Ширина определение понятия

При определении понятия коэффициент относительной чувствительности важно оговорить число предварительно внесенных в результаты анализа поправок. Принято считать, что таких поправок должно быть две поправки на ширину линий и на отклик масс детектора. Они влияют на результат и являются основными для масс-спектрометрии. [c.269]

Дадим определение понятий полупроводник и диэлектрик фазой с полупроводниковыми свойствами (полупроводником) называется фаза, в которой все квантовые состояния валентной зоны заняты и ширина запрещенной зоны при 298° К 0,08 < Д < 3,2 эв. При Т = = 298° К электропроводность полупроводников лежит в пределах 10 —10 ом -см , увеличиваясь с температурой. 0,08, эв 1800 кал отвечает значению колебательной энергии (3/ Т)-решетки. [c.331]

Дайте определение понятий а) высота хроматографического пика б) ширина хроматографического пика в) приведенный удерживаемый объем г) общий удерживаемый объем. [c.139]

Очевидно, понятие эффективной толщины поверхностного слоя должно ассоциироваться с шириной той зоны, за пределами которой отклонение локальных свойств внутри поверхностного слоя от их объемных значений становится несущественным. Единственный к настоящему времени строгий способ определения толщины поверхностных слоев состоит в том, чтобы определить эффективную толщину, как соответствующую определенной относительной разности какого-либо свойства, которую можно выбрать настолько малой, что заведома будет учтена область существенного изменения этого свойства. Согласно этому определению, для конкретного расчета толщины поверхностного слоя необходимо знать уже не полный профиль кривой, изображенной на рис. 1, а ее ход иа крайних участках, примыкающих к объемным фазам. [c.43]

Понятие ширины запрещенной зоны для окислов переходных металлов не очень определенно. Если взять последние численные значения из литературы, то в ряду окислов элементов 4-го периода наблюдаются мини- [c.84]

В первую очередь к ним относятся конечная ширина щелей, дефекты оптики прибора и его фокусировки, зернистое строение фотоэмульсии, рассеяние света в ней. Поэтому кроме теоретической разрешающей способности вводят понятие практической разрешающей способности и критерий Рэлея при этом удобно обобщить таким образом, чтобы при любой форме инструментального контура считать две монохроматические линии равной интенсивности находящимися на пределе разрешения бА,ц, если провал яркости между ними составляет 20%. Определенная таким образом величина Лц называется практической разрешающей силой [c.77]

Прежде чем перейти к точным соотношениям для ширин и параметрам спектра, служащим для определения т, необходимо прежде всего вложить точный смысл в само понятие времени корреляции вращения сферического радикала. [c.43]

Анализируемые вещества можно исследовать либо посредством определения растворенных веществ в серии трубок, либо после элюирования веществ из трубок. Для количественной оценки эффективности селективного разделения двух веществ используют понятие разрешения. Разрешение полос или пиков есть отношение расстояния между полосами (пиками) к средней ширине полос (пиков) (см. разд. 24-6). [c.479]

Целесообразность введения понятия 1Л заключается в том, что, пользуясь и1, можно проектировать листовальные головки, которые будут обеспечивать шприцевание пленки или листа с заранее заданной степенью постоянства толщины материала по ширине изделия. Правильное проектирование головки должно начинаться с определения величины Ш, обусловливающей получение изделий нужного качества. [c.309]

Ясно при этом, что область интенсивного горения, распространяющуюся вдоль трубки, нельзя рассматривать как геометрическую поверхность. Эта фронтальная зона всегда имеет конечную ширину. Газ, находящийся перед фронтом пламени, фактически еще не начал гореть, в то время как позади фронтальной области газ уже сгорел. Ширина области при этом остается, однако, недостаточно определенной. Надо уточнить понятие газ не начал гореть или уже сгорел . [c.234]

Описывая симметричные линии, обычно используют величину Sv (см. рис. 1) этот интервал между экстремумами производной линии поглощения может быть легко и точно измерен и очень хорошо выражает понятие ширины. Такое определение ширины не имеет глубоких оснований, оно обусловлено практическими удобствами. Менее наглядной, но точно интерпретируемой характеристикой спектра является его средний квадрат ширины, или второй момент, определяемый равенством [c.8]

Определенная из температурного хода проводимости АЕ называется термической шириной запрещенной зоны. Понятие термической ширины запрещенной зоны подчеркивает тот факт, что при определении этого фундаментального параметра полупроводника не учитывается реальная температурная зависимость подвижности электронов и дырок, а также зависимость самой ширины запрещенной зоны от температуры. [c.30]

Точность важна и в более широком плане, суть которого лучше изложить на конкретном примере. Из-за неумения анализировать примеси с идеальной (по современным понятиям) точностью отсутствует возможность определения подлинной ширины запрещенной зоны для некоторых полупроводников. А ведь запрещенная зона — их основной параметр. По этой и другим причинам она известна лишь приблизительно. [c.198]

Как указывалось в гл. 2, многие физические свойства очень чувствительны к присутствию примесей, и в стандартных учебниках по анализу рассмотрено много примеров применения неизбирательных методов [1]. Однако не все физические свойства можно привлечь для определения следов элементов (понятие следы относится к уровням концентраций менее 0,01%). Во-первых, точность измерения этих свойств не всегда достаточно высока (например, измерения температур замерзания и кипения, теплоты реакци , вязкости, поверхностного натяжения, упругости, скорости звука). Во-вто-рых, в настоящее время многие измерения еще очень сложны как теоретически, так и экспериментально (диэлектрическая релаксация, циклотронный резонанс, магнитоакустическое поглощение, внутреннее трение и свойств сверхпроводимости). Аналогично измерения оптических эффектов в твердых телах, включая люминесценцию, фотопроводимость и поглощение света, не всегда легко обеспечивают получение надежных данных о содержании примесей. В-третьих, другие свойства (например, восприимчивость или ширина линий спектра ферромагнитного резонанса) чувствительны только к определенным примесям в определенных основах. Не существует неизбирательного аналитического метода определения следов элементов, основанного на измерении магнитных свойств, поскольку структура пробы и присутствие компонентов в больших концентрациях по сравнению со следами играют доминирующую роль. В-четвертых, измерения термоэлектрических и некоторых механических свойств (вязкость, напряжение сдвига) можно использовать для подтверждения присутствия или отсутствия примесей, но их редко применяют как основной аналитический метод и поэтому они здесь не будут рассмотрены. Наконец, хотя многие свойства тела зависят от структуры, здесь не будут рассмотрены примеры обнаружения дефектов в кристаллических решетках (нанример, вакансий и дислокаций), поскольку эта тема слишком обширна. [c.376]

Для определения переходной температуры в случае 0о, зависимой от времени, можно использовать понятие эффективной ширины фланца [Л. 4-3]. Этот метод дает точное решение. [c.106]

Со времени зарождения техники электрической связи одна проблема не переставала волновать специалистов — проблема уменьшения ширины спектра сигнала, или, короче, проблема сжатия спектра. Многочисленные попытки не привели пока к радикальному решению проблемы в целом. Вместе с тем имеется уже ряд работ, представляющих определенные достижения в частных аспектах проблемы. Не предпринимая здесь анализа этих работ, ограничимся общей постановкой задачи, для чего нам потребуется привлечь основные понятия теории информации. [c.205]

Дадим определение понятий полупроводник и диэлектрик фазой с полупроводниковыми свойствами (полупроводником) называетс.ч фаза, в которой все квантовые состо.чния ва.иентной зоны заняты, и ширина запрещенной зоны при 298°К 0,08 Л 3,2 эе. При 7 =298°К электропроводность полупроводников лежит в пределах [c.281]

Твердость — наиболее привычное для нас свойство твердых тел и в то же время наиболее сложное, зависящее от природы материала, состояния поверхности, метода и условий испытания. Формально твердость — сопротивление материала вдавливанию за фиксированный промежуток времени или царапанью. При измерении твердости методом вдавливания величина твердости равна нагрузке Р, отнесенной к поверхности полученного отпечатка. Отпечаток обычно производят шариком из закаленной стали (метод Бринелля, Роквелла) или алмазной пирамидой (метод Роквелла, Виккерса). До НВ 350—400 (кгс/мм ) величины НВ и НУ равны. При большей твердости значение НВ ниже, чем НУ. В методе царапанья твердость определяется или шириной черты (тогда ее размерность выражается в единицах длины), или грузом на острие, который прочерчивает линию определенной ширины (тогда ее размерность выражается в единицах силы). Из этого ясно, что понятие твердость не является физической постоянной, а представляет собой сложное свойство, зависящее как от прочности и пластичности, так и от метода измерения. [c.170]

Чем меньше величина Я, тем лучше работает колонка. В современных колонках добиваются того, что Я = (1 -н 2) т. е. величине Я отвечает размер порядка малых долей миллиметра. Отсюда появилось наглядное представление о тонком диске, как бы вырезанном из колонки. Его образно назвали теоретической тарелкой , а величину Я именуют высотой теоретической тарелки . Исторически этот термин появился при рассмотрении людели хроматографического процесса, где непрерывную элюцию заменяли малыми скачкообразными продвижениями зоны, подобно тому как это было сделано выше в методе диаграмм. Кстати, с помощью этого метода понятию теоретической тарелки можно придать наглядный смысл. Как было установлено при сопоставлении диаграмм рис. 5, с уменьшением ширины гипотетического скачка, описывающего продвижение зоны вдоль колонки, меняется и форма зоны, в частности степень ее расширения. Представим себе, что при хроматографировании определенного вещества в реальных условиях мы экспериментальным путем нашли закон расширения зоны, а затем подобрали ширину теоретического скачка так, чтобы расширение, описываемое методом диаграмм, следовало бы точно такому же закону. Ширина этого скачка и отвечает понятию высоты теоретической тарелки Я. В методе диаграмм мы не принимали во внимание продольной диффузии, однако можно себе представить, что существует более сложная модель скачкообразного движения зоны, учитывающая все факторы, ведущие к размыванию зоны. Ширина эквивалентного скачка в этой модели может служить наглядной иллюстрацией понятия о величине Я. [c.32]

Когда мы проводим двумерный эксперимент, нам необходимо задать диапазон изменения ij и величину приращения между отдельными значениями (инкремент) ty. Более подробно этот вопрос мы обсудим ниже, но сейчас я хотел бы отметить, что оцифровка интервалов /у полностью аналогична оцифровке обычиых ССИ. Таким образом мы используем понятие ширины спектральной полосы (которая определяется диапазоном ожидаемых частотных модуляций в течение времени ,) для того, чтобы определить инкремент в соответствии с критерием Найквиста. Мы также используем понятие цифрового разрешения для определения общего объема выборки данных по этой временнбй координате. Прн этом мы сразу сталкиваемся с серьезными практическими проблемами. Вспомним пример из гл. 2, в котором мы оцифровывали протонщлй спектр с рабочей частотой 500 МГц, занимающий область химических сдвигов 10 м. д. Для того чтобы получить цифровое разрешение 0,2 Гц на точку, необходимо использовать время выборки [c.265]

Понятие о ф(х) и присущие этой функции свойства справедливы не только для движения потока в режиме ИП (рис. 8.12, а), но и дая других режимов течения. Этот тезис иллюстрируется рис. 8.12, 6 для кривой отклика произвольной формы, полученной для некоего реального аппарата при импульсном входном сигнале. Смысл интеграла от О до текущего значения т = хо соответствует левому выражению (8.6а), полная площадь под кривой равна 1 (как и должно бьггь для нормированной функции распределения). Понятие о ф(х) остается правомерным и щя движения потока в режиме ИВ отклик на импульсное возмущение имеет в этом случае специфический вид (рис. 8.12,в) величина ф(х) равна нулю при х < Хив и при х > хив- А вот при х = Хив эта функция уходит в бесконечность. Такой вид зависимости ф(х) соответствует выражению (8.2). Примечательно, что интеграл от ф(х)(1х, взятый в определенной точке Хив (т. е. от Хив Д ДО ив + Д г при сколь угодно малых Дх), все равно равен 1, как это должно быть для нормированной функции распределения по (8.66). Такая функциональная зависимость носит название дельта-функции Дирака, она для рассматриваемого случая записьшается в форме 8(хив)- Эта запись означает функция равна нулю при всех значениях аргументов (здесь — при всех значениях х), кроме Хив при Хив функция стремится к бесконечности, так что интеграл (площадь под кривой бесконечно большой высоты ф(х) и бесконечно малой ширины <1х) остается равной 1. Таким образом, в случае ИВ ф(х)( = 5(хив)- [c.625]

Как правило, упорядоченная структура вещества не имеет бесконечной протяженности монокристаллы встречаются реже по-ликристалличесних структур. В связи с этим размер кристалла считается важным структурным параметром. Кроме того, кристаллическое состояние не является идеальным, так как обычно в веществе имеются дефекты решетки, влияющие на его свойства. Дефекты решетки могут возникать из-за колебаний частиц в ней под действием тепловой энергии. Эти дефекты, называемые дефектами первого рода [14], не нарушают дальний координационный порядок решетки, в то время как дефекты второго рода нарушают его в значительной степени. Хоземан и Багчи [15] показали, что для описания этих дефектов полезно применять представление о па-ракристаллических искажениях. Согласно этому понятию, можно определить размер Ь кристалла, тип и степень деформации решетки в данном направлении путем анализа интегральной ширины бР-рефлексов, отнесенных к определенному направлепию, как функции порядка рефлекса к. Дефекты первого рода не приводят к зависимости ширины рефленса от порядка Н, тогда как в присутствии дефектов второго рода ширина увеличивается с возрастанием Л. В соответствии с представлением о паракристаллических искажениях интегральную ширину рефлекса можно выразить через размер Ь кристалла и относительную флуктуацию среднего размера решетки I по уравнению [c.21]

Описанная выше структура рентгеновского рефлекса наиболее просто может быть понята лишь как следствие появления в изогнутом кристалле отдельных дезориентированных один относительно другого блоков, разделенных участками, в которых не находится достаточного числа плоскостей, способных отражать рентгеновские лучи в определенном направлении. Если бы изгиб кристалла происходил упруго и блокообразование при этом отсутствовало, вне фокуса спектрографа наблюдалось бы только расширение полосы отражения, а ширина полосы плавно изменялась [c.54]

Прежде чем приступить к обсу/кдению количественного определения эффективной ширины полос и средних показателей поглощения, же.патель-по рассмотреть понятие эффективной ширины полосы па примере опытов по измерению поглощения. [c.229]

Понятие разделения в хроматографии требует в первую очередь количественного определения степени разделения. Это может быть сделано с помощью разрешения / я- При рассмотрении хроматограммы двухкомпонентной системы наглядно видно, что степень перекрывания хроматографической полосы определяют две характеристики— расстояние между максимумами пиков и ширина хроматографических полос. На рис. 1.3 показано влияние этих двух характеристик на разрешение. На верхней хроматограмме пики перекрываются. На средней — расстояние между максимумами [c.15]

В отношении того, что считать за катодное падение потенциала, существует такая же условность, как и в отношении ширины тёмного катодного пространства. Некоторые исследователи, определяя катодное падение, измеряли разность потенциалов между катодом и резкой границей тлеющего свечения другие — между катодом и точкой в тлеющем свечении, в которо градиент поля имеет минимум, и, наконец, третьи — между катодом и концом тлеющего свечени . Разница в величине катодного падения при таком различном определении этого понятия доходит до 25%. Эту разницу необходимо принимать во внимание и корректировать при сопоставлении результатов, полученных разными экспериментаторами, [c.460]

ЖИМ не только по существу дела, но сверх того и по практической невозможности достигнуть соответственного предела. К пределу возможности стремиться законно, но достигнуть его невозможно. Предел достижимого — закон природы, тот реальный идеал, которого древние, включая Платона и Сократа, вовсе не понимали, хотя и оставили стройное понятие об идеале, проникающее всю нашу цивилизацию. Воспитаннику классицизма трудно освоиться с самою мыслью о пределе, столь ясно выраженном в рассмотренном примере, но вам, в наше время, думаю, уже легко поразобраться. Думаю, что для вас, как юриста, найдутся соответственные примеры в жизненной практике, в истории людей. Мечтатели одинаковы во всех отраслях свободной мечты. Иной мечтает достичь полного равенства, другой — вечного двигателя, один ищет уничтожить налоги, другой хочет при помощи жидкой угольной кислоты и теплоты окружающего воздуха осчастливить человечество, даром получить движение. Люди называют одного безумцем, а другого лишь мечтателем, иногда даже почитают словом искателя . А я думаю, что и тот, и другой, и третий одинаково судят о том, чего не знают и что уже (это наречие здесь очень важно) известно, и если бы судьям и подсудимым было знакомо, то они вместо нового искания Америки—постарались бы сперва побороться с дознанным, как ни стеснительно было бы им, из области полной свободы неведения обратиться в область, стесненную законами непреложными, людьми открытыми, но установленными ле ими. Говоря о науках, часто применяют слова дисциплина такой-то науки. Это значит ведь повиновение, строгое следование закону, дознанному, сознанному и принятому. И как войско сильно своею дисциплиною, соединенною с бодрым духом свободы, но ограниченной дисциплиною, так и наука сильна своею свободою, но в своей дисциплине. За границею ее воин, если он воюет, — разбойник, человек в мундире науки вне научной дисциплины, если обсуждает— вздорный балагур, мечтатель. Не надо быть и в технике таким. Изучайте ее дисциплину или берите готовую от других знаний, технику руководящих. Тут дело не в ошибке л даже не в ошибках. Их и при дисциплине никто свободный не избегнет. Тут дело в том, чтобы уловить крупный закон, начало дисциплины, они дадут силу и свободу в определенной области. Ширины еще много — какой бы конечный предел ни был указан, вам в этой остающейся ширине надо приблизиться к пределу возможности. А потому, разумно отказавшись от мечтаемого невозможного, станем разбирать [c.170]

Авторы пытались установить понятие о критической ширине щели. Как выяснилось, при неизменной средней температуре и заданной разности температур эффект фонтанирования в широких пределах не зависит от ширины щели. Однако при постепенном раздвижении щели в конце концов достигается некоторая критическая ширина, начиная с которой эффект заметно уменьшается. Чем выше температура, тем быстрее достигается критическая ширина. Щели докритических размеров следовало бы называть узкими , в отличие от закритических — широких щелей. Оказынаетсщ что Одвд и та же щел ь может при определенных условиях являться узкой, при других же условиях она Играет роль широкой щели. Табл. 124 дает представление о критических размерах щели для разных температур. [c.482]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология