Микроскоп работа с ним

Нахождение линий заданного элемента в спектре неизвестной пробы производится или при помощи атласа спектральных линий на спектропроекторе (см. работы 2 и 3), или при помощи спектра железа — на измерительном микроскопе. Работа упрощается, если рядом со спектром железа и стали заснять через диафрагму Гартмана спектр чистого элемента. [c.200]

Фотографирование препарата в электронном микроскопе. Приготовленные препараты предварительно просматривают в световом микроскопе при небольшом увеличении (80—100 раз) для того, чтобы выбрать сетки с наиболее чистой и ровной пленкой. Отобранные препараты исследуют в электронном микроскопе. Работу на электронном микроскопе проводят в присутствии преподавателя и оператора. [c.198]

Затем на поверхность полимера, на которую нанесен углерод, наносят желатин, и после его высыхания механически отделяют от образца вместе с репликой. Слой желатина с репликой помещают на поверхности 15%-го раствора роданида калия репликой вверх. После растворения желатина реплику осторожно промывают дистиллированной водой для удаления остатков желатина и солей, высушивают, закрепляют на медной сетке и монтируют в специальном патроне. Патрон с репликой устанавливают в камеру микроскопа. Работу на электронном микроскопе проводят согласно инструкции к прибору. Реплику просматривают при различных увеличениях (начиная с малых) для нахождения наиболее характерных участков. Изображение на экране микроскопа фиксируют иа фотопластинках, которые проявляют и печатают обычным способом. [c.150]

Помещая фотопластинку в качестве экрана, можно получить электронную микрофотографию исследуемого объекта. Чтобы молекулы воздуха не рассеивали движущиеся электроны, электронный микроскоп работает при высоком вакууме (порядка 10 мм ртутного столба), достигаемом откачиванием воздуха через трубку N. [c.252]

Опыт 3. Получение 99% эмульсии бензола в воде м1в). В коническую колбу на 200 мл наливают 1 жл 1 % раствора олеата натрия в воде и добавляют 3 мл бензола. Смесь интенсивно перемешивают, приведя колбу в маятникообразное движение. Получается устойчивая эмульсия. Затем добавляют следующие 3 мл бензола, опять интенсивно перемешивают и т. д. Следующую порцию добавляют после полного эмульгирования предыдущей, всего вводят 99 жл бензола. Определяют тип эмульсии методом окрашивания. Каплю рассматривают под микроскопом (работа № 48). [c.231]

Сталлами. Однако это ограничение редко встречается в работе с полимерными материалами. Система двух диафрагм имеет одно существенное преимущество перед методом центрального освещения. Оно состоит в том, что в первом методе соответствие между образцом и иммерсионной жидкостью устанавливается при резкой наводке на образец, тогда как во втором случае для наблюдения линии Бекке микроскоп приходится выводить из фокуса. Это не только увеличивает чувствительность сравнения, но и позволяет проводить тонкие исследования локальных изменений показателя преломления в образце. Благодаря этому метод двойного диафрагмирования дает возможность различать отдельные детали образца на основании небольших изменений показателя преломления. В этом методе микроскоп работает по принципу фазово-контрастного микроскопа, который улучшает видимость частиц, немного отличающихся от окружающей их среды только показателем преломления или толщиной. Для некоторых исследований метод двойной диафрагмы может превосходить метод фазового контраста. Промышленные фазово-контрастные микроскопы дают чрезвычайно контрастные изображения с ярким ореолом вокруг частиц, отличающихся от окружающей их среды. Ореол и крайняя степень контрастности изображения уменьшают число наблюдаемых деталей, тогда как метод косого освещения с двойной диафрагмой дает более мягкое изображение с большим числом деталей. Последний метод особенно удобен для исследования волокон или стержневидных образцов, которые легко расположить под определенным углом к щели между диафрагмами. Метод двух диафрагм осуществляли как с петрографическим, так и со сложным светлопольным микроскопом. Точная юстировка диафрагм возможна почти для всех сложных микроскопов. [c.264]

В отличие от светового микроскопа, в отношении которого предполагается, что каждый, кто на нем работает, способен использовать его наилучшим образом, электронный микроскоп — специализированный прибор, который настраивается и обслуживается специалистами. Это связано с расходами на запасные части и производством ремонтных работ, осуществляемых по контракту с обслуживающим предприятием-изготовителем. Для того чтобы оправдать капитальные вложения и затраты, связанные с организационными трудностями, в большинстве случаев на одном электронном микроскопе работает много людей. Часто к электронным микроскопам прилагаются устройства для производства срезов, получения реплик методами напыления сколов и травления замороженных образцов и, возможно, для других видов [c.90]

Отражательные электронные микроскопы работают по принципу сканирования ( ощупывания ) исследуемой поверхности электронным лучом, имеющим развертку по двум взаимно перпендикулярным направлениям (растровые электронные микроскопы — РЭМ). Изображение в РЭМе получается на экране электронно-лучевой трубки и может быть сфотографировано. Диаметр электронного пучка не превышает 10" м (100 А), что позволяет исследовать малые участки поверхности. [c.112]

Принцип работы компаратора основан на том, что расстояние между спектральными линиями иа фотопластинке сравнивают со шкалой. Сравнение производится ири помощи двух жестко связанных микроскопов. Левый микроскоп имеет в иоле зрения окуляра перекрестие, которое наводится на исследуемую линию в спектре. Спектрограмма помещается на столике и двигается вертикально при помощи маховичка слева. Далее необходимо зеркалом под столиком осветить спектрограмму, маховичком наводки фокуса добиться четкого изобра- [c.60]

Исследование суспензии твердых углеводородов, полученной при охлаждении раствора сырья в смеси МЭК бензол толуол со скоростью 300°С/ч, при помощи микроскопии [10, 52] показало образование плотной сетки мелких переплетающихся кристаллов, задерживающих жидкую фазу и уменьшающих скорость разделения фаз (табл. 19). При снижении скорости охлаждения раствора образуются агрегаты кристаллов, разделенные жидкой фазой и свободно перемещающиеся в дисперсионной среде. Это дает возможность проводить процесс депарафинизации с высокой скоростью фильтрования. В работах [23, 24, 46] на основании данных о депарафинизации дистиллятных рафинатов установлено образование пространственной структуры с широко разветвленным жестким скелетом, способным иммобилизовать большое количество жидкой фазы. Для разрушения такой структуры необходимо механическое воздействие, тем большее, чем выше пределы выкипания дистиллятного сырья. [c.148]

Наибольшая ньютоновская вязкость высококонцентрированных растворов сополимера. Для определения проницаемости материала сополимера, являющейся нелинейной характеристикой М-элемента диаграммы связи (см. рис. 4.5), необходимо исследование зависимости ньютоновской вязкости системы от концентрации растворителя в ней. Изучению ньютоновской вязкости высококонцентрированных систем посвящен ряд работ [55—58]. Непосредственное изучение структуры таких систем методами электронной микроскопии встречает большие затруднения. Вместе с тем [c.318]

Захтлер [25] оспаривал полученные в работах [23, 24] доказательства существования молекулярного, т. е. двухатомного, кислорода на поверхности серебра, но более позднее исследование [26] с помощью эмиссионного микроскопа показало, что при очень низких давлениях на поверхности серебра присутствует и атомарный, и молекулярный кислород. Другие авторы пришли к тому же заключению, и, несмотря на противоречия в некоторых деталях, есть основания считать, что на поверхности серебра присутствует молекулярный кислород. Это важно для рассмотрения механизма образования окиси этилена на серебряном катализаторе. [c.228]

Гладкие смазки при рассмотрении невооруженным глазом и при небольшом увеличении в оптическом микроскопе кажутся однородными они обычно образуют небольшой ус. Гладкая текстура придает смазкам приятный внешний вид они лучше (более ровным слоем) наносятся на смазываемые поверхности, лучше смазывают подшипники и другие узлы трения, способствуя их нормальной работе в более трудных условиях. Гладкая текстура является часто одним из основных требований к смазке и включается в технические условия. Смазки с зернистой текстурой часто дополнительно перетирают на вальцах или в различных гомогенизаторах для придания им гладкой текстуры. Обычно при этом повышается их механическая стабильность, уменьшается синерезис и т. п. Гладкие смазки свободнее проходят через узкие трубки и лучше заполняют масленки они содержат меньше пузырьков воздуха и при прочих одинаковых свойствах лучше защищают металлы от коррозии, чем зернистые и волокнистые смазки. [c.654]

Структуру коксов до недавнего времени оценивали коэффициентом анизометрии - отношением длины частиц кокса к их ширине. Однако такая оценка давала большие расхождения в результатах измерений. Авторами работы [151] предложено оценивать структуру коксов баллами в зависимости от дисперсности и ориентации структурных элементов (метод ГосНИИЭП). Согласно предложенной классификации, все коксы разделены на 10 типов структур с соответствующим баллом (табл. 12). Метод балльной оценки заключается в сравнении исследуемого кокса, наблюдаемого в микроскоп, со структурой эталонных микрофотографий. [c.88]

Загрязненность неполярных жидкостей (топлив, масел) характеризуется в основном присутствием в них относительно грубодисперсных примесей, отделяемых при фильтровании. Недостаточность сведений о содержании инородных включений можно восполнить предложенной в работе [21] методикой счета дисперсных частиц в пробе исследуемого масла с применением поляризационной микроскопии. [c.25]

В Советском Союзе достигнуты большие успехи в области угольной петрографии благодаря работам Аммосова и его сотрудников, которые разработали ряд новых методов исследования твердого топлива, например количественный метод определения петрографического состава и отражательной способности микрокомпонентов, метод люминесцентной микроскопии и др. [c.70]

Значительная часть работ посвящена исследованию коллоидных свойств смол и асфальтенов. Для оценки агрегированных частиц нефти, битума и асфальтенов широко применяются такие методы, как электронная микроскопия и центрифугирование. Изучению поляризационных и молекулярно-поверхностных свойств асфальтено-смолистых веществ нефтей уделяется неоправданно мало внимания, хотя знание этих свойств имеет фундаментальное значение для объяснения ассоциативных явлений. [c.181]

Логичным продолжением этой работы явились обобщения Д. Дика и Т. Иена [40], сделанные на основе сопоставления экспериментального материала по масс-снектральным исследованиям, данным дифракционно-рентгеноструктурных измерений, результатам гель-проникающей хроматографии, ультрацентрифугирования, электронной микроскопии, а также обсуждения пока- [c.235]

Приготовленные препараты предварительно просматривают в световом микроскопе при увеличении 30—100 раз и выбирают сетки с наиболее чистой, ровной и нерастрескавшейся пленкой. Затем препа )аты исследуют с помощью электронного микроскопа. (Работу на электронном микроскопе проводят под руководством преподавателя.) [c.126]

Автоскан (Ли1о5сап) (ФРГ). Растровый э.пектронный микроскоп работает при ускоряющих напряжениях до 30 кВ при этом достигается предельное разрешение 7 нм в растрово-просвечнваюшем режиме и 10 нм в режиме вторичной электронной эмиссии увеличение от 7 до 240 ООО раз. У микроскопа [c.153]

Stereos an 180 (Англия). Растровый электронный микроскоп работает при ускоряющих напряжениях ло 60 кВ, при этом достигается предельное разрешение 7 нм в растрово-просвечивающем режиме и 10 нм в режиме вторичной электронной эмиссии. У микроскопа имеются приставки для нагревания до 400°С и деформации образца. Микроскоп может использоваться вместе со спектрометром. [c.154]

HFS-2 (Япония). Растровый электронный микроскоп работает при ускоряющих напряжениях до 25 кВ,. при этом достигаются следующие предельные разрешения и максимальные увеличения в растрово-просвечивающем режиме 3 нм и 500 000 раз в режиме вторичной электронной эмиссии 3 нм и 250 000 раз. Сканирующий электронный микроскоп используется вместе с рентгеновским микроанзлизатором и имеет предельное разрешение 7 нм и максимальное увеличение 200 ООО раз. [c.154]

RSEM (Голландия). Растровый электронный микроскоп работает при ускоряющих напряжениях до 50 кВ, при этом достигается предельное разрешение 10 нм как при растрово-просвечивающем режиме, так и в режиме электронной эмиссии. Микроскоп имеет телевизионное изображение и может использоваться совместно с рентгеновским микроанализатором. [c.154]

Фотографирование препаратов в. электронном микроскопе. Приготовленные препараты предварительно просматривают в обычном световом микроскопе при небольшом увеличении (80—100 раз), для того чтобы оценить их качество и выбрать сетки с наиболее чистой и ровной пленкой. Отбирают по указанию преподавателя лучшие препараты и вставляют их в объок годержатель для наблюдения в электронном микроскопе. Работу па электронном микроскопе проводят в присутствии преподавателя и оператора. [c.194]

В состав типичного микроскопа входят осветитель, предметный столик, перемещающийся относительно корпуса микроскопа, и увеличительная часть. Наиболее сложные микроскопы для измерительных целей содержат электронные системы цифрового отсчета, а также преобразующую телевизионную установку для передачи и обработки изображения. Как правило, микроскоп работает с источником искусственного света, создающим большую освещенность контролируемого объекта необходимого спектрального состава и направления света (рис, [c.241]

Рассмотренные условия относятся только к скорости роста кристаллов окисла. Если они соблюдаются, то скорость роста может быть очень медленной, что, очевидно, позволяет наблюдать обычные зародыши. Однако для обнаружения зародышей эти условия обычно недостаточны. Необходимо, чтобы скорость зарождения (число зародышей, образующихся в единицу времени) не была слишком большой. Следовательно, чтобы сделать правильные предложения относительно возможности наблюдать зарождение и рост кристаллов окисла, необходимо знать точные формы соответствующих кривых, что очень трудно. За неимением данных относительно этих кривых можно, руководствуясь их колоколообразной формой, исследовать область возрастающих температур, которая соответствует нисходящей ветви кривой зарождения при этом берутся условия, при которых скорости зарождения не являются слишком большими. Можно, онерируя довольно низкими температурами, найти область, где скорости возникновения и роста настолько малы, что их можно измерить (левая часть соответствующих кривых). Трудность данного исследования заключается обычно в очень малой величине кристаллов окисла, наблюдать которые можно главным образом методом электронной микроскопии (работы Гватмея и сотрудников в области окисления никеля и меди [5, 6]). [c.131]

Допустим, мы взяли кровь, отцентрифугировали ее и выделили белые кровяные шарики — лейкоциты. Затем обработали их специальным веществом (фиксатором), которое убило клетки, ие изменив их структуры. Теперь нанесем эти клетки на специальн ю сеточку с очень маленькими ячейками и поместим на предметный столик микроскопа. Включим вакуумные насосы и будем следить за приборами. Движение стрелки нам показывает, как создается в колонне микроскопа вакуум. Частички воздуха убираются с будущего пути следования электронов. И вот вакуум есть. Включаем электронную пушку (так называется та часть М1п<роскопа, где поменгается вольфрамовая нить, дающая под де 1ствием сильного тока пучок электронов). Микроскоп работает, его экран светится, и на нем хорошо видно мутно-черное, расплывающееся пятно неправильной формы, закрывшее почти вес1 экран. Что же это за пятно [c.147]

Как было показано в работе [60], определение ао по течению в вязкостном режиме с газом при диаметрах частиц, меньших 60 мкм (применялись микросферы из полистирола), дает резко заниженное значение против непосредственно определенных значений о из замеров под микроскопом. -В этих же условиях измерение ао в молекулярном режиме течения дало хорошее совпадение с результатами прямого расчета [60]. При условии введения поправок на молекулярный режим предел измерения ао с применением газа и расчетом по (П. 55) снижается до диаметра частиц 10 мкм и ао 0,6 м /см Жидкостные приборы также могут быть использованы примерно до этих же значений. При использовании вязкостного режима, верхний предел дисперсности определяется еще диаметром ячейки (аппарата) (d < 0,05 >ап, см. ниже) и чувствительностью прибора, замеряющего перепад давления в зернистом слое. Удельную поверхность частиц диаметром более 1 мм обычно определяют в интервале скоростей,- где перепад давления линейно зависит от скорости, пропускаемой через слой жидкости [26, R. В. M Mul-lin 36]. [c.51]

Если в лаборатории нет торзионных весов, то работы можно проводить с помощью весов Фольмера со стержневой пружиной, конструкция которых применительно к седиментационНому анализу была улучшена Фигуров-ским (рис. 6). Эти весы просты по устройству и состоят из коромысла 2, закрепленного в штативе 1, стеклянной чашечки с нитью 3 и микроскопа или катетометра 4, нацеленного на конец коромысла. Коромысло весов (шпиц) изготавливают из кварцевой нити длиной 20— [c.24]

Последовательность выполнения работы. 1. Поместить спектрограмму на столик компаратора вверх эмульсией. 2. Сфокусировать изображение спектра в левом микроскопе. 3. Изучить спектр железа в т ,ебуемом диапазоне, сопоставляя все спектральные линии со спектром железа в атласе (см. приложение рис. 204). 4. Определить номера линий в спектре железа, между которыми расположена спектральная линия в изучаемом спектре. 5. Установить столик компаратора так, чтобы левая пронумерованная в атласе линия железа совпала с перекрестием в левом микроскопе. 6. Сделать отсчет по ии<але правого микроскопа. 7. Переместить столик компаратора до совпадения спектральной линии в изучаемом спектре с перекрестием. 8. Сделать отсчет по шкале правого микроскопа. 9. Переместить столик компаратора до совпадения правой проиумероваииой в атласе липни железа с перекрестием. 10. Сделать отсчет по шкале правого микроскопа. [c.61]

Последовательность выполнения работы. 1. Поместить спектрограмму вверх эмульсией на столик компаратора под левый микроскоп так, чтобы линии в спектре излучения СМ сходились влево. Переместить спектрограмму винтом с левой стороны столика компаратора так, чтобы в поле зрения левого микроскопа была бы видна верхняя часть спектра. Ослабить винт под столиком компаратора в левой части и, перемещая столик вручную, проверить, не смещается ли по вертикали изображение спектра в левом микроскопе. Если наблюдается смещение спектра, то повернуть на небольшой угол планку, на которую опирается нижнпй край спектрограммы. Установить четкое изображение спектра в поле зрения левого микроскопа маховичком фокусировки. Установить четкое изображение индекса в поле зрения микроскопа вращением муфты окуляра. Вновь подкорректировать изображение спектра и индекса. [c.68]

В работе нужно построить диаграмму плавкости системы KNOз—МаЫОд по данным термического анализа изучить кристаллическую структуру солей KNOз, ЫаЫОд и их смесей при помощи микроскопа. [c.240]

Измерение скорости электрофореза выполняли в специально сконструированной кювете, схема которой дана на рис. 12.1. Рабочую стеклянную кювету 1 в виде прямоугольного парал-лепипеда с открытыми торцами длиной 20 мм и поперечным сечением 20x0,8 мм помещали между двумя сосудами 2 также прямоугольного сечения, изготовленными из оргстекда. Толщина стенок измерительной ячейки составляла 0,2 мм, что обеспечивало надежную визуализацию микрообъектов при работе с темнопольным микроскопом. Боковые емкости 2 в месте их сочленения с кюветой имели ряд отверстий диаметром 0,5 мм эти емкости прочно закреплялись на основании 3, в котором было высверлено отверстие для вхождения темнопольного объектива 4. Б нижнюю часть емкостей 2 помещали гель агар-агара 5, приготовленный на 1 н. растворе КС1 сверху заливали 0,1 и. раствор USO4 (б) и помещали медные электроды 7. Такая установка удобна в обращении в ней обеспечена герметичность сочленения боковых емкостей с измерительной камерой и возможность тщательной очистки последней после проведения исследований. На основании данных о подвижности частиц дисперсной фазы вычисляли -потенциал по формуле Гельмгольца — Смолуховского без учета поправки на поверхностную проводимость [59]. [c.202]

Эффективным средством идентификации параметров и автоматизированного построения моделей пористых сред являются вычислительные комплексы, оснащенные средствами автоматического анализа изображения (ААИ). Принципиальная схема одного из таких вычислительных комплексов показана на рис. 3.3. При помощи передающего телевизионного сканирующего устройства изображение объекта может быть введено в цветном или чернобелом варианте непосредственно с плоскости наблюдения во всех ее видах, т. е., например, с фокальной плоскости окуляра оптического микроскопа, с экрана электронного микроскопа, с экрана телевизора, а также фотографических репродукций и др. Соответственно в схему ААИ может быть включен оптический микроскоп, электронный микроскоп (просвечивающий, эмиссионный или растровый), приемное телевизионное устройство, эпидиаскоп и т. п. Скорость работы современных ААИ более чем на 5 порядков превышает скорость работы человеческого глаза при значительно более высокой чувствительности (свыше 200 точек на [c.125]

Идеи фрактального строения частиц дисперсной фазы были развиты в работах [4, 8]. Электронная микроскопия с применением криотехники позволила экспериментально показать фрактальное строение растворов асфальтенов в толуоле и смесях толуола с гептаном [13]. [c.7]

Из большого арсенала разработанных к настоящему моменту методов наиболее адекватную информацию о состоянии НДС тяжелого состава можно получить лишь при помощи неразрушающих методов, не связанных с добавлением растворителей или наложением интенсивных механических нагрузок на исследуемые нефтяные системы. Методы типа гель-нроникающей хроматографии, фотоколориметрии, седиментационные, реологические и другие методы являются малопригодньп и для точного измерения сфуктурных характеристик НДС и определения точек фазовых переходов. Они частично разрушают надмолекулярную структуру исследуемых систем, изменяют толщину и химический состав сольватных оболочек, а также приводят к диссоциации, либо рекомбинации части соединений, существенно искажая характеристики исследуемых нефтяных систем. Использование разрушающих методов, по словам некоторых исследователей, является лишь первым пробным шагом в изучении структурных превращений в НДС. Наиболее приемлемыми в этом отношении являются некоторые спектральные методы, а также различные виды микроскопии, которые, конечно же, не могут удовлетворить весь спектр исследований в области нефтяных дисперсных систем, но вполне достаточны для целей данной работы. [c.9]

Офаничепия этих методов заключаются в возможности проведения исследований в узком диапазоне температур, близких к комнатной. Исключение составляют микроскопы с так называемым "горячим столиком", где имеется возможность исследовать структуры при высоких температурах. Анализ жидких НДС возможен в тонком слое в трансмиссионной электронной и просвечивающей оптической микроскопии. Электронная растровая и оптическая отражающая микроскопия требуют предварительного приготовления травленого шлифа. В работе [4] для протрава нефтепродуктов типа пеков рекомендуется тройной ор1 анический растворитель. Для этих целей можно использовать также обычную хромовую кислоту. [c.13]

Эмульсии относятся к микрогетерогенным системам, частицы которых видны в обычный оптический микроскоп, а коллоидные растворы принадлежат к ультрамикрогетерогенным системам, их частицы не видны в обычный микроскоп. Хотя по своей природе эти системы близки, но физико-химические их свойства различны и зависят в значительной степени от дисперсности. При образовании эмульсии образуется огромная поверхность дисперсной фазы. Так, количество глобул воды в одном литре 1%-ной высокодисперсной эмульсии исчисляется триллионами, а общая межфазная площадь поверхности — десятками квадратных метров. На такой огромной межфазной поверхности может адсорбироваться большое количество веществ, стабилизирующих эмульсию. В процессе образования эмульсии на хщспергирование жидкости затрачивается определенная работа и на поверхности раздела фаз концентрируется свободная поверхностная энергия — избыток энергии, содержащейся в поверхностном слое (на границе двух соприкасающихся фаз). Энергия, затраченная на образование единицы межфазной поверхности, называется межфазным поверхностным натяжением. Удельная поверхностная энергия измеряется работой изотермического и обратимого процесса образования единицы поверхности поверхностного слоя и обозначается а. [c.15]

Длительное время считали, что в нефти наряду с кристаллическими углеводородами имеются твердые углеводороды аморфной, неопределенной (mal rystalline) структуры. В работах [10,105] и др. установлено, что аморфной модификации не существует — при исследовании образцов аморфных парафинов с помощью поляризационного микроскопа была обнаружена их кристаллическая структура. [c.89]

О применении микроскопа для определения пранулометриче-ского состава пыли см. работы [248, 317]. Существуют специальные сетки для упрощения оценки размеров частиц и их подсчета (рис. И-18). Сферы на сетках растут в прогрессии У2, как в стандартных ситах Тайлера. Несмотря на то, что даже частицы размером 0,14 м км могут быть обнаружены визуально, практическим пределом для нормальной классификации частиц по размерам с помощью микроснопа являются частицы размером 1 мкм. Необходимо помнить, что при наблюдении под микроскопом частицы обычно находятся в наиболее устойчивом положении, поэтому при измерении частиц в виде тонких пластинок определяют самый большой размер. [c.92]

Сведения об изменении степени дисперсност ССЕ и лобул воды при изменении рН-среды приведены в работе Б. И. Кессе-ля [214]. Для экспериментов были взяты три типа нефтей и из них составлены 10%-е водонефтяные эмульсии с различными значениями рН-среды. Фотографии в ироходя1цем С1 ете ирн комнатной температуре глобул с применением микроскопа Д-16 (увеличение в 250 раз) показывают, что в экстремальном состоянии (рН = 7) степень их дисперсности зависит от группового состава нефте 1, от склонности их к структурированию (рис. 71). Динамика изменения степени полидисперсности и размера ло-бул воды в прикамских нефтях в зависимости от рН-среды приведена на рис. 72. [c.190]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология