Относительный предел обнаружения

Хотя ЭСХА несколько уступает ОЭС, но также характеризуется относительным пределом обнаружения 0,1... 1% при абсолютном пределе порядка г. Это позволяет анализировать атомные [c.154]

Все более широкое распространение получают комбинированные, так называемые химико-спектральные методы, которые включают экстракцию, дистилляцию или соосаждение для предварительного абсолютного и относительного концентрирования определяемых элементов с последующим спектральным анализом концентрата. Химико-спектральные методы позволяют получить относительные пределы обнаружения элементов до 10 —10 % и применяются при анализе особо чистых веществ. [c.12]

При постоянной толщине поглощающего слоя градуировочный график, построенный в координатах А—с, представляет собой прямую, проходящую через нулевую точку. Так как подавляющее большинство свободных атомов находится в основном состоянии, то значения атомных коэффициентов абсорбции дл элементов очень высоки и достигают и-10 , что при.мерно на три порядка выше молярных коэффициентов поглощения светового излучения, полученных для растворов (8 = п-10 ). Это в известной степени обусловливает низкие абсолютные и относительные пределы обнаружения элементов атомно-абсорбционным методом первые составляют 10 —10 г, вторые —10-5—10-8%. Для атомизации вещества в атомно-абсорбционной спектрофотометрии используют пламена различных типов и электротермические атомизаторы. Последние основаны на получении поглощающего слоя свободных атомов элемента путем импульсного термического испарения вещества кювета Львова, графитовый трубчатый атомизатор, лазерный испаритель и др. Пламенная атомизация вещества получила большое распространение в аналитической практике, так как она обеспечивает достаточно низкие пределы обнаружения элементов (Ю — 10" %) и хорошую воспроизводимость результатов анализа (1—2%) при достаточно высокой скорости определений и небольшой трудоемкости. Для наиболее доступных низкотемпературных пламен число элементов, определяемых методом атомно-абсорбционной спектрофотометрии, значительно больше, чем [c.48]

Этим требованиям — широкому объему получаемой информации, высокой локальности и низким абсолютным и относительным пределам обнаружения — могут соответствовать только физические методы, основанные на взаимодействии с изучаемым материалом фотонов, электронов, ионов и электромагнитных полей. Химические методы используют довольно редко, в частности для травления поверхностей. [c.313]

Концентрационные (относительные) пределы обнаружения зависят от поперечной локальности (пространственного разрешения) и чувствительности конкретной оже-линии. При локальности 100 нм относительный предел обнаружения оставляет примерно 1% для чувствительных линий при локальности 1 мкм можно достичь пределов обнаружения около 0,1%. Этого достаточно для удовлетворительного детектирования долей монослоя вещества на поверхности. На рис. 10.2-14 в качестве примера приведен оже-электронный спектр поверхности излома никеля, отожженного при 600°С [10.2-3]. Можно обнаружить сегрегацию серы по границам зерен, приводящую к охрупчиванию сплава. Интенсивность оже-сигнала серы соответствует 0,2 монослоям серы на границе зерен (это означает, что всего 20% атомов на межфазной поверхности покрыты монослоем атомов серы). Этот пример иллюстрирует, с одной стороны, высокую поверхностную чувствительность ОЭС, а с другой стороны, — сильное влияние следовых количеств примесей (серы, фосфора) на механические свойства металлов. [c.342]

МСВИ характеризуется низкими пределами детектирования. Абсолютные пределы обнаружения для большинства элементов находятся в диапазоне между 100 и 10 атомов, относительные пределы обнаружения — обычно в диапазоне нг/г. Таким образом, метод МСВИ особенно удобен для распределительного анализа следовых количеств элементов. [c.364]

Приведите аналитические характеристики (например, объем образца, разрешение, абсолютные и относительные пределы обнаружения, динамический диапазон, аспекты количественного анализа, возможные артефакты и т. д.) для разных методов, описанных в этой главе, и сравните их. На основе сравнения сделайте выводы о применимости отдельных методов для решения различных аналитических задач. [c.387]

Рациональный выбор спектрального прибора имеет важное значение при определении малых количеств мышьяка. Эффективность применения приборов высокой разрешающей силы показана, например, в работе по определению мышьяка в двуокиси титана [432]. В этой работе установлено, что переход от кварцевого спектрографа ИСП-22 средней дисперсии к спектрографу ДФС-8 с дифракционной решеткой 600 штрих/мм, позволяет снизить предел обнаружения мышьяка в 2,5 раза. Приближенные теоретические расчеты [250] показали, что возбуждение спектров в полом катоде примерно на порядок снижает относительные пределы обнаружения примесей по сравнению с возбуждением дугой. Так, например, при определении мышьяка в стали при возбуждении спектров дугой [26] достигнут предел обнаружения 3-10 Зо/ц а при возбуждении в полом катоде — 2-10 % Аз [1145]. При прямом определении мышьяка в кремнии при возбуждении спектров в полом катоде предел обнаружения достигает 5-10 % [241], а при возбуждении спектров в дуге переменного тока при использовании предварительного химического обогащения он составляет только 1-10 % [143]. [c.93]

Во-первых, это позволяет устранить многие матричные эффекты, поскольку материал матрицы полностью остается в реакционном сосуде. Во-вторых, практически все выделенное количество определяемого элемента достигает атомизатора, причем в форме, способствующей эффективной атомизации. В-третьих, селективное выделение определяемого элемента из большой навески позволяет улучшить относительный предел обнаружения в 100-1000 раз. Наиболее широкое применение метод химического вьщеления определяемых элементов в виде летучих соединений нашел при определении ртути и элементов IVA, VA и VIA групп периодической системы. [c.844]

Сочетание техники холодного пара с амальгамированием обеспечивает предел обнаружения ртути на уровне 50 пг (относительный предел обнаружения при этом составляет и 10 %). В настоящее время способ измерений абсорбции холодного пара в том или ином виде используется почти во всех известных моделях ртутных анализаторов. [c.845]

Относительный предел обнаружения, 10 % (Ст п) [c.64]

Пробу растирают в порошок, при необходимости смешивают с графитовым порошком и определенное количество (до 40 мг) загружают через воронку в капсулу, закрепленную на электромагнитном вибраторе. Свободное пространство (не менее 3— 5 мм) заполняют чистым графитовым порошком. Капсулу помещают в пламя и включают электронагрев. Пары вещества выходят через пористые стенки капсулы и вместе с потоком газов пламени направляются в просвечиваемую зону. Измеряют интегральный сигнал за весь промежуток времени испарения определяемого элемента по площади кривой абсорбции на ленте самописца. Для большинства металлов относительный предел обнаружения составляет 10 —10 % при навеске пробы 40 мг. Прн Концентрации З-Ю —3-10 =% серебра и свинца относительное стандартное отклонение составляет 7—15%. Метод дает особенно хорошие результаты при определении легко- и среднелетучих элементов [117]. [c.68]

Согласно основному условию рассматриваемого случая анализа — поддержанию постоянного почернения фона на спектрограммах, снижение предела обнаружения при переходе от спектрального прибора с меньшей разрешающей способностью к прибору с большей разрешающей способностью может быть обеспечено лишь в том случае, если светосила второго прибора будет, по крайней мере, не ниже светосилы первого прибора. Однако обычно приборы с большей дисперсией и разрешающей способностью характеризуются меньшей светосилой, и поэтому переход к таким приборам, при указанной выше полной неизменности всех остальных условий анализа, может привести не к улучшению, а даже к ухудшению как абсолютных, так и относительных пределов обнаружения элементов. (Конечно, если анализ на приборе с малой разрешающей силой и большой светосилой проводился так, что почернения фона на спектрограммах. были значительно выше оптимальных, то переход к прибору с большей разрешающей [c.73]

Как отмечалось в ряде работ [244, 506, 319], повышение линейной дисперсии и разрешающей способности спектральных приборов имеет смысл, пока разрешаемый спектральный интервал больше физической полуширины линии в источнике возбуждения спектра. Вопрос о выборе оптимальных параметров спектрографа при учете собственной ширины линии в источнике света был подробно рассмотрен в работе 1217]. На рис. 22 представлена полученная расчетным путем зависимость относительного предела обнаружения от приведенной разрешающей силы спектрографа (приведенная разрешающая сила, по определению авторов [121/], есть отношение разрешающей силы спектрографа к разрешающей силе, необходимой для разрешения контура линии, / прив = Я/кь, где кь — Х/ЬК). Как видно из рис. 22, при ширине щели спектрографа, близкой к нормальной, величина предела обнаружения-оказывается обратно пропорциональной разрешающей способности вплоть до значений / = 2RL. Согласно измерениям физической полуширины аналитических линий различных элементов, величина Яь при использовании дугового и искрового возбуждения спектров достигает значений 100—120-10 и, таким образом, максимальная полезная разрешающая сила спектральных приборов должна составлять 200 ООО—300 ООО. [c.74]

В табл. 3 даны основные условия проведения экспериментов и полученные результаты. Изменения пределов обнаружения элементов, найденные экспериментально, удовлетворительно совпадают с расчетными Данными, вычисленными на основании формулы (34). Таким образом, подтверждается полученная выше обратно пропорциональная зависимость между значением относительного предела обнаружения элемента и практической разрешающей силой спектрографа. [c.76]

Относительные пределы обнаружения железа в металлическом магнии, достигаемые на приборах ИСП-22 и ДФС-8 при различной ширине щели [c.76]

Аналогичные эксперименты были проведены в работах [145, 144] при сравнении относительных пределов обнаружения германия и сурьмы в хлориде бария, достигаемых на спектрографах Q-24 и Р08-2 производства Карл Цейсс, Иена . Расчет пределов обнаружения производился тоже по трехсигмовому критерию Кайзера. Результаты опытов представлены на рис. 23. Как видно, и в этом случае совпадение расчетных и экспериментальных данных является хорошим. [c.76]

Из всех приведенных выше данных следует, что значения относительных пределов обнаружения элементов, как правило, обратно пропорциональны практической разрешающей силе спектрографа. Последняя, в свою очередь, зависит от ряда параметров прибора и изменяется вместе с ними. Поэтому целесообразно рассмотреть влияние наиболее важных характеристик спектрографа (например, угловой дисперсии, линейной дисперсии, ширины щели, фокусного расстояния коллиматорного объектива) на практическую разрешающую силу спектрографа и, следовательно, на величину относительных пределов обнаружения. [c.76]

Увеличение линейной дисперсии спектрографа в большинстве случаев ведет к снижению относительных пределов обнаружения элементов. Это связано с тем, что для многих спектральных приборов практическая разрешающая сила определяется не дифракционными явлениями, а разрешающей способностью используемых фотоматериалов. Для таких приборов, как это следует из выражения (32), увеличение линейной дисперсии ведет к росту практической разрешающей способности (например, при замене камеры с меньшим фокусным расстоянием на камеру с большим фокусным расстоянием в приборе ИСП-51). Но даже при использовании камеры с фокусным расстоянием / = 800 мм теоретическая разрешающая способность / теор прибора ИСП-51 не может быть использована ввиду недостаточной линейной дисперсии. Аналогичное явление наблюдается и для спектрографа СТЭ-1 со скрещенной дисперсией [788]. Несмотря на то, что теор этого прибора в ультрафиолетовой области спектра достигает 150 ООО, практическая разрешающая сила не превышает величины 60 000—70 ООО. [c.77]

Раньше приборы большой дисперсии и разрешающей силы использовали для спектрального анализа веществ, обладающих сложными спектрами, с целью устранения взаимных наложений спектральных линий. При этом удавалось достичь значительного снижения пределов обнаружения в результате использования наиболее сильных аналитических линий. Однако, в соответствии с предыдущим изложением, применение приборов высокой разрешающей силы полезно и при анализе веществ с простыми спектрами. Так, например, в работах по анализу элементарного селена [845, 846] при фотографировании спектров на приборах ДФС-8 и СТЭ-1 достигнуты низкие относительные пределы обнаружения большого числа примесей (3 10" — Ы0 %). Низкие пределы обнаружения примесей в чистой сурьме получены в работе [1103] путем фотографирования спектров на дифракционном приборе PGS-2. Подсчитанные по трехсигмовому критерию Кайзера значения пределов обнаружения составили для меди и серебра—3-10- %, магния, алюминия и кремния — 3 10- %, олова— 1 10- %, свинца, висмута и железа — 1 10 % и т. д. Многочисленные примеры снижения пределов обнаружения с использованием приборов большой дисперсии при анализе минерального сырья приведены е монографии [319]. Эффективность применения [c.79]

Увеличение отношения Ел Еф прн использовании установки с интерферометром позволило примерно на полтора порядка снизить относительные пределы обнаружения многих элементов в геологических образцах. Кроме того, было достигнуто разрешение ряда близлежащих спектральных линий. Это привело к дополнительному значительному снижению пределов обнаружения. [c.82]

Приближенные теоретические расчеты [507] показали, что возбуждение спектров в ПК может обеспечить на порядок более низкие абсолютные й относительные пределы обнаружения большого числа элементов по сравнению с дугой. Успешное применение горячего ПК возможно только при сравнительно небольшой плотности паров в зоне разряда. Это ограничение в сочетании с термическим характером поступления пробы и наличием фракционного испарения определяет основные направления в использовании горячего ПК для анализа чистЫх веществ. С его помощью возможно определение 1) микроколичеств элементов в отсутствие основы (анализ разбавленных растворов и концентратов примесей, предварительно извлеченных из пробы) 2) примесей в присутствии основы при условии их фракционного испарения и малого поступления в-разряд элементов основы 3) трудновозбудимых элементов (например, галогены, Р, 5, 8е, Аз) 4) газов в металлах. [c.187]

Значительное понижение относительного предела обнаружения большого числа элементов в УгОз достигнуто при возбуждении в ПК конденсата примесей из УгОб. Для этого 265 предварительно переводят в, труднолетучие оксикарбиды ванадия, а полученный методом испарения конденсат собирается непосредственно в катоде [540, 5411 (табл. 17)., [c.190]

Относительные пределы обнаружения (в %) примесей в кремнии [c.194]

Сравнительные данные об относительных пределах обнаружения примесей в кремнии, достигаемых методом прямого анализа в ПК и некоторыми другими методами. [c.194]

Анализ растворов с применением медных электродов (метод медной искры) [1090] достаточно подробно описан в монографии [244]. В ряде работ [332, 959, 1285] для определения следовых со держаний примесей использовали искру между графитовыми или угольными электродами. При этом для устранения пористости электроды пропитывали раствором полистирола в бензоле [270" либо раствором парафина в четыреххлористом углероде [959 Угольные или графитовые электроды во многих случаях предпочтительнее металлических, нестойких по отношению к анализируемым растворам, содержащим значительное количество кислот. Значения абсолютных пределов обнаружения примесей, достигаемые в указанных методах, приведены в табл. 23, а относительных пределов обнаружения — в табл. 24 (см. также [959, 1256]). [c.205]

Наилучшие относительные пределы обнаружения достигнуты в методе вращающейся платформы, причем использование высоковольтной искры, как правило, является предпочтительным (табл. 24). (Вместе с тем, абсолютные пределы обнаружения в методе вращающейся платформы и при выпаривании пробы на торце электрода примерно одинаковы, поскольку используемые в этих случаях объемы растворов различаются в 10 раз.) [c.205]

Наиболее важная характеристика любого метода анализа — предел обнаружения, определяемый заранее выбранным соотношением сигиал/шум. В табл. 8.5 представлены типичные данные для некоторых распространенных элементов. Для сравнения в правом столбце приведены также значения относительных пределов обнаружения, достигаемых при атомизации пробы в пламени. [c.176]

Снижение абсолютного и относительного предела обнаружения мышьяка достигается также путем применения разряда в инертной атмосфере [107, 507, 546, 547, 548, 881, 1004, 1027]. Мышьяк принадлеяшт к трудновозбудимым летучим компонентам, поэтому для достижения более высокой чувствительности необходимо обес-. печивать условия разряда с относительно невысокой температурой разогрева материала образца при высокой температуре плазмы. Такие условия разряда реализуются при использовании инертной атмосферы. В работе [507] исследовано влияние тока на температуру разогрева анода в контролируемой инертной атмосфере. Показано, что в атмосфере гелия при токе 6 и 12 а температура анода достигает соответственно 1360 и 1600° К, в атмосфере арго-на — 965 и 1150° К и в воздушной атмосфере при 6 я — 1250° К. Температура плазмы дуги составила соответственно 6585 и 5260° К для аргона и воздуха. [c.94]

Ireparype скорость испарения в вакууме (0,1—0,01 мм рт. ст.) возрастает в 10—100 раз. Во-вторых, в более глубоком вакууме (0,001 мм рт. ст.) в значительной мере устраняются окислительные процессы и связанные с ними изменения поверхности анализируемого материала. И, наконец, в-третьих, при вакуумном испарении получается более прочный и компактный слой конденсата, что весьма существенно для последующего спектрального определения. При анализе по методу испарения обычно концентрируют мышьяк из навески не более 100 мг, так как с увеличением навески затрудняется выход паров из графитового стаканчика, вследствие этого большая доля мышьяка диффундирует через его стенки. Для снижения относительного предела обнаружения мышьяка его отгонка обычно осуществляется на один электрод-приемник из нескольких навесок. [c.96]

Приведенным выше минимально регистрируемым значениям коэффициентов поглощения соответствуют для интенсивно окрашенных образцов относительные пределы обнаружения и-10 " г/мл (жидкости) и я-10 " % масс, (твердые образцы). Количество анализируемого образца, как указывалось выше, может исчисляться микролитрами (жидкие), тысячными долями грамма (твердые), что позволяет достичь очень низких абсолютных гфеделов обн ужения до и 10 (жидкости) и и10" г (твердые [c.331]

По способу атомизации методы атомно-абсорбциоппой спектрометрии делятся па пламенные и непламенные. Общая схема пламенного анализа состоит из распыления, атомизации (возбуждения) и измерения атомного поглощения элемента. В качестве основного горючего газа для пламенного анализа служит ацетилен, который в сочетании с воздухом и оксидом азота (I) обеспечивает определение большинства элементов с относительным пределом обнаружения 10" —10 мкг/г, воспроизводимостью 0,005— 0,002 [1]. Представление о возможностях метода дает табл. 1 [2]. [c.108]

Метод импульсного распыления микрообъемов проб дает хорошие результаты также при пламенном эмиссионном анализе. Использованы эмиссионный пламенный СФМ и система распылитель — горелка с камерой вместимостью 1 л. Воздух или N20 перед подачей в распылитель нагревают до 100 °С. Эмиссионный сигнал регистрируют самописцем ЭПП-09 с временем пробега пара 1 с. Микрообъем проб можно вносить непооред-ственно в распылительный капилляр, надев на него микроворонку. Перед измерением распылительную камеру промывают водой (путем всасывания и распыления) в течение 30 с. Затем вынимают капилляр из воды и 15 с просушивают камеру и капилляр, продувая нагретый воздух (при этом повышается стабильность отсчетов). Далее всасывают микрообъем раствора и регистрируют эмиссионный сигнал самописцем. При импульсном распылении 50 мкл раствора абсолютный предел обнаружения улучшается примерно на порядок величины по сравнению с результатом, полученным при непрерывном всасывании, а относительный предел обнаружения ухудшается примерно в 3 раза [95. [c.55]

Методы анализа характеризуются абсолютным и относительным пределами обнаружения элементов. Под первым понимается наименьшее абсолютное количество /Иш1п, а под вторым — наименьшее относительное содержание (концентрация) Сщш элемента в пробе, которые могут быть обнаружены данным методом. В практике анализа чистых веществ часто (даже в методах с предварительным концентрированием примесей) нельзя или нежелательно использовать для анализа очень большое количество пробы и поэтому требуется, чтобы метод анализа характеризовался, в первую очередь, малой величиной абсолютного предела обнаружения. Абсолютный предел обнаружения является универсальной характеристикой метода анализа. Зная его величину, всегда можно получить значение относительного предела обнаружения, если известна величина навески пробы М, используемой для [c.14]

Рис. 22. Расчетная зависим ость относительного предела обнаружений Стш элемента от врнв еденной разрешающей силы i пpив при разной ширине щели спектрографа, выраженной в единицах нормальной ширины щели [1217].

В работах [841, 842] сравнивались относительные пределы обнаружения железа в металлическом магнии, достигаемые на приборах с существенно различными параметрами — кварцевом спектрографе средней дисперсии ИСП-22 и спектрографе с дифракционной решеткой (600 штр1мм) ДФС-8, Значения пределов обнаружения подсчитывали на основании трехсигмового критерия Кайзера по формуле, приведенной в работе [244]. Отношение пределов обнаружения, достигаемых на приборах ИСП-22 и ДФС-8, было установлено при нормальной ширине щели и при ширине щели, в три раза превышающей нормальную. Величина во всех исследованных случаях составила 0,02, почернения сплошного [c.75]

Поскольку спектрографы большой дисперсии, как правило, характеризуются меньшей светосилой по сравнению с приборами средней дисперсии, то переход к этим приборам может привести к уменьшению ожидаемого снижения пределов обнаружения (см. 3.1). Это связано с тем, что при фотографировании спектра на приборе большой дисперсии при неизменности всех остальных условий анализа почернение фона станет ниже оптимального. Однако и в этой ситуации в ряде случаев, как уже указывалось, сни-ясение относительных пределов обнаружения может быть достигнуто путем соответствующего увеличения времени экспозиции и расходуемой навески образца. Можно также рекомендовать с целью уменьшения потерь света использовать для освещения щели спектрографа однолинзовый конденсор, проектирующий изображение источника на щель спектрографа. Это позволяет в несколько раз увеличить освещенность на фотопластинке и соответственно повысить почернение фона. Дополнительный выигрыш, по-види-мому, может быть получен и при использовании сферического зеркала, в фокусе которого располагается источник света [240, 144, 1313] (см. 13.5). Рекомендованные в работе [265] безлинзовое освещение при очень близком расположении источника от щели прибора или помещение цилиндрической линзы перед фотоэмульсией, вероятно, не всегда являются рациональными. В этих случаях по- [c.80]

Иног а жидкий концентрат наносят на тонкий угольный диск, который после высушивания раствора помещают на дно полости графитового катода [621, 622]. Диск-нагревается до более высошй температуры, чем тело катода, что способствует более быстрому испарению элементов, осйбенно труднолетучих. Относительные пределы обнаруженйя элементов, благодаря большому коэффициенту ( гащения,.достигают 3-10 — 3-10 8%. [c.188]

В некоторых случаях удается проводить концентрирование примесей из анализируемой пробы непосредственно в катоде без промежуточных операций и коллектора. Так, порошок полупроводникового кремния обрабатывают парами кислот в двух полуцилиндрах разрезногл катода (см. рис. 70, в [276]). Абсолютные пределы обнаружения составляют (3—6) 10" ° г Ag, Мп, Си, йа, 1п (3 — 5) 10" е А1, N1 (6 — 7) 10"в г Mg, Ре (предел обнаружения М , А1, Ре, Си ограничен присутствием их следов в материале катода). Относительные пределы обнаружения при обогащений из [c.189]