности окраски пятен фотометром в отраженном свете. Полученные данные наносят на график и сравнивают с данными комбинированной кривой, построенной по стандартным препаратам [211]. Как и в бумажной хроматографии, определяют концентрацию веществ по площади пятна (полуколичественный метод, который может быть переведен в количественный при получении воспроизводимости окраски) и измерением интенсивности окраски рефлектометри-ческим методом [172]. [c.44]

    В сочетании с другими методами и при использовании прибо- / ров этот метод иногда позволяет быстро получить воспроизводимые результаты. Так, после проявления пятен на хроматограмме окрашенные зоны компонентов можно количественно охарактеризовать денситометрическим методом. С его помощью измеряется суммарная функция площади пятна и его интенсивность менее чем за 10 мин, однако в этом случае необходим прибор. Метод включает сканирование конечного пятна на хроматограмме пучком света. Отраженный или прошедший свет попадает на фотоумножитель, и разность в интенсивностях прошедшего и отраженного света измеряется по электрическому сигналу и записывается в виде хроматографических кривых, как при элюировании с колонки. Хроматограммы сканируют на двухлучевом саморегистрирующем и интегрирующем денситометре Хромоскон . Количество вещества определяют по градуировочным графикам, построенным в координатах высота пика — масса вещества в пятне. Массу вещества в пятне получают измерением площади под хроматографической кривой с использованием интегратора. Чтобы уменьшить ошибку, которая может составить 1,7— 2,8%, необходим тщательный подбор проявляющих реагентов интенсив- [c.125]

    Аналогичным приемом можно определять химический состав силикатов по кривой, построенной не по положению X спектров отражения, а по л спектров пропускания. Но для построения такой кривой прежде всего необходимо, чтобы спектры пропускания были установлены на слоях HopojiiKOB, нанесенных в герметических камерах из пудры, приготовленной в той же камере в атмосфере либо инертного газа, либо осушенного воздуха, очищенного от углекислого газа. [c.263]

    Приставка ГП-2 для исследования преимущественных ориентировок кристаллов. Приставка предназначена для установки на гониометрах ГУР она дает возможиость съемки на просвет и на отражение и построения полной полюсной фигуры. Для съемки на отражение предусмотрены наклоны образца вокруг горизонтальной оси. Кривая распределения интенсивности, соответствующая данному сечению сферы проекции, получается при медленном вращении образца в собственной плоскости Ш град мин) и синхронном движении ленты самонищущего прибора. Для съемки на отражение в приставке имеется коллиматор, укрепляемый на входном щелевом устройстве гониометра, с помощью которого вырезается пучок прямоугольной формы, вытянутый в экваториальной плоскости и ограничиваемый по высоте набором вкладышей от 0,5 до 2 мм. Для работы с крупнозернистыми образцами предусмотрено возвратно-поступательное движение образца в горизонтальном направлении. В приставке возможно быстрое вращение образца в собственной плоскости, используемое нри рентгенографировании крупнозернистых образцов. Переход от медленного вращения к быстрому осуществляется путем закрепления гибкого валика на оси червяка быстрого вращения. [c.16]


Смотреть страницы где упоминается термин Кривые отражения построение: [c.180]    [c.384]    [c.347]    [c.284]    [c.347]    [c.43]    [c.441]    [c.188]    [c.99]    [c.563]    [c.246]    [c.365]    [c.64]    [c.67]    [c.27]   
Крашение пластмасс (1980) -- [ c.66 ]

Крашение пластмасс (1980) -- [ c.66 ]




ПОИСК







© 2025 chem21.info Реклама на сайте