Интенсивность пиков

Вторая задача при калибровке масс-спектрометра состоит в установлении зависимости между интенсивностью ионного тока и парциальным давлением компонентов в напускной системе. Соотношение давления газа в баллоне напуска и размера диафрагмы должно обеспечить линейную зависимость интенсивности пиков в спектре от давления. [c.263]

Приведенный график показывает, что зависимость между интенсивностью пика, отвечающего ионам азота N3 с массой 28, и давлением в системе напуска линейна до р = 0,4 мм рт. ст. [c.264]

Компоненты Молекуляр- Содержание компонента Интенсивность пиков, мм [c.265]

Предварительно в интенсивность пика массового числа 30 вводят поправку на изотопное наложение ионов с массовым числом 29. [c.266]

Поскольку спирты не обладают ингибирующим действием, природные ингибиторы в топливах нафтенового основания представляют собой, очевидно, фенолы. Следует отметить, что в дифференциальных спектрах остатка смеси фракций и фракции 3 обнаружена довольно широкая полоса, которую можно отнести к карбонильной группе сложных эфиров (v=1740 см ). В дифференциальном спектре остатка, определенного относительно исходного топлива эта полоса отсутствует, т. е. по содержанию сложных эфиров топливо и остаток различаются мало. Вместе с тем по окисляемости топливо и остаток существенно различны. Кроме того, интенсивности пика, соответст- [c.85]

Что касается кластеров, состоящих из больщего числа молекул, то, как уже говорилось, в заметном количестве их удается наблюдать только в масс-спектрах, зарегистрированных при низкой температуре. Здесь следует отметить немонотонность зависимости интенсивности пиков от числа молекул, что свидетельствует об особой устойчивости некоторых кластеров, например, состоящих из 8 и 12 молекул воды [363], а также из 12, 24 и 36 молекул воды [370]. [c.134]

Интенсивность пиков автоматически снижена, и число горизонтальных линий над каждым пиком указывает коэффициент снижения. [c.315]

Масс-спектр, регистрируемый прибором, может быть протяженным и неудобным для записи. Поэтому данные часто представляют в виде нового графика, где по ординате откладывают интенсивность в виде отрезков прямой (относительное содержание каждого фрагмента), а по абсциссе — отношение т/е. Содержание фрагмента выражают в процентах интенсивности его пика относительно наиболее интенсивного пика в спектре. Часто полезно интенсивность выразить через единицы полной ионизации S. В этом случае ее выражают в процентах вклада, который данный пик дает в полную ионизацию он получается путем деления интенсивности данного пика на сумму интенсивностей всех пиков. Если масс-спектр не регистрируют во всем диапазоне от 1 до молекулярной массы вещества, то нижний предел отмечают на ординате с помощью [c.316]

Интенсивность пика этого фрагмента будет значительно выше по сравнению с тем случаем, если эту перегруппировку не учитывать. [c.322]

Н, Br и Вг. Результирующая группа пиков данного фрагмента имеет важное значение при их отнесении к фрагменту. Относительные интенсивности пиков зависят от относительного содержания в природе изотопов атомов фрагмента, например, СО может включать фрагменты с массовыми числами 28, 29, 30 и 31. Их относительные количества можно рассчитать с помощью простой теории вероятности [13, 14]. Чтобы провести такие расчеты, созданы программы для ЭВМ [15, 16]. Эти характеристические участки спектра весьма полезны для его отнесения в случае молекул, в которых атом имеет более чем один распространенный изотоп. Молекулы, содержащие ионы переходных металлов, часто дают такие характеристические участки спектра. Использование пиков С позволяет определить число атомов углерода во фрагменте. [c.324]

Многие молекулы либо не обладают достаточной летучестью, либо недостаточно устойчивы по отношению к электронной бомбардировке, чтобы можно было определить молекулярную массу с помощью масс-спектрометрии, если только не применять метод ионизации полем. Если молекулярные ионы нельзя зарегистрировать при температуре испарения вещества и бомбардировке электронами с энергией 70 эВ, то они обычно не наблюдаются и при более низкой энергии электронов. Хотя снижение энергии электронов приводит к у-величению интенсивности пика молекулярного иона по сравнению с пиками фрагментов, абсолютная интенсивность пика молекулярного иона снижается. В методе ионизации полем в зазоре между двумя металлическими электродами создается электрическое поле напряженностью 510 В/см. Как только газообразная молекула попадает в такое поле, она ионизуется. Этот процесс носит название ионизации полем. На силу тока образующихся [c.325]

Облучение пиков с т/е = 17 и 31 приводит к снижению интенсивности пика с т/в = 45. [c.330]

Облучение пика с т/е =11 приводит к снижению интенсивности пика с т. е 31. [c.330]

Интенсивность пика с mie = 17 не меняется, если ускорять ионы с mje = 31 и 45. [c.331]

Первичная обработка данных по интенсивности пиков при низковольтной МС низкого разрешения не отличается от начальной стадии обработки результатов остальных видов МС анализа и состоит в корректировке интенсивностей пиков с учетом изотопной поправки и коэффициентов чувствительности масс-спектрометра к каждому конкретному соединению. [c.37]

Методом внутренней нормализации ио полученным исправленным интенсивностям пиков рассчитываются суммарная концентрация и молекулярно-весовое распределение компонентов каждой серии. [c.37]

Название материнский пик основной пик три следующие по интенсивности пика [c.538]

Во всех приведенных выше случаях продукты деполимеризации угля содержали фенол. Было показано, что с увеличением глубины деполимеризации интенсивность пиков в ИК-спектре, отвечающих колебаниям фенольных гидроксилов, возрастала. Содержание алифатических соединений в бензольно-спиртовых вытяжках также увеличивалось в ходе последовательных циклов деполимеризации, в то время как нерастворимые остатки содержали все более уплотняющиеся ароматические структуры. Увеличение выхода алифатических соединений доказывает протекание алкилирования [10]. [c.309]

Если два разных типа соединений имеют обш,ие гомологические ряды характеристических ионов, но максимумы огибающих интенсивностей их пиков достаточно далеко отстоят друг от друга, разделение пиков характеристических ионов разных типов соединений можно осуществить экстраполяцией огибающей интенсивностей пиков, имеющей максимум в области более низких массовых чисел. Отсчет интенсивностей пиков других типов соединений производится от полученной при такой экстраполяции базовой линии. Для этого удобно использовать вместо огибающей интенсивностей пиков сумму интенсивностей всех предшествую,щих характеристических пиков — интегральную кривую [6]. Экстраполяция осуществляется с использованием двух или нескольких пиков характеристических ионов, свободных от наложения., или с использованием распределения интенсивностей пиков в области характеристических ионов, найденных из ряда модельных фракций, в которых содержатся соединения данного типа и отсутствует наложение гомологических рядов характеристических ионов. [c.204]

В случаях, когда максимумы интенсивностей пиков двух перекрывающихся гомологических рядов характеристических ионов недостаточно разделены и экстраполяция огибающей интенсивностей пиков невозможна, разделение пиков этих ионов может быть произведено следующим образом [c.204]

Масс-спектрометрический анализ сложных смесей, как правило, позволяет определить их групповой состав и распределение некоторых типов соединений по молекулярным весам. Структурная информация, содержащаяся в масс-спектре, при этом используется не полностью. Число индивидуальных соединеиий, содержащихся в сложных смесях, таких, как нефтяные фракции, концентраты и т. п., очень велико, поэтому установить индивидуальные особенности строения каждого соединения в смеси невозможно. Однако, рассматривая каждый тип соединений в смеси как определенную статистическую выборку из общей генеральной совокупности соединений данного класса, можно оценить средние значения и распределения некоторых структурных элементов молекул так же, как определяется молекулярно-весовое распределение по интенсивностям пиков молекулярных ионов. [c.205]

Одним из наиболее характерных направлений распада молекул органических соединений под действием электронного удара является отщепление алкильных заместителей от циклических ядер или функциональных групп. Ионы (М—R)+, образующиеся при таких процессах распада, как правило, имеют интенсивные пики в масс-спектре. Их масса соответствует оставшейся части молекулы, включающей циклическое ядро или функциональную группу и остальные заместители. Если вторичные процессы распада осколочных ионов, образовавшихся при отщеплении алкильного заместителя, не очень интенсивны, то разность между средними массами молекулярных и рассматриваемых осколочных ионов может охарактеризовать среднюю дЛИну отщепляемого заместителя. Подобным образом были найдены величины наиболее длинных заместителей у молекул некоторых типов ароматических сернистых соединений [7], [c.205]

Совокупность молекулярных и осколочных ионов, возникающих при определенных условиях работы прибора, образует масс-спектр, и каждое вещество (каждый углеводород) имеет свой собственный спектр, зависящий от его строения и молекулярного веса. На рис. 179 приведен масс-спектр изобутана по оси абсцисс отложены массовое числа, по оси ординат — интенсивности пиков, отвечающих ионам оиределенной массы. Масс-спектр записан на потенциометре с ручным переключением пределов чувствительности. [c.263]

В ходе реакции (16.18) происходит столкновение молекулярного иона с нейтральной молекулой эта реакция — процесс 2-го порядка, и скорость ее пропорциональна произведению концентраций реагентов. Интенсивность пиков, получающихся благодаря этому процессу, будет зависеть от произведения парциальных давлений ВСОЕ и СОЕ. Изучая масс-спектр при различных давлениях, можно видеть, что относительные интенсивности этих пиков меняются, и поэтому такой процесс можно легко идентифицировать. [c.319]

Интерпретация масс-спектра представляет собой отнесение каждого основного пика в спектре к определенному фрагменту. Интенсивный пик соответствует высокой вероятности образования иона в процессе фрагментации. В отсутствие перегруппировки [уравнение (16.14)] расположение атомов в молекуле часто может быть установлено на основании масс образующихся фрагментов. Например, интенсивный пик при иг/е 30 в спектре метилгидроксиламина говорит в пользу структуры H3NHOH по сравнению со структурой HjNO Hj, поскольку этот пик может возникнуть только при разрыве связи О — N в первом соединении, но не может быть результатом какого-либо простого механизма [c.320]

Расчет теплоты сублимации основан на том факте, что интенсивность пиков в спектре прямо пропорциональна давлению пара образца в ионном источнике. Образец помещают в емкость с отверстием очень небольшого диаметра (ячейка Кнудсена), соединяющим ее с ионным источником, поэтому вещество может попасть в источник только за счет диффузии чфез это отверстие. Если ячейка термостатирована и в ней имеется достаточное количество образца, так что часть его всегда находится в твердом виде, то теплоту сублимации образца можно определить, исследуя изменения интенсивности пика (которая связана с давлением пара) в зависимости от температуры образца. Небольшое количество образца, диффундирующее в ионный источник, не оказывает заметного влияния на равновесие. При таких исследованиях были получены интересные результаты относительно природы частиц, присутствующих в паре над некоторыми твердыми веществами, имеющими высокие температуры плавления. В паре над хлоридом лития были обнаружены мономеры, димеры и тримеры, а в паре над хлоридами натрия, калия и цезия — мономеры и димеры [20]. [c.327]

Она называется кривой эффективности ионизации. Если энергия электронов заметно ниже энергии ионизации, то никаких ионов не возникает. Если энергия электронов равна энергии ионизации, то появляется пик очень низкой интенсивности, поскольку для ионизации в этом случае необходимо, чтобы при столкновении вся энергия электрона передавалась молекуле, вероятность чего не очень высока. По мере увеличения энергии электронов вероятность передачи ими энергии, достаточной для ионизации молекулы, увеличивается. При этом интенсивность пика растет, пока кривая не достигнет насыщения. Хвост кривой при низких энергиях возникает потому, что энергии электронов в пучке различны. Таким образом, для определения энергии ионизации необходимо проэк-страполировать кривую (пунктирная линия на рис. 16.6). В литературе [21] имеется подробное описание различных способов экстраполяции кривой и возникающих при этом ощибок. Если наблюдаемый пик представляет собой пик молекулярного иона (е + КХ -+ КХ + 2е), то энергию ионизации молекулы можно определить путем экстраполяции кривой эффективности ионизации. Если пик принадлежит фрагменту, то экстраполяция кривой эффективности ионизации дает потенциал возникновения этого фрагмента. Например, если исследуемый пик является пиком фрагмента Е молекулы КХ, то потенциал его возникновения Ац. получается путем экстраполяции кривой эффективности ионизации для этого пика. Потенциал возникновения связан со следующими пара- [c.328]

Как показано на рис. 16.10, фотоионизапця либо сильно связывающих, либо сильно разрыхляющих электронов приводит к изменениям равновесных длин связей. В этих случаях наиболее интенсивный пик (т. е. соответствующий вертикальной ионизащ1и) будет характеризоваться более высокой энергией, чем пик, соответствующий адиабатической ионизации (см., например, пик для N2). На самом деле относительные интенсивности (называемые коэффициентами Франка — Кондона) соответствующих колебательных пиков могут быть с достаточным успехом [39] рассчитаны теоретически. Для получения характеристик молекулярной орбитали, с которой удален электрон, оказываются также полезными колебательные частоты, наблюдаемые для состояния иони- [c.340]

Как видно из дифракционных картин Б и В (рис. 17.21) порошкообразных азидо- и цианато-систем, положения и интенсивности пиков почти в точности совпадают с этими же параметрами на рис. 17.21, X. Сходство в положениях пиков означает, что во всех трех случаях размеры элементарной ячейки одинаковы. В этом есть определенная польза, но важно содержимое ячейки, поэтому следует подробно изучить интенсивности. Имеет место такое хорошее соответствие, что бьшо бы удивительным, если бы две из этих структур сильно отличались одна от другой. Каждый катион почти определенно является димером, и для того чтобы размер димера во всех случаях оставался почти одним и тем же, системы с X = (Nj)j и (O N ), можно изобразить следующим образом [c.388]

Дифракционные картины Д и исключительно похожи во многих отношениях и имеют много общего с картиной Г относительно наиболее интенсивных линий. Следует предположить, что при замене S N и Se N на O N, если даже геометрии систем похожи, большие электронные плотности на атомах S и Se должны приводить к заметному изменению интенсивностей линий при рассеянии рентгеновских лучей. Поэтому можно сказать, что дифракционные картины Д и также похожи, как и следовало бы ожидать, если бы все три структуры были похожи. Результаты согласуютс.я с аналогичными структурами. Особенно заметно увеличение интенсивности пиков при больших углах с увеличением массы мостиковой группы оно станет понятным после обсуждения, проведенного в разд. 17.5. [c.390]

Циклоалканы несколько более устойчивы к электронному удару, чем алканы, причем шестичленные циклы стабильнее пятичленных, а бици-клические циклоалканы более стабильны, чем моноциклические. Пятичленные циклоалканы образуют интенсивный пик с массовым числом (М — 28) + и менее интенсивный пик (М — 70)+, соответствующий отщеплению радикала и миграции водорода [c.94]

Пусть pi(n) и Р2(п) —нормированные распределения интенсивностей пиков характеристических ионов двух типов соединений р(п) — распределение интенсивностей Циков данного гомологического ряда в масс-спектре анализируемо й смеси. Тогда р(п) = = aiPi(n) -f a2P2(n). Коэффициенты ai и aj (ai -f = 1), определяющие вклад каждого из рассматриваемых типов соединений в суммарное распределение пиков ионов данного гомологического ряда, могут быть найдены методом наименьших квадратов. Распределения pi(n) и Р2(п) находятся из эталонных смесей, содержащих соединения только одного из рассматриваемых двух типов. Этот метод может быть распространен и на большее число перекрывающихся гомологических рядов характеристических ионов.Точность его определяется степенью соответствия распределений интенсивностей пиков соответствующих ионов в эталонных смесях и в анализируемой смеси. Это соответствие легко может быть оценено по величине невязок при определении коэффициентов методом наименьших квадратов. [c.204]

Количественная характеристика распределения алкильных заместителей по длине и степени замещения может быть найдена с использованием распределений интенсивностей пиков молекулярных и осколочных ионов, образованных при отщеплений этих заместителей [8], Условия получения масс-спектров должны быть такими, чтобы вторичные процессы распада были бы сведены к минимуму. Для ароматических сернистых соединений типа тиофенов, бензотиофенов и т. п. такие процессы малоинтенсивны даже при обычно используемых энергиях ионизирующих электронов 50—70 эВ. Для насыщенных циклических сульфидов следует использовать более низкие энергии ионизирующих электронов 12—18 эВ, при которых энергия, передаваемая молекулярному иону, достаточно велика, чтобы вызвать его распад, но недостаточна для осуществления целой цепи последовательных распадов. Цепь распадов в этом случае останавливается на первом этапе. [c.205]