Рентгеновское излучение также

Рентгеновские аппараты, применяемые в рентгеноструктурном анализе, выполнены по принципиально одинаковой схеме и содержат генератор рентгеновского излучения (рентгеновская трубка), блок питания рентгеновской трубки или высоковольтный блок, в который входят высоковольтный трансформатор и трансформаторы накала катода трубки пульт управления, на котором установлены средства регулирования и контроля работы рентгеновской трубки. Во всех рентгеновских аппаратах рентгеновскую трубку помещают в специальный кожух, защищающий персонал от рентгеновского излучения. Также всегда принимают меры по защите персонала от поражения электрическим током. [c.116]

ЛИЧНОЙ для разных элементов мишени. Размер области выхода рентгеновского излучения также меньше по сравнению с областью взаимодействия поглощения рентгеновского излучения, которое будет обсуждаться в разд. 3.5.2.5. Однако в действительности область выхода рентгеновского излучения может быть больше, чем область взаимодействия в тех случаях, когда имеется значительная флуоресценция, которая будет обсуждаться в разд. З.5.2.6. [c.85]

Для слоев большей толщины, чем 1000 мг/см , используют изотопы с мягким у-излучением или рентгеновским излучением. При этом можно использовать, например, тулий-170, который при распаде ядра излучает у-кван-ты с энергией 84 Кэв, а также и рентгеновское излучение иттербия, получающееся в процессе конверсии. Другим методом получения рентгеновского излучения при помощи изотопов является действие -излучения радиоизотопа на элемент с более высоким порядковым номером. Это рентгеновское излучение также может быть использовано для определения толщин путем измерения поглощения. [c.182]

При пероксидной вулканизации энергия для ее протекания подводится к резиновой смеси извне —нагреванием. Носителем сшивающего действия служат образующиеся при термолизе пероксида свободные радикалы. В случае радиационной вулканизации оба этих фактора совмещаются в излучении частиц высокой энергии. Поэтому в принципе радиационная вулканизация не требует ни обогрева резиновой смеси, ни наличия в ней специального вулканизующего агента. Для радиационной вулканизации в основном используют электромагнитное излучение высокой энергии. Только -излучение может служить универсальным вулканизующим агентом для полимеров всех видов, в том числе и для фторкаучуков. Жесткое рентгеновское излучение также может использоваться для вулканизации сравнительно тонкостенных изделий. [c.83]

При взаимодействии быстрого электрона с мишенью электронного ускорителя может генерироваться рентгеновское излучение. Мощность поглощенной дозы излучения современного электронного ускорителя со средним током I мА и энергией ускоренных электронов 30— 40 МэВ составляет 10 рад/с на расстоянии около 1 м от вольфрамовой мишени. Длительное время применение рентгеновских установок для промышленного облучения считалось нерентабельным, что было обусловлено низкими значениями к. п. д. трубки. Так, к. п. д. мощной рентгеновской установки с трубкой на ускоряющее напряжение 120 кВ и ток 0,5 А равен 0,1% [448]. К- п. д. преобразования энергии электронов в тормозное излучение тем больше, чем выше напряжение, ускоряющее электроны. При напряжении 20 МэВ и использовании золотой мишени к. п. д. достигает 45%- Однако жесткое рентгеновское излучение также не находит практического применения для промышленного облучения в связи с наводимой в облучаемых объектах радиоактивностью, невозможностью полного использования энергии и необходимостью мощной биологической защиты от излучения [448—449]. [c.166]

В другом методе может быть использован счетчик, чувствительный к рентгеновскому излучению. Этот прибор сконструирован так, как показано на рис. 17.19. Счетчик движется по дуге, регистрируя изменения в интенсивности рассеянных рентгеновских лучей. Этот метод проще и быстрее, а также характеризуется значительно лучшим разрешением, чем можно достичь с помощью пленки поэтому в дальнейшем мы будем обсуждать использование дифрактометра, предназначенного для исследования порошкообразных образцов. [c.386]

Спектральные методы дают широкие возможности для наблюдения и исследования соответствующих аналитических сигналов в различных областях спектра электромагнитного излучения— это у-лучи, рентгеновское излучение, ультрафиолетовое (УФ), оптическое и инфракрасное излучение, а также микроволновое и радиоволновое. Энергия квантов перечисленных видов излучения охватывает очень широкий диапазон от 10 до 10 эВ, соответствующий диапазону частот от до 10 Гц. [c.7]

Измерение ШРР ориентированных поликристаллических образцов позволяет не только определить степень ориентации главной цепи, но также и ориентацию двух других кристаллографических осей. Пусть монокристалл состоит из кристаллических ячеек с кристаллографическими осями а, Ь VI с (будем считать для простоты, что эти оси взаимно перпендикулярны, как в орторомбической решетке полиэтилена). Можно считать, что плоскости образованы вершинами кристаллической решетки, которые играют роль отражателей импульсного рентгеновского излучения. Результирующий эффект взаимного усиления отраженных импульсов от последовательных плоскостей, отстоящих друг от друга на расстоянии d, зависит в соответствии с законом Брегга от угла 0, под которым рентгеновское излучение попадает на отражающую кристаллографическую плоскость [c.72]

При поглощении веществом кванта рентгеновского излучения (длина волны 0,1 — 20 А) или у-кванта (длина волны 10 — 10 А) образуются частицы с огромным избытком энергии, превосходящим энергию химических связей в сотни и тысячи раз. Эта энергия расходуется в основном на ионизацию молекул вещества и на возбуждение их внешних электронных оболочек. В результате поглощения одного кванта ионизирующего излучения образуется большое число пар ионов и возбужденных молекул. Как те, так и другие претерпевают разнообразные превращения, в частности, приводящие к разрыву химических связей и образованию свободных радикалов и атомов, к Подобные процессы происходят также при прохождении через вещество а- и Р-частиц. В треке такой частицы в веществе образуется [c.17]

Таким образом, длина волны де Бройля в области напряжений 102—1о 1 в имеет порядок —0,1 нм, т.е. близкий длине волны рентгеновского излучения. Волновые свойства других элементарных частиц также получили экспериментальное подтверждение. [c.28]

Другим современным методом, служащим для построения диаграмм состояния, является метод рентгеноструктурного анализа. Рентгеноструктурный анализ является одним из наиболее совершенных методов изучения всех превращений, сопровождающихся изменением кристаллической решетки. Поэтому он особенно полезен при исследовании полиморфных превращений, образования и распада твердых растворов, а также образования химических соединений. Методами рентгеноструктурного анализа изучают металлы, сплавы, минералы, неорганические и органические соединения. Рентгеноструктурный анализ применяется для качественного и количественного фазового анализа гетерогенных систем, для исследования изменений в твердых растворах, определения типа твердого раствора и границ растворимости. Рентгеноструктурный анализ является дифракционным структурным методом он основан на взаимодействии рентгеновского излучения с электронами вещества, в результате которого возникает дифракция рентгеновского излучения. Основную информацию в рентгеноструктурном анализе получают из рентгенограмм. Типы рентгенограмм сильно зависят от природы и состава фаз. Между типом рентгенограммы и типом диаграммы состояния существует определенная связь. Особенно полезны рентгенографические данные для построения той части диаграмм, которые описывают равновесные процессы в твердом состоянии, где процессы установления равновесных состояний протекают очень медленно. [c.235]

В рентгеновских установках предусмотрена блокировка, т.е. автоматическое выключение напряжения при прекращении подачи воды, а в современных установках - также при открытии защитных шторок. Хотя основная часть рентгеновского излучения поглощается металлическим стаканом, а большая доля излучения выводных пучков, используемых в работе, металлическими корпусами рентгеновских камер, остается заметная доля рентгеновского излучения, рассеянного от корпусов камер. В этом легко убедиться, поместив между ними кусок рентгеновской пленки и затем проявив его. Поэтому в настоящее время рентгеновские установки (типа УРС-60, например) снабжены защитными шторками из просвинцованной резины или кожухом из стекла, содержащего оксид свинца. Это предохраняет сотрудников рентгеновских лабораторий от облучения. [c.15]

Данные о структуре кристаллических веществ можно получить на основании самых разнообразных исследований. К их числу можно отнести и чисто визуальное измерение внешних граней и углов в монокристаллах, и изучение их объемных характеристик, таких, например, как электропроводность или модули упругости. Однако эти характеристики не позволяют точно установить положение микрочастиц в кристаллах из-за их плотной упаковки. Поэтому при изучении структуры кристаллических веществ используются главным образом оптические методы, базирующиеся на поглощении и рассеянии различных излучений кристаллами. Поскольку длины связей в кристаллах (постоянные их решеток) порядка 0,1—0,3 нм, для анализа обычно используют коротковолновые излучения типа рентгеновского, а также нейтронные и электронные потоки. [c.91]

ДЛЯ изготовления конденсаторов в электротехнической промышленности. Свинец применяется для изготовления аккумуляторных пластин, обкладок электрических кабелей, пуль и дроби, для защиты от рентгеновского излучения и у-лучей, а также в химической промышленности (трубопроводы и т. д.). Очень большие количества олова и монокристалл [c.628]

При съемке кристаллов белков, нуклеиновых кислот и других объектов с очень большими параметрами решетки, когда общее число отражений достигает нескольких десятков или сотен тысяч, а также при съемке кристаллов, нестабильных во времени или разлагающихся под действием рентгеновского излучения, возникает необходимость ускорения рентгеновского эксперимента. Один из естественных методов ускорения — повышение мощности рентгеновских трубок, в частности, использование трубки с вращающимся анодом или переход к другим источникам мощного у-излучения. Так, все шире используется синхротронное излучение, т. е. у-излуче-ние, возникающее при ускорении (устойчивом круговом движении) электронных пучков в синхротронах. Синхротронное излучение содержит у-кванты разной энергии и, следовательно, является аналогом белого спектра рентгеновской трубки. Но даже при монохроматизации посредством отражения от кристалла-монохроматора, связанной с ослаблением интенсивности на один порядок, интенсивность синхротронного излучения остается выше интенсивности характеристического излучения обычной рентгеновской трубки примерно на два порядка. [c.79]

Уникальными возможностями обладает метод нейтронографии, успешно применяемый для исследования твердых тел и жидкостей, веществ с близкими и достаточно далекими атомными номерами, а также соединений, содержащих изотопы одного и того же вещества. По угловому распределению интенсивности рассеяния медленных нейтронов впервые удалось определить пространственное расположение атомов водорода и длины водородных связей в обычной и тяжелой воде, обнаружить наличие ближайшего ориентационного порядка, существующего в этих жидкостях наряду с ближним координационным порядком. Опыты по неупругому рассеянию медленных нейтронов продемонстрировали коллективный характер теплового движения атомов и молекул в жидкостях, подтвердили теоретические предсказания Л. Д. Ландау о существовании в жидком гелии квазичастиц двух типов фононов и ротонов. В настоящее время эти дифракционные методы являются составной частью физики твердого тела, физического материаловедения, молекулярной физики, биофизики и биологии. Они взаимно дополняют друг друга, имеют свою специфику, преимущества и ограничения, связанные с различием физических свойств рентгеновского излучения, электронов и нейтронов. На современном этапе при проведении структурных исследований используется новейшая аппаратура и вычислительная техника. Помимо навыков работы с ними от специалиста требуется знание теории рассеяния, основ статистической и атомной физики, природы сил взаимодействия атомов и молекул. [c.6]

Действие различных видов ионизирующих излучений (7-лучи, 0-лучи, рентгеновское излучение) также приводит к окислению ПЭВД в присутствии кислорода. При всех видах внешних воздействий (теплота, свет и ионизирующие излучения) в присутствии кислорода происходит образование кислородсодержащих групп -С=0, -0-Н, -О-О-Н, -0-0-С- причем группы С=0 образуются разных типов кислотные, кетонные, альдегидные, сложноэфирные, перкислотные, перэфирные. Эти группы имеют характерные полосы поглощения в кК-спектре [c.164]

Соединения двуокиси гафния с окислами щелочноземельных металлов обладают диэлектрическими свойствами и представляют интерес для радиокерамической промышленности [891. Смесь, в которой на 5,5 молей ВаО приходится от 0,2 до 2,0 молей НЮа, рекомендуют использовать при изготовлении катодов накаливания газоразрядных осветительных трубок [90]. Для производства огнеупорных электро- и радиотехнических материалов рекомендуется двуокись титана с примесью двуокиси гафния [91, 92]. Способность метагафната лития Ь12НЮз сильно люминесцировать под действием рентгеновского излучения также может служить основой для изыскания областей его применения [931. [c.14]

Однако в противоположность УФС естественная ширина линий обычных источников рентгеновских лучей РФС довольно значительна и играет большую роль в определении полуширины экспфиментально наблюдаемых спектральных линий [27]. В РФС обычно используют рентгеновский дублет 011 2, а это рентгеновское излучение образуется в том случае, когда электроны падают из оболочек Ьц и Ьщ (спин-орбитальное расщепление 2р-атомных уровней) в дырку оболочки К (1.5-атомный уровень). Естественная ширина линий, связанная либо с переходом Ь,1 -> К, либо с переходом Ьщ К, составляет 0,7 эВ для рентгеновского излучения А1 в этом случае дублеты перекрываются, приводя к эффективной ширине 1,0 эВ. Магниевое рентгеновское излучение Хо(1а2 состоит из дублета шириной 0,8 эВ. Источники рентгеновских лучей с большими энергиями (например, Сг, Си или Мо) характеризуются шириной дублетной компоненты, превьппающей 1,0 эВ. Таким образом, эффективный предел ширины линий РФС устанавливается естественной шириной источника рентгеновского излучения, несколько модифицированной естественной шириной, связанной с уровнем, с которого происходит фотоионизация. Некоторые вклады обусловлены также недостатками приборов. При изучении твердых веществ экспфиментально наблюдаемая полуширина спектральных линий РФС для пиков С15, N5 , Рзр, 82 и подобных им составляет 1,5 эВ. Эксперименты РФС с газообразными веществами дают значительно более узкие линии. Например, полуширина линии Ые для газообразного неона составляет 0,8 эВ [27]. Разница в полуширине линий для газообраз- [c.335]

Рис. 16.17. Фотоэлектронный спектр 1.5-электронов азота, возбужденного рентгеновским излучением KaMg. Основной пик при энергии связи 410 эВ представляет собой линию возбужденную излучением Ха 2 М . Спектр демонстрирует также линии, возбужденные сателлитами рентгеновского излучения, и линии, соответствующие встряхиванию и неупругому рассеянию на молекуле N2 [27].

Для того чтобы получить данные о группировке содержимого в элементарной ячейке, необходимо измерять интенсивности рассеянных пучков рентгеновского излучения. И в методе с пленкой, и в методе со счетчиком кристалл движется во время измерений так, что точки о.р. пересекают сферу отражения с одной стороны до другой. Поскольку точки о. р. растягиваются по сфере отражения, интегральная интенсивность зависит частично от угла между направлением движения и поверхностью сферы при пересечении. Время, необходимое для пересечения точкой о.р. сферы, увеличивается по мере того, как угол приближается к нулю. Необходимо также объяснить различие в отражаемости рентгеновских лучей, электрический вектор которых перпендикулярен и параллелен плоскости отражения. Лорентцева и поляризационная поправки соответственно могут быть использованы для исправления наблюдаемой интенсивности отражения hkl следую- [c.390]

Рентгеновское излучение можно использовать также для наблюдения за движением твердых частиц, причем отдельные из нйх могут быть сделаны видимыми, если они отличаются от других по способности поглощения рентгеновских лучей. Практически, однако, невозможно увидеть частицу с длиной пробега, в 10 раз превышающей ее диаметр (нанример, частицу диаметром 500 мк в слое диаметром 10 см), если она типична, т. е. резко не выделяется среди остальных частиц по поглощению рентгеновских лучей. Следовательно, рентгеновский метод для изучения движения отдельных твердых частиц не всегда оказывается пригоднымОднако, пользуясь таким методом, легко наблюдать возмущения в слое (особенно в горизонтальном его сечении), содержащем некоторое количество частиц, менее прозрачных, чем остальные. [c.130]

Здесь имеются в виду методы, которые основываются на явлениях фотоэффекта, получаемого при использовании монохроматического электромагнитного излучения, и вторичной электронной эмиссии. Собственно фотоэлектронной спектроскопией (ФЭС) называют метод, в котором вещество облучают в вакуумной УФ области электромагнитного спектра. Приоритет открытия явления эмиссии фотоэлектронов в газах под действием УФ облучения, положившего начало развитию метода ФЭС, принадлежит Ф. И. Вилесову (СССР). В рентгеноэлектронной спектроскопии (РЭС, или ЭСХА, что означает электронная спектроскопия для химического анализа) используют монохроматическое рентгеновское излучение. Создателем этого метода применительно к изучению поверхности твердых тел является шведский ученый К. Зигбан. Для возбуждения эмисии электропов может использоваться также электронный пучок, тогда говорят о методе индуцированной электронной эмиссии спектроскопии . [c.134]

Характеристическое флуоресцентное излучение, даваемое пробой, коллимируется, и параллельный пучок лучей после прохождения через абсорбер (ослабитель) падает на плоский кристалл анализатора. Возможно использование нескольких сменных коллиматоров и ослабителей, а также кристаллов, служащих для спектрального разложения рентгеновского излучения. В ассортимент кристаллов-анализаторов входят LiF, Ge, Si, кварц, графит и ряд других. Диспергирование излучения кристаллической решеткой с заданной постоянной происходит вследствие селективного отражения под углом, зависящим от длины волны. [c.151]

Под рентгенографическим анализом понимается совокупность разнообразных методов-исследования, в которых используется рентгеновское излучение — поперечные электромагнитные колебания с длиной волны 10 2—Ю А. В рентгеновских трубках для получения рентгеновского излучения используют столкновение электронов, ускоренных под действием высокого напряжения с металлическим антикатодом. Возникающее при этом рентгеновское излучение в зависимости от длины волны разделяют на жесткое [Х 1 А] и мягкое [к> —5 А], в зависимости от спектрального состава — на непрерывное (сплощное), не зависящее от природы вещества антикатода, и характеристическое (линейчатое), определяемое только природой вещества антикатода а также на полихроматическое, состоящее из волн различной длины, и монохроматическое — с определенной длиной волны. При монохроматическом в основном применяют линии Ка. -серии (возникающей при переходе электронов в атомах с -оболочки на /С-оболочку) металлов от хрома (обозначается СгКа ) до молибдена (МоКа ), длины волн которых лежат в интервале от 2,3 до 0,7 А. Для монохроматизации рентгеновского излучения используются селективно поглощающие фильтры и кристаллы-монохроматоры. [c.71]

Эти невидимые лучи способны вызывать флуоресценцию некоторых кристаллических веществ (цинковая обманка, барий платиносинеродистый и др.), воздействовать на фотопластинки (засвечивать их через непрозрачные для видимого света экраны) и ионизировать газы. Данные явления используют для обнаружения и диагностики рентгеновских лучей, а также широко применяются в практике. Известно два типа рентгеновского излучения тормозное и характеристическое. [c.113]

Пусп, на кристалл падает пучок моис роматического рентгеновского излучения, образуя угол 0 с одним из семейств атомных плоскостей (рис. 56, а). Пучок излучения i i, попадая на атомную плоскость Pi, отразится от нее в направлении 5. Второй пучок г, пройдя первую атомную плоскость (на основании свойства рентгеновского излучения проникать сквозь вещество), отразится от плоскости Pi и также выйдет в направлении 5 и т. п. Отраженные параллельными атомными плоскостями пучки излучения будут интерферировать между собой и в зависимости от их фазового со- [c.113]

В последние десятилетия наблюдалось бурное развитие рентгеноструктурного анализа (в первую очередь с использованием монокристаллов), а также других дифракционных методов исследования. Это обусловлено рядом причин. Одной из них явилось кардинальное усовершенствование рентгеновской аппаратуры, включая разработку ряда типов дифрактометров, управляемых ЭВМ, для съемки монокристаллов, внедрение новых способов регистрации рентгеновского излучения, использование монохроматоров. В результате точность экспериментальных данных резко возросла и появилась возможность решения принципиально новых задач (локализация легких атомов, определение деталей распределения электронной плотности на базе совместных данных нейтронографического и рентгеновского методов). Не менее важным обстоятельством явилась разработка комплексов программ обработки результатов измерений и определения структуры кристаллов, зачастую с недостаточно охарактеризованным химическим составом. Этой области применения рентгеноструктурного ана 1иза в химии посвящено несколько прекрасных монографий и учебников, и структурные разделы почти обязательно включаются в работы по синтезу новых соединений, так как дают непосредственные данные о пространственном расположении атомов в кристаллах а иногда являются и удобным способом определения химического состава, в особенности если известен качественный состав. [c.3]

Электронографический анализ. Как и рентгенографический анализ, этот метод основан на дифракции. В обычном электронографическом методе для облучения используюхся электроны, ускоренные до энергии 30—80 кэВ. В последнее время начинает развиваться электронография на электронах с энергией 400 кэВ. Для исследования строения самых внешних слоев твердого тела применяют медленные электроны с энергией 10—100 эВ. В связи с тем что длины волн для пучка электронов могут быть меньше, чем у рентгеновского излучения, электронографический анализ может применяться для исследования кристаллов значительно меньшего размера, исследуются также тонкие пленки, порошки, поверхностные слои массивных образцов. [c.209]

Наряду с электронами, рождяюш.имися в процессе Р -прер,рашения атомных ядер, иногда наблюдается также выделение электронов, выбиваемых ядерным у-иулучеиием с внутренних электронных слоев того же атома (конверсионные электроны). Этот процесс сонровождается рентгеновским излучением. [c.379]

При съемке кристаллов белков, нуклеиновых кислот и других объектов с очень большими параметрами решетки, когда общее число отражений достигает нескольких десятков или сотен тысяч, а также при съемке кристаллов, нестабильных во времени или разлагающихся под действием рентгеновского излучения, возникает необходимость ускорения рентгеновского эксперимента. Один из естественных методов ускорения — повышение мощности рентгеновских трубок, в частности использование трубки с вращающимся анодом или переход к другим источникам мощного у-излучения. Второй метод — замена последовательного измерения отражений в обычных дифрактометрах одновременным измерением многих дифракционных пучков с помощью специальных устройств. В настоящее время разработаны так называемые многоканальные дифрактометры, оснащенные системой из нескольких (трех или пяти) параллельно перемещаемых счетчиков, которые регистрируют дифракционные лучи, возникающие одновременно (или почти одновременно) на разных слоевых линиях в процессе вращения кристалла. Эти приборы предназначены специально для кристаллов с большими периодами. В стадии технического совершенствования находятся в принципе более перспективные координатные детекторы, как олтномерные, так и двумерные. Одномерный координатный детектор позволяет измерять интенсивность всех дифракционных лучей одной слоевой линии (в том числе возникающие одновременно) с регистрацией угловой координаты (а следовательно, и индексов) каждого луча. Аналогичным образом двумерный координатный детектор позволяет регистрировать дифракционные лучи всех слоевых линий. [c.64]

Цель книги — показать, как по картине рассеяния рентгеновского излучения, электронов и нейтронов определяется молекулярная структура веществ от простейших по составу до сложных биологических объектов обобщить результаты исследований строения молекул, структуры различных типов индивидуальных жидкостей, металлических расплавов, растворов электролитов и неэлектролитов, жидких кристаллов н аморфных веществ изложить теорию рассеяния рентгеновского излучения иод обычными и малыми углами, дифракции электронов и нейтронов, методику и технику эксперимепта, общие представления о природе химических связей и сил межмолекулярного взаимодействия. В основу книги положены лекционные курсы, читаемые для студентов Киевского ордена Ленина государственного университета имени Т. Г. Шевченко, специализирующихся по молекулярной физике, а также написанное автором учебное пособие Структурный анализ жидкостей (1971). [c.3]

В методе Дебая — Шеррера монохроматическое рентгеновское излучение вазимодействует с полпкристаллическим образцом исследуемого вещества. Переменным параметром в этом методе, называемом также методом порошка, является угол падения 0, так как в поликристаллическом порошковом образце присутствуют кристаллики любой ориентации относительно первичного пучка. При этом вместо отдельных пятен на рентгенограмме получаются концентри- [c.196]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология