Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Спектрофотометрия погрешности

    Систематические погрешности гирь могут быть оценены путем их сверки с эталонами более высокого класса точности. Сверка по эталону —наиболее надежный способ оценки систематических погрешностей измерительных приборов. Периодич ская поверка различных приборов (весов, спектрофотометров, фотоколориметров, рН-метров, ионометров, радиометров и т. п.) — необходимое условие успешной работы аналитических лабораторий. В ходе таких поверок аналитические приборы калибруют или градуируют по шкале интенсивности аналитического сигнала (оптическая плотность, интенсивность излучения, сила электрического тока и т. д.), используя с этой целью специальные стандартные образцы. Кроме того, во многих случаях градуируют и шкалу развертки интенсивного параметра, например шкалу длин волн или частот излучения в спектроскопических методах. Именно такого рода периодическая ловерка сводит к минимуму систематическую составляющую инструментальной ошибки. [c.39]


    Интервал оптических плотностей, в котором общая погрешность измерения не превышает удвоенной минимальной, оказался несколько шире указанного кривой Шмидта (рис. 4.7, кривая /) и данными других авторов. Для однолучевых спектрофотометров и двухлучевых фотоколориметров этот интервал, в отличие от общепринятого (0,12—1,2), доходит до значений 1,35—1,45. В области малых значений оптических плотностей расширение интервала незначительно. [c.189]

    Метод или методика анализа дают лишь тогда правильный результат, когда он свободен от систематических погрешностей. Систематические погрешности могут возникать на любом этапе аналитического процесса и по разным причинам. Задача освобождения результатов измерений от систематических погрешностей требует глубокого анализа всей совокупности данных измерений. Например, наиболее вероятным источником систематических погрешностей фотометрических измерений могут служить недостаточная представительность состава отобранной аналитической навески, погрешности в подготовке аналитической навески к фотометрическим измерениям, погрешности градуировки весов, мерной посуды, шкал спектрофотометров (фотоко лериметров), несоответствие составов анализируемых и [c.24]

    Применяемые в аналитической практике приборы характеризуются определенным классом точности и часто удается снизить погрешность определения при использовании приборов с более высоким классом точности. Источником систематической погрешности может быть применение непроверенных разновесов, некалиброванной мерной посуды, смещение призмы спектрофотометра, темновой ток фотоэлементов и т. д. Систематические погрешности, в принципе, можно измерить и учесть. Часто систематические погрешности можно существенно уменьшить введением поправок, которые находят при калибровке или сравнении полученных результатов с показаниями другого прибора, имеющего более высокий класс точности и заведомо меньшую систематическую погрешность. Применение реактива, содержащего определяемый компонент или мешающую примесь, также вызывает систематическую погрешность. Тщательная предварительная очистка реактива уменьшает эту погрешность практически до нуля. [c.123]

    Спектрофотометр СФ-26. Спектрофотометр предназначен для изучения спектров поглощения жидких, твердых и газообразных веществ в диапазоне длин волн от 186 до 1100 м. Погрешность измерения на спектрофотометре СФ-26 в области спектра от 190 до 1100 нм по шкале длин волн составляет не более 17о- Погрешность градуировки шкалы длин волн  [c.44]


    Толщина кюветы определяется достаточно точно из интерференционной картины (стр. 130), но некоторая погрешность может возникнуть либо случайно, либо из-за неточности в калибровке спектрофотометра. Представим, например, что кювета толщиной 0,100 мм дает 20 максимумов в интервале 835 — 1835 см На абсциссе с линейной шкалой частот сдвиг бумаги или постоянная ошибка в калибровке, скажем на 5 см не будет влиять на вычисленные толщины. Однако нелинейная ошибка в калибровке на +5 см при 1835 м и на -5 см при 835 см" даст расчетную толщину 0,101 мм, или ошибку в 1 %. В то же время при использовании линейной шкалы длин волн смещение диаграммной бумаги на 0,025 мкм приведет к ошибке в толщине кюветы в 0,7% [c.249]

    Соответствующая структурная схема представлена на рис. 134. Значения и >2 (в соответствующем масштабе) вводят непосредственно с регистрирующего прибора, например с двухволнового спектрофотометра. Потенциометры настраивают в соответствии с известными величинами е .г и е 2 Выходной сигнал калибруют в единицах измеряемых концентраций и подают на самописец. Такая специализированная АВМ очень удобна для измерений большого количества однотипных образцов. Ее погрешность обычно не превышает 0,5%, если время протекания реакции больше нескольких секунд. Однако в подобных структурных схемах без интеграторов и с четным числом усилителей существует положительная обратная связь, что может привести к нестабильности в работе усилителей. Для предотвращения этого явления необходимо, чтобы общий коэффициент передачи в алгебраической петле был меньше единицы, т. е. (ег/е Е Чтобы это условие выполнялось, надо правильно выбирать величины и Лг. [c.350]

    Случайные погрешности измерения пропускания на стандартных спектрофотометрах лежат в интервале Si от 0,002 до 0,01, Значение 0,005 является типичным. [c.188]

    Применение дифференциальной спектрофотометрии для снижения погрешностей и расширения пределов спектрофотометрического измерения описано в разделе 1.4. Для систем с примесями применение дифференциального метода преследует другие цели и сам метод выглядит несколько иначе. [c.113]

    Первое слагаемое при абсолютной ошибке измерения пропускания 1 % при D = 0,434 равно 0,02. Два других слагаемых в уравнении (Х.122) составляют Де/е = 0,01 (минимальное значение) и Д/// = 0,001 (для кюветы толщиной 10 мм, измеренной с точностью до 0,01 мм). Поэтому Дс/с = 0,02 + 0,01 -f 0,001 = = 0,031. Следовательно, относительная погрешность определения концентрации составляет 3 /о- В лучших спектрофотометрах точность определения концентрации возрастает благодаря тому, что пропускание может быть измерено с точностью 0,05%. [c.652]

    Аналогичным образом, если у термометра несколько сдвинута измерительная шкала, и эта погрешность при измерении разности температур окажется скорректированной. Во многих методах исследования принцип коррекции заложен в саму конструкцию прибора. Так, в большинстве спектрофотометров измерения оптической плотности основано на поочередном сканировании исследуемого раствора и сравнительного раствора, имеющего близкий к нему состав, и вытекающей отсюда автоматической коррекции светопоглощения. [c.809]

    Лучшие результаты получают на спектрофотометрах, т. е. при измерении оптической плотности при монохроматическом свете. Некоторая погрешность связана также с показателем преломления раствора (/г). Для компенсации можно ввести поправку, подставляя в уравнение закона Бугера вместо е величину гп/ п 2) . Необходимо отметить, что при концентрации веществ меньше 0,01 М, как правило, эта поправка несущественна. [c.326]

    В т. н. дифференц. спектрофотометрии (и фотоколориметрии) светопоглощение анализируемого р-ра измеряют относительно р-ра сравнения, содержащего определяемый компонент а конц., близкой к конц. этого компонента в анализируемом р-ре, и имеющего оптическую плотность 0,43. Это позволяет определять относительно большие конц. а-в с погрешностью 0,2—1%. При фотометрич. титровании получают зависимость оптич. плотности от объема, прибавленного к анализируемому р-ру титранта (кривую титрования). По излому на этой кривой определяют конечную точку титрования и, следовательно, конц. исследуемого компонента в р-ре (см. Титриметрия). [c.631]

    Определение натрия в пентаоксиде ванадия [2711. Метод применен для определения 2-10 —2 10 % натрия (калия, кальция) в пентаоксиде ванадия предел обнаружения натрия составляет 0,05 мкг/мл, относительная погрешность определения 10—12%. Спектр возбуждают в пламени воздух—ацетилен и регистрируют спектрофотометром на основе спектрографа ИСП-51 с фотоэлектрической приставкой ФЭП-1. Используют резонансную линию натрия 588,995-589,593 нм. [c.130]

    Кроме ряда погрешностей, в равной степени свойственных непосредственной и дифференциальной спектрофотометрии, последняя обладает и присущими только ей погрешностями. Так, с ростом Оц значительно увеличивается величина щели, что приводит к ухудшению монохроматичности пропускаемого света, уменьшению измеряемых значений коэффициентов поглощения и наклона градуировочного гра- )ика >дифф = /(с). С ростом ширины щели возрастают также погрешности из-за нелинейности градуировочного графика и из-за рассеянного вета. [c.21]


    Наиболее существенный недостаток производной спектрофотометрии заключается в резком ухудшении отношения сигнал шум. Независимо от способа получения производных процесс дифференцирования сводится к измерению малых разностей близких величин. Поэтому погрешности в исходных значениях оптической плотности чрезвычайно сильно влияют на производные спектры. Значительное ухудшение воспроизводимости является той ценой, которую платит производная спектрофотометрия за выигрыш в селективности. [c.24]

    Следует отметить, что по сравнению с другими методами, излагаемыми в данном разделе, метод обращения кривизны требует соблюдения линейного поглощения примеси в меньшем интервале длин волн — только в непосредственной близости от Я акс основного вещества. К недостатку метода следует отнести субъективность визуальной оценки момента изменения кривизны дифференциального спектра. Как показано в работе [152, с. 24], погрешность метода для веществ с полосами поглощения малой полуширины составляет около 5%, а для веществ с пологими максимумами поглощения возрастает до 10—15%. Увеличение точности метода возможно при использовании производной спектрофотометрии. [c.105]

    В перспективе метод показателя поглощения — самый лучший метод, однако в настоящее время он неприменим на приборах класса стран СНГ (СФ-16, СФ-26, СФ-46, СФ-56), где Зе,, может достигать 10% и более для поверенных спектрофотометров [10]. Для снижения этой погрешности в ГФ XI предложено проверять шкалу пропускания спектрофотометров (в дополнение к поверке) по бихромату калия (т. I, с.37), [c.505]

    В заключение укажем на наиболее распространенные источники погрешностей, встречающихся при определении рКа- Так как температура влияет на pH буферных растворов и на рКа исследуемого соединения, необходимо проводить измерения индикаторного отношения в термостатированных кюветах при той же температуре, при которой были измерены pH буферных растворов. Состав буферного раствора в обеих кюветах спектрофотометра должен быть совершенно одинаков. Если измерения осуществляют на нерегистрирующем спектрофотометре, то после установки аналитической длины волны не рекомендуется изменять положение рукоятки длин волн до окончания анализа всей серии растворов [173, с. 59]. При исследовании некоторых типов красителей возможны дополнительные погрешности из-за сорбции красителя на стенках кюветы или, реже, влияния ионной силы раствора на спек--тры крайних форм (чаще—ионизированной формы). [c.120]

    Пример 8.5. Стандартное отклонение единичного измерения оптической плотности на старом спектрофотометре Si = 0,006 (ni = 13), а на новом — Sa = 0,004 пг = 11). Можно ли считать, что старый прибор характеризуется существенно большей погрешностью  [c.171]

    Количественное определение. Аналитическую пробу сырья измельчают до размера частиц, проходящих сквозь сито с отверстиями диаметром 1 мм. Около 2 г (точная навеска) измельченного сырья помещают в коническую плоскодонную колбу вместимостью 100 мл с притертой пробкой, прибавляют 40 мл 70 % спирта, закрывают колбу пробкой и взвешивают (с погрешностью 0,01 г). Затем колбу соединяют с обратным холодильником, нагревают содержимое колбы на водяной бане до кипения и поддерживают слабое кипение в течение 2 ч. После охлаждения колбу вновь закрывают пробкой, взвешивают, убыль в массе наполняют 70 % спиртом и настаивают при периодическом взбалтывании в течение 1 ч. Затем извлечение фильтруют через сухой бумажный фильтр в сухую колбу вместимостью 50 мл. Отбирают пипеткой 0,5 мл фильтрата, переносят в мерную колбу вместимостью 100 мл и доводят объем раствора 70 % спиртом до метки. Оптическую плотность полученного раствора измеряют на спектрофотометре при длине волны 260 нм в кювете с толщиной слоя 10 мм. В качестве раствора сравнения используют 70 % спирт. [c.351]

    Все измерения в метрологии делят на прямые и косвенные. При прямых непосредственных измерениях числовое значение измеряемой величины х сразу получается из показаний прибора, при помощи которого выполняется данное измерение, например значение оптической плотности или пропускания при отсчете по шкале оптической плотности (пропускания) спектрофотометра или фотоколориметра. Результат каждого прямого измерения включает случайную погрешность, которая зависит от большого числа случайных факторов. Если отклонения, вызванные случайныл1И факторами, сравнимы по абсолютному значению с чувствительностью прибора, то они обнаруживаются приборами, и при п измерениях одной и той же величины получаются результаты Ль Х2, л ,, х , которые могут отлй  [c.26]

    Метод показателя поглощения является наиболее простым вариантом однокомпонентного спектрофотометрического анализа. Он применим дяя контроля качества ЛС, если 8е.г не превышает 0.5% (спектрофотометры развитых стран), а также там, где не нужна особая точность (для контроля качества растительного сырья, в фармакокинетике и т.д.). Распространен в частных статьях ВР 1993, Основным преимуществом метода показателя поглощения является то, что он не требует применения стандартов, т.е. является прямым методом анализа (так же, как и титриметрия). Главный недостаток — чувствительность к классу прибора. Он чувствителен также к погрешностям в аналитической длине волны (АДВ), которую поэтому следует выбирать в максимуме поглощения. [c.505]

    Оценку погрешности производят как описано в разделе (XIX. 2). Погрешность измерений оптической плотности (АО) на спектрофотометре не превышает 0,001, и общая погрешность Ьпределения констант скорости составляет 5%. [c.264]

    Визуальная фотометрия основана на сравнении интенсивностей или оттенков окраски слоя анализируемой системы и серии р-ров или цветных стекол разной погло1цат. способности с исгюльз. визуальных фотометров и колориметров. Погрешность ви,1уальной фотометрии 10%, фотоколориметрии — 5%, спектрофотометрии — 2—3%.  [c.631]

    Кол-во компонента в хроматографич. зоне определяют непосредственно на слое сорбента по площади зоны (обычно ее диаметр варьирует от 3 до 10 мм) или интенсивности ее окраски (флуоресценции). Используют также автоматич. сканирующие приборы, измеряющие поглощение, пропускание или отражение свега, либо радиоактивность хроматографич. зон. Разделенные зоны можно соскоблить с пластинки вместе со слоем сорбента, экстрагировать компонент в р-ритель и анализировать р-р подходя1цим методом (спектрофотометрия, люминесцентный, атомно-абсорбци-онный, атомно-флуоресцентный, радиометрич. анализ, масс-спектрометрия и т.д.). Погрешность количественного определения обычно составляет 5-10% гтределы обнаружения в-в в зонах-10 -10 мкг (по окрашенным производным) и 10" °-10 мкг (с применением люминесцентного анализа). [c.609]

    Было широко изучено члияние некоторых хорошо известных источников ошибок на количественные измерения ИК-спектров и проведена оценка величины результирующих ошибок. Эти факторы включают погрешности в пропускании, положении нулевой линии и /о, обусловленные шумами и рассеянным светом, ошибки записи на самописце, возникающие из-за конечного времени отклика сервосистемы, и ограниченное разрешение спектрофотометра. [c.254]

    Погрешности метода, или инструментальные погрешности, связаны с методом и прежде всего с инструментом для измерения аналитического сиг-йала. Самый простой пример ошибок такого типа — погрешность взвешивания на аналитических весах, обусловливающая систематическую погрешность гравиметрического метода анализа. Так, если погрешность взвешивания составляет 0,2 мг, то минимальная относительная погрешность гравиметрического определения (при навеске 1 г) составит 0,02%. Периодическая проверка аналитических приборов (спектрофотометры, иономеры, поляро-графы, хроматографы и т. д.) сводит к минимуму систематическую составляющую инструментальных погрешностей. Так как в большинстве методов анализа используют образцы сравнения, то к погрешностям метода часто относят погрешности образцов сравнения, в частности стандартных образцов, обусловленные несоответствием истшшого и номинального содержания в них компонента, различием общего химического состава и структуры анализируемого образца и образца сравнения. Инструментальная погрешность обычно составляет лишь небольшую долю общей погрешности результата химического анализа. [c.37]

    Атомно-абсорбционный метод применен для определения натрия Б солончаковых и подпочвенных водах с использованием спектрофотометра A arian-Te htron АА-120 [1031]. Источник света — лампа с полым катодом. При электросопротивлении воды 5-10 МОм-см пробы разбавляли в 5 раз. Изучено взаимное влияние элементов и анионов — сульфата и хлорида. В интервале концентраций натрия 5-10 —4-10 % определение проводили по линии 330,2 нм 1 10 — 5-10 % — по линии 589,6 нм (погрешность 4%). Этот же метод применен без разделения и концентрирования [646]. В слабоминерализованной воде натрий определяли после концентрирования в 1000 раз методом электроосмоса 318]. В речной воде определяли натрий без дополнительного разбавления с использованием спектрофотометра, сконструированного на основе спектрографа ИСП-51 с приставкой ФЭП-1 и записью спектра на потенциометре ЭПП-09 в турбулентном пламени пропан—бутан—воздух [164]. [c.163]

    Навеску пробы 0,1—0,2 г растворяют в 70 мл HNO3 (1 прн нагревании, разбавляют до 100 мл водой и определяют натрий с пределом обнаружения 10 3% и относительной погрешностью 5% с помощью атомно-абсорбционного спектрофотометра на основе монохроматора УМ-2 в пламени пропан—бутан—воздух. [c.169]

    Раздельное описание погрешностей спектрофотометрического измерен связанных со сходимостью и воспроизводимостью результатов, не я1 . яется обш,епринятым. Оно представляется авторам целесообразные 1 р 1 экспериментальном изучении составляющих общей погрешности из, ерения на конкретном спектрофотометре или в серии измерений объекта на ряде приборов. [c.13]

    Экспериментальная зависимость относительного с. о. Хвоспр/О от ве- нчины О для спектрофотометра СФ-26 представлена на рис. 1.2. Аналогичные зависимости характерны для спектрофотометров других типов. Анализ этих зависимостей показывает, что оптимальное по воспроизводимости значение оптической плотности Оопт лежит обычно в Интервале 0,5—0,8. Относительная погрешность спектрофотометриче- [c.13]

    По сравнению с оптической плотностью при одной длине волны азность оптических плотностей при двух длинах волн в меньшей сте-ени подвержена влиянию погрешностей эксперимента, связанных с Утностью раствора, непарностью кювет, поглощением растворителя приготовлением раствора сравнения. Этот выигрыш использован методе двухволновой спектрофотометрии, широко применяемом при сследовании биологических объектов, для которых характерна высо-эя степень мутности. [c.21]

    Ряд авторов считает, что более правильным является предположение о равноточности пропусканий (см. раздел 1.2). Тогда элементы матрицы погрешностей могут быть вычислены по уравнению Зо = = 0,434357- 10° [83], где 57 = 0,10,5% (абс.) в зависимости от класса прибора [59, 71, 72, 83]. Разлагая 10° в степенной ряд и ограничиваясь первыми двумя членами разложения, можно показать, что статистический вес измерения О приближенно пропорционален квадрату соответствующего пропускания Т [74, 84]. Наконец, иногда принимают постоянным относительное с. о. оптической плотности, т. е. величину 5д/0, что более или менее справедливо для интервала О л 0,2 ч- 1,7 (см. раздел 1.2.3). Элементы матрицы погрешностей в этом случае вычисляют из величин О и принятого значения Зо/О (например, 0,01 4-0,02 [66]). Все три рассмотренных варианта учета неравноточности оптических плотностей являются приближенными и вряд ли какой-нибудь из них заслуживает безусловного предпочтения. Вероятно, самым правильным путем оценки погрешностей Зо является их расчет по уравнению вида (1.12). Коэффициенты а и Ь в этом уравнении должны быть вычислены с помощью МНК для данного спектрофотометра и принятых условий работы. [c.54]

    Метод внешнего стандарта—это метод стандарта, в котором в качестве стандарта используется не исследуемое соединение, а другое. В качестве примера можно привести анализ каротиноидов в Каротолине (ФС 42-2405-85) при 450нм со стандартизацией по бихромату калия (внешний стандарт). В дополнение к недостаткам и преимуществам метода стандарта, метод внешнего стандарта имеет некоторую дополнительную погрешность (ее довольно трудно оценить, но она увеличивается с увеличением уровня рассеянного света на спектрофотометре), связанную с несоответствием спетсгров поглощения исследуемого соединения и внешнего стандарта. [c.495]

    Отметим, что в ГФ XI описана многокомпонентная многоволновая спектрофотометрия в варианте метода показателя поглощения (обыч-ньтй МНК, или метод Фирордта), которая непригодна для контроля качества ЛС на спектрофотометрах стран СНГ из-за большой погретштости градуировки (см. Приложение 2). В ГФ XI не описаны татоке ни способ выбора аналитических длин волн, ни прогноз погрешности, без которьтх включение методик в НТД бессмысленно. [c.497]

    В частности, при работе на спектрофотометрах типа СФ-16 8д.г = 0.45% (с учетом кюветной погрешности [69]). Полагая 8е, = 2.8% (см. 4.5.5 — по инструкции к СФ-46 на самом деле эта величина может достигать 10% и больше [10]), Г = 3 (обычное рекомендуемое число повторных измерений оптической плотности) и Ву, О = 0.7%, получим даже в этом случае 85., = 2.9%, что превосходит рекомендации ГФ XI (не более 2%). При работе на спектрофотометрах развитых стран 8а.г = 0.1%, 8ег = 0.2%, и получим 8с.г = 0.73%, т.е. существенно мегтьше. [c.505]


Библиография для Спектрофотометрия погрешности: [c.518]   
Смотреть страницы где упоминается термин Спектрофотометрия погрешности: [c.172]    [c.19]    [c.20]    [c.188]    [c.8]    [c.492]    [c.493]    [c.493]    [c.496]    [c.497]    [c.505]   
Химическое разделение и измерение теория и практика аналитической химии (1978) -- [ c.642 , c.649 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Погрешность

Спектрофотометр

Спектрофотометрия



© 2024 chem21.info Реклама на сайте