Рентгеновские оптические системы

Основными элементами рентгеновского спектрографа являются 1) источник возбуждения спектра, состоящий либо из рентгеновской трубки высокой энергии (как в случае флуоресцентного анализа), либо из хорошо сфокусированного пучка электронов (в методах локального анализа) 2) рентгеновская оптическая система с диспергирующими элементами (для выделения характеристического рентгеновского излучения) и 3) система измерения интенсивности линий (в том числе интегральной интенсивности). Диспергирующие оптические элементы не всегда применяют. [c.210]

А. РЕНТГЕНОВСКИЕ ОПТИЧЕСКИЕ СИСТЕМЫ [c.210]

В камере РКВ-86А имеется оптическая система 4, превращающая прибор в однокружный оптический отражательный гониометр. С помощью этой оптической системы можно проводить гониометрические измерения и установку хорошо ограненного и хорошо отражающего кристалла оптическими методами непосредственно в рентгеновской камере. [c.129]

Рентгеновский эмиссионный анализ можно осуществить в электронном микроскопе, присоединив рентгеновский спектрометр это позволяет исследовать обратно рассеянные рентгеновские лучи в сущности, микроскоп в данном случае функционирует как микрозонд. Его пространственное разрешение определяется диаметром падающего пучка электронов, который в обычном электронном микроскопе превышает 0,5 мкм. Это значительно больше, чем диаметр пучка электронного микрозонда или сканирующего электронного микроскопа, где применяется другая электронно-оптическая система и диаметр пучка может достигать 2 нм. Однако разрешение, соответствующее такому малому диаметру пучка, получить не удается, так как рентгеновские лучи испускаются областью, размер которой определяется длиной пути возбуждающего электрона без потери энергии до значения, равного или меньшего критическому значению испускания рентгеновских лучей. На практике для электронного микрозонда или сканирующего электронного микроскопа энергия возбуждающих электронов составляет 5—30 кэВ и рентгеновские лучи испускаются подповерхностной областью объемом [c.399]

Обычно приводимая характеристика локальности микроанализа относится к оптимальному размеру диаметра электронного пучка, который определяется качеством электронно-оптической системы и не зависит от исследуемого объекта. В действительности, разрешающая способность микроанализа при заданном диаметре электронного зонда определяется глубиной проникновения и рассеянием электронов в исследуемом микрообъеме, а также областью возбуждения вторичного рентгеновского излучения и, следовательно, зависит от характеристик образца. [c.66]

Кроме двойных окислов в системе Ре—Са—О было обнаружено образование более сложных (тройных) соединений -типа X СаО-г/РеО-2 РегОз. Условия образования, стабильность и структура тройных окислов подробно рассмотрены в работах [90, 92, 105]. На рис. 36 представлена часть диаграммы СаО—РеО—РсгОз [92], примыкающая к гематитовому углу. Исходя из структурных особенностей ферритов кальция, можно ожидать, что они не образуют твердых растворов с ферритами шпинельного типа. Рентгеновские, оптические и магнитные измерения [106, 107] подтвердили, что при 1190°С феррит кальция совершенно не растворяют магнетита, однако магнетит способен растворять до 14 мол.% феррита кальция. Аналогичным образом в феррите цинка можно без изменения структуры заместить до 35% ионов цинка ионами кальция. [c.100]

В рентгеновских микроанализаторах электронно-оптическая система формирует электронный луч-зонд диаметром 1...2 мкм", направляемый на анализируемый образец, вернее в какую-то точку на анализируемом образце или зерно . Флуоресцентное излучение элементов, входящих в состав зерна, кристалл-анализатором разлагается в спектр, а детектором определяется интенсивность отдельных линий. Применение электронного зонда позволило решить ряд важнейших задач теоретического и практического характера найти распределение данного элемента по поверхности образца, определить состав отдельных участков поверхности и т. д., что имеет особое значение в металлургической промышленности, электровакуумной технологии, геохимии, биологии и т. д. [c.128]

Основная цель рентгеноструктурного анализа кристаллов заключается в том, чтобы путем соответствующего рассмотрения картины рассеяния рентгеновских лучей получить изображение структуры, рассеивающей рентгеновские лучи. Эта задача решается в два этапа сначала измеряют интенсивности излучения, рассеянного объектом, после чего путем преобразования картины рассеяния получают изображение. В аналогичном оптическом случае, когда объект, рассеивающий свет, наблюдают с помощью микроскопа, проблемы фурье-преобразования не существует, так как это обеспечивается самой оптической системой при этом рассеянные лучи автоматически связаны правильными фазовыми соотношениями. В случае рентгеновских лучей эта задача может быть выполнена только с помощью фурье-преобразования. [c.27]

Из уравнения (1) следует, что наблюдение дифракционных максимумов, т. е. выделение необходимых длин волн рентгеновского излучения, на кристалле с межплоскостным расстоянием й возможно только при определенных соотношениях между Я и ф. Различным значениям угла ф установки кристалла по отношению к оптической системе соответствуют разные длины волн отраженного излучения. Установив детектор рентгеновского излучения на пути отраженного пучка, можно измерить суммарную интенсивность лучей тех длин волн, которые удовлетворяют условию (1). Все эти положения и лежат в основе кризе [c.36]

Если анализируемой системе сообщать достаточную энергию, то электроны атомов переходят в возбужденное состояние и примерно через 10 с спонтанно возвращаются на нижележащие энергетические орбитали с эмиссией избыточной энергии в виде дискретных и характеристических для каждого вида атомов электромагнитных колебаний в видимой, ультрафиолетовой или рентгеновской областях спектра. При этом спектры носят линейчатый характер. При возбуждении валентных (оптических) электронов свободных атомов излучаемые линии расположены в видимой и ультрафиолетовой областях спектра. При возбуждении электронов внутренних орбиталей атома излучаются кванты с более жесткой энергией (рентгеновское излучение). Линейчатые рентгеновские спектры могут быть получены при облучении анализируемого вещества электронами (рентгеноспектральный метод анализа или более жесткими, чем излучаемые, рентгеновскими квантами (рентгенофлуоресцентный метод анализа). [c.8]

Еще одним подтверждением этого является тот факт, что размеры ядер ССЕ определяемые рентгенографически, имеют заниженные значения по сравнению с таковыми, найденными электронномикроскопическим анализом [9]. Поскольку дифракционная картина на рентгенограмме может быть получена только на упорядоченных структурах, периферийные области ССЕ некомпактного строения неспособны к рассеиванию рентгеновских лучей, но обнаруживаются в оптическом диапазоне. Таким образом,. подтверждается фрактальное строение элементов надмолекулярной структуры в нефтяных системах, [c.40]

Характерным примером организации комплексного контроля спиральных швов труб для транспортирования горючих жидкостей и газов является Дунайский металлургический комбинат (ВНР). На этом комбинате трубы диаметром 300—1000 мм с толщиной стенок 5—12 мм вначале контролируют автоматической ультразвуковой установкой типа Душа-2 (см. табл. 34), а затем дефектную группу изделий просматривают на механизированной рентгеновской установке с электронно-оптическим преобразователем фирмы Филипс (Голландия). Скорость контроля составляет 1—1,5 м/мин. В том случае если дефекты с ее помощью не обнаруживаются, то производят ручной ультразвуковой контроль. Такая трехступенчатая система испытаний необходима при контроле труб из высокопрочных марок сталей, для сварных соединений которых характерными дефектами являются кристаллизационные [c.242]

Методом зондовой сканирующей микроскопии можно проводить комплексное изучение поверхности полимеров для оценки пространственного распределения эластичности, магнитных, электрических, оптических и химических характеристик поверхности [12]. При наличии спектрометра рентгеновского излучения, снабженного компьютерной системой, можно осуществить количественный элементный анализ пробы с разрешением I мкм. [c.358]

Повысить чувствительность контроля и использовать более мощные излучатели позволяют рентгенотелевизионные системы, в которых видимое изображение на экране или монокристалле воспринимается электронно-оптическими преобразователями (РИ-ЮЭ) или передающей телевизионной трубкой (РИ-ЮТ, РИ-20Т и др.). Рентгеновский интроскоп РИ-ЮЭ построен в виде компактной установки, подобной РИ-ЮФ, но в отличие от последнего изображение, полученное на сцинтилляционном кристалле Сз1(Т1), проецируется объективом Юпитер-3 на каскадный электронно-оптический преобразователь, а затем более яркое изображение изучается оператором или фотографируется. Это позволяет с помощью той же рентгеновской трубки и в тех же условиях, что и у интроскопа РИ-ЮФ, увеличить максимальную толщину просвечивания [c.326]

Несмотря на наглядность данного метода, все же контраст наблюдаемой картины недостаточен. Для увеличения контраста используется монохроматическая подсветка через затравку и монокристалл. Изображение выделяется с помощью селективных фильтров. Наряду с контролем диаметра удается получить картину распределения температуры на поверхности монокристалла и расплава, используя для этого передающую камеру высокой спектральной чувствительности в инфракрасном диапазоне. В том случае, если на поверхности расплава образуется оптически непрозрачный слой, то для его просвечивания используются рентгеновские лучи. Полученное при этом изображение проецируется на флюоресцентный экран и после усиления яркости анализируется. Контраст изображения зависит от угловых размеров фокуса рентгеновской трубки и соотношения коэффициентов поглощения кристаллизуемого вещества, а также от состава слоя на поверхности расплава и конструкции нагревательной системы. [c.145]

Рассмотрены основные методы неразрушающего контроля и диагностики радиационные, магнитные, вихретоковые, электрические, оптические, вибрационные, акустические, комплексные системы качества продукции, методы и средства медицинской диагностики, промышленная рентгеновская вычислительная томография, системы технического зрения, специальные методы экологической диагностики. Даны рекомендации по выбору и применению методов и средств НК и Д, технические характеристики отечественных и зарубежных приборов, технология эксплуатации приборов, передвижные средства контроля зафязнения окружающей среды. [c.4]

Размеры фокуса рентгеновских трубок стремятся по возможности уменьшить. Диапазон размеров оптического фокуса составляет от минимального значения (1x8 мм) до максимального (2,5 х 12 мм). Толщина выделяемого слоя в существующих системах составляет 1. .. 10 мм. [c.188]

Рентгеновский микроанализатор МАР-1 (МАР-2) представляет собой двухтумбовый стол, в котором размещены основные узлы и системы 1) электронно-оптическая система, состоящая йз электронной пушки и электромагнитных конденсаторной и объективной линз, собирающих электроны в узкий пучок 2) вакуумная система, состоящая из колонны, в которую вмонтированы электроннооптическая система и держатель образцов, а также соответствукэ-щих насосов 3) два рентгеновских спектрометра 4) оптический микроскоп 5) механическое устройство для перемещения образца. В МАР-1 используется неподвижный электронный луч, относительно которого механическим способом перемещается образец. [c.151]

IXA-3A (Япония). Рентгеновский микроанализатор электронно-оптическая система состоит из электронной пушки и фокусирующей электромагнитной линзы. Благодаря высокоА-абильным источникам питания эта система дает возможность получить стабильный во времени и, следовательно, пригодный для продолжительных измерений пучок электронов диаметром менее 1 мкм, интенсивность которого можк о регулировать от О до Ю Д, Ускоряющее напряжение меняется ступенями через пять киловольт от О до 50 кВ. [c.154]

Изображение с рентгеновского экрана проецируется оптической системой на фотокатод усилителя света, из которого под действием падающего света эмиттируются фотоэлектроны в соответствии с распределением интенсивности падающего света. Следующее преобразование осуществляется катодолюминесцентным экраном, который излучает свет в видимой части спектра под действием энергии фотоэлектронов. Электроны, освобожденные из фотокатода, сфокусированы в плоскости катодолюминесцентного экрана. Усиление яркости в усилителе света, как и в РЭОПе, осуществляется благодаря увеличению энергии фотоэлектронов под действием ускоряющего поля и в результате электронно-оптического уменьшения изображения. Усилители света бывают одно- и многокамерные, с электростатической или электромагнитной фокусировкой электронного изображения. [c.173]

Исследуемый образец в виде металлографического или минералогического аншлифа помещают в вакуумную объектную камеру микроанализатора. В процессе анализа образец наблюдается в оптический микроскоп и может перемещаться с помощью микроподач без нарушения вакуума. Таким образом осуществляется выбор и анализ строго фиксированной точки на поверхности шлифа. Специальная электронно-оптическая система, состоящая из электронной пушки и электромагнитных линз, создает сфокусированный на образце электронный пучок диаметром около 1 мк. Электроны с энергией до 50 кэв возбуждают атомы вещества в объеме в несколько кубических микрон и вызывают рентгеновское излучение. Излучение разлагается в спектр на рентгеновских спектрометрах с изогнутыми монокристаллами. Интенсивность спектральных линий измеряется счетчиками Гейгера, сцинтилляциопными (в коротковолновой области длин волн) и пропорциональными проточными счетчиками (в длинноволновой области) с соответствующими радиотехническими блоками для регистрации импульсов и записи интенсивности на самопишущем потенциометре. [c.60]

Микроанализатор (рис. 23.1) состоит из электрон-но-оптической системы для получения узкого пучка электронов (электронная пущка и две электромагнитных линзы) одного или более рентгеновских спектрометров для анализа излучения по длинам волн и интенсивностям светового микроскопа Для выбора участка образца, предназначенного для исследования устройства для получения растрового изображения объекта с использованием для модуляции интенсивности на экране катодно-лучевой трубки сигнала от спектрометра (интенсивности того или иного рентгеновского характеристического излучениия). [c.567]

Для идентификации смешанных пластмасс применяются оптические системы. Ранее рассматривались несколько технологий, первоначально разработанных для использования в промышленности пленочных упаковок. Оборудование для электромагнитного сканирования применялось для распознавания молекул хлора и разделения ПВХ и ПЭТ [17]. Рентгеновский флуоресцентный анализатор применялся в качестве фотоэлектрического детектора для идентификации прозрачного, зеленого ПЭТ, полупрозрачного или естественного ПЭВП, пигментированного ПЭВП и ПВХ. Сенсорная система подключалась к автоматической сортировочной линии. Автоматизация процесса снижает затраты и стоимость разделенных полимеров. Хотя грязь существенно не влияет на интенсивность флуоресценции от бутылок, бумажные этикетки ее снижают это, впрочем, не мешает выявлять виниловые бутылки [17]. Бумажные этикетки практически невидимы для рентгеновских лучей. [c.337]

А), который давал узкие линии и обеспечивал хорошее разрешение. Для регистрации использовали Гейгеровский счетчик с аргоновым наполнением, так как он более эффективен для L-линий тантала, чем для /(-линий ниобия. Эффективность оптической системы и сложность спектра демонстрируются рис. 74. История этой аналитической проблемы, теперь уже успешно решенной, свидетельствует о быстром прогрессе, происходящем в рентгеновской эмиссионной спектроскопии. Следующим этапом в развитии решения этой задачи, по-видимому, будет применение метода амплитудной дискриминации импульсов (см. 2.13). [c.215]

Острофокусная электронно-оптическая система описанного здесь микроскопа была дспользована в качестве основы для создания рентгеновского микроанализатора 287, 288]. [c.312]

Оптический микроскоп, система осветителей и зеркал позволяют наблюдать как массивные образцы, так и прозрачные минералогические шлифы в поляризованном или смешанном свете. Вмонтированный бинокулярный микроскоп МПС-1 имеет максимальное увеличение до X 120. Прозрачные объекты или флуоресцируюш,ий экран, нанесенный на прозрачную подложку, могут наблюдаться в их рабочем положении под зондом. Массивные образцы подводятся под микроскоп поворотом на 75° с помош ью эксцентрикового механизма. Вся оптическая система и механизм перемещения образца отъюстированы так, что центр рентгеновского зонда попадает в рабочем положении в ту точку образца, которая совмещена с окулярным перекрестием в положении наблюдение . [c.77]

В электронных микроанализаторах интенсивность основных спектральных линий достигает 10 имп1сек при токе зонда 10 а. Следовательно, для получения такой же чувствительности флуоресцентного микроанализа необходимо увеличить ток зонда на 5 порядков, т. е. до 10 а или, с учетом более высокой контрастности флуоресцентных спектров, до 10" а (100 мка). Такой ток зонда может дать обычная электронно-оптическая система стандартного микроанализатора. Проведенные нами экспериментальные оценки реально полученной чувствительности рентгеновского зонда подтвердили теоретический расчет. [c.79]

Следует подчеркнуть, что измерение скорости седиментации нативной ДНК нужно проводить при очень низких концентрациях (желательно около 10 мкг1мл). Для выявления ДНК в препаратах столь низкой концентрации приходится пользоваться УФ-онтической системой. Чтобы добиться максимальной чувствительности этой оптической системы, необходимо использовать высокочувствительные и высококонтрастные фото-.нленки. Медицинские рентгеновские пленки Кодак (США) и фотопленки [c.221]

Особое место занимают исследования коллоидной структуры нефтяных дисперсных систем методом рассеяния рентгеновских лучей под малыми углами [67 — 70]. Указанный метод проявляет чувствительность к полидисперсности и форме частиц исследуемых объектов, не зависит от их оптической плотности и многокомпонетнос-ти. Однако этим методом можно фиксировать только размеры ядра структурного образования, не включая сорбционно-сольватный слой, что связано с незначительным расхождением в значениях электронных плотностей сольватной оболочки и дисперсионной среды. Кроме этого, метод малоуглового рассеяния позволяет получать достаточно воспроизводимые результаты в случае слабоструктурированных систем, когда расстояние между соседними структурными образованиями намного превышает их размеры. С помощью рассматриваемого метода изучено [71] распределение по размерам структурных образований в нефтяных профилактических средствах. Показано, что в этих системах размеры частиц дисперсной фазы составляют от 1,7-3 нм до 40 нм, причем основу коллоидной структуры составляют частицы меньших размеров. [c.84]

Мезофазные сферы в момент их возникновения и при последующем росте, по данным световой микроскопии в поляризованном свете, а также дифракционного и рентгеноструктурного анализов, являются оптически одноосными положительными кристаллами гегсагональной системы. Показанные на рис. 2-4, а изгибы слоев приводят к тому, что на краях они перпендикулярны к касательной поверхности сферы. Это, по-видимому, способствует начальной коалесценции. В условиях относительно низкой подвижности мезофазы и случайной взаимной ориентации коалесцирующих сфер образования простой слоистой структуры не происходит. При этом возникают структуры, отличающиеся множеством дефектов упаковки слоев линейных, изгибов, нарушений непрерывности. Исследования профилей рефлексов (002) рентгенограмм мезофазы с учетом эффектов гьбсорбции и поляризации рентгеновских лучей, а также фактора рассеяния атомов углерода показывают, что средние значения межслоевого расстояния 002 равны примерно 0,350 нм [2-89]. Отдельные пачки слоев с разными значениями межслоевого расстояния имеют размеры до 2 нм. При нагревании сферы мезофазы могут расщепляться и приобретать относительно плоскую конфигурацию. То же происходит и при графитации мезофазы. Флуктуация межслоевых расстояний у графитирующейся мезофазы наивысшая. [c.46]

РЕНТГЕНОВСКИЕ ЛУЧИ — электро магнитные колебания весьма малой длины волн, возникающие при воздействии на вещество быстрыми электронами. Р. л. открыты в 1895 г. В. Рентгеном. Волновая природа Р. л. установлена в 1912 г. М. Лауэ, открывшим явление интерференции Р. л. в кристаллах. Это открытие явилось основой развития рентгеноструктурного анализа. Р. л. невидимы для глаза, обладают способностью вызывать яркую видимую флюоресценцию в некоторых естественных и в искусственно изготовляемых кристаллических веществах, они действуют на фотоэмульсию и вызывают ионизацию газов. Этими свойствами Р. л. пользуются для обнаружения, исследования и практического использования Р. л. Различают два типа Р. л. тормозное и характеристическое излучение. Тормозное излучение возникает при попадании электронов на антикатод рентгеновской трубки оно разлагается в сплошной спектр. Характеристические Р. л. образуются при выбивании электрона из одного из внутренних слоев атома с последующим переходом на освободившуюся орбиту электрона с какого-либо внен)не-го слоя. Они обладают линейчатым спектром, аналогичным оптическим спектрам газов, с той лишь разницей, что структура характеристического спектра, в отличие от оптического спектра газов, не зависит от вещества, дающего этот спектр. Зависимость от вещества проявляется только в том, что с увеличением порядкового номера элемента в периодической системе элементов Д. И. Менделеева весь его характеристический рентгеновский спектр смещается в сторону более коротких волн. Другой особенностью характеристических спектров является то обстоятельство, что каждый элемент дает свой спектр независимо от того, возбуждается ли этот элемент к испусканию в свободном состоянии или в химическом соединении. Это свойство является основой рентгеноспектрального йпализа. Р. л. широко используются в науке и технике. Высокая про- [c.213]

Из приведенных соотношений видно, что разрешающая способность пропорциональна Х для проекциоиного способа и для контактного способа. Очевидно, для оптического диапазона (X 0,2 0,8 мкм) разрешение не может превышать 0,2 мкм. Это ограничение оптического метода экспонирования может быть преодолено лишь при переходе в более коротковолновый, например рентгеновский, диапазон электромагнитного излучения, где X х, X, 0,5—5 нм. Однако реальные оптпческие системы, реальные условия формирования микроизображения не позволяет достичь и этих предельных значений и в настоящее время предельная разрешающая способность оптических методов не превышает 0,5—0,8 мкм, а хорошо освоенные и широко используемые процессы и системы обеспечивают разрешающую способность 1 —1,5 мкм. Кроме длины волны излучения и другие параметры ограничивают реальную разрешающую способность оптических методов и часто определяют возможность использования того или иного метода на практике. [c.26]

Помимо указанных типов рельефа, на пинакоиде могут образовываться так называемые поверхности вырождения (см. рис. 18, б). Ориентировка этих поверхностей чаще всего близка к грани положительной дииирамиды Г121 . Основными известными в настоящее время причинами появления таких вырождений являются следующие пониженная щелочность раствора, высокие температуры выращивания, недостаточный массообмен, повышенное содержание примеси алюминия в системе. По мере нарастания кристалла такие поверхности образуют паразитные пирамиды, которые (вследствие того, что они гораздо сильней, чем основная пирамида (с), поглощают структурную примесь алюминия) резко контрастируют на рентгеновских топограммах (см. рис. 18, б) и хорошо визуализируются -облучением. Паразитные пирамиды представляют собой оптический дефект, и соответствующие им участки должны выбраковываться при разделке кристалла на изделия. Установлено также, что поверхности вырождения образуются преимущественно при длительном наращивании кварца и поэтому в основном приурочены к наружным (прилегающим к поверхности роста) участкам кристалла. Очевидно, их формированию, помимо указанных выше внешних причин, способствует также процесс огрубления акцессорного рельефа по мере роста кристалла. Увеличение размера акцессорий, которое, несомненно, происходит с увеличением длительности цикла выращивания, должно сопровождаться возрастанием крутизны их склонов, что [c.93]

Система ЬаОВг ТЬ, является материалом, обнаруживающим интересные оптические свойства при фотостимулированной люминесценции. Он приобрел известность в медицинской диагностике при использовании рентгеновских лучей [356]. Материал с электролюминесцентными свойствами в виде соединения КЬаКЬзО , допированного висмутом, предложен в [357]. [c.299]

При использовании электронно-оптического преобразователя в качестве усилителя яркости преобразование изображения ионизирующего излучения в видимое осуществляется сцинтиллятором, флуороскопическим экраном или другим рентгеновским электроннооптическим преобразованием а изображение в видимом свете проецируется на фотокатод вторичного электронно-оптического преобразователя. Полученное на выходном экране более яркое изображение может быть подано на следующий электронно-оптический преобразователь, т. е. еще раз усилено по яркости. Системы таких электронно-оптических преобразователей называют каскадными и используют на практике до пяти каскадов усиления яркости. [c.306]

Управление процессом кристаллизации достаточно надежно разработано для установок по методу Чохральского, поскольку такие установки получили очень широкое распространение, особенно в связи с выращиванием полупроводниковых и диэлектрических монокристаллов. Объектом регулирования является диаметр растущего монокристалла. Среди многообразия способов регулирования практический интерес представляют регулирование мощности по заданной программе, линейной зависимости мощности нагрева и величины осевого градиента температуры в зоне кристаллизации, температуры по заданной программе. Кроме того, надежные системы управлештя и автоматизации удается создать путем оптического сканирования с использованием телевизионной системы, просвечртанием зоны кристаллизации рентгеновскими лучами, изучение характера изменения мениска расплава в инфракрасном и видимом диапазонах спектра с учетом изменений уровня расплава, а также веса кристалла (или тигля с расплавом) [110]. [c.143]

Для того чтобы получить удовлетворительное качество изображения и относительно невысокую лучевую нафузку в системах второго типа, необходимо уменьшить потери света при переносе изображения с рентгеновского экрана на фотокатод усилителя света. Для этого необходимо применять сверхсветосильную оптическую систему. [c.174]

Средства цифровой рентгенофафии, получившие практическое применение, по принципу формирования рентгеновского изображения можно разделить на следующие два класса аппаратуру электронно-оптической цифровой рентгенофафии (ЭОЦР) и системы, использующие технику сканирования диагностируемого объекта пучком излучения. [c.180]

В состав сканирующего устройства томографа входят рентгеновский излучатель многоэлементный блок рентгеновских детекторов элементы рентгеновской оптики (фильтры, коллиматоры, выравнивающие клинья, приводы сменных элементов оптики, элементы юстировки и т.д.) станина электромеханический узел (рама) пространственного перемещения излучателя и детекторов с центральным отверстием - туннелем, формирующим поле исследования пациента сервоэлектроприводы различные уравновешиватели и демпферы вибраций датчики координат кабели и трубопроводы, обеспечивающие питание, обмен информационными сигналами между подвижной и неподвижной частями сканирующей системы и охлаждение излучателя кабельное устройство, осуществляющее смотку, размотку и укладку кабеля при перемещениях подвижной системы оптическое визирное устройство, позволяющее правильно располагать пациентов в пределах поля исследования и совмещать невидимую плоскость рентгеновского излучения с исследуемой областью тела пациента. [c.189]