Измерение интенсивности линий

Линейная зависимость фототока от интенсивности падающего света существенно упрощает градуировку измерительной системы и позволяет получать результаты прямо в единицах спектральной яркости или пропорциональной ей величины (при фотографических измерениях интенсивность линии может измеряться только после проявления и фотометрической обработки спектрограммы). Кроме того, фотоэлектрические измерения характеризуются довольно высокой воспроизводимостью. В определенных условиях принципиально возможно снижение погрешности относительных измерений до 0,1 %, а погрешность около [c.80]

Для обеспечения правильности количественных определений необходимо применять точные фотометрические методы измерения интенсивности линий спектра. При этом минимальная погрешность определения обычно составляет 2%. Часто получают большую погрешность определения 5% и даже 10%. [c.370]

Определение ведут следующим образом. Сначала измеряют интенсивности спектральной линии определяемого элемента и близкой к ней линии другого элемента (линии сравнения), содержание которого в исследуемой пробе постоянно. Этот элемент называют внутренним стандартом. Между отношением интенсивности линии определяемого элемента /о.э. к интенсивности линии внутреннего стандарта 1 . и концентрацией определяемого элемента существует пропорциональная зависимость, которую устанавливают экспериментальным путем на основании измерения интенсивности линий эталонных образцов. [c.343]

Как следует из уравнения (3.19), для увеличения разрешающей силы необходимо создать условия, обеспечивающие максимальную разность хода интерферирующих лучей. Такие условия, например, реализуются в устройстве, состоящем из двух полупрозрачных зеркал, параллельных друг другу. Этот прибор, названный эталоном Фабри-Перо , является основным прн изучении сверхтонкой структуры спектральных линий и широко используется во всем мире. Неудобство применения эталона Фабри-Перо заключается в том, что он может работать только в узком спектральном интервале длин волн и поэтому всегда должен использоваться в сочетании с более грубыми спектральными приборами, производящими предварительную монохрома-тизацию, т. е. выделение нужного узкого исследуемого участка спектра. Второй недостаток — узкий динамический диапазон измерений интенсивностей линий, что определяется поглощением света в пластинах или зеркальных покрытиях. [c.69]

В тех случаях, когда при введении вещества устанавливается равновесие, обычно не регистрируют начальный период горения разряда, и измерение интенсивности линий начинают после установления равновесия. [c.243]

С усилителем и самописцем. При измерении интенсивности линий с колеблющейся интенсивностью возбуждающего света необходимо записывать отношение сигнала КР и луча сравнения. В большинстве промышленных спектрометров КР используют фотографические или фотоэлектрические системы записи. Спектры записывают в линейной шкале волновых чисел. [c.291]

Принцип метода. Определение основано на измерении интенсивности линии поглощения никеля 232 нм в присут- [c.82]

Приготавливают эталоны, как описано ниже, и строят калибровочные графики по измеренным интенсивностям линий хрома, железа, никеля и олова. [c.187]

Спектрометры с волновой дисперсией могут быть сканирующими (СРС) и многоканальными (MP ). Приборы первого типа имеют один настраиваемый кристалл-монохроматор, поэтому можно последовательно выделять из спектра излучение с любой длиной волны в заранее выбранном спектральном интервале. Многоканальные спектрометры имеют несколько спектрометрических каналов, каждый из которых состоит из собственных монохроматора, детектора и комплекса регистрирующей аппаратуры для измерения интенсивностей линий каждый канал в MP настроен на определенную аналитическую линию. [c.12]

При работе по способу внутреннего стандарта в анализируемую пробу вводят известное количество элемента, не содержащегося в ней. Этот элемент называется внутренним стандартом или элементом сравнения. После измерения интенсивностей линий определяемого элемента /д и элемента сравнения 4 концентрацию Сд находят из соотношения [c.31]

Получив экспериментальные данные измерений интенсивностей линий, находят концентрацию определяемого элемента по градуировочной кривой, вычерчиваемой на основании измерения интенсивностей линий эталонных образцов. [c.344]

Задача полуколичественного спектрального анализа — грубая оценка содержания определяемого элемента в анализируемой пробе в рамках от половины до одного порядка, например, (0,5—1,0) 10- % или 1 10- —ЫО- /о- Подобная необходимость возникает в ряде случаев аналитической практики, например, при оценке содержания некоторых компонентов в минералах, рудах, воде и др., при сортировке металлических отходов в металлургии, при оценке примесей в некоторых видах промышленного сырья и продуктов и др. Для этого используют как спектрографы, с регистрацией полученных спектров на фотопластинке, так и более простые приборы визуальной оценки спектра, называемые стилоСкопами, усовершенствованные модели которых, стилометры , снабжены фотометрическим устройством для измерения интенсивности линий. [c.363]

При известном среднем составе образца отпадает необходимость съемки всего спектра. В этом случае вместе с образцом в объектную камеру устанавливают эталоны (обычно металлы высокой чистоты), по которым производят последовательную настройку спектрометра на регистрацию определенных линий элементов и измерение интенсивностей линий на образце Л- [c.62]

Трудности применения спектроскопии комбинационного рассеяния к полимерам состоят в следующем 1) сильное релеевское рассеяние или так называемое фоновое рассеяние света 2) поглощение света образцом, приводящее к невозможности измерения интенсивности линий комбинационного рассеяния. [c.280]

Фотоэлементы и фотоумножители. Для измерения интенсивности линий применяют вакуумные фотоэлементы или фотоэлектронные умножители. [c.206]

Таким образом, измерение температуры сводится к определению толщины излучающего слоя и измерению интенсивности линии. Калибровка используемого в измерениях спектрографа по интенсивности производится при помощи эталонных излучателей сплошного спектра с известными температурой и спектральными характеристиками. В качестве эталонов обычно применяют вольфрамовые ленточные лампы или угольную дугу между чистыми графитовыми электродами [10—12], анодный кратер которой имеет, по последним измерениям И. Эйлера [12], температуру 3995-г + 15° К, а коэффициенты излучения измерены в широком диапазоне длин волн. [c.202]

Таким образом, относительная погрешность измерения температуры определяется погрешностью измерения интенсивности линий и эта погрешность тем меньше, чем больше разница в энергиях верхних уровней соответствующих линий. [c.206]

Измерение температуры по молекулярным спектрам. В случае термического возбуждения распределение интенсивности во вращательной структуре какой-либо полосы соответствует закону Больцмана. Следовательно, измерение интенсивностей линий полосы дает возможность определить температуру, так как интенсивность линий и Р-ветвей полосы может быть выражена следующей формулой [22, 27] [c.216]

Высокие температуры, получаемые в плазме и плазменных струях (10 °К), обусловливают распад молекул введенного в них реагента и появление различных молекулярных осколков и радикалов, не существующих при обычных температурах. Основным методом идентификации и определения концентрации этих частиц в данном случае является спектроскопическое исследование состава плазмы. Количественный спектральный анализ, как известно, основан на измерении интенсивностей линий и широко применяется в исследованиях пламен и газовых разрядов. Очевидно, результаты, полученные в этих исследованиях, могут быть использованы при изучении плазмы. [c.220]

Метод основан на измерении интенсивности линий элементов-примесей в дуговом спектре, полученном при испарении смеси порошкообразной сурьмы с чистым угольным порошком (4 1) из отверстия угольного электрода (анода) в пламени дуги постоянного тока. Вероятная ошибка единичного определения 10%. [c.241]

Спектральный метод основан на измерении интенсивности линии ртути и фона в спектре олова, полученном при испарении пробы из кратера угольного электрода в дуге постоянного тока [c.366]

Измерение интенсивности линий А1 — Ка проводится на рентгеновском флуоресцентном спектрометре (ХКО — 3, ХКО — 5, фирмы Филипс) с хромовой и вольфрамовой трубками. Трубка с хромовым анодом лучше, так как в этом случае интенсивность флуоресцентного излучения у алюминия в 4 раза выше, чем с трубкой с вольфрамовым анодом [Б4А, 620, 11781. На трубки подают напряжение 40—50 кв, ток 20—50 ма. В качестве кристаллов анализаторов для разложения лучей в спектр используются пентаэритрит и этилен-диаминдитартрат. Детектор для измерения интенсивности спектральных линий представляет собой газопроточный пропорциональный счетчик с амплитудным анализатором (смесь 90% аргона и 10% метана). Рекомендуются особо тонкие пленки для окон пропорцио нальных счетчиков. [c.166]

Можно видеть, что интенсивность линии 1 ири очень низкой температуре составляет 6% от величины, измеренной при 30°. Ранее при теоретическом обсуждении было получено, что давление в молекулярном пучке составляет 14,4% от полного давления в зоне ионизации. Расхождение между этими величинами можно объяснить частично приближениями, сделанными при расчете, частично неточностью измерений интенсивностей линий отдельных ионов. [c.569]

Как видно из рис. 11.10, измеренная интенсивность линии (420) выше интенсивности (331) следовательно, углерод аустенита распределен в октаэдрических промежутках решетки. [c.309]

В табл. 4 приведены данные об ошибках измерения интенсивности линий спектра дугового разряда. Эти данные также подтверждают необходимость тщательной установки электродов при проведении анализов. Несоблюдение этого условия приводит к вариациям отношения интенсивности фотометрируемых линий и ошибкам ее измерения. Ошибки фотометрирования строго [c.44]

Предположение о том, что этот эффект связан с ослаблением сопряжения в азотсодержащих гетероциклах, подтверждается резуль татами измерений интенсивности линий бензольного кольца [c.83]

Рентгенофлуоресцентным методом определяют мышьяк в железных рудах и рудничных смесях [174]. При использовании спектрометра КРФС-2 и рентгеновской трубки с У-анодом (30 кв, 30 ма) с измерением интенсивности линии Аз Ка счетчиком МСТР-4 возможно определение до 0,01 % Аз. При содержании мышьяка 0,118% воспроизводимость составляет 1,7 отн. %. [c.98]

Компьютеризация спектрометров позволила автоматизировать процедуры вычитания фона. Для внепиковой коррекции часто используется модуляция длины волны с помощью шагового двигателя, вращающейся кварцевой пластины или путем периодического введения наклонной кварцевой пластины осуществляют либо сканирование спектра в окрестности линии на расстояние АХ, либо попеременное измерение интенсивности линии и фона в одной-двух точках спектра. Применение ЭВМ позволяет в случае подпиковой коррекции использовать уравнения множественной регрессии для расчета корректировочных коэффициентов. [c.416]

Спектральное определение галлия. Пламенно-фотометрическое определение гал.лия в концентратах и полупродуктах производства. Метод основан на измерении интенсивности линии галлия Я = 417,2 нм в спектре аце-тилено-воздушного пламени, получаемом при введении в него раствора пробы и пробы с добавками галлия [408]. [c.187]

LiF. До последнего времени в литературе отсутствовали прямые экспериментальные измерения молекулярных постоянных фтористого лития. На основании изучения отклонения молекулярных пучков фтористого лития в неоднородном электрическом поле Тришка [4018] определил величину произведения момента инерции молекулы LiF на ее дипольный момент и, оценив последний, нашел, что 1,44 Гцр 1,65 A. Позже, Броунштейн и Тришка [912] повторили эти исследования и определили на основании найденной ими величинь ядерного диполь-дипольного взаимодействия длину связи Li —F в состояниях у = 0(1,51 + н-0,08 A) и v = 1(1,57 + 0,08 A). По интенсивности линий, соответствующих значениям и = О и 1, авторы работы [912] нашли приближенные значения частот колебаний обеих изотопных модификаций фтористого лития равными 756 + 38 и 646 + 32 см для Li F и Li F соответственно. Однако эти значения частоты колебания обеих молекул грубо приближенны из-за неточности измерения интенсивности линий и температуры газа в молекулярном пучке, что отмечают и авторы работы [912]. Даже отношение частот колебания молекул Li F и Li F (1,17 + 0,02), найденных в работе [912], существенно отличается от вычисленного по их приведенным массам и равного 1,06. Кроме того, для других молекул ( sF и RbF) значения, найденные этим методом, существенно меньше полученных при исследовании спектров поглощения [c.863]

Для учета фона при анализе графитового порошка на фотоэлектрической установке МФС-4 использован прием, заключающийся в измерении фона на расстоянии 0,05 нм от максимума аналитической линии. С этой целью после прогрева и настройки прибора смещают входную щель так, чтобы положение спектра по отношению к выходным щелям изменилось на 0,05 нм (это соответствует повороту барабана на 25 делений). Затем входную щель устанавливают в нормальное положение и выполняют анализ по принятой методике. Предварительно установлено, что интенсивность фона по обе стороны от максимума практически одинакова, а фон на расстоянии 0,05 нм от максимума свободен от мешающих линий. Для измерения фона выбраны участки на стороне длинных волн. В процессе разработки методики установлено также, что интенсивность фона (по крайней мере до содержания примесей в графитовом порошке 10 %) не зависит от концентрации примесей и уровень фона от спектра к спектру воспроизводится с высокой точностью. Поэтому авторы сочли возможным не измерять интенсивность фона в каждом спектре, а ограничились измерением фона в трех параллельных спектрах одного образца. Использованы следующие аналитические линии (в нм) А1 308,21 Са 315, 88 Со 252,14 Сг 301,76 Си 327,40 Ре 259,99 Mg 280,27 Мп 257,61 N1305,08 РЬ 283,30 Т1 323,46 V 318,54. В дальнейшем из результатов измерений интенсивности линий всей серии образцов и эталонов [c.123]

Изменение интенсивности аналитических линий, вызванное только изменением условий ионизации и возбуждения, можно учесть и скорректировать, зная, как меняются Гэф и при изменении состава пробы. Если поступление, вынос и диссоциация соединений определяемых элементов при изменении состава пробы не меняются, то, применяя такую корректировку, можно вести количественное определение элементов в пробах разного соЬтава по единым градуировочным графикам [1246].-Например, йутем приведения измеренных интенсивностей линий к выбранным стандартным значениям Т vi рв (6500 К я 1-10 ат) были совмещены градуировочные графики для определения шести элeмeнтQB в пробах угольного порошка, разбавленного различными буферами, в присутствии которых Гаф изменялось на 1000 К, а ре более чем на по- рядок величины [1031]. Было показано, что для аналитических линий трудноионизуемых элементов наиболее существен учет изменения температуры, а для линий легкоионизуемых элементов более важен учет изменения электронной концентрации. В тех случаях, когда изменение состава пробы сказывается в основном на температуре плазмы, для-совмещения графиков достаточен учет только изменений Гаф. [c.106]

Аналогичный результат получен при определении относительного содержания ионов и недиссоцнированных молекул в хлорной кислоте путем измерения интенсивности линий в спектрах комбинационного рассеяния [5]. Хейнцингер и Вестон [6], измерив интенсивность линии иона СЮ4 при 931 м в спектрах комбинационного рассеяния водных растворов хлорной кислоты концентрации от 2 до 12 М, обнаружили, что степень [c.103]

В одном опыте в систему через реактор был введен чистый аргон, причем реактор и ионизационная камера находились при комнатной температуре. В другом опыте аргон поступал через независимое отверстие непосредственно в объед вакуумного сосуда таким образом, чтобы поток не попадал прямо ни в одну из щелей ионизационной камеры. Давление, которое измерялось ионизационным манометром, смонтированным внутри вакуумного сосуда, было одним и тем же для обоих способов напуска газа. Измерение интенсивности линии массы 40 (аргон) на масс-сиектрометре показало, что в первом случае эта интенсивность была в семь раз больше, чем во втором. Это значит, что третье слагаемое в выражении (6) составляет одиу седьмую от всей суммы. Решая это уравнение, находим, что кА равно 0,12 и /1 = 0,27. [c.564]

Для комплекса М(ОН2)б L время меньше, чем для MiOHg) из-за роста градиента напряженности электрического поля на ядре [197]. Для комплексов типа М(0Н2) Ьж (где x i) Ti еще более укоротится, так как градиент еще более увеличится. Таким образом, линии комплексов смешанного типа не должны обнаруживаться из-за их большой (порядка мегагерц) ширины. Отсюда Следующий важный вывод Интенсивность наблюдаемых в экспе- . риментах линий магнитного резонанса на ядра с большим квадрупольным моментом пропорциональна числу чисто водных комплексов. Это позволяет рекомендовать измерения интенсивности линий магнитного резонанса в качестве удобного метода исследования процессов комплексообразования в жидких растворах диамагнитных солей [197]. В принципе такой метод позволяет Определять степень диссоциации различных сильных электролитов и константы устойчивости комплексов. Не менее важными могут быть сведения о симметрии ближайшего окружения ионов, которые дают такие исследования. Однако в настоящее время специальных работ в этой области не имеется. Большая часть исследований ЯМР квадрупольных ядер в растворах выполнена со слабо гидратированными ионами [199—204]. [c.252]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология