Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Алюминий спектральные линии

    Ввиду близости спектральных линий На (589,0—589,6 нм) и полосы СаОН (622 нм) определение этих элементов с помощью фильтровых фотометров недостаточно селективно и зависит от характеристик светофильтров и концентраций элементов в растворе. Факторы специфичности для определения натрия в присутствии кальция 15—660, для кальция в присутствии натрия— 10—600. Если применяют фотометры, для которых факторы специфичности малы, то перед определением натрия и кальция их разделяют или вводят соли алюминия. Влияние элементов может или отсутствовать, или проявляться в незначительной степени в зависимости от прибора, что можно проверить по отношению к чистым растворам каждого элемента и учесть при проведении анализа. При использовании фотометра типа ФПЛ-1 селективность определения этих элементов повышают за счет дополнительных абсорбционных светофильтров. [c.20]


    Натрий определяют по спектральным линиям X = 5890—5896 А. Как указано выше, в пламени светильного газа возбуждаются и излучают только атомы щелочных металлов поэтому натрий можно прямо определить в присутствии прочих элементов. Определению натрия, мешают большие количества алюминия, который понижает интенсивность излучения натрия. При определении натрия следует пользоваться светофильтром, который пропускает излучения натрия, и селеновым фотоэлементом, чувствительным в области 4500—7000 А. [c.243]

    Аналогичную формулу можно записать для спектральных линий ионов. Предполагается, что соединение определяемого элемента полностью диссоциировано. В действительности в дуговом разряде постоянного тока для многих элементов (титана, циркония, гафния, ниобия, тантала, ванадия, кремния, алюминия) степень атомизации может быть меньше единицы. На рис. [c.41]

    При анализе глин, гранитоидов и других силикатных пород с различным содержанием основных компонентов кремния, алюминия, железа, кальция и магния и содержанием натрия от 0,5 до нескольких десятков процентов установлено, что кинетика испарения натрия из пробы в дуге переменного тока 5 А, положение градуировочных графиков и точность определения не зависят от валового состава пробы [89]. Не обнаружено также взаимного влияния натрия и калия. При относительно малом содержании щелочных металлов в состав буфера вводят карбонат лития, оксид меди и угольный порошок. При определении натрия в силикатах с содержанием щелочных металлов свыше 8% применяют метод ширины спектральных линий. [c.99]

Таблица 12.5Ш Длины волн спектральных линий алюминия в видимой области спектра Таблица 12.5Ш <a href="/info/1845172">Длины волн спектральных линий алюминия</a> в <a href="/info/5193">видимой области</a> спектра
    Следует получить спектрограммы железа и стали рядом с металлами алюминием, вольфрамом, кремнием, марганцем, молибденом, никелем, титаном, хромом. Полученную спектрограмму помещают на спектропроектор. По табл. 5 и 6 находят длины волн аналитической пары линий. По дисперсионной кривой определяют их место на пластинке, а при помощи атласа спектральных линий по спектру соли — линию определяемого металла. По атласу спектра железа отыскивают линию сравнения. [c.201]


    Для определения алюминия обычно используют дуговое возбуждение. Проба интенсивно испаряется и спектральные линии хорошо возбуждаются. Искру применяют сравнительно редко (при анализе растворов и брикетов). У алюминия невысокие энергия ионизации (5,98 эв), а также энергия возбуждения чувствительных линий. Поэтому с введением в пробу щелочных элементов чувствительность анализа резко повышается. В качестве внутреннего стандарта при определении алюминия хорошие результаты дают соединения магния, кремния и кальция. Однако эти элементы широко распространены в природе и их использование затруднительно. Удовлетворительные результаты получают, используя бериллий, барий, хром, кобальт и никель. [c.194]

    Раньше приборы большой дисперсии и разрешающей силы использовали для спектрального анализа веществ, обладающих сложными спектрами, с целью устранения взаимных наложений спектральных линий. При этом удавалось достичь значительного снижения пределов обнаружения в результате использования наиболее сильных аналитических линий. Однако, в соответствии с предыдущим изложением, применение приборов высокой разрешающей силы полезно и при анализе веществ с простыми спектрами. Так, например, в работах по анализу элементарного селена [845, 846] при фотографировании спектров на приборах ДФС-8 и СТЭ-1 достигнуты низкие относительные пределы обнаружения большого числа примесей (3 10" — Ы0 %). Низкие пределы обнаружения примесей в чистой сурьме получены в работе [1103] путем фотографирования спектров на дифракционном приборе PGS-2. Подсчитанные по трехсигмовому критерию Кайзера значения пределов обнаружения составили для меди и серебра—3-10- %, магния, алюминия и кремния — 3 10- %, олова— 1 10- %, свинца, висмута и железа — 1 10 % и т. д. Многочисленные примеры снижения пределов обнаружения с использованием приборов большой дисперсии при анализе минерального сырья приведены е монографии [319]. Эффективность применения [c.79]

    При уменьшении давления газовой атмосферы, окружающей источник излучения, снижается концентрация паров в разряде между электродами и благодаря этому ослабевает спектр электродов (за исключением линий с высокой энергией возбуждения). Свечение разряда имеет место даже при давлении ниже 100 мм рт. ст. (разд. 2.10 в [1а]). При пониженном давлении интенсивность фона значительно уменьшается, и поэтому относительные интенсивности спектральных линий некоторых элементов предпочтительнее, нежели при атмосферном давлении. Так, например, нижний предел обнаружения бора в сплавах на основе железа снижается до 0,0005%, а церия — до 0,01%, если в качестве противоэлектрода используют электроды из алюминия и графита и возбуждают спектры в дуге переменного тока при 19 А и давлении 300 и 200 мм рт. ст. соответственно [1]. [c.102]

    Из таблицы спектральных линий выписывают значения длин волн наиболее интенсивных линий снятых спектров и сопоставляют эти значения со спектрами, полученными на фотографии. Так, например, в спектре алюминия наиболее интенсивными линиями являются пары -Л =3961 и 3944 А 1=3092 и 3082 А 1=2660 и 2652 А Я =2575 и 2567 А. [c.167]

    Спектральные помехи. Помехи, связанные с перекрыванием спектральных линий, более вероятны для метода ИСП, чем для методов ААС, так как эмиссионные спектры более богаты линиями. В работе Мак-Ларена и др. [10] этому вопросу уделяется пристальное внимание при определении следов элементов в морских осадках, содержащих много железа и алюминия, наблюдались сильные помехи со стороны этих компонентов. Авторы разработали методику с компьютерным контролем, в которой для оценки поправки на фон рекомендуется проводить измерения при несколько большей и несколько меньшей длинах волн, чем в максимуме определяемого элемента. Например, при определении меди была выбрана линия при 324,754 нм показания снимали при 324,719 324,754 и 324,789 нм, причем первый и третий результаты использовали для вычисления поправки к показанию, полученному для линии самой меди. На интенсивность линии меди сильно влияет линия железа при 324,739 нм если это влияние очень велико, поправочный коэффициент следует вычислять, используя данные по определению железа при другой длине волны (например, при 259,940 нм). [c.205]

    Сущность работы. Дисперсионная кривая прибора характеризует положение и длину волны любой линии на спектрограмме. С помощью этой кривой можно находить длины волн в спектре и определять неизвестные элементы. Такая кривая пригодна только для данного прибора при данных условиях фокусировки (положение призм и объективов). Для ее построения используют несколько элементов с простыми спектрами, отождествление которых по длинам волн можно провести по таблицам спектральных линий. Например, очень удобно для этого брать спектры алюминия, меди, цинка кремния,- расположенные от 5200 до 2300 А, или же, что значительно сложнее, спектр железа, линии которого отождествляют по атласу. [c.178]


    Натрий определяют по спектральным линиям 589,0—589,6 нм. В пламени светильного газа возбуждаются и излучают только атомы щелочных и щелочноземельных металлов, поэтому в большинстве случаев их можно определять прямо из пробы исследуемого раствора в присутствии прочих элементов. Однако присутствие в растворе больших количеств алюминия понижает интенсивность излучения натрия. [c.214]

Рис. 10. Изменение во времени интенсивности спектральных линий кальция (Л, меди (2) и алюминия (3) в конце импульса Рис. 10. Изменение во времени <a href="/info/1492521">интенсивности спектральных линий</a> кальция (Л, меди (2) и алюминия (3) в конце импульса
    При анализе соединений лития для устранения влияния состава соединений на интенсивность спектральных линий может быть применено фторирование с применением фторопласта [545, 546]. В методике [177] для увеличения чувствительности определения кремния и алюминия добавляют хлорид серебра. [c.158]

    Затем был проведен анализ материала подслоя, который был соскоблен как со свежего, так и с состаренного образцов монолитного катализатора. Оказалось, что и в подслое основными элементами являются алюминий и кремний. В табл. 2 приведены абсолютные интенсивности соответствующих спектральных линий и атомные соотнощения Si/Al, рассчитанные, на их основе. Можно видеть, что в отличие от состава монолитного блока, в подслое содержание А1 превыщает (более, чем в два раза) концентрацию кремния. Это соотношение одинаково для свежего и состаренного образцов. [c.28]

    Ясно, что при разработке методики необходимо иметь наиболее полное представление о спектре интересующей области. Для этого в приложениях (таблицы III—VI) приведены таблицы спектральных линий железа, меди, алюминия и цинка, то есть металлов, на основе которых составлено большинство технических сплавов. [c.121]

    ТАБЛ. V. ДЛИНЫ ВОЛН СПЕКТРАЛЬНЫХ ЛИНИЙ АЛЮМИНИЯ [c.301]

    Длины волн спектральных линий алюминия [c.301]

    Количественное определение скандия спектральным методом производилось в электролитах и в металлических пробах (с переменным содержанием алюминия, магния и цинка), переведенных в солянокислые растворы. Для стабилизации условий возбуждения спектров скандия и для нивелирования влияния на интенсивность спектральных линий скандия переменного содержания алюминия, цинка и магния, а также натрия и калия в электролитах использовался буферный раствор углекислого стронция [1]. В качестве внутреннего стандарта использовался лантан, вводимый в исследуемые и эталонные растворы в виде солянокислого раствора окиси лантана [1, 2]. В процессе разработки методики спектрального определения скандия исследовалось влияние концентрации НС на абсолютную и относительную интенсивность скандия. Для этой цели была приготовлена серия растворов с постоянным содержанием скандия и переменным содержанием НС1 от 50 до 300 г/л. Зависимость почернений и разности почернений линий скандия и лантана от концентраци НС1 представлена на рис. 1. [c.91]

    Английский физик. Р. в Уэймуте. Окончил Оксфордский ун-т (1910). Работал в Манчестерском ун-те под руководством Э. Резерфорда, затем в Оксфордском ун-те. Погиб на фронте первой мировой войны. Исследуя характеристические рентгеновские спектры хим. элем, от кальция до никеля, открыл (1913) закон, связывающий частоту спектральных линий, соответствующих характеристическому излучению данного элем., с его порядковым номером. Изучил спектры элем, от алюминия до золота. Показал [c.304]

    В качественном ато.мно-эмиссионмом спектральном анализе в отличие от химического ие требуется сложных операций по групповому разделению элементов. С помощью этого метода можно легко различить два металла с близкими химическими свойствами. Например, неодим и иразеодим при их совместном присутствии идентифицирую1ся с не меньшей простотой, чем алюминий и магний. Результаты анализа в любой момент могут быть проверены путем повторного изучения спектрограммы. Этот метод особенно ценен тогда, когда неизвестен общий химический состав анализируемого вещсства или необходимо обнаружить искомый элемент в пробе. Для выполнения анализа небольшая навеска или капля раствора, нанесенная на торец углеграфитового электрода, возбуждаются электрической дугой, а спектр снимается на фотопластинку или изучается визуально. Присутствие или отсутствие элемента в пробе безошибочно может быть установлено по двум-трем характерным спектральным линиям. Этим методом можно быстро определить один или несколько металлов. Спектральные линии благо-ролных газов, галогенов, серы и некоторых редких тяжелых металлов малочувствительны или для их определения требуются специальные приемы и соответствующая аппаратура, что делает выполнение анализа более сложным, чем химическими методами. [c.665]

    Измерение интенсивности линий А1 — Ка проводится на рентгеновском флуоресцентном спектрометре (ХКО — 3, ХКО — 5, фирмы Филипс) с хромовой и вольфрамовой трубками. Трубка с хромовым анодом лучше, так как в этом случае интенсивность флуоресцентного излучения у алюминия в 4 раза выше, чем с трубкой с вольфрамовым анодом [Б4А, 620, 11781. На трубки подают напряжение 40—50 кв, ток 20—50 ма. В качестве кристаллов анализаторов для разложения лучей в спектр используются пентаэритрит и этилен-диаминдитартрат. Детектор для измерения интенсивности спектральных линий представляет собой газопроточный пропорциональный счетчик с амплитудным анализатором (смесь 90% аргона и 10% метана). Рекомендуются особо тонкие пленки для окон пропорцио нальных счетчиков. [c.166]

    Примеси алюминия, железа, магния, марганца, меди, никеля, хрома, кремния, молибдена в металлическом ренпи и перренате аммония определяют по спектральным линиям (табл. 36) с чувствительностью 10- —10 %. Рекомендуемая подготовка проб к анализу близка к описанной в работах [1308, 1315]. Содержание примесей определяют по калибровочным графикам, построенным по эталонам для каждого определяемого элемента. Результаты спектрального и химического анализов сходятся удовлетворительно [1328]. [c.275]

    Для анализа алюминиевого сплава образцу придают форму электрода. Таким же образо.м готовят образцы трех эталонов, близких по составу к анализируемому образцу, например, сплав дюралюминий содержит магний, медь, железо, марганец. Готовят также образец железа, так как он служит стандартом, поскольку известны длины волн всех его спектральных линий. Кассету с фотопластинкой вставляют в спектрограф и открывают крышку кассеты. Образцы поочередно укрепляют в держателе электродов искрового генератора ИГ-3 и в стандартных условиях возбуждения (при 220 В и 2 А) снимают спектры в следующем порядке образец железа, три эталонных образца, анализируемый образец и снова образец железа. После каждого снятия спектра кассету с фотопластинкой перемещают таким образом, чтобы после проявления на ней одно над другим были зафиксированы изображения шести спектров. После проявления и высушивания пластинку помещают в спектропро-ектор и находят на экране линии, соответствующие примесям в сплаве алюминия. С помощью микрофотометра МФ-2 (или другого) оценивают их почернение в сравнении с эталоном и определяют количественное содержание каждого элемента в анализируемом образце. [c.245]

    При содержании 0,001% натрий не влияет на точность определения кальция. При содержании 0,001—0,002% N3 интенсивность линий кальция возрастает и остается постоянной до 0,4% N3, затем интенсивность линий кальция падает, поэтому рекомендуют работать при содержании натрия в пробе) 0,001%. Аналогично ведет себя калий [71, 417] 3% лития, введенного в плазму дуги, снимает взаимное влияние элементов при спектрографировании кальция. Щелочноземельные металлы, в частности барий, не влияют па определение кальция [216]. Алюминий увеличивает относительные интенсивности спектральных линий, в том числе и кальция [699]. [c.113]

    Быстро развивается и показывает хорошие результаты рентгенофлуоресцентный метод, основанный на том, что падающее первичное излучение создает при взаимодействии с материалом покрытия характеристические электромагнитные волны [25], имеющие кванты определенных длин волн и интенсивности. Спектральный состав излучения зависит от того, какие элементы имеются в материалах контролируемого объекта, а интенсивность — от массы данного элемента. Подбирая фильтры, выделяющие необходимую спектральную линию, характерную для материала покрытия, анализируя интенсивность и энергию квантов вторичного излучения с помощью различных электронных дискриминаторов, можно определить толщину одного или нескольких не очень толстых покрытий. Используемые при рентгенофлуоресцентном методе эффекты более сложны в приборной реализации, поэтому аппаратура на базе этого метода пока не выпускается крупными сериями. Вместе с тем имеются примеры успешного внедрения таких приборов в практику неразрушающего контроля толщин покрытий при разных сочетаниях материалов хром, олово, цинк, алюминий, титан или серебро на стали, медь на алюминии, хром на цинке, кадмий на титане и др. Решающим фактором применимости рентгенофлуоресцентного метода является наличие достаточной интенсивности вторичного излучения в диапазоне, где его регистрация эффективна. Также его ценным качеством является возможность из гpeний толщины многослойных покрытий, причем, когда их толщины соизмеримы, можно проводить в ряде случаев раздельный контроль. Успешно производится измерение толщины серебра на фотобумаге и ферролаковом покрытии. [c.352]

    Пиша и др.. [35] приготовили ряд обедненных алюминием форм цеолита Y по методу, описанному в работе [52] (путем обработки аммонийных форм ЭдаЛ), и исследовали спектрьг полученных образцов в средней ИК-области (300—1300 см )- Они установили для пяти полос поглощения (1150, 1050, 800, 585 и 385 см" ) линейный характер повышения частоты с уменьшением доли алюминия в каркасе для образцов, сохранивших кристаллическую структуру (рис. 2-15). Сравнивая наклон зависимости разности частот колебаний от 0,1 атомной доли А1 с соответствующими характеристиками, найденными другими авторами [5,11, 13] для синтезированных форм цеолитов X и Y с различным соотнощением 8Ю2/Д120з (рис. 2-15), Пиша и соавторы отмечают сходство сдвигов спектральных линий для обедненных алюминием цеолитов Y и для синтезированных натриевых форм. В целом частоты, приведенные в работе [35], несколько превышают частоты, найденные для синтезированных натриевых форм. [c.133]

    Изучение влияния магнитного поля проводили в присутствии носителей и без них. В качестве носителя применяли 2%-ный раствор нитрата бария [296]. Экспериментальные данные по интенсивности линий указанных элементов приведены в табл. 2.12. Анализ данных табл. 2.12 показывает, что интенсивность линий алюминия, кальция, магния, марганца и кремния при наложении магнитного поля увеличивается, а бора, железа, хрома и никеля остается без изменений, причем для никеля наблюдается даже небольшое уменьшение интенсивности линии. Одновременное действие носителя и магнитного поля, создаваемого ферромагнитами, сильно увеличивает интенсивность спектральных линий алюминия, кальция, хрома, железа, магния, марганца и никеля, чем при раздельном их применении.  [c.96]

    При анализе азотнокислого алюминия. Как уже отмечалось выше, при электролизе азотнокислого алюминия на катоде выделяется гидроокись алюминия, что ограничивает степень выделения микропримесей. Для повышения чувствительности анализа необходимо устранить выделение гидроокиси на катоде. Для этой цели опробовали различные приемы. При подкислении раствора соли до pH 1—2 количество выделяющейся гидроокиси на катоде существенно уменьшалось, однако, одновременно ухудшались условия выделения микропримесей. Поэтому такой прием не мог быть применен при проведении анализа. Известно [4], что уменьшению выделения гидроокиси алюминия способствует также введение в соответствующий раствор некоторых органических кислот (лимонная, винная). При проведении электролиза раствора азотнокислого алюминия с добавкой лимонной кислоты (соотношение 1 1) наблюдают существенное уменьшение образования гидроокиси при одновременном улучшении условий выделения большинства примесей (рис. 8). В этом случае для большинства элементов (Ag, Bi, Си и др.) происходит увеличение степени выделения примесей на угольном диске со временем. В то же время для группы элементов (Мп, Сг, а также Са и Mg) увеличение времени выделения приводит к ослаблению спектральных линий. [c.165]

    При выполнении полного спектрального анализа следует рекомендовать вести расшифровку спектрограммы по аналитическим спектральным линиям при определенном порядке расшифровки элементов (см. табл. 4). Целесообразнее вначале обратить внимание на наиболее распространенные в природе элементы кремний, алюминий, железо, кальций, магний, натрий, калий. Тогда вероятнее всего будут вначале определяться основные элементы проб, а потом примеси. Далее, в табл. 4, в некоторой степени учтено совместное присутствие элементов в природных образованиях. Так, например, гафний всегда надо расшифровывать после п,ирко-ния, кадмий — после цинка. Элементы медь, свинец, цинк, кадмий, серебро, сурьма, висмут, мышьяк, теллур— [c.10]

    Я = 309,27 к = 394,40 и I — 396,15 нм. На планшете № 15 атласа спектральных линий дан участок спектра железа в спектральной области 293,0—314,0 нм. Фотопластинку помещают на столике спектропро-ектора ПС-13 эмульсией вверх, вводят нужный участок спектра под объектив и проецируют на экран прибора. На экран помещают планшет № 15 и совмещают линии спектра железа, спроецированные на экране, со спектром железа на планшете так, чтобы совпадали линии с одной и той же длиной волны. Если в исследуемой пробе присутствует алюминий, то в ее спектре будет заметна линия, которая расположена между сильными линиями железа X — 307,57 и 308,37. Эта линия яв- [c.242]

    Сульфиды СагЗз и ТпгЗз близки по структуре и свойствам сульфидам цинка и кадмия. В природе они встречаются вместе с этими металлами. В этом, в частности, проявляется сходство между аналогами алюминия главной подгруппы III группы и элементами побочной подгруппы II группы, непосредственно предшествующим им в периодической системе. Можно привести еще ряд примеров этого. Так, таллий близок ртути по способности образовывать чрезвычайно большое число соединений с щелочными и щелочноземельными металлами. Подобно щелочным и щелочноземельным металлам, галлий, индий и таллий, если их ввести в пламя горелки Бунзена в виде достаточно летучих соединений, дают характерные спектральные. линии, по которым эти редкие элементы можно легко открыть (ср. стр. 383). [c.365]

    Определение алюминия. Присутствие алюминия устанавливают по спектральным линиям 3944,09 и 3961,53 А (рис. 174, 175) вблизи них нет линий меди для сравнения, что вносит затруднения при определениях. Ближайшую линию Си 4022,66 А удобно рассматривать в стилоскои СЛ-11 с окуляром десятикратного увеличения, когда поле зрения увеличивается. [c.173]

    А. К. Русанов и Б. Н. Бодунков [2] определяли литий в алюминии и свинце после переведения последних в раствор с применением воздушно-ацетиленового пламени в качестве источника возбуждения спектра. Оценка концентраций проводилась визуально по моменту гашения наблюдаемой спектральной линии при вдвигании перед щелью спектрографа клинообразной кюветы с поглощающим свет раствором. Определяемые концентрации лития были в пределах 1,2-10 — 5,8-10 %. Ошибка определения в большинстве случаев не превышала +10%. [c.221]


Смотреть страницы где упоминается термин Алюминий спектральные линии: [c.237]    [c.178]    [c.342]    [c.160]    [c.163]    [c.134]    [c.89]    [c.274]   
Физико-химические методы анализа Издание 2 (1971) -- [ c.369 ]

Физико-химические методы анализа (1964) -- [ c.369 ]

Физико-химические методы анализа (1971) -- [ c.369 ]




ПОИСК







© 2025 chem21.info Реклама на сайте