Спектральный фотоэлектрические

Спектрофотометры. Спектрофотометрами называют спектральные фотоэлектрические приборы, специально предназначенные для измерения поглощения. Спектрофотометры рассчитаны обычно на исследование поглощения жидкостей и твердых тел, т. е. объектов с довольно широкими полосами поглощения. Поэтому большинство из них имеет сравнительно небольшие монохроматоры с шириной инструментального контура более 10 А. Наряду с этим делаются спектрофотометры с двойной монохроматизацией, что связано в первую очередь с необходимостью уменьшения рассеянного света. [c.127]

Большая производительность спектральных фотоэлектрических установок (квантометров) делает спектральный метод анализа экспрессным и экономически весьма эффективным при массовом анализе однотипных образцов сплавов и других объектов. [c.11]

Спектрофотометры. Спектрофотометрами называют спектральные фотоэлектрические приборы, специально предназначенные для измерения поглощения. Спектрофотометры рассчитаны обычно на исследование поглощения жидкостей и твердых тел, т. е. объектов с довольно широкими полосами [c.125]

Метод, основан на получении эмиссионных спектров анализируемого вещества на фотографической пластинке, помещенной в фокальной плоскости камерного объектива спектрального прибора (спектрографы различных типов). Спектральные линии элементов (качественный анализ) в полученном спектре идентифицируют относительно спектра известного элемента (обычно железа), фотографируемого рядом со спектром анализируемого вещества. В специальных атласах спектральных линий приведены фотографии спектров л<елеза, где относительно спектральных линий железа указано положение спектральных линий всех элементов с их длинами волн. Для проведения качественного анализа используют спектропроекторы или измерительные микроскопы. Количественный анализ проводят по результатам измерения относительных почернений спектральных линий гомологической пары и их сравнением с соответствующими величинами стандартных образцов. Почернения спектральных линий измеряют при помощи микрофотометров фотоэлектрическим способом. [c.25]

Все возрастающие требования к скорости и точности анализа обусловили внедрение в практику атомно-эмиссионного спектрального анализа фотоэлектрических способов [c.78]

Важным преимуществом фотоэлектрических измерений в спектральном анализе является то, что значение фототока с большой степенью приближения прямо пропорционально интенсивности измеряемой линии. Лишь в области сравнительно высоких световых потоков наблюдаются отклонения от этой линейной зависимости (рис. 3.11). Для сохранения линейности необходимо также, чтобы напряжения на динодах оставались постоянными независимо от интенсивности падающего света и анодного тока. С этой целью динодную цепь конструируют таким образом, чтобы сила тока через нее по крайней мере на два порядка превышала максимальное значение анодного тока. [c.80]

Линейная зависимость фототока от интенсивности падающего света существенно упрощает градуировку измерительной системы и позволяет получать результаты прямо в единицах спектральной яркости или пропорциональной ей величины (при фотографических измерениях интенсивность линии может измеряться только после проявления и фотометрической обработки спектрограммы). Кроме того, фотоэлектрические измерения характеризуются довольно высокой воспроизводимостью. В определенных условиях принципиально возможно снижение погрешности относительных измерений до 0,1 %, а погрешность около [c.80]

Простейшие способы фотоэлектрической регистрации возможны только при использовании источников возбуждения спектров, обеспечивающих постоянное во времени и пространстве свечение разряда. Поскольку такими свойствами большинство способов возбуждения спектров в достаточной степени не обладает, основным способом определения относительной интенсивности спектральных линий, принятым в квантометрах, является измерение заряда на накопительных конденсаторах (рис. 3.12, а). [c.80]

При проведении анализа небольшую пробу анализируемого вещестна переводят в парообразное состояние и возбуждают. Возникаюш,ее излучение (эмиссию) разлагают в спектр, который регистрируют на фотопластинке или фотоэлектрическим способом. По положению спектральных линий можно идентифицировать элементы, содержащиеся в анализируемой пробе, а по интенсивности линий определить количественные соотно- [c.369]

С 20-х годов XX в. начинает интенсивно развиваться количественный эмиссионный спектральный анализ благодаря использованию предложенного В. Герлахом (1924) метода гомологической пары линий. В качестве аналитического сигнала в этом методе использовалась относительная интенсивность спектральной линии определяемого элемента. С 1945 г. для измерения интенсивности спектральных линий стал применяться фотоэлектрический метод. Несколько раньше были сконструированы спектрофотометры с фотоэлектрической регистрацией интенсивности света для исследования и анализа растворов. Заметно прогрессирует метод фотометрии пламени, который в настоящее время стал иметь большое практическое значение. [c.11]

Излучение атомов всех элементов, присутствующих в пробе, разлагается в спектр призмой или дифракционной решеткой спектрального прибора и регистрируется фотографической пластинкой или фотоэлектрическим устройством. [c.43]

Регистрация спектров поглощения. При проведении абсорбционного спектрального анализа излучение источника света, разложенное в спектр в монохроматоре, необходимо принять приемником, а затем зарегистрировать. Фотоэлектрическая регистрация спектров сводится к усилению и регистрации электрических сигналов, возникающих в термо- или фотоприемниках под действием падающего излучения. [c.55]

Для получения спектров в далекой УФ-области (длины волн от 0,8-10- —3,3 10- м) применяют вакуумные спектрографы. Вакуумирование необходимо потому, что в этой области спектра поглощают молекулы многих газов и паров, входящих в состав воздуха. На рис. 7.20 дано схематическое изображение вакуумного спектрофотометра ДСФ-31 со спектральным диапазоном в далекой УФ-области 1,6—3,3-10 м и дифракционной решеткой, выступающей в качестве диспергирующей системы. Регистрация спектра в нем осуществляется фотоэлектрическим способом. Прибор рассчитан на определение в анализируемых пробах таких легких элементов, как углерод, фосфор, мышьяк, сера и др. [c.178]

Методика атомно-абсорбционного спектрального анализа заключается в том, что исследуемое вещество вводят в газовое пламя, одновременно пламя освещают светом с непрерывным спектром, например от лампы накаливания или от трубки с полым катодом (газоразрядная трубка, в спектре которой наблюдаются линии элементов, входящие в состав материала катода). В полученном спектре интенсивность света в области характеристических частот будет меньше интенсивности ближайших соседних участков спектра. Ослабление интенсивности в области характеристических частот измеряют при помощи фотоэлектрической установки. Между ослаблением интенсивности линии, характерной для данного элемента, и концентрацией этого элемента в исследуемой пробе наблюдается линейная зависимость. [c.244]

Фотоэлектрический спектрофотометр СФ-5. Для измерений в видимой области спектра применяют спектрофотометр СФ-5, который имеет стеклянную оптику и дает возможность проводить измерения в спектральной области 380—1100 нм. [c.256]

Однолучевой способ регистрации спектров является весьма трудоемким и применяется в настоящее время редко. Двухлучевой способ получил широкое распространение, так как позволяет регистрировать непосредственно спектр поглощения исследуемого вещества в виде кривой зависимости Г от Я (от V) либо О от % (от ) и исключает необходимость в каких-либо расчетно-графических операциях. Особенно широко применяются двухлучевые спектральные приборы с фотоэлектрической регистрацией спектра— спектрофотометры,— работающие по так называемому нулевому методу (рис. 12.1). [c.189]

Остановимся на отдельных видах шумов, важных при измерении фотоэлектрического сигнала в спектральном анализе. [c.79]

Основное преимущество спектрометрического метода состоит в высокой точности измерений ( + 0,1—1,0%) средних величин интенсивностей спектральных линий. Для спектрографического метода затруднительно получить результат с точностью ниже 5%. В зависимости от концентрации определяемого элемента точность будет меняться, Для измерения высоких концентраций элементов метод спектрометрии имеет явные преимущества. Для средних концентраций (0,1—0,01%) точность фотоэлектрического метода выше спектрографического в 2—3 раза, в то время как при анализе следов часто оказывается предпочтительнее использовать спектрографический метод. [c.113]

Можно указать ряд преимуществ фотоэлектрической регистрации спектра, а именно зависимость фототока от величины падающего светового потока линейна в очень широких пределах спектральная чувствительность фотоэлектрических приборов позволяет регистрировать световые потоки в близкой инфракрасной, недоступной пока фотоэмульсиям области. Для спектрометрического анализа более широкими являются линейный участок градуировочного графика и спектральная область излучения спектров. [c.113]

Свет, разложенный в спектральном аппарате в спектр, можно рассматривать визуально или зарегистрировать с помощью фотографии или фотоэлектрических приборов. Конструкция спектрального аппарата зависит от метода регистрации спектра. Для визуального наблюдения спектра служат спектроскопы — стилоскопы и стилометры. Фотографирование спектров осуществляют с помощью спектрографов. Спектральные аппараты — монохроматоры — позволяют выделять свет одной длины волны и его интенсивность может быть зарегистрирована с помощью фотоэлемента или другого электрического приемника света. [c.8]

Этот случай имеет место при фотоэлектрической регистрации спектра, когда выходная щель монохроматора шире спектральной линии. На приемник света попадает весь световой поток одной длины волны. Светосила при этом не зависит от фокусного расстояния объектива камеры, так как оно не влияет на общий световой поток, составляющий линию. [c.108]

Но во многих случаях практический интерес представляет не общая величина светового потока, а освещенность спектральной линии, т. е. световой поток, приходящийся на единицу ее площади. Действие света на фотографическую пластинку и глаз человека зависит именно от освещенности. При фотоэлектрической регистрации выходная щель монохроматора может вырезать только часть спектральной линии. В этом случае световой поток, проходящий за выходную щель, также пропорционален освещенности линии. [c.108]

Для проведения качественного и количественного анализа излучение источника света, разложенное в спектр в спектральном аппарате, нужно зарегистрировать. При количественном анализе, кроме того, необходимо измерить интенсивность спектральных линий. Обе эти операции проводят последовательно или одновременно. Например, при фотографическом методе сначала регистрируют спектр, а затем измеряют интенсивность спектральных линий по их почернению на фотографической пластинке. При фотоэлектрическом методе регистрация спектра и измерение интенсивности являются обычно одной операцией. Измерение интенсивности спектральных линий и полос (фотометрия) при количественном анализе всегда носит относительный характер. Никогда не измеряют абсолютные значения светового потока, составляющего спектральную линию в люменах, ваттах или других абсолютных единицах, а определяют интенсивность одной линии по отношению к другой. [c.152]

Другой важнейшей характеристикой методов регистрации является их точность. Ошибка в определении интенсивностей линий при их регистрации должна быть меньше, чем ошибки, связанные с источником света. Современные фотоэлектрические методы измерения интенсивностей спектральных линий обеспечивают высокую точность измерения, тогда как при визуальной и фотографической фотометрии измерение интенсивностей часто вносит большие ошибки в результаты анализа. [c.153]

Точность фотоэлектрической фотометрии превосходит точность других методов, так как здесь исключены субъективные ошибки глаза и ошибки, связанные с неоднородностью фотографических пластинок и их фотометрированием. Современные фотоэлектрические приборы обеспечивают измерение световых потоков, составляющих спектральную линию с ошибкой меньше 1 % от измеряемой величины. [c.187]

Проведите измерение относительной нлн абсолютной интенсивности нескольких спектральных линий на пламенном спектрофотометре или на фотоэлектрическом приборе для работы с электрическими источниками света. [c.199]

Относительная интенсивность линии измеряется непосредственно при фотографической фотометрии спектра, когда используют метод фотометрического интерполирования или метод с использованием характеристической кривой. Непосредственное измерение логарифма относительной интенсивности спектральных линий возможно также при использовании некоторых установок с фотоэлектрической регистрацией спектра. Во всех этих случаях удобно пользоваться постоянным графиком, построенным в координатах lg / -lg С. [c.268]

Спектральный аппарат — фотоэлектрический стилометр ФЭС-1 [c.279]

Одно из основных требований, предъявляемых к конструкции спектрального фотоэлектрического прибора, состоит в стабильности относительного положения выходных щелей и аналитических линий. Длины волн спектральных линий в вакууме изменяются по формуле Явак Ивозд возд. [c.49]

С помощью колориметрических методов определения цвета (прибор КНС, хромометр Сейболта), широко применяющихся в нефтепереработке, в стандартных условиях устанавливается степень очистки нефтепродукта, косвенно характеризующая суммарное содержание окрашивающих примесей [1]. Получение спектральных характеристик (коэффициент пропускания - на колориметре фотоэлектрическом концентрационном (КФК), аналогичном прибору ФОУ [2], более удобно при проведении лабораторных исследований и может с успехом применяться как достаточно чувствительный и универсальный экспресс-метод. Цветовые характеристики, снятые на приборах КНС и КФК для образцов, полученных в процессе контактной очистки (перемешивания очищаемого продукта с мелкодисперсным адсорбентом при повышенных темпе[ 1атурах) твердых парафинов куганакской глиной при разных температурах в течение 60 минут, соответствуютдруг другу (рис. 1). [c.114]

Теоретический анализ /25/ показывает, что распределение интев-сивности в спектре рассеянного света имеет сложный характер и зависит от кинетических свойств среды, в частности сяг наличкх в ней релаксационных процессов. Подробные исследования этих деталей спектральной картины рассеянного излучения потребовали разработки специальной методики, основным элементом которой является использование одночастотного лазера с предельно узкой линией собственного излучения. Необходимость в этом возникает в особенности при высоких температурах исследуемой жидкости (с ростом температуры компоненты триплета сближаются), при рассеянии под малыми углами и при изучении тонких деталей спектрал1 ой картины. Для этих исследований была создана специальная оптическая кювета, предназначенная для температур до 600° К под давлением до 50 МПа. Ра >-работанная система фотоэлектрической регистрации с синхронным детектированием обеспечивала высокую стабильность и чувствительность установки. [c.10]

Экспериментальные исследования спектров деполяризованного рэлеевского рассеяния в жидкостях производились с помощью установки /54/, несколько отличающейся от той, что была описана в гп. И, 1. Отличия сводились к тому, что в этом случае в качестве источника использовались более мощный лазер (аргоновый, мощностью 3 Вт) и другая спектральная система. Для измерения деполяризованных спектров применялся спектрограф ИСП-51 с камерой УФ-84 и фотоэлектрической системой регистрации. Измерения производились в жидкой фазе в бензоле, толуоле, параксиле, пиридине и ортокрезоле. [c.29]

Измерения оптической плотности растворов фуллеренов в четьфеххлори-стом углероде проводились с помощью концентрационного фотоэлектрического колориметра КФК-2 со светофильтрами, спектральные характеристики которых указаны в табл. 1.1. Для анализа при длинах волн 400-750 нм исследуемые растворы помещали в кварцевые кюветы рабочей длиной 1 = 5,0065 см и объемом 21 мл а при светофильтрах 315 и 364 нм использовали кюветы длиной / = 1,007 см и объемом 5,2 мл. [c.16]

Выпускают фотоэлектрические спектрометры двух типов сканирующие и многоканальные. Приборы первого типа имеют на выходе щель, иа которую последовательно выводят аналитические линии всех определяемых элементов, что ограничивает скорость анализа. Для одновременного определения содержания всех элементов в анализируемой пробе необходимо из спектра выделить соответствующее число линий разных элементов. Для этого в фокальной поверхности спектрального прибора устанавливают соответствующее число выходных щелей. Прибор такого типа называют иолихроматором или кваитометром. [c.70]

Измерения интенсивности спектральных линий в эмиссионном спектральном анлизе могут осуществляться визуальным, фотографическим и фотоэлектрическим способами. В первом случае приемником излучения служит глаз, во втором —фотоэмульсия, в третьем — фотоэлемент или фотоэлектронный умножитель (ФЭУ). Каждый метод имеет свои преимущества, недостатки и оптимальную область применения. [c.74]

Многоканальные фотоэлектрические спектрометры (каантометры) широка применяют а промышленности для экспрессного и маркировочного анализа металлов и сплавов. Типичная функциональная схема квантометра показана на рис. 3.31, Спектральный прибор представляет собой полихроматор, в котором входная ш,ель, вогнутая дифракционная решетка и передвижные выходные щели расположены по кругу Роуланда. Излучение источника света, работающего в атмосфере инертного газа, растровым конденсором направляется через входную щель на дифракционную решетку с радиусом кривизны 1—2 м и числом штрихов до 2400 на 1 мм. Дифракционная решетка разла- гает излучение в спектр и фокусирует его по дуге АВ. Выходные щели выделяют из этого спектра нужные линии. За выходными щелями расположены зеркала, направляющие выделенные излучения на фотокатоды фотоумножителей. [c.133]

Отношение интенсивностей спектральных линий может быть оценено на глаз визуальные методы), с помошью микрофотометра по почернению фотопластинки фотографические методы) и с помошью фотоэлементов, фотоэлектроумножителей и т.д. фотоэлектрические методы). [c.190]

Для регистрации спектральных линий применяются визуальные, фотографические и фотоэлектрические приборы и аппараты. В зависимости от способа регистрации спектра различают визуальный спектральный анализ, в котором спектр наблюдают в видимой области при помощи стилоскопов и стилометров или при помощи флуоресцирующих экранов, преобразующих невидимые ультрафиолетовые лучи в видимые. Визуальный анализ применяют в качественном анализе и иногда в количественном анализе. Если для регистрации спектров используют фотографические пластинки, то метод анализа называется фотографическим спектральным анализом. Особенно широко этот метод применяют в качественном и количественно анализе. В фотоэлектрическом спектральном анализе, который используется исключительно для количественного анализа, спектры регистрируются фотоэлектрическими приборами. [c.225]

Интенсивность. Под интенсивностью спектральной линии в спектре ислускапня обычно понимают энергию, переносимую излучением в е ии1Н1у времени. Наиболее часто понятие интенсивности спектральной линии, наблюдаемой н спектре испускания, отождествляют с понятием яркости источника излучения. Яркость — это мощность излучения, испускаемая источником света в единицу телесного угла с единичной площадки, расположенной перпендикулярно направлению наблюдения (рис. 1.3). При фотографической регистрации излучения под интенсивностью понимают меру почернения фотоэмульсии, при фотоэлектрической — величину электрического сигнала. [c.12]

Спектрометрический метод анализа отличается от спектрографического метода способом измерения выходного аналитического сигиала и основан на фотоэлектрической его регистрации. В основе спектральных методов с фотоэлектрической регистрацией спектров лежат те же зависимости, которые используются в визуальных и фотографических методах анализа. В современных приборах применяются такие радиотехнические схемы, которые представляют выходной сигнал как в виде i-рафнческой зависимости величины, пропорциональной иитенсивности спектральной линии от концентрации определяемого элемента, так и в виде цифровой записи. [c.111]

При фотоэлектрическом методе регистрации света для измерения интена1вн0сти спектральной линии или полосы нужно выделить излучение соответствующего участка спектра. Большинство приемников, например фотоэлементы, имеют слишком большие размеры и помещать их в фокальной поверхности спектрального аппарата нельзя — на них будет попадать свет от целого ряда близко расположенных спектральных линий. Для выделения одной линии или узкого спектрального участка сплошного излучения в фокальной поверхности перед приемником света располагают вторую выходную щель. Такие приборы называют монохроматорами. [c.144]

Последовательное определение различных элементов увеличивает продолжительность анализа и создает ряд других трудностей. Поэтому в настоящее время большое распространение получили фотоэлектрические приборы — квантометры, в которых все нужные элементы определяются одновременно. Для этого необходимо выделить значительное число (до нескольких десятков) аналитических спектральных линий разных элементов. Поэтому в фокальной поверхности спектрального аппарата устанавливают много выходных щелей. Такие приборы называют полихроматорами. Впрочем, название поли-хроматор относят часто не только к спектральному аппарату с несколькими выходными щелями, но и ко всему квантометру. [c.145]

Пример. При анализе на многоканальном приборе с фотоэлектрической регистрацией, для того чтобы определить ошибку анализа, связанную с нестабильностью самого нсточника света, нужно сначала определить общую ошибку, которую вносит регистрирующее устройство, спектральный аппарат и осветительная система. Для этого многократно определяют на приборе относительную интенсивность двух гомологических спектральных линий одного элемента и подсчитывают ошибку т . Затем в тех же условиях многократно определяют относительную интенсивность аналитической пары линий в одном образце нли эталоне и подсчитывают ошибку этого измерегшя т. Искомую ошибку /Ид, связанную только с нестабильностью самого источника света, подсчитывают по формуле [c.232]

Проверяют градуировку шкалы длин волн 29 по линиям ртутного спектра. Длины волн эмиссионного спектра ртути помимо атласа спектральных линий можно найти в аттестате каждого прибора, где имеется таблица длин волн линий ртутной лампы, по которым проверяют градуировку шкалы при выпуске прибора. Сущность данной проверки заключается в том, что, наблюдая визуально или фотоэлектрически прохождение через щель определенной линии ртути при вращении рукоятки 19 (см. рис. 86) шкалы длин волн, останавливают это вращение как раз в тот момент, когда через щель проходит максимум линии, и сравнивают полученное показание шкалы с данными атласа или аттестата. [c.261]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология