Детектор разрешение

Сочетание масс-спектрометрии с газожидкостной хроматографией дает превосходный метод анализа смесей. В этом случае требуются очень небольшие количества вещества. Масс-спектрометр используется в качестве детектора в газожидкостной хроматографии, и многочисленные масс-спектры регистрируются по мере поступления компонентов из колонки. Частично разрешенные пики в хроматограмме легко идентифицируют по изменению во времени масс-спектра вещества, соответствующего этому пику. [c.323]

В 1968 г. была опубликована важная работа [105], в которой впервые было описано использование твердотельного детектора рентгеновских лучей в электронно-зондовом микроанализаторе. Хотя эта система едва могла разрешать соседние элементы, она все же продемонстрировала возможность совместного использования двух приборов. В течение нескольких последующих лет разрешение детектора было значительно улучшено — от 500 эВ до менее чем 150 эВ, в результате чего эта методика стала существенно более пригодной к требованиям микроанализа. В настоящее время идея использования твердотельных детекторов в рентгеновской спектроскопии средних энергий (1 —12 кэВ) не является новшеством и их можно найти в боль-шо.м числе растровых и просвечивающих микроскопов, а также в рентгеновских микроанализаторах. [c.210]

Потребности производства вызвали разработку и внедрение новых методов исследования качественного и количественного анализа поверхностных слоев. Развитие получили методы, основанные на зондирующем воздействии на образец пучками фотонов, электронов, ионов, нейтральных частиц, электрического и магнитного полей и др. Все они (кроме магнитного поля) вызывают эмиссию вторичных частиц электроиов, ионов, фотонов или нейтральных атомов, передающих информацию о поверхности соответствующему детектору. Очевидно, что анализы проводятся в вакууме, и поэтому указанные методы применимы только для анализа твердых поверхностей. Большинство иа этих методов имеет разрешение по глубине не более 10 нм. [c.246]

Система напуска. При масс-спектрометрическом исследовании проба должна находиться в газообразном состоянии при давлении 10- —10 мм рт. ст. Такой глубокий вакуум необходим, чтобы ионы по пути к детектору практически не претерпевали столкновений. При больших давлениях происходит расширение направленного пучка ионов и наблюдается потеря разрешения и интенсивности. [c.285]

Во всех моделях хроматографов Цвет-500 (кроме 550) благодаря наличию дифференцирующего усилителя УД-2М возможна запись производной сигнала детектора, что дает дополнительные возможности по разрешению не полностью разделенных пиков, [c.117]

Анализ более сложных радиоизотопных композиций осуществляют с помощью полупроводниковых Спектрометров, несколько уступающих сцинтилляционным по чувствительности, однако значительно (на порядок) превосходящих их по энергетическому разрешению. При необходимости чувствительность можно повысить, используя дополнительный защитный сцинтиллятор, включенный с анализирующим Се(и)-детектором на антисовпадениях. [c.212]

В В. л. с. используют лазеры с большой длительностью импульса (10 - 10 с) или непрерывного действия обычно с перестраиваемой частотой. Измеряют весь спектр исследуемого в-ва или узкий его участок с помощью резонансных детекторов, спектрографов высокого разрешения с фотографич. или фотоэлектрич. регистрацией. Приборы с зарядовой связью позволяют проводить экспрессные измерения за время одного лазерного импульса. [c.394]

РЭМ и РМА в действительности два очень похожих прибора. Поэтому некоторые фирмы сконструировали приборы, которые могут работать как рентгеновский микроанализатор и как растровый электронный микроскоп высокого разрешения. На рис. 1.1 приведена блок-схема такого комбинированного прибора. В этом приборе как детектор вторичных электронов, так и детекторы рентгеновского излучения установлены ниже конечной линзы. Для количественного рентгеновского анализа и для измерения интенсивности рентгеновского излучения от легких элементов желательно иметь по крайней мере [c.10]

Добавляя эти вклады в квадратуре, мы получили бы реальный диаметр зонда, равный 5,2 нм (52 А). Таким образом, даже с образцом, который создает максимальный контраст, и с детектором, имеющим достаточную эффективность сбора, наименьший размер зонда и наилучшее разрешение, которое можно было бы получить, составляет приблизительно 5 нм. Разрешение можно улучшить лишь цри использовании лучших линз (с меньшими Схр и Ссф) и электронной пушки большей яркости. Исследование разрешения по краю объекта, демонстрируемого в действительности коммерческими приборами, дает типичные значения в диапазоне 3—10 нм. [c.158]

Естественное расширение обоих пиков обусловлено тем, что каждый моноэнергетический фотон, входящий в детектор, приводит к образованию неодинакового количества пар электрон — ион, так как имеется несколько конкурирующих механизмов рассеяния энергии первичного фотона. Разрешение детектора в процентах определяется как умноженное на 100 отношение ширины кривой распределения импульсов на полувысоте и средней амплитуды пика. Разрешение нормально работающего счетчика составляет 15—20%. Распределение импульсов должно иметь приблизительно гауссову форму и не содержать больших асимметричных хвостов. Желательно время от времени проверять это распределение, так как неисправности электроники и деградация трубки счетчика могут приводить к изменению положения пика, его ширины и/или симметрии, делая тем самым неверной предварительную установку одноканального анализатора. [c.204]

Рис. 5.20. Разрешение по энергии 51(Ь1)-детектора с учетом собственных шумов и шумов электронных схем в зависимости от энергии [54] (а). Перераспределение импульсов пика для линии Мп/с при разрешении 150 эВ (б).

Прямым следствием расширения пика является понижение его высоты (количества импульсов на интервал энергии) по сравнению с собственным пиком и сопутствующее уменьшение отношения пик/фон. Рис. 5.20, б демонстрирует эффект уширения линии Мп/с за счет детектора. В этом примере собственный пик шириной 2,3 эВ и высотой в максимуме, соответствующей 1000 импульсам, расширяется в пик шириной 150 эВ, а количество импульсов в максимуме снижается до 15. Поскольку энергетическое разрешение, согласно уравнению (5.6), является функцией энергии, для фиксированного количества импульсов по мере уширения пика с увеличением энергии амплитуда должна уменьшаться (рис. 5.21). [c.217]

Приведенные данные показьшают, что применение масс-спектрометрии в сочетании с хроматофафией дает дополнительные возможности при определении органических суперэкотоксикантов в объектах окружающей среды Благодаря тому, что масс-спектрометр является высокоселективным детектором, разрешение пиков на масс-хроматофаммах, как правшю, заметно лучше, чем на обычных хроматофамма . Кроме того, по масс-хроматофаммам можно получить ответ о природе анализируемых соединений [>го необходимо при идентификации зафязнителей, присутствующих в ульфамалых количествах [c.267]

В свинцовой защите установлены два счетчика Гейгера— Мюллера с тонкими окошками. Расстояние между окошками- счетчиков составляет 0,6 см. Полоса хроматографической бумаги шириной 2,5 см подается с катушки в промежуток между детекторами. Разрешение прибора можно изменять, регулируя ширину щелей коллиматора. При работе с изотопом на таком приборе можно детектировать активности, меньшие 0,2 нКи при фоне 10,5 имп/мин, хотя эффективность счета ниже, чем у газопроточного счетчика. [c.39]

Основной недостаток применения динамических масс-спек-грометров в качестве хроматографического детектора заключается в сравнительно низком качестве измерения отношений интенсивностей линии, получаемых при быстрой съемке спектра, и относительно низкой чувствительности. Эти недостатки были исключены при использовании в комбинации с хроматографом масс-спектрографа высокого разрешения [233, 234]. На одной пластинке можно зарегистрировать до 30 спектров, что позволяет расшифровать довольно сложную смесь. При этом для каждого хроматографического ника получают наи" более полную масс-спектрометрическую информацию. [c.128]

В экспериментах по исследованию эффекта Мёссбауэра в схеме на рассеяние, в особенности нри изучении дифракции мессбауэровских 7-квантов, удобно использовать так называемую фокусирующую схему в расположении источника, рассеивателя и детектора 7-квантов (рис. ХП.З). Такая геометрия съемки позволяет получать наибольшее угловое разрешение. Наиболее часто используется схема фокусировки по Бреггу — Брентано, для чего в конструкции мессбауэровских дифрактометров удобно использовать рентгеновские гониометры типа ГУР. [c.232]

В спектроскопии рассеяния быстрых ионов в качестве источника первичных ионов (в осн а-частиц) используют электростатич генератор, тандемный ускоритеть ионов или циклотрон Ускоритель ионов должен давать высокомоио-хроматичные пучки первнчных ионов в широком интервале Для регистрации энергетич спектра рассеянных ионов обычно применяют полупроводниковый детектор (с разрешением 5-20 кэВ) в сочетании с многоканальным анализатором импульсов [c.258]

О.-а. с. применяют для аналит. контроля газов (NH3, СО, СО2, HF, пары воды и др.), высокочувствит. анализа жидкостей (в частности, р-ров орг. соед., комплексов металлов) и твердых в-в (напр., руд). Оптико-акустич. детекторы используют гл. обр. в бумажной и тонкослойной хроматографии, где они позволяют определять в-ва непосредственно на хроматограммах. О.-а. с. дает возможность получать оптич, характеристики светорассеивающих образцов (полупровод ники, биол. объекты, полимеры и др.), измерять коэф поглощения, квантовые выходы люминесценции, теплопро водность разл. в-в, обнаруживать фазовые переходы в твер дых телах, исследовать хим. процессы на пов-сти твердого тела, изучать фотохим. р-ции и т.д. Лазерная оптико-акустич. микроскопия позволяет проводить локальный анализ твердых образцов с продольным разрешением 0,5-3 мкм и поперечным разрешением 1-5 мкм. [c.389]

Полупроводниковые детекторы обладают существенно более высоким энергетич. разрешением. На их базе созданы многоканальные рентгенорадиометрич. анализаторы, позволяющие определять одновременно 10-15 элементов с пределами обнаружения %. Для автоматизации процессов измерений и расчета концентраций элементов используют микро-ЭВМ, входящие в состав анализатора. Созданы программы, позволяющие проводить обработку сложных рентгеновских спектров пробы. С целью снижения (на 2-3 порядка) пределов обнаружения применяют методы хим. концентрирования (экстракцию, осаждение и др.). Недостаток полупроводниковых детекторов на основе 81 и Ое-необходимость их охлаждения жидким азотом. Разработаны детекторы с термоэлектрич. охлаждением и полупроводниковые детекторы (на основе HgI2 и др.), не требу Ю1дие охлаждения в процессе эксплуатации. [c.244]

Для разл. диапазонов X используют кристаллы-анализаторы с разными к (напр., 1лР, кварц, фтапат таллия). Увеличение К - радиуса окр)Жности Роуланда, проведенной через три точки в образце, кристалле-анализаторе и детекторе, повышает спектральное разрешение 6Е, но при этом уменьшает интенсивность 1. Величина АБ достигает обычно 10 эВ. В качестве детектора чаще всего используют проточные пропорциональные счетчики. [c.444]

Детектор объема злюата и регистрирующая система, которые аналогичны тем, что используются в приборах для ГПХ (разд. 25.9). В качестве растворителя обычно применяется вода. Как правило, время элюирования после ввода пробы составляет 100 мин, но, увеличивая скорость потока, его можно уменьшить до 10 мин, не проигрывая существенно в разрешении. [c.75]

Использование сигнала отраженных электронов открывает некоторые интересные возможности улучшения пространственного разрешения. Подробное изучение [37] свойств отраженных электронов с целью улучшения пространственного разрешения позволило разработать эффективный метод, в котором используются электроны с малыми потерями энергии . Этот метод основан на наблюдении того факта, что чем дальше электрон проходит в образец от точки падения первичного пучка, тем больше будет у него потеря энергии. Отраженные электроны, которые испытали потерю лищь 1% своей начальной энергии, так называе.мые электроны с малой потерей энергии , могут пройти лишь несколько нанометров до их отражения от образца. Предполагается, что такие электроны с малой потерей энергии выходят из образца главным образом за счет акта однократного упругого рассеяния на большой угол. Для того чтобы сделать максимальной генерацию электронов с малыми потерями энергии и направить их траектории в малый телесный угол выхода, образец сильно наклоняют, в результате чего возникает угловое распределение с резким пиком в направлении прямого рассеяния. Детектор электронов помещается в направлении прямого рассеяния, для того чтобы сделать максимальным собираемую часть сигнала. Для отсечкн всех электронов с энергией ниже некоторого значения КЕа, где К обычно устанавливается равным 0,95—0,99, используется система с сеткой с регулируемым потенциалом. Высокоэнергетические электроны с энергией Е/ЕоЖ затем после сетки ускоряются высоким напряжением и регистрируются системой типа сцинтиллятор-фотоумножитель. На изображениях, получаемых с помощью этой детекторной системы в сочетании с электронной пушкой высокой яркости, обнаруживаются самые тонкие струк- [c.162]

Характеристики твердотельного детектора отраженных электронов являются также привлекательными при получении изображений с высоким разрешением. Поскольку такой детектор создает сигнал, пропорциональный энергии электрона, и может не реагировать на электроны с энергией ниже порого Вой, он подчеркивает высокоэнергетическую часть сигнала, которая желательна для получения изображений с высоким разрешением. Малое усиление твердотельного детектора (10 ) по сравнению с фотоумножителем (10 ) ведет к ограничению скорости развертки при полученпп изображений с высоким разрешением и к возрастанию трудностей при работе с очень малым током. [c.164]

В приборах со сфокусированным пучком злектронов сигнал рентгеновского излучения довольно слабый, и можно полагать, что он исходит из точечного источника. Поэтому рентгеновские спектрометры с полной фокусировкой, работающие с изогнутым кристаллом, более широко используются по сравнению с спектрометрами, имеющими плоский кристалл. Спектрометры последнего типа обычно используются в рентгеновском эмиссионном анализе при возбуждении с помощью рентгеновской трубки. В спектрометре с полной фокусировкой типа Иоганссона, схема которого приведена на рис. 5.3, точечный источник рентгеновского излучения, образец, кристалл-анализатор и детектор перемещаются по одному и тому же кругу радиуса R, называемому кругом фокусировки. Более того, кристалл изгибается так, чтобы кристаллические плоскости имели радиус кривизны 2R, а сама поверхность кристалла шлифуется до кривизны радиуса R. При такой геометрии все рентгеновские лучи, выходящие из точечного источника, будут падать на поверхность кристалла под одним и тем же углом 0 и фокусироваться в одной и той же точке на детектО ре. Этим обеспечивается максимальная эффективность сбора рентгеновского излучения в спектрометре без потери высокого разрешения по длинам волн. Очевидно, что в случае плоского кристалла угол падения рентгеновских лучей будет изменяться по длине кристалла, что. приводит к уширению и возможному наложению пико1В, вследствие чего уменьшаются максимальная интенсивность пика и отношение сигнал/фон. Хотя применение щелей Соллера дает возможность получить более параллельный пучок лучей, падающих на кристалл, однако и в этом случае не удается избежать потери интенсивности сигнала. [c.193]

СКОЛЬКИМИ кристалл-дифракцнонными спектрометрами. Наличие нескольких спектрометров, каждый из которых имеет несколько кристаллов, необходимо не только для лроведения анализа одновременно по нескольким элементам, но также позволяет оптимизировать условия анализа в различных диапазонах длин волн, испэ-... уя имеющийся набор кристаллов. В табл. 5.1 приведены параметры наиболее распространенных кристаллов-анализаторов сравнительное разрешение, отражательная способность и величина межплоскостного расстояния. Так как sin0 не может быть больше единицы, то, согласно закону Брэгга, верхний предел максимальной длины волны, дифрагировавшей на любом данном кристалле, составляет 2d. Практические пределы зависят от конструкции спектрометра, поскольку из рис. 5.3 очевидно, что при sin 0=1, т. е. при 0 = 90°, детектор должен был бы находиться в точке источника рентгеновского излучения внутри электронно-оптической колонны. Нижний предел анализируемой длины волны следует из уравнения (5.2), поскольку становится физически невозможным придвигать кристалл-анализатор слишком близко к образцу. [c.196]

ДЛЯ ограничения подвижности ионов лития, предварительно введенных в кристалл кре.мния для нейтрализации центров рекомбинации, что дает возможность создавать большую область собственной проводимости желаемого размера. На неохлажденный кристалл ни в коем случае нельзя подавать смещение. Во многих системах в действительности предусмотрены устройства блокировки, отключающие смещение при нагреве кристалла или нарушении вакуума. Доступные в настоящее время сосуды Дьюара способны поддерживать низкотемпературные условия в течение нескольких дней, не требуя повторного наполнения. Заметим также, что кристалл и поддерживающий его хладопровод. хорошо изолированы от корпуса, что предотвращает конденсацию на последнем и обеспечивает удовлетворительную электрическую изоляцию. Очень полезна возможность механического перемещения кристалла детектора относительно образца без нарушения вакуума. Как будет обсуждаться ниже, может возникнуть ситуация, когда при фиксированном токе луча необ.хо-димо либо увеличить рентгеновский сигнал для получения лучшей статистики счета, либо уменьшить его для улучшения энергетического разрешения. Во многих случаях желаемую скорость счета можно получить простым варьированием расстоя- [c.212]

Проблема получения оптимального энергетического разрешения зависит не только от качества кристалла-детектора, окружающей его среды и связанной с предусилителем электроникой, но также и от рабочих характеристик главного усилителя. Для системы 51 (Ь )-детектора это имеет в особенности критическое значение, поскольку в отличие от кристалл-дифракционного спектрометра вся спектральная дисперсия осуществляется в электронной системе. Для обеспечения макоимальной линейности, низкого уровня шумов, быстрого восстановления при перегрузке и стабильности при высоких скоростях счета должны использоваться специальные схемы. Большинство промышленных усилителей снабжено схемами гашения для компенсации выброса импульса, когда используется внутренняя связь по переменному току, и схемой восстановления постоянной составляющей для привязки базовой линии импульсов к постоянному [c.223]

Для достижения максимально возможного энергетического разрешения для системы с дисперсией по энергии необходимо, чтобы главный усилитель имел достаточное время обработки каждого импульса с тем, чтобы получить максимальное отношение сигнал/шум. Это на практике означает, что оператор должен выбирать большую постоянную времени (т), обычно —10 МКС. Форма импульсов на выходе главного усилителя для т = 1, 6 и 10 мкс приведена на рис. 5.27. Важно отметить, что время, требуемое для возврата к базовой линии выходных импульсов при т=10 мкс, больше 35 мкс, в то время как при т=1 мкс требуется менее 5 мкс. Следо1вательно, использование больших постоянных времени, необходимых для достижения максимального разрешения, одновременно увеличивает вероятность того, что второй импульс поступит в главный усилитель прежде, чем пройдет первый. Этот момент также показан на рис. 5.27. Видно, что амплитуда импульса И, следующего через 20 мкс после импульса I, будет правильно оценена в 4 В при т=1 мкс, но составит 4,5 В при т = 6 мкс и 6,5 В при т=10 мкс. Если в реальной экспериментальной ситуации принимались бы такие импульсы, то соответствующие большим т были бы неверно определены в памяти многоканального анализатора и, следовательно, появились бы в неверных каналах электронно-лучевой трубки. Исключение таких случаев осуществляется в электронике системы при помощи схемы подавления наложения импульсов, блок-схема которой приведена на рис. 5.28 [109]. На рис. 5.29 даны эпюры напряжений на выходе соответствующих блоков в отмеченных точках. Сбор заряда в детекторе происходит очень быстро по сравнению с другими процессами, обычно за время порядка 100 не (точка /). В результате интегрирования этого заряда предусилителем получается ступенча- [c.224]

Смысл различия между реальным и живым временами иллюстрирует рис. 5.28. Расположенные через равномерные интервалы тактовые импульсы в точке 9 (рис. 5.29) соответствуют фактически истекшему времени (реальное время). По величине оно, однако, может отличаться от живого действующего времени, которое фактически представляет собой период, в течение которого система не занята обработкой имлульсов. На рис. 5.29 видно, что в показанном временном интервале укладывается 14 импульсов реального времени (точка 9). В течение этого периода импульс задержки цепи контроля мертвого времени (точка //), вырабатываемый комбинацией сигналов от работающих усилителя (точка 6) и многоканального анализатора, ограничивает число импульсов живого времени (точка 10) для того же интервала реального времени только до трех. Влияние такой потери импульсов иллюстрируется на рис. 5.33, где показано, что только при низких скоростях счета (меньше 2000 имп./с) скорости счета на входе многоканального анализатора и главном усилителе равны. По причине, описанной выше, по мере увеличения скорости счета на входе усилителя влияние наложения И мпульсов становится все более ощутимым, особенно при больших постоянных времени усилителя. Поэтому при качественном анализе для достижения желаемого уровня точности, основанного на статистике счета, может возникнуть необходимость производить счет в течение большего периода, чем предполагаемый на основе реального времени. При количественном анализе во всех случаях должно использоваться живое время, поскольку отношения интенсивностей рентгеновского излучения с образцов и эталонов при одинаковых условиях измерения служат исходными данными для всех моделей количественных поправок. Рис. 5.33 демонстрирует также, что увеличение скорости счета на входе усилителя при изменении тока зонда или при перемещении детектора ближе к образцу будет приводить сначала к линейному увеличению скорости счета на входе многоканального анализатора, за которым следует нелинейная область, в которой скорость счета на входе многоканального анализатора растет медленнее, чем на входе главного усилителя. В конечном счете достигается ситуация, когда увеличение скорости счета на входе главного усилителя в действительности приводит к уменьшению скорости счета многоканального анализатора. Дальнейшее увеличение скорости счета приводит по существу к 100%-ному мертво му времени и, следовательно, к общей блокировке системы. Рис. 5.33 иллюстрирует также, что начало различных отмеченных областей определяется выбором рабочих кривых на основе критерия приемлемого разрешения. [c.229]

Одним из наиболее коварных артефактов, связанных с установкой детектора в электронно-зондо-вом приборе, является появление одной или более наводок заземления. Обычно мы предполагаем, что металлические детали системы микроскоп — спектрометр находятся под потенциалом земли и ток между ними отсутствует. В действительности, между деталями могут иметься небольшие различия в потенциале, от милливольт до вольт по порядку величины. Такие различия -в потенциале могут приводить к появлению токов, изменяющихся от микроампер до нескольких ампер. Зги избыточные токи называются наводками заземления или токами заземления, так как они текут в деталях системы, которые номинально заземлены, например шасси или внешние экраны коаксиальных кабелей. Так как наводки заземления переменного тока связаны с электромагнитным излучением, такие токи, текущие в экранированном коаксиальном кабеле, могут модулировать слабые сигналы, идущие по центральному проводнику. В системах спектрометров с дисперсией по энергии обрабатываемые сигналы очень малы, особенно в детекторе и предусилителе, следовательно, для сохранения сигнала следует всячески избегать наводок заземления. Влияние наводок заземления может проявляться в потере разрешения спектрометра, в искажении формы пика, искажении формы фона и/или в неправильной работе цепи коррекции мертвого времени. Пример влияния наводки заземления на измеренный спектр показан на рис. 5.35. Обычный Ка—i p-спектр Мп (рис. 5.35, а) может превратиться в спектр с кажущимся набором пиков (рис. 5.35, б), в котором каждый из основных пиков имеет дополнительный. На рис. 5.35,6 можно наблюдать и промежуточную ситуацию, в которой ухудшается разрешение главного пика без появления второго отчетливого пика. Объяснение этого частного, Bbi3iBaHHoro наводкой заземления артефакта иллюстрирует рис. 5.36. Если посмотреть форму сигнала наводки заземления, проходящего через медленный канал цепи обработки, то можно установить, что он является периодическим, но не обязательно синусоидальным, с большим разнообразием возможных форм, как показано на рис. 5.36. Когда импульсы случайного сигнала, соответствующего характеристическому рентгеновскому излуче- [c.234]

Накопление загрязнений в детекторе спектрометра с дисперсией по энергии в процессе продолжительной работы может приводить к ухудшению работы. Лед может накапливаться в двух местах. Во-первых, при конденсации влаги в криостате с жидким азотом могут образоваться маленькие кусочки льда, которые пляшут в криостате при кипении жидкого азота (рис. 5.39). Эти вибрации могут передаваться детектору и чувствительному П олево.му транзистору. Из-за этих вибраций разрешение может ухудшаться на 30 эВ. В результате скопления льда внизу криостата может также ухудшаться теплопроводность между резервуаром с жидким азотом и узлом детектора, приводя к повышению температуры детектора выше требуемого рабочего значения за большой период времени. Небольшое накопление льда в криостате неизбежно, но скорость его накопления можно свести к минимуму, используя простые меры предосторожности. Жидкий азот для криостата поставляется обычно от главного танка в переносных дьюарах. Важно, чтобы [c.238]

Количество электронвольт на канал может варьироваться оператором обычно в диапазоне от 5 до 40.-Если, напршмер, 1о устанавливается равной нулю, значение 5 равно 5=20 эВ/ка-нал и для объема группы памяти и коэффициента усиления преобразователя выбирается значение 512, то регистрируемый спектр будет находиться в диапазоне энергий рентгеновского излучения от О до 10,240 кэВ. При этих условиях /(-линия меди (8,048 кэВ) будет давать распределение импульсов с центром в канале 402. Почти весь пик будет находиться в пределах полосы, равной удвоенной полущирине пика. Следовательно, для детектора с разрещением 160 эВ, измеренным на линии Си Гд, полный пик будет содержать около 16 каналов, что является разумным числом в большинстве случаев. Излишне говорить о том, что, если желательно точно измерить разрешение детектора лучше с точностью выше 20 эВ, необходимо использовать несколько электронвольт на канал. [c.251]

Идеальный детектор рентгеновского излучения должен быть небольшим, недорогим, простыгл в эксплуатации, он должен собирать большую часть рентгеновского излучения, испускаемого из образца, иметь разрешение лучше, чем собственная ширина измеряемой линии (несколько электронвольт), и обеспечивать быструю скорость набора спектральных данных без потерь информации. Ни кристалл-дифракционные спектрометры, ни 51 (Ь])-детекторы в отдельности не обладают всеми этими свойствами, но ири совместном использовании эти два устройства фактически взаимно дополняют друг друга. В табл. 5.2 содержится краткое сравнение основных характеристик обоих способов регистрации. Анализ табл. 5.2 по пунктам следует ниже. [c.256]

Превосходное энергетическое разрешение кристалл-дифрак-ционного спектрометра приводит в результате к значительно более высокому отношению пик/фон и лучшей спектральной дисперсии, сводя тем самым к минимуму возможность перекрытия пиков. Это легко увидеть, сравнивая спектры одного и того же эталона из специального сплава, полученные с помощью кристалл-дифракционного спектрометра (рис. 5.12, а и б) н Si (Li)-детектора (рис. 5.53). На рис. 5.12, а отчетл1иво различаются пики TaiQ,, Ni/ p и Wl , в то время как на рис. 5,53 эти линии едва разрешимы. Подобным образом, линии Ма, Та, W н Re легко разделяются с помощью кристалла RAP, но остаются неразрешенными для Si (Li)-детектора. Из-за плохого разрешения твердотельного детектора часто возникает необходимость установить наличие серии спектральных линий данного элемента, когда идентификация отдельного пика неоднозначна, или пик ожидаемой линии скрыт другим элементом. В таких случаях обычно используются линейные маркеры или набираются спектры одного или более чистых элементов и воспроизводятся одновременно со спектром неизвестного образца для прямого их сравнения. [c.261]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология