Микроскопия электронная поверхности

Отражательный электронный микроскоп. На поверхность непрозрачного образца в отражательном микроскопе направляется под углом (tti) пучок электронов, который частично отражается и одновременно возбуждает вторичные излучения. В формировании изображения участвуют те электроны, которые отражаются от поверхности образца под углом наблюдения (аг), а также рассеян- [c.154]

Следует, однако, отметить, что определенная методом электронной микроскопии удельная поверхность сажи является геометрической удельной поверхнос 1 ью, так как она рассчитывается нри допущении, что частицы сажи являются сферическими и их поверхность абсолютно гладкая. В действительности оба условия для сажи не выполняются, и в ряде случаев, особенно для саж из частиц с шероховатой поверхностью, метод электронной микроскопии дает сильно заниженные значения. Но, несмотря на определенную условность, геометрическая удельная поверхность является ценной характеристикой дисперсности сажи. [c.193]

В методе электронной микроскопии удельная поверхность За связывается со средним значением измеряемого диаметра проекции ( р с помощью формулы [c.85]

Вполне понятно, что желательна прямая проверка этой методики. Однако провести такую проверку достаточно сложно, так как необходимо выбрать твердое тело с известной удельной поверхностью, адсорбция на котором описывалась бы изотермой IV типа. Поверхность такого тела является главным образом внутренней (см. стр. 12), так как в значительной части образована стенками пор. Поэтому ее площадь нельзя определить такими методами, как оптическая микроскопия, электронная микроскопия и им подобные, которые использовались при проверке годности для расчетов изотерм II типа. [c.151]

Электронно-микроскопическое исследование поверхности пленок МЦ и поверхности сколов, полученных в результате излома пленки, вдоль оси вытяжки при температуре жидкого азота позволило установить более мелкомасштабные детали строения пленок. При степенях вытяжки 2.0 поверхность ориентированных пленок остается достаточно гладкой и ровной. Фибриллярная структура, видимая в оптический микроскоп, электронно-микроскопическим способом не обнаруживается. При 1 2.2—2.5 на поверхности пленок появляется рельеф, образованный довольно регулярными и протяженными бороздами шириной 0.2—0.4 мкм, направленными перпендикулярно оси вытяжки (рис. 4.20). При сканировании перпендикулярно оси вытяжки (рис. 4.20, а) видны поперечные складки шириной 0.3—0.5 мкм, а на некоторых участках обнаруживаются расслоения в виде микротрещин размером по ширине 0.1—0.2 мкм и длине 1.0—1.5 мкм, направленных параллельно оси вытяжки. При сканировании параллельно оси вытяжки (рис. 4.20, б) кроме складчатой структуры становятся видимыми неровности с преимущественной ориентацией вдоль оси вытяжки. Изучение поверхности сколов (рпс. 4.20, в) обнаруживает наличие пористой структуры, размер пор колеблется от 0.1 до 1.0 мкм. [c.97]

Электронная микроскопия (картина поверхности с разрешением до 10 А). Электроны пропускаются через образец. [c.224]

Сканирующая электронная микроскопия (картина поверхности с разрешением до 50—100 А). Сфокусированный пучок электронов отклоняют с помощью магнита и сканируют по поверхности образца, подобно пучку электронов, пробегающему строку за строкой на экране телевизионной трубки. Детектируются вторичные электроны, интенсивность сигнала модулирует синхронно сканирующий иучок электронов в электронно-лучевой трубке (т. е. фактически в телевизионной трубке). [c.225]

Хотя автоионная микроскопия позволяет эффективно наблюдать расположение атомов поверхности и отдельных адсорбированных атомов и их перемещение, определять энергетические свойства поверхности этим методом не представляется возможным. В этом отношении автоионная микроскопия уступает автоэлектронной. Основное уравнение автоэлектронной эмиссии, выведенное Фаулером и Нордхеймом [118], описывает влияние приложенного поля на скорость эмиссии электронов. На рис. У-23 приведена упрощенная схема эмиссии электронов поверхностью металла. В отсутствие поля энергетический барьер, соответствующий работе выхода Ф, предотвращает утечку электронов нз зоны Ферми. При наложении поля высота этого барьера уменьшается пропорционально расстоянию и составляет Ф—V, где У=хР (Р — напряженность поля, В/см). Теперь становится возможным квантово-механический процесс туннелирования электронов. Если электрон находится в ящике с конечной высотой потенциального барьера, вероятность туннельного выхода такого электрона из ящика Р составляет [c.234]

Сравнение значений удельных поверхностей различных саж, приведенных в табл. 3, с результатами, полученными при помощи адсорбции (табл. 2), показывает хорошее совпадение данных. Существенное расхождение имеет место только в отношении высокодисперсной сажи для лаков, для которой электронный микроскоп устанавливает поверхность 198 м /г, в то время как адсорбционный метод дает значительно большие значения от 400 до 930 м /г. Аналогичные результаты дают последние измерения Эммета который приводит сравнение поверхностей, полученных адсорбцией азота и рассчитанных по данным электронного микроскопа для плотности частиц сажи, равной 2.00 (табл. 4). [c.63]

Сканирующая электронная микроскопия Электронный микрозонд Инфракрасная спектроскопия Элементный анализ Кислотность поверхности Потери при сгорании Термогравиметрический анализ Плотность [c.12]

Чтобы охарактеризовать структуру изучаемых мембран возможно более полно, была определена их общая удельная поверхность методом адсорбции азота. Измеренные значения приведены в последней колонке табл. 21.4 и относятся не только к верхней и нижней поверхностям пленки, но включают и площадь доступных пор. Как можно было ожидать на основании данных электронной микроскопии, удельная поверхность уменьшается с увеличением времени испарения растворителя. [c.358]

Дальнейший рост окислов можно проследить различными методами микроскопии, электронной дифракции, гравиметрии. Оказалось, что появлению зерен предшествует период инкубации, во время которого никакие изменения не отмечались. Зерна появляются внезапно в конце этого периода, развиваясь по краям, после чего покрывают всю поверхность. [c.294]

Электронная микроскопия. Электронные микроскопы, которыми в настоящее время оснащен каждый исследовательский центр, подразделяются на два типа. В растровых электронных микроскопах, называемых также сканирующими, пучок электронов фокусируется в тонкий луч, диаметр которого у поверхности может составлять менее 10 нм. Видимое изображение получается путем регистрации одного из вторичных сигналов — обратно рассеянных [c.209]

Методом сканирующей электронной микроскопии исследовали поверхности глюкозных сенсоров, находившихся в подкожной ткани здоровых собак в течение 3,7 и 14 дней. На рис. 23.5 приведен пример электронно-микроскопического исследования мембраны сенсора. После непрерывного трехдневного пребывания в подкожной ткани на поверхности мембраны наблюдаются следы фиксации белка и небольшие ямки. Через семь и 14 дней мембрана понемногу покрывается белком, но ямки на поверхности больше не видны. Однако во всех случаях не обнаружено фиксации на поверхности фибробластов или гигантских клеток. [c.338]

Как известно, интервал pH, в котором ацетатцеллюлозные мембраны могут использоваться, ограничен 3<рН<8. Поэтому при обработке агрессивных растворов конкуренцию динамическим мембранам могут составить только новые типы синтетических мембран. В среднем проницаемость динамических мембран оказывается выше, чем у лучших образцов полимерных мембран. Это объясняется тем, что адсорбция добавок происходит только на поверхности пористой структуры со стороны прикладываемого давления, подтверждением чему являются исследования срезов подложки под электронным микроскопом. Толшина адсорбционного слоя по исходному веществу при этом. мала. Так, для [c.91]

Влияние свойств пористого слоя на скорость фильтрования нередко выражают посредством параметров, определяющих его структуру, в частности эквивалентного размера пор, пористости слоя, удельной поверхности и щероховатости частиц. С этой целью принимают идеализированные модели пористого слоя, например модель цилиндрических капилляров. Однако в настоящее время принципы построения моделей пористых сред требуют уточнения [24]. Так, следует отметить, что способы определения параметров пористых сред адсорбцией, капиллярной конденсацией, ртутной поро метрией, электронной микроскопией нередко приводят к разным результатам, причем одни параметры модели и объекта могут совпадать, а другие различаться. Использование идеализированных моделей пористых сред не способствует лучшему пониманию процесса фильтрования, а все параметры, характеризующие пористую среду, в конечном счете приходится объединять в один, находимый экспериментально параметр, называемый коэффициентом проницаемости или удельным сопротивлением. К сказанному надлежит добавить, что отмечено шесть типов укладки моно-дисперсных шарообразных частиц в слое, причем форма пор, влияющая на гидродинамику слоя, различна для разных типов укладки [39]. [c.24]

Для приготовления суспензий использованы 17 тонкодисперсных порошков, в частности карбонил железа, карбонат кальция, двуокись титана, тальк, активированный уголь и разбавленные водные растворы сульфата алюминия, фосфата натрия, едкого натра, а также дистиллированная вода. При помощи электронного микроскопа предварительно были определены размер и форма частиц тонкодисперсных порошков в сухом состоянии измерением проницаемости при фильтровании воздуха — удельные поверхности частиц этих порошков. При этом найдено, что средний размер частиц различных порошков составляет 0,1 —10 мкм, форма их изменяется от шарообразной (у карбонила железа) до очень неправильной (у талька), а удельная поверхность частиц находится в пределах от 1,2-10 (у карбонила железа) до 20-10 м -м (у двуокиси титана). [c.196]

На рис. 10.2-8 изображена конфигурация современного растрового электронного микроскопа. Электронный пучок формируется в результате эмиссии с катода из вольфрама или гесксаборида лантана (ЬаВе). Электроны ускоряются до энергий от 1 до 50 кэВ. Ток зонда составляет от 10 пА до 1 мкА. При помощи системы электромагнитных линз пучок фокусируется до диаметра от 1 до 100 нм и направляется на поверхность образца. Точка анализа, линия и область сканирования задаются при помощи генератора развертки пучка. [c.332]

Поливинилспиртовые пленки применяются ц качестве разделительных слоев при формовании листовых материалов и изделий из ненасыщенных полиэфирных, меламиновых, эпоксидных смол, а также временных защитных покрытий различных поверхностей от загрязнения лаками и красками во время строительных и ремонтных работ [8]. Для придания защитным покрытиям водостойкости поливинилспиртовые пленки дублируют с пленками, изготовленными из сополимеров ВС с этиленом и полиэтилена [а. с. СССР 513998]. При этом поливинилспиртовый слой комбинированной пленки используется для приклеивания ее к защищаемой поверхности. Растянутые в одном направлении и окрашенные раствором иода в иодиде калия или парами иода пленки из ПВС линейно поляризуют проходящий сквозь них свет. Такие пленки применяются для изготовления поляризационных светофильтров (поляроидов), используемых в поляризационных микроскопах, электронных часах и т. п. Изменяя условия изготовления поляроидов, можно получить иоднополивинилспиртовые светофильтры, поляризующие свет не только в видимой, но и в близкой УФ-, а также в 14К-областях спектра [56, с. 83]. Для увеличения эластичности пленок и улучшения технологии получения поляроидов ПВС может быть заменен сополимерами ВС с 1 — 77о (масс.) винилпирролидона [а. с. СССР 834005]. [c.145]

Методом оптической и растровой электронной микроскопии изучены поверхности разрушения трубопровода в двух сечениях (N2, N4), соответствующих вертикальному (N2) и горизонтальному (N4) участкам трубопровода. Схематизация поверхности разрушения, фотографии изломов трубопровода и схема вырезки темплетов (образцов) для изучения микропараметров разрушения представлены на рис. 3.32-3.33. [c.302]

Изучались системы, состояш ие из различных сочетаний поли-хлоропрена, полиизобутилена и натурального каучука с полиамидной пленкой [10]. 1Токазано, что в большинстве случаев, когда в зоне контакта отсутствует мономер (капролактам), внешний вид поверхности пленки после отслаивания не отличается (под электронным микроскопом) от поверхности ее до контакта с адгезивом. В отдельных случаях (при комбинации полиамидной пленки с натуральным каучуком) на поверхности после разрушения удается обнаружить некоторые следы адгезива, которые могут быть низкомолекулярными фракциями адгезива или примесями, содержаш имися в каучуке [147]. Методом реплик изучен [154, 197] характер разрушения наполненных полимеров и показано, что нри низкой адгезии полимера к частицам наполнителя происходит адгезионное разрушение в зоне контакта полимер — частица наполнителя. [c.232]

Роль геометрических факторов. В теории катализа значение геометрических факторов получило наиболее общее выражение в принципе геометрического соответствия мультиплетной теории Баландина. Близкий принцип лежит в основе теории матричных эффектов, общепринятой в современной молекулярной биологии для объяснения действия ферментов, нуклеиновых кислот и других регуляторов биохимических процессов. Применительно к выяснению возможности ускорения сравнительно простых реакций использование геометрических характеристик требует большой осторожности. Трудности начинаются с выбора геометрических параметров поверхности. Во-первых, эти параметры различны для идеальных плоскостей разных индексов (одного и того же монокристалла), которые обычно одновременно наблюдаются на поверхности. Во-вторых, как показывают прямые исследования дифракции медленных электронов, не только расстояния, но и тип структуры могут быть различными на поверхности и в объеме кристалла. Так, в частности, Ое и 81 в объеме имеют кубическую структуру алмаза, а на поверхности — гексагональную структуру расстояния З — 81 или соответственно Се — Се в объеме и на поверхности различаются, как известно, весьма существенно. В-третьих, по данным электронографии и эмиссионной микроскопии, атомы поверхности [c.25]

В последние годы за рубежом (Швейцария, Англия, ФРГ) появились стеклянные конусные взаимозаменяемые нешлифованные (прозрачные) соединения с совершенно гладкой поверхностью — KPV (Klare Prazisions Verbindung — гладкие точные соединения). Они изготавливаются (муфты и керны) методом горячей калибровки. Соединения KPV имеют более ровную, чем у шлифованного конуса, поверхность и более точные размеры. По данным швейцарской фирмы Ронор (исследования проводились с помощью электронного микроскопа), неровности поверхности конуса достигают 0,4—0,5 мкм, а для поверхности соединения с KPV —0,006 мкм, т. е. в 8 раз меньше. Ровная поверхность соединения KPV обеспечивает лучшую, по сравнению со шлифованными конусами, герметичность. Эти соединения не имеют упомянутых выше недостатков. Преимущества конусных нешлифованных взаимозаменяемых соединений (конусов с нешлифованной поверхностью КН) [c.20]

Цвет не соответствует данным, цолученным при помощи электронного микроскопа. Удельная поверхность электронный микроскоп) равна 98 и 125 л2/г соответственно. [c.65]

Хенниг [54—56] показал, что газовое травление поверхности раскола кристалла графита, например, в смеси кислорода и хлора, приводит к удалению атомов, окружающих дислокации и вакансии. Последующее декорирование повышает контраст поверхности и позволяет исследовать в электронном микроскопе структуру поверхности, дислокации, точечные дефекты и другие нерегулярности графитового тела. [c.27]

При раскалывании пиролитического графита в вакууме образуются более гладкие поверхности, чем при раскалывании на воздухе. Результаты макро- и микроскопического исследования свидетельствуют о том, что возникновение межпластинчатых выры-вов в последнем случае выражено более явственно. По-видимому, большая часть энергии, которая сообщается системе при ударе, расходуется на деформирование плоскостей а — Ь, что приводит к образованию складок на поверхностях раскола. Как по количеству складок, так и по резкости, с которой они выражены, поверхности, полученные в вакууме, уступают поверхностям, образованным на воздухе. С другой стороны, раскалывание в вакууме сопровождается возникновением резких трещин в плоскостях а—Ь. Полученные на электронном микроскопе снимки поверхностей, образовавшихся при раскалывании отожженного пиролитического графита на воздухе и в сверхвысоком вакууме, приведены соответственно на рис. 13 и 14 (см. вклейку в конце книги). На первом видны складки в плоскостях а — Ь второй демонстрирует наличие на поверхности резких трещин. Оба снимка свидетельствуют о зернистом строении пиролитического графита. [c.220]

Рис. 21.29. Микрофотография пыльцевых зерен на рыльце цветка, сделанная с помощью сканирующего электронного микроскопа. Шиповатая поверхность пыльцевых зерен характерна для цветков, опьшяемых насекомыми.

В предыдущей главе читатель познакомился со всем разнообразием видов нанокластеров, наносистем и наноструктур. Как уже отмечалось, одной из основных характерных черт таких объектов является наличие у них развитой поверхности. Поверхность конденсированного состояния вещества обладает столь больщим разнообразием свойств и применений, что это стимулировало развитие известных и привело к появлению ряда новых специфических методов. Это прежде всего методы, основанные на регистрации электронов в различных применениях дифракция электронов, полевые методы — полевая электронная и ионная спектроскопия (спектроскопия электронного и ионного проектора), различные виды электронной микроскопии, электронная РФС-, УФС- и Оже-спектроскопия, далее следует дифракция рентгеновского излучения с применением синхротронного излучения, методы ЕХАРЗ, XANS. Методы оптической, ИК- и спектроскопии комбинационного рассеяния, мессбауэровской спектроскопии весьма эффективны как для изучения состояния поверхности, так и для изучения внутренних слоев нанокластеров. Наконец, остаются, конечно, востребованными хорошо разработанные методы ЯМ и ЭПР радиоспектроскопии. [c.40]

Исключительной заслугой С. 3. Рогинского явилось внедрение в практику каталитических исследований новейших физических и физико-химических методов. Ему принадлежит честь первого применения радиоактивных изотопов для изучения механизма химических реакций. В лаборатории С. 3. Рогинского впервые в СССР проводились работы по глубокому механизму катализа с применением электронной микроскопии, электронного проектора, сверхвысоковакуумных методов, измерений работы выхода электрона с поверхности катализатора. Недавно им было открыто новое явление — адсорболюминесценция — весьма нерспективное для выяснения детального механизма хемосорбции. [c.4]

Как видно на микрофотографии частицы угля размером л 140 мкм (рис. IV. 14), полученной с помощью растрового-электронного микроскопа, на поверхности этой частицы обнаруживается значительное число малых частиц размером от 0,2 до 5 мкм. Исследование пробы угольного порошка методом электронно-зондового рентгеноспектрального микроанализа с использованием рентгеновского излучения /С (51, А1) (см. рис. IV. 14, г) показывает, что мелкие частицы в большинстве состоят не из чистого углерода, а содержат также алюминий и кремний. По данным рентгеноструктурного анализа, угольньм порошок в заметном количестве (до 5%) содержит А Оз, и возможно наличие -5102 (кварц). [c.147]

В последние годы для изучения поверхности листа и состояния устьичиого аппарата широко используется сканирующая электронная микроскопия как самой исследуемой поверхности, так и ее реплик [347]. Благодаря большой глубине фокуса сканирующего микроскопа, которая в сотни раз выше, чем у светового, получается почти трехмерное изображение поверхности. При этом видны детали в щелях и отверстиях, а также за выступающими участками поверхности. При исследовании в сканирующем микроскопе наблюдается сложный рельеф листа, взаимодействие поверхностных образований с устьицами. Показано, что на одинаковой по площади поверхности листа в световом и сканирующем электронном микроскопах видно разное число устьиц [348]. Так, па 1 мм поверхности листа земляники в световом микроскопе видно 120—200 устьиц, а в сканирующем— 175—220, у малины соответственно 380—500 и 400—550. Такая же закономерность отмечена для листьев яблони, хмеля, вишни, крыжовника, смородины. Объяснить это можно тем, что в сканирующем микроскопе наблюдается поверхность листа и ее естественном состоянии, со складками, выступами, углубл( -ниями и другими образованиями. [c.159]

Какова структура живой клетки и каким образом она организована для выполнения характерных для нее химических функций Общие черты клеточной топографии — наружная мембрана, ядро и многочисленные тельца меньшего размера — были ул<е давно выявлены с помощью светового микроскопа. Электронная микроскопия позволила получить гораздо более подробную объемную картину тонкой структуры клетки сеть микроканалов эндоплаз-матический ретикулум, который начинается от ядра и проходит через цитоплазму иногда вплоть до поверхности клетки большие сложные тельца, митохондрии многочисленные плотные тельца меньших размеров, часто присоединенные к ретикулуму система микротрубочек, выполняющая различные функции необычная организация нитей в веретене делящейся клетки и двухслойная структура клеточной мембраны (гл. 11). Выделение концентрированных препаратов каждой из этих субструктур, освобожденных от остальных клеточных компонентов, позволило выявить разделение функций внутри клетки ядро как место генетического контро- [c.16]

Физическая адсорбция, хотя и не играет peшaюп eй роли в гетерогенном катализе, тем не менее она полезна как средство для исс едования пористой структуры твердых тел. Она удобна для определения удельной поверхности, формы и размеров пор, наличия закрытых пор и других деталей геометрического строения пористых кат.ализаторов и носителей, особенно в сочетании с электронной микроскопией и ртутной порометрией. [c.87]

Важной практической проблемой является трансформация глобулярной модели с учетом реального строения пористых тел. Экспериментальные данные исследования морфологии пористых тел, основанные на методе электронной микроскопии, показывают, что вторичные частицы в зависимости от химической природы и способа синтеза катализатора (адсорбента) могут представлять собой глобулы, пластины, иглы и пр. различных размеров. Трансформация глобулярной модели на реальную осуществляется на основе следующих предпосылок а) соотношение плотной фазы и сформированного ею объема пор не зависит от строения первичных и вторичных частиц (суммарный объем пор и вес единичной гранулы катализатора не зависят от типа аппроксимации ее строения) б) суммарная поверхность первичных частиц при данном геометрическом размере зависит только от их числа (находится из экспериментально определенной удельной поверхности и веса единичной гранулы образца) в) число первичных частиц во вторичных зависит от типа их аппроксимации (в силу необходи- [c.146]

Исследования с помощью сканирующего электронного микроскопа не обнаружили каких-либо различий в поверхности полимерных мембран, которые находились в течение 2 недель на воздухе или в 3,5%-ном растворе 1ЧаС1. Поверхности всех испытанных мембран были гладкими, однородными, без открытых структур. [c.81]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология