Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Метод свободной поверхности

Рис. 2.20. Взаимное расположение реагентов и продукта реакции при изучении механизма твердофазных реакций методом свободной поверхности Рис. 2.20. <a href="/info/1346113">Взаимное расположение</a> реагентов и <a href="/info/9325">продукта реакции</a> при изучении <a href="/info/1015721">механизма твердофазных реакций методом</a> свободной поверхности

    Методы контроля отклонений относительного расположения деталей. Непараллельность плоскостей контролируют с помощью измерительной головки, укрепленной на стойке. Деталь устанавливают базовой поверхностью на поверочной плите, имитирующей прилегающую плоскость непараллельность определяют изменением показаний головки в разных точках свободной поверхности. При такой схеме в результате измерения не-параллельности образуется погрешность метода измерений — неплоскостность. Для исключения последней могут быть использованы контрольная линейка или пластинка с параллельными гранями. [c.183]

    Распределение различных кристаллических фаз в невосстановленных и восстановленных катализаторах может быть установлено с помощью электронного микроскопа (рис. 41). Поверхности железа и промоторов могут быть измерены отдельно методами адсорбции газов. Эти исследования показали, что промоторы, особенно окись калия, хорошо перемешаны с железом и что более 90% поверхности железа покрывается ими, оставляя для осуществления катализа менее 10%. Однако имеющаяся свободная поверхность железа и активность промотированного катализатора значительно более высоки, чем для непромотированного железа, и они уменьшаются намного медленнее. [c.162]

    Термодинамически устойчивое состояние двух несмачивающихся жидкостей отвечает минимуму свободной поверхности, причем более тяжелая жидкость располагается под более легкой. Требуется проявить немалую изобретательность, чтобы получить метастабильную эмульсию с большим числом капель одной из жидкостей, диспергированных в другой. Капли требуемых размеров могут быть получены двумя различными методами. Один заключается в выращивании капель из малых центров каплеобразования, другой состоит в дроблении больших капель. Второй метод часто применяют как в лабораторной, так и в производственной практике. Коммерческие фирмы выпускают широкий ассортимент установок для промышленного приготовления эмульсий. Для понимания процессов, которые будут рассмотрены ниже, ограничимся ознакомлением с общими принципами, лежащими в основе работы различной аппаратуры. [c.11]

    И, наконец, следует упомянуть об угле естественного откоса, который определяет статическое равновесие в покоящемся рыхлом материале. Единственный общепринятый метод измерения угла естественного откоса основан на свободном вытекании материала из небольшого отверстия на плоскую горизонтальную поверхность. Угол наклона к горизонтали свободной поверхности материала и есть угол естественного откоса. Имеется много других методов измерения угла естественного откоса, но все результаты незначительно [c.230]


    Динамические методы. Среди рассмотренных методов определения поверхностного натяжения только метод капиллярного поднятия и метод равновесной формы капли или пузырька полностью статичны, а в остальных методах измерение связано с более или менее быстрым изменением величины поверхности. Несмотря на это, динамическими принято называть только такие методы, в которых поверхностное натяжение измеряется при ритмичных колебаниях поверхности жидкости. Такие колебания возникают в струях, при деформации капель, а также на поверхности возмущаемой жидкости. Во всех этих случаях стремление жидкости уменьшить свою свободную поверхность, мерой чего является поверхностное натяжение, противодействует увеличению поверхности. Если под [c.121]

    Гарди (1927 г.) предложил характеризовать устойчивость пен временем жизни одиночного пузырька, образованного на свободной поверхности жидкости. Этот модельный метод дает хорошо воспроизводимые результаты, он применим и к эмульсиям, для которых определяют время жизни отдельной капли. К сожалению, до сих пор неясно, как соотносится время жизни отдельного пузырька с временем жизни пенного столба. Дело в том, что устойчивость последнего в какой-то степени зависит от первоначальной структуры пены и от характера изменения этой структуры во вре- [c.225]

    Сущность хроматографического метода заключается в том, что через слой адсорбента, являющегося неподвижной фазой, пропускают поток элюента — жидкости или газа-носителя (подвижная фаза). Вместе с элюентом передвигается разделяемая смесь. Встречая на своем пути свободную поверхность адсорбента, компоненты смеси адсорбируются и, если их адсорбционная способность различна, смесь разделяется на зоны, каждая из которых преимущественно содержит чистое вещество. Очевидно, что раньше других будет отлагаться на адсорбенте компонент, наиболее сильно адсорбирующийся. Последними будут адсорбироваться вещества, имеющие слабое сродство к адсорбенту. Неадсорбирующиеся компоненты выйдут из слоя адсорбента вместе с элюентом. При продолжительном пропускании элюента зоны движутся по слою адсорбента вслед- [c.347]

    Подготовка поверхности. Гальванические покрытия удерживаются прочно только на чистой поверхности, свободной от оксидов, жировых пятен и налетов грязи. Ниже приводятся методы подготовки поверхности, рекомендуемые для лабораторной практики. [c.182]

    Вместе с тем электронография уступает рентгено- и нейтронографии диапазоном практического применения. Электроны сильно поглощаются веществом. Поэтому электронограммы можно получать только от тонких слоев образца. Съемка со свободной поверхности жидкости практически неосуществима, потому что образец, облучаемый электронами, должен помещаться внутрь электронографа, из которого воздух откачан до давления порядка 10- Па. Применять герметические кюветы с исследуемой жидкостью нельзя из-за сильного поглощения пучка электронов их стенками. Метод электронографии применим преимущественно к твердым телам и газам. [c.95]

    Важный вопрос, возникающий при исследовании эвтектических сплавов, заключается в числовой оценке размеров эвтектических областей. В принципе их можно было бы определить, используя методику рассеяния рентгеновского излучения под малыми углами. Однако в случае жидких металлов осуществить подобный эксперимент трудно. Дело в том, что для получения малоугловых рентгенограмм от жидких металлов съемку надо вести методом отражения монохроматического пучка рентгеновских лучей от свободной поверхности расплава. Однако получение дифракционной картины под малыми углами лимитируется областью геометрической тени образца, которая простирается до 5—8°. Дифракционную малоугловую картину от жидких металлов [c.191]

    Этот метод можно применять при соблюдении следующих условий модельная электрохимическая реакция протекает в чисто диффузионном режиме, скорость ее на свободной поверхности на несколько порядков выше, чем на занятой, степень покрытия поверхности ингибитором целиком определяется адсорбционным равновесием. Критерием надежности полученных значений может служить их совпадение для двух или нескольких модельных реакций. [c.28]

    Проблема дополнительно усложняется, если струи непараллельны. Одним из логически напрашивающихся вариантов является пара сталкивающихся струй. Опубликованы обширные математические исследования, основывающиеся на теории потенциального потока и величине свободной поверхности. Эти методы анализа позволяют получить некоторое представление об общих гидравлических характеристиках подобных систем, но, к сожалению, совершенно не проливают света на смешение с окружающей средой. [c.311]

    Исключительно важную роль приобретает учет поверхностных сил при выращивании плоских кристаллов (лент), ибо в этом случае толщина кристалла лимитируется капиллярной постоянной. Авторы работы [30] показывают, что при попытке вырастить плоский кристалл вытягиванием по методу Чохральского со свободной поверхности расплава получают обычно почти совершенно круглый слиток лишь со следами выхода преимущественных плоскостей роста. [c.97]


    Методы подобия (физическое моделирование) применимы при проектировании сравнительно простых процессов и операций, в частности протекающих в однофазных системах с фиксированными границами, при небольших изменениях масштабов. Для анализа двухфазных систем со свободными поверхностями (процессов, осложненных химическими реакциями), а также процессов с многозначной стохастической картиной связи между явлениями использование методов физического моделирования затруднительно. Основным методом расчета и анализа сложных систем реакторов стал метод математического моделирования. [c.31]

    Наиболее точные измерения толщины пленки производятся на самих пленках. В основе таких методов лежат оптические и гравиметрические измерения, а также поглощение и эмиссия рентгеновского излучения. Наибольшую точность обеспечивает многолучевая интерферометрия, и в зависимости от используемого метода можно получить точность в пределах 1 или 2 нм. Для проверки толщины пленки можно использовать метод Фи-30, который заключается в нанесении отражающего покрытия поверх ступеньки осажденной пленки и в измерении серии интерференционных полос. Толщину пленки можно измерить также, делая срезы плоских кусков смолы, на которые было нанесено покрытие, и измеряя толщину слоя металла с помощью просвечивающего электронного микроскопа. Погрешность этого метода зависит от того, насколько точно под прямым углом к металлическому слою можно сделать срез смолы н фотографии среза. Простой метод точного определения толщины пленки и размеров зерна был описан недавно в [307]. Было установлено, что в линейных агрегатах латексных сфер материал покрытия накапливается только на свободной поверхности сфер. Увеличение толщины поперечного по отношению к линейному агрегату диаметра сферы будет равно удвоенной толщине пленки, в то время как толщина диаметра, параллельного агрегату, будет соответствовать толщине пленки. С помощью такого метода были измерены толщины пленок, полученных при различных способах их нанесения, с точностью 2 нм. Толщину пленки можно оценить по цветам интерференции илп в случае углерода по плотности осадка на белой керамической плитке. [c.214]

    Поскольку величину d r/dfl можно вычислить из фундаментальных параметров или определить экспериментально с помощью образцов сравнения, процедура количественного анализа является очевидной и простой. Величину AQ можно определить экспериментально для конкретной геометрии детектора, ток зонда можно измерить в процессе эксперимента. Важно отметить, что акты обратного рассеяния являются результатом столкновения ядер, и на них не влияют химические связи определяемого элемента. Таким образом, POP является количественным методом анализа поверхности, свободным от влияния матричных эффектов. [c.352]

    Бартелл и Бауэр [177] еще раньше выполнили исследования с этими парами при температурах 25, 40 и 45°С. Фу и Бартелл [178], применяя метод свободной поверхностной энергии, определяли величину поверхности с использованием в качестве адсорбатов различных паров. Они нашли, что значения [c.688]

    Импедансным методом и методом свободных колебаний обнаруживали дефекты соединения обшивок с сотовыми заполнителями, а также дефекты, вызванные ударным повреждением образцов. При этом ударные дефекты регистрировали не только в зоне видимого повреждения материала (вмятины на поверхности образца), но и за ее пределами. Интересно, что прибором АУД-01 некоторые дефекты отмечали только по увеличению периода колебаний сигнала, не сопровождавшемуся уменьшением его амплитуды. [c.487]

    В.Д. Денисламов использовал локальный метод свободных колебаний [121]. Прочность оценивают по изменению спектров ударно возбуждаемых акустических импульсов во всех зонах ОК. Контроль выполняется на автоматизированной установке с компьютерной обработкой информации. На дисплее отображается поверхность контролируемого объекта с изображением топографии распределения значений контролируемых параметров и выявленных их отклонений. [c.812]

    С помощью микрофонов методом свободного звукового поля измеряют шумы машин, транспорта, частотные характеристики измерительной и вещательной аппаратуры. При этом микрофон располагают в контрольной точке поля или в точках поля, равномерно распределенных на измерительной поверхности. Контроль звукового поля проводят путем измерения зависимости звукового давления от расстояния до акустического центра источника и сравнения измеренной зависимости с теоретической. [c.608]

    Это удалось сделать, расположив платиновую метку на краю реакционного слоя и фиксируя положение исходной границы раздела фаз Mg0/Pe20з методом свободной поверхности таблетки РегОз. Установлено, что при спекании на воздухе при 1280°С в течение 98 ч диффузионной пары Mg0 (пластинка [c.51]

    Указанные недостатки отсутствуют в методе свободной поверхности, в котором в качестве указателя исходной границы раздела фаз используют плоскость одной из таблеток, имеющей меньший размер, чем таблетка второго реагента. Иначе говоря, в этом случае искусственная метка заменена естественной. Схема возможных изменений в системе АО—В2О3 при различных механизмах образования продуктов представлена на рис. 2.20. Большим преимуществом последнего метода является возможность изучения механизма реакции при минимальной толщине слоя продуктов. Вместе с тем, метод свободной поверхности, как и метод инертной метки, не позволяет указать точный механизм при одностороннем перемещении одного из реагентов. Например, из опытов [65] следует, что образование ортоферритов редких земель связано с перемещением составных частей ЬпгОз, однако оно может осуществляться как односторонней диффузией Ьп и О через слой продуктов, так и миграцией Ьп + и электронов с одновременным переносом О2 через газовую фазу. Однозначный выбор удается сделать благодаря дополнительным экспериментам при различных парциальных давлениях О2. [c.115]

    Картину диффузионного массопереноса реагентов через слой образующегося продукта изучали методами свободной поверхности и Тубандта—Вагнера [3, 4]. [c.138]

Рис. 2. Расположение слоев продуктов и изменение веса таблеток после диффузионных отжигов по методам свободной поверхности (а) и Тубандта—Вагнера (б). Рис. 2. <a href="/info/1581444">Расположение слоев</a> продуктов и <a href="/info/129017">изменение веса</a> таблеток после диффузионных отжигов по методам свободной поверхности (а) и Тубандта—Вагнера (б).
    По мнению авторов описываемого метода, Кузика и Хэппела 3, модель, основанная на представлении о свободной поверхности, позволяет рассчитывать коэффициенты массопередачи зернистого слоя. [c.90]

    В ряде случаев, когда практически не представлялось возможный определять рабочий режим элемента указанным методом (например, при малой перепаде давления или при использовании элементов типа 1, е), прибегалн к наблюдениям за свободной поверхностью слоя. Из предыдущего изложения [c.687]

    Взаимодействие поверхности углеродных частичек со связующим, по-видимому, усиливается химической прививкой полимеров с повышенной концентрацией свободных радика.пов,, которое может быть проявлено при спекании. Эти известные в производстве композитов методы апретирования поверхности наполнителя до настоящего времени недостаточно реализованы при изготовлении углеграфитовых материалов. [c.156]

    Часто используют метод, систематическое применение которого было начато Барчем (1924 г.). Небольшой объем исследуемой жидкости встряхивают в закрытой пробирке, сохраняя по возможности стандартные условия, до тех пор, пока объем пены не перестанет увеличиваться. После этого измеряют время разрушения пенного столба. Временем окончания этого процесса рекомендуется считать момент образования зеркала , т. е. появления свободной поверхности. Последние пузырьки пены, окружающие кольцом свободную поверхность, не принимаются во внимание, так как время их жизни наибольшее, что особенно заметно в случае более устойчивых пен. Таким приемом сокращают время измерения и повышают его воспроизводимость, которая при усреднении 10—15 отдельных измерений становится удовлетворительной. Однако при этом маскируется действие стабилизатора (особенно для пен средней устойчивости), легче всего проявляющееся на последних пузырьках. Такие же замечания можно сделать и в отношении метода, основанного на измерении времени полуразрушения пены, т. е. времени, за которое высота пенного столба уменьшается наполовину. Этот метод дает неудовлетворительную воспроизводимость для долгоживущих пен. [c.224]

    Кипение в пленке. Иадеет место гравитационное стека-ние пленки, на поверхность которой поступают капли жидкости, существенно недогретой до температуры насыщения. О наличии кипения свидетельствует появление отдельных пузырей, прорывающих пленку более детальное наблюдение картины кипения при помощи специальных методов (например, кинематографических с соответствующим увеличением) не производилось. Зависимость теплоотдачи от трмпературного напора в этом режиме а—ЛT . Качественный анализ процесса приводит к выводу о. том, что определяющими теплоотдачу факторами являются 1) пузырьковое кипение с возможньщ схлопыванием пузырей в холодном слое, расположенном вблизи от свободной поверхности пленки 2) конвективный перенос теплоты стекающей пленкой 3) возмущение пленки каплями. [c.170]

    Выращивание кристаллов с краевым углом 02 (см. рис. 34), меньшим, чем его значения, определяемые условием равновесия прих = г ( .7), приводит к уменьшению высоты поднятия жидкого столбика. Так как равновесная поверхность границы раздела кристалл— расплав почти плоская для промышленных радиусов кристаллов (г>0,5 см), уменьшение высоты столба /1 = Утах ДОЛЖНО быТЬ ОграНИЧеНО значениями Ута.х>Уй (рис. 34). Следует заметить, что выращивание монокристаллов по методу Чохральского с малыми значениями (/тах весьма затруднительно и часто приводит к кристаллизации свободной поверхности расплава и примерзанию слитка. Поэтому скорость вытягивания надо поддерживать такой, чтобы плоская изотерма кристаллизации не опускалась ниже высоты Н=утах, соответствующей 01= л/2. [c.106]

    Перенос массы вещества рассматривается на основе соотношений молекулярно- кинетической теории для бинарной смеси применительно к влажному воздуху. При этом используются решения, полученные для случая пористого охлаждения пластины. Необходимо отметить, что последние (решения не применимы для процесса тепло- и массо-переноса при испарении жидкости со свободной поверхности и из капиллярно-пористых тел. К сожалению, для решения этой проблемы не используются методы термодинамики необратимых процессов, которые дают наиболее пол1ное и строгое описание комплексного процесса тепло-и массообмена. [c.5]

    ЖИДКОСТЬ. Хессе [96] экспериментально показал (рнс. 114), чтс активность и свободная энергия сорбента тесно связаны между собой. Было показано, что поверхность исходно высокоактивного оксида алюминия снижается при дезактивации или, точнее, "трансактивации" на воздухе при влажности 60% (поверхность определялась по методу БЭТ). Напротив, свободная поверхность "неактивного" оксида алюминия (IV по шкале Брокмана) прн нахождении на воздухе с влажностью 60% увеличивается, В итоге активность и удельная поверхность обоих сорбентов выравнивается. В идеальном случае для данной смеси вешеств величина поверхности не влияет на селективность системы адсорбент/элюент (К /К1). Однако данные, приведенные на рис. 133, с полной очевидностью опровергают это утверждение нз.мсненне величины поверхности, достигаемое за счет дезактивации, может даже вызвать обратную последовательность элюнрования [c.315]

    Наконец, метод измерения активности жидкости, использующий поток -частрщ, испускаемых свободной поверхностью бесконечно толстого слоя жидкости [4], является неприемлемым вследствие присутствия активных паров в измерительном устройстве, существенно искажающих результаты измерения. [c.268]

    Величина сгб.гр может быть определена экспериментально путем измерения двугранных углов канавок, образующихся в месте выхода блочной структуры на свободную поверхность кристалла. Такое определение было выполнено для блочной границы лейкосапфира на плоскости (1120) при изотермическом травлении образца [72]. Величины разориентации и направления осей поворота блоков определялись методом обратной Лауэ-съемки с использованием острофокусной рентгеновской трубки. Результаты исследований свидетельствуют о линейном характере зависимости сгб.гр/< гр от 1п вгр в области углов поворота в в интервале О 10° (рис. 52 а, б), что согласуется с данными, приведенными выше, и указывает на справедливость выражения Рида-Шокли для энергии дислокационных границ  [c.73]

    В отношении формообразования условия, реализуемые на фронте роста, являются общими для всех способов, основанных на использовании капиллярных сил. Различие заключается лишь в прршципах формообразования расплава. Например, в методе Чохральского нижней границей является свободная поверхность расплава, в то время как в методе Степанова нижняя граница определяется контактом расплава со стенками или кромками формообразователя. Размеры и форма вытягиваемого монокристалла зависят от соответствующего геометрического профиля формообразователя. [c.100]


Смотреть страницы где упоминается термин Метод свободной поверхности: [c.61]    [c.73]    [c.175]    [c.262]    [c.175]    [c.389]    [c.201]    [c.252]    [c.96]    [c.167]    [c.226]   
Твердофазные реакции (1978) -- [ c.115 , c.116 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Поверхность свободная



© 2025 chem21.info Реклама на сайте