Масс-спектрометрия вторичных ионов первичные ионы

К локальным методам анализа состава вещества наряду с описанными выше методами рентгеноспектрального анализа и методов электронной спектроскопии относится масс-спектрометрия вторичных ионов (МСВИ). Главной особенностью метода МСВИ является очень высокая чувствительность — более 10 %. Минимальный объем образца, необходимый для анализа 10- см , глубина анализируемого слоя 10" мкм. Первичный ионный пучок может быть сфокусирован в зонд малого сечения в свою очередь фокусировка вторичных ионов может дать ионное изображение бомбардируемой поверхности. Масс-спектрометрическая фильтрация этого изображения дает картину распределения ионов определенного типа по поверхности объекта. Форсируя режим бомбардировки, можно удалять поверхностные слои и проводить послойный анализ. [c.580]

Исходя из характера используемого излучения, Ф.м. а. можно разделить на три фуппы 1) методы, использующие первичное излучение, поглощаемое образцом 2) применяющие первичное излучение, рассеиваемое образцом 3) использующие вторичное излучение, испускаемое образцом. К примеру, масс-спектрометрия относится к третьей фуппе -первичным излучением здесь служит поток электронов, квантов света, первичных ионов или др. частиц, а вторичное излучение представляет собой ионы разл. масс и зарядов. [c.94]

На рис. 10.3-8 показана конфигурация прибора для проведения статической МСВИ. Работающий в импульсном режиме пучок ионов Ar" " мощностью около 10 ионов на импульс и обеспечивающий около 10 ООО импульсов в секунду с шириной импульса менее 1 не бомбардирует довольно большую область (10-1000 мкм в диаметре). При плотности ионов первичного пучка 10 -10 ион/см - с лишь очень малая часть атомного слоя удаляется в течение анализа. Вторичные ионы анализируют при помощи времяпролетного (ВП) масс-спектрометра высокого разрешения (М/АМ < 10 ООО), характеризующегося очень высоким пропусканием ( 20%), что является основой точного определения масс с низкими абсолютным пределами обнаружения, необходимыми для анализа монослоев. [c.358]

В зависимости от характера ионизирующего излучения (ионы, атомы) различают вторично-ионную масс-спектро-метрию и масс-спектрометрию с бомбардировкой ускоренными атомами. В первом случае в качестве ионизирующего излучения применяют пучок первичных ионов, получаемых либо ионизацией в разряде инертного газа (Аг", Хе"), либо разложением солей (Сз") и ускорением их до энергии 6-8 кэВ. Во втором случае используют ускоренные атомы, которые образуются путем предварительной ионизации в разряде молекул благородного газа (Аг, Хе), ускорения возникающих ионов и последующей их перезарядки [c.32]

В спектре масс наблюдаются ионы твердого тела — адсорбента, ионы физически адсорбированных молекул, ионы поверхностных химических соединений и ионы примесных элементов из объема твердого тела. Первичные ионы даже с относительно высокой энергией не проникают глубоко в образец. Состав и состояние адсорбционного слоя существенно влияют на состав вторичных ионов. Прямая пропорциональность между регистрируемым в масс-спектрометре током вторичных ионов поверхностного происхождения и концентрацией соответствующих частиц па поверхности адсорбента дает возможность исследовать этим методом поверхностные процессы. [c.49]

В последние годы на основе масс-спектрометрии и явления вторичной ионно-ионной эмиссии создан уникальный прибор — ионный микроскоп [9]. Этот прибор позволяет получать увеличенное изображение участка поверхности образца, подвергшегося бомбардировке первичным ионным пучком. Настраивая масс-анализатор на тот или иной вторичный ион, можно поочередно рассматривать ионные изображения одного и того же участка поверхности твердого тела при различных значениях массы иона. Ионный микроскоп, таким образом, позволяет исследовать топографию распределения отдельных элементов, изотопов и химических соединений на поверхности твердого образца. [c.50]

Чувствительность электронного умножителя может быть настолько высока что он используется для счета отдельных частиц, таких, как электроны [137, 139] или положительные ионы [1116]. Аллен [31] впервые применил такую систему в качестве детектора в масс-спектрометре схема расположения электродов в умножителе Аллена изображена на рис. 97. Основные требования, предъявляемые к материалу электрода, состоят в следующем возможно большее соотношение вторичных и первичных частиц работа выхода должна быть большой, материал должен иметь высокую температуру плавления, обеспечивающую возможность его обезгаживания при высоких температурах кроме того, он не должен отравляться под действием ионного пучка или атмосферы. Аллен нашел, что всем этим требованиям удовлетворяет бериллий, который характеризуется отношением вторичных электронов к протонам примерно 2,2 [2161] при низких энергиях это отношение увеличивается до 8 при высоких энергиях [30] фотоэлектрическая работа выхода составляет 3,92 эв [1302], поэтому фотоэлектроны не могут образовываться на его поверхности под действием видимого света. [c.215]

Важной особенностью масс-спектра индивидуальных алифатических меркаптанов является относительно высокая интенсивность пиков молекулярных ионов [190]. Высота соответствующего пика на графике позволяет установить молекулярный вес соединения. Леви и Шталь [190] приводят спектры 29 алифатических меркаптанов и 31 сульфида. Полученные корреляции позволили надежно отличить некоторые сульфиды от тиолов, имеющих одинаковую молекулярную массу. Так, одним из основных путей фрагментации при распаде первичных меркаптанов является разрыв связи С—С, находящейся в /3-положении по отношению к атому серы (т/е 61). Однако имеет место и 7-разрыв (т/е 75). Для вторичных и третичных меркаптанов характерно отщепление групп, присоединенных к а-атому углерода (т/е 47). Однако следует отметить, что указанные массы не являются легко идентифицируемыми в смеси меркаптанов и пока отсутствует однозначная методика исследования их структурно-группового состава масс-спектрометрией. [c.53]

Фактор 7 представляет собой средний эффективный коэффициент конверсии на первом электроде вторично-электронного умножителя, измеряемый количеством вторичных электронов, эмиттируемых на один первичный ион. Без применения подобных умножителей в настоящее время практически невозможно реализовать требования, предъявляемые к чувствительности и быстродействию масс-спектрометра. Полный коэффициент усиления умножителя может быть выражен следующим образом у = у,уэ , где у — коэффициент умножения на всех электродах, кроме первого п — число электродов. [c.35]

Расщепление жесткими излучениями (см. обзоры [10]). В качестве источника излучения используют обычно Со, излучающий у-лучи с энергией 1,17 и 1,32 МэВ (1 электронвольт = = 23,06 ккал/моль). В облучаемой среде в результате эффекта Комптона возникают богатые энергией электроны, которые в свою очередь создают вторичные электроны разной энергии и длины пробега. Первичные и вторичные электроны по схеме (9.2) образуют ионы и радикалы, сольватированные электроны и электронно-возбужденные молекулы. Один 7-квант может вызвать более 10 ионизаций. В принципе те же процессы идут в масс-спектрометре, таким путем они проще всего поддаются исследованию изучаемое вещество испаряют в глубоком вакууме и бомбардируют ионами с энергией 15—75 эВ (300—1500 ккал/моль) при этом идут реакции типа [c.587]

Ионный микроанализ — метод локального анализа. Анализируемый объект облучают сфокусированным пучком первичных ионов (диаметр пучка 1 —100 мкм, энергия порядка 10 Дж, плотность тока 0,1 —10 А/м ). Эмиссия вторичных ионов, которую регистрируют масс-спектрометром, зависит при прочих равных условиях от концентрации определяемого элемента. Локальность по поверхности 1—10 мкм, по глубине 1—5 нм. Пределы обнаружения 10 —Ю % [54]. [c.16]

Обработка первичных данных, получаемых при детектировании ионных пучков в масс-спектрометре, включает аналого-цифровое преобразование сигналов от масс-спектрометра, обнаружение пиков ионов и выделение их из шума, определение соответствующих интенсивностей и массовых чисел. Общей задачей вторичной автоматической обработки является анализ информации, полученной при многократном сканировании масс-спектров. Результаты обработки, предназначенные для восприятия исследователем, могут быть представлены в виде перфокарт, магнитных лент и других носителей, пригодных для их дальнейшего использования. В тех случаях, когда в ходе оперативного просмотра данных требуется изменить ход эксперимента, целесообразно применять цифропечатающее устройство, световые табло и электронную систему отображения информации. [c.24]

В любом источнике ионов, в котором используется электрический разряд, сначала распыляются поверхностные слои электродов, а затем вещество, находящееся в объеме. Поэтому масс-спектры, зарегистрированные в начальной стадии анализа, характеризуют поверхность образца. Возможность разделения примесей, находящихся на поверхности и в объеме образца, наряду с высокой чувствительностью регистрации делает масс-спектрометрию с источником ионов, основанном на электрическом разряде, мощным средством для изучения поверхностных загрязнений и тонких пленок. В настоящее время известен еще более перспективный метод изучения состава исключительно тонких слоев твердых тел, основанный на распылении образца пучком первичных ионов. Эти два дополняющих друг друга метода (главным образом второй — метод вторичной ионной эмиссии) рассмотрены в гл. 13. [c.12]

Вместе с тем, используя масс-спектрометрические данные для характеристики первичных и вторичных процессов радиационной химии следует иметь в виду, что хотя масс-спектрометрия дает очень многое для выяснения механизма радиационно-химических реакций, однако этот метод имеет определенные ограничения. В частности, ион может наблюдаться лишь спустя сек после его образова- [c.87]

Пучок первичных ионов (Аг+, N2+, СН3+, Hg+), ускоренных напряжением 2,5—7 кв, после прохождения через магнитный анализатор бомбардирует поверхность исследуемой мишени, образующиеся вторичные ионы поступают во второй масс-спектрометр, и интенсивность пиков с разными т/е регистрируют умножителем. Для анализа достаточно 1 10 —1 10" г металла. [c.128]

Номером 3 обозначен вариант метода внешней ионизации, в котором необходимые первичные ионы выделяются из пучка в одном масс-анализаторе, затем направляются в камеру столкновений, а вторичные ионы, полученные в ней, подвергаются новому масс-спектральному анализу. Такие установки часто называются двойными масс-спектрометрами. [c.10]

Разработана [37] система, позволяющая исходя из структуры и масс-спектра низкого разрешения органического соединения выявить его реакции фрагментации и перегруппировки. С этой целью все реакции в масс-спектрометре представляют как процессы переноса электронов, а ионы рассматривают как структуры, связанные валентными связями. Составлена таблица элементарных процессов а -разрыв, индуктивный разрыв, реакция замещения, Н перегруппировка, элиминирование и др. После ионизации данной структуры (для всех возможных пар свободных электронов и п -орбиталей) рассматривают все возможные первичные ионы и их реакции, приводящие к образованию вторичных ионов. На основании сопоставления всех пиков в масс-спектре и совокупности возможных реакций оценивают доверительную вероятность протекания каждого процесса. [c.141]

Химическая ионизация. В ионизационную камеру маес-спектрометра вводится газ-реагент при давлении 1 мм. После первичной ионизации этого газа электронами с энергией 50— 70 эВ образовавшиеся из него осколочные ионы реагируют с нейтральными молекулами газа-реагента, образуя вторичные ионы, которые уже не реагируют с исходным газом. В ту же камеру вводится анализируемое вещество при давлении 10 мм. Стабильные ионы газа-реагента взаимодействуют с парами образца, давая масс-спектр ионов, характерных для последнего. Полученные масс-спектры химической ионизации в сильной степени отличаются от масс-спектров электронного удара, а именно интенсивности пиков осколочных ионов невелики основной первичный процесс ионизации при взаимодействии с ионами газа-реагента состоит в образовании иона [МЧ-Н] . Так, при использовании СН4 в качестве рабочего газа образуется 90% ионов СНз и СгН . СНз" является сильной кислотой, и взаимодействуя с образцом, дает ион [M-fH]+, который далее распадается на несколько осколков [c.255]

И молекулярной масс спектрометрии вторичных ионов (МСВИ) поверх иосгь мишени с образцом бомбардируется пучком первичных ионов (чаще (ГО Аг+) с энергией 2—20 кэВ под определенным углом Вторичные ионы образующиеся в результате бомбардировки, отбираются под другим углом и направтяются в масс анализатор [c.15]

Значительный раздел масс-спекгрометрии составляет элементный анализ твердых веществ. Прежде чем осушествить ионизацию, необходимо перевести эти вещества в атомное состояние. Для этого требуются достаточно высокие затраты энергии, и те источники, которые используют для этой цели, обеспечивают одновременно атомизацию и ионизацию твердых веществ. Среди наиболее распространенных источников ионизации можно выделить искровой электронный разряд, излучение лазера и поток ускоренных первичных ионов. Им соответствуют три вида масс-спектрометрического анализа твердых тел искровая, лазерная и ион-ионная, или масс-спектрометрия вторичных ионов. Наибольшее число определений проводится методом искровой масс-спектрометрии. [c.373]

В ион-ионной масс-спектрометрии, или, как ее также называют, масс-спектрометрии вторичных ионов, для ионизации исследуемого вещества используют первичные ионы аргона, кислорода или Дфугих веществ, которые получают и разгоняют в ионной щапке. Пучок этих ионов фокусируют и бомбардируют ими анапизнруемый образец. Образующиеся при этом вторичные новы регистрируют. Этот метод удобен для изучения и локального анализа поверхности, поскольку возникающий при [c.374]

В реактантном газе должно составлять 0,1%. При таком соотношении очень мало количество первичных ионов, образующихся при ионизации электронным ударом исследуемого органического соединения. Однако в результате соударений органических молекул с вторичными стабильными ионами газа-реактанта образуются третичные ионы, представляющие интерес для органической масс-спектрометрии. Вторичные ионы являются сильными кислотами Льюиса, и при образовании третичных ионов они либо присоединяют протон от газа-реактанта, либо отщепляют гидрид-ион. Химическую ионизацию ацетона в метане, которая состоит в переносе протона от вторичного иона СН5+ к ацетону, можно представить схемой (5.21). Предполагается, что в третичном ионе, молекулярный вес которого на единицу больше, чем ацетона, нротонирован атом кислорода. Этот третичный ион называется квазимолекулярным (КМ+). , [c.225]

Одним из наиболее интересных способов анализа поверхно- сти твердых тел и тонких пленок (а также других образцов) является метод, в котором для распыления и ионизации вещества используется пучок так называемых первичных ионов. Вторичные ионы, выбитые с поверхности образца, анализируются при помощи масс-спектрометра. Этот метод позволяет получить примерно такое же пространственное разрешение, как и в элек-тронно-зондовом микроанализе, и в то же время обладает высокой чувствительностью, характерной для масс-спектрометрии с искровым источником ионов. Приборы с ионной бомбардировкой различных фирм отличаются конструктивным оформлением и аналитическими возможностями. Они будут рассмотрены здесь примерно в том же порядке, как и происходило их развитие. [c.410]

Так были названы [241 методы измерения констант скорости ионно-молекулярных реакций, когда и первичный, и вторичный ион образуются внутри ионизационной камеры в ионном источнике масс-спектрометра, причем вторичные ионы выявляют, следя за зависимостью тока ионов разных масс от давления, а первичные ионы, ответственные за появление данных вторичных ионов, обнаруживают, изучая сравнительным образом зависимость от энергии ионизующего агента (электронов или фотонов) тока первичных и вторичных ионов. Большей частью совпадение потенциала появления первичных и вторичных ионов и указывает на то, что данные вторичные ионы происходятиз данных первичных. Этот же подход позволяет получить константу скорости для невоэбужденного первичного иона. В полном объеме такая совокупность действий используется, к сожалению, редко. Впф-вые она была последовательно осуществлена в работе [391. Особенностью метода внутренней непрерывной ионизации (в отличие от импульсной - см. ниже) является непрерывно существующее внутри реакционной области электрическое поле, вытягивающее ионы. Из-за этого ионы имеют некоторый разброс по энергиям со средней энергией в большинстве работ порядка немногих десятых электронвольта. [c.9]

Когда класс соединения установлен., для выяснения его структуры необходим детальный анализ пиков ионов [М—СйН2й .11+ и [М—СйН2й1+, т. е. именно тех, которые оказывались малоинформативными при определении класса вещества по масс-спектру. Для этого следует использовать подробные сведения о закономерностях фрагментации соединений данного класса с целью установить характер процессов, приводящих к появлению всех главных пиков спектра (а- или Р-распад, перегруппировка Мак-Лафферти и др.). В результате такого анализа можно предположить возможные структуры фрагментов и всей молекулы, объясняющие появление наблюдаемых в спектре пиков осколочных ионов. Установление структуры простейших гомологов возможно только по пикам первичных осколочных ионов, но в общем случае для решения этой задачи следует привлекать и пики вторичных осколочных, ионов, подтвердив их образование из первичных соответствующими пиками метастабильных ионов. Многообразие возможностей фрагментации сложных органических соединений затрудняет формулировку каких-либо общих рекомендаций для их детального структурного анализа. Следует отметить, что масс-спектры чрезвычайно полезны при идентификации органических веществ, что, однако, представляет собой самостоятельную задачу в масс-спектрометрии. [c.186]

ИОННЫЙ МИКРОАНАЛИЗ, метод локального анализа. Исследуемый образец бомбардируют сфокусиров. пучком первичных ионов (диаметр пучка 1—100 мкм, энергня 10- — 10 Дж, плотность тока 0,1—10 А/м эмитированные из образца вторичные ионы регистрируют с помощью масс-спектрометра (см. Масс-спектрометрия). Одновременно происходит катодное распыление образца. Прибор для И. м. (ионный микроанализатор) состоит из источника ионов, систем сбора вторичных ионов и фокусировки ионных пучков, масс-анализатора и регистрирующего устройства. [c.225]

Некоторые из рассмотренных путей фрагментации можно обнаружить в масс-спектрах, представленных на рис.. i.lS. Так, в масс-спектре 2-метилбутаналя (рис. 5.13,а) имеется интенсивный пик при m/z 29, которому, как показало изучение с помощью масс-спектрометрии высокого разрешения, соответствуют два изобарных иона [С Н ] и (НСО] . Основной пик при m/z 57 отвечает вторичному карбониевому иону [СН,]+. Продукт перегруппировки Маклафферти с m/z 58 (образующийся путем переноса первичного атома водорода) представлен менее интенсивным пиком. В масс-спектре пентанона-2 (рис. 5.13,6) имеются пики при m/z 43 и 71, отвечающие двум ацилий-ионам, которые образуются в результате расщепления соседних с карбонильной группой связей С-С. И в этом случае с помощью высокого разрешения показано, что [c.210]

Среди продуктов алкилирования имеются не только те, которые образуются из исходных алканов и карбениевых ионов, но и те, которые образуются из алканов и карбениевых ионов, получающихся при межмолекулярном гидридном переносе, который, как правило, протекает быстрее алкилирования. Так как карбокатионы подвергаются изомеризации, а процессы межмолекулярного гидридного переноса приводят к образованию новых алканов из этих ионов, становится очевидным, что состав продуктов алкилирования исключительно сложен. В общем случае более объемистые третичные карбониевые ионы лишь с большим трудом могут атаковать экранированные третичные С—Н-связи. Однако эти процессы легко приводят к вторичным, а также к зарождению в системе первичных ионов, которые затем алкилируют С-Н- и С—С-связи (алкилолиз). Реакции алкилирования алканов солями стабильных карбениевых ионов в растворителях с низкой нуклеофильностью дают сложный набор продуктов, который, однако, может быть количественно проанализирован современными методами (газовая хроматография, масс-спектрометрия). Так как образование олефинов в условиях реакции сведено к минимуму (если вообще возможно) и так как при низких температурах (—78 °С) и за короткое время реакции (< 30 с) процессами изомеризации можно пренебречь, мы полагаем, что нам действительно удалось осуществить прямое алкилирование алканов. Этот метод подтверждается анализом смесей продуктов. [c.276]

Применение в органическом анализе масс-спектрометрии с химической ионизацией обусловлено ее высокой чувствительностью и селективным образованием квазимолекулярных ионов, обеспечивающих возможность определения молекулярной массы исследуемого соединения. Ионизация осуществляется в ионномолекулярных реакциях молекул анализируемого образца с так называемыми ионами-реагентами, образующимися при взаимодействии ионов, получающихся в результате ионизации реагентного газа электронным ударом, с молекулами того же газа при повышенном 10—100 Па) давлении в ионном источнике масс-спектрометра. Ионы, образующиеся в результате электронной бомбардировки молекул газа реагента, носят название первичных, а получающиеся в ионномолекулярных реакциях первичных ионов с нейтральными молекулами газа реагента называются вторичными ионами [1, 2]. [c.126]

Механизм протекания органических реакций с промежуточным образованием карбоний-ионов в кислотной среде был первоначально выдвинут Уитмором [69] в связи с исследованиями полимеризации олефинов. В последующем Шмерлинг [55] опубликовал обзор различных реакций углеводородов, протекающих по ионному механизму, включая каталитический крекинг. Еще позже были опубликованы [24, 66] превосходные детальные исследования механизма каталитического крекинга. Гринсфельдеру на основе обычных термодинамических данных и потенциалов ионизации [19] удалось [29] достаточно надежно обосновать ионный механизм пyтe 5 вычисления сродства протона к различным олефинам. В последующем Гринсфельдер [23, 24] опубликовал дополнительные вычисления этого типа, основываясь на потенциалах ионизации, измеренных методами масс-спектрометрии [60, 61]. Вычисленные величины теоретически подтверждают ранее постулированное предпочтительное образование третичных или вторичных карбоний-ионов по сравнению с первичными или непосредственную изомеризацию последних. Сродство протонов также подтверждает избирательность образования ионов, содержащих не менее трех углеродных атомов. В связи с недавним появлением ряда публикаций [24, 66] механизм, основанный на участии карбоний-ионов, здесь подробно не рассматривается. Следует ограничиться лишь кратким резюме для возможности распознавания первичных и вторичных реакций. [c.139]

Было предложено [52] для изучения метастабильных ионов использовать времяпролетный масс-спектрометр. При обычных оперативных условиях вторичные ионы и нейтральные частицы, образующиеся при ]заспаде метастабильного иона в бесполевом пространстве, не могут быть различимы они достигают детектора од- -новременно со своими недиссоцинрованными первичными ионами. Этот факт объясняется тем, что метастабильный распад не изменяет в значительной мере скорость продуктов. Однако метастабильный распад изменяет их кинетическую энергию, так что они могут быть разделены в электростатическом поле, например, во втором времяпролетном анализаторе. В этом случае исходный ион в масс-спектре может быть установлен безошибочно и метастабильные переходы, связанные с распадом исходного иона, сдвинуты [c.33]

При повышенном давлении в ионном источнике масс-спектрометра появляются вторичные ионы. Количество этих ионов увеличивается пропорционально квадрату давления. Потенциалы появления этих ионов, а также вид зависимости тока ионов от давления указывают на то, что они образуются в ионном источнике в реакциях первичных ионов с молекулами. Реакции образования вторичных иопов были изучены для ряда молекул, в том число метана, этилена, ацетилена, воды, НИ, HgS. Измерены скорости этих реакций во всех случаях скорости весьма велики. Продукты эндотермических реакций обнаружены не были. Констапты скоростей реакций могут быть вычислены на осповании равенства поляризационной и центробежной сил в большинстве случаев рассчитанные значения близки к экспериментально определенным. Лишь в немногих случаях количественного соответствия пе наблюдается и для согласования результатов расчета скоростей реакций с эксперимеитом приходится вводить коэффициент эффективности К. [c.306]

При исследовании вторичных ионов желательно, конечно, установить химическую реакцию, приведшую к их образованию. Обычно это делается путем измерения потенциала появления вторичного иона и сравнения его с потенциалами появления первичных ионов. При этом предполагается, что одипствепными нейтральными частицами, которые имеются в достаточно большом количестве, чтобы в заметной степени участвовать в реакциях, являются молекулы. Например, при напуске в масс-спектрометр метана при повышенном давлении в масс-спектре появляется большой пик с М е 29. Этот пик возрастает пропорционально квадрату давления, причем было найдено, что его потенциал появления равен 13,9 эв. -Потенциал появления ионов СН3 из метана равен 14,4 эв [5] другие лервичиые ионы имеют нотенцналы появления, далекие от этой величины. Это приводит нас к выводу, что в понном источнике имеет место реак- [c.307]

На рис. 6 изображена ионизационная камера масс-спектрометра. Электроны входят в нее и образуют первичные ионы, небольшая доля которых сталкивается с молекулами (давление в камере — 10" мм рт. ст.), давая вторичные ионы. Обычно смесь первичных и вторичных ионов непрерывно вытягивается из камеры электрическим полем. Поэтому средняя энергия первичных ионов всегда заметно выше тепловой, соответствующей температуре стенок камер(ы. В методе, о котором я рассказываю сейчас, электроны впрыскиваются в камеру микросекундным импульсом, затем в заданное время I в камере не происходит ионизации и еще нет вытяги- [c.193]

Разработаны различные устройства для получения интенсивного первичного ионного пучка. Высокая эффективность достигнута у источника с генерацией электронов [10]. В этом источнике под действием электрических и магнитных полей электроны многократно описывают спираль до соударения с мишенью. Применяют и другие методы получения интенсивного ионного пучка (разряды, ограниченные магнитным полем [11], источники с двумя плазматропами [12] и дуговые источники типа Пеннинга [13]). Плотности бомбардировки мишени достигают 50—200 мт/см в дуговых источниках и на порядок ниже в источниках с генерацией электронов. Типовые источники описаны в разделе IV,В,2 (рис. 8). Относительное число нейтральных частиц и положительных и отрицательных ионов вторичных ионов) можно, по данным Хонига [14], оценить по уравнению Лангмюра — Саха [уравнение (1)]. Температура Т в этом уравнении соответствует локальной температуре, являющейся функцией массы и энергии бомбардирующих ионов,— и эта температура порядка 10 °К. Источники с распылением очень избирательны. Избирательность зависит от значений W — I и А — Измеримое число положительных ионов получено для всех элементов с потенциалом ионизации ниже 10 эв отрицательные иопы получены для всех элементов со сродством к электрону больше 1 эв. Заряженные частицы, образуемые в источнике с 1юппой бомбардировкой, можно изучать пепосредственно на масс-спектрометре. Нейтральные атомы необходимо предварительно ионизировать в ионном источнике стандартного типа с электронным ударом. Естественно, что ионные источники подходят для исследования поверхностей применение этих источников будет рассмотрено в разделе IV,В. [c.325]

Керр [107] бомбардировал пучком ионов редких газов (с энергиями до 3400 эв) и исследовал при помощи трохоидального анализатора торговые стеклянные мишени. Были обнаружены как положительные, так и отрицательные ионы компонентов стекла. Количественных измерений не проводили. Кастен и Слодзиан [108] сообщили о предварительных результатах применения микроанализатора с ионной бомбардировкой, состоящего из масс-спектрометра с источником с распылением и ионного микроскопа. Они исследовали спектр вторичных ионов, полученных бомбардировкой поверхности пробы первичными ионами редких газов. Сфокусированный ионный луч ускорялся и попадал на оптический преобразователь изображения, где возникали третичные электроны, которые в свою очередь ускорялись в противо- [c.353]

Затем следует последовательность первичных, вторичных и т.д. ионномолекулярных процессов, которые практически полностью моделируются методами внутренней ионизации (а для перезарядки - и методами внешней ионизации). Модель тем более точна, чем выше относительная концентрация в облучаемой смеси реакционноспособных нейтральных партнеров. Если эта концентрация превышает 10%, го релаксацией возбужденных ионов можно пренебречь, ибо они реагируют при каждом столкновении, а возбуждены примерно так же, как при получении в ионизационной камере масс-спектрометра. [c.12]

Методы определения кинетических констант в этой и всех других таблицах имеют следующие обозначения - метод внутренней ионизации электронным ударом при низком давлении газа - то же при повыиюнном Давлении 2 - метод внутренней ионизации Фотонным ударом 3. метод внешней ионизации с использованием двойных масс-спектрометров - метод внешней ионизации с разделением по массе только первичных ионов -метод внешней ионизации с разделением по массе только пучка вторичных ионов 2 - импульсный метод с внутренней ионизацией 6 - метод дрейфовой трубки Т - метод ионного циклотронного резонанса - метод, основанный на изучении ионного состава плазмы 9 - метод, основанный на изучении ионного состава пламени - метод, основанный на радиацион-но-химических исследованиях 1Л - метод, основанный на фотохимических исследованиях - метод сталкивающихся пучков - метод, основанный на изучении распада плазмы в потоке газа - метод совпадений, при котором производится одновременная регистрация частиц продуктов данного элементарного акта - расчетный метод. [c.15]