Спектрометрия по пропусканию

Для получения и регистрации ИК-спектров пропускания или отражения служат ИК-спектрометры, например ИКС-17, ИКС-22, UR-20. [c.159]

Анализаторы могут быть с магнитной или электростатической фокусировкой, но последние имеют преимущество в защите от внешних электромагнитных помех, и в современных спектрометрах применяются анализаторы типа электростатического конденсатора. Геометрическая форма анализатора и режим пропускания через него электронов могут быть различны. Но обычно проводится предварительное торможение электронов на входе, а между образцом и анализатором создается некоторый потенциал. Этим добиваются лучшего разрешения, хотя и за счет некоторой потери чувствительности. [c.148]

В то самое время, когда внимание ученых было сконцентрировано на проблеме излучения абсолютно черного тела, нечто похожее происходило и в области изучения атомных спектров. Было найдено, что, нанример, при пропускании электрического разряда в одноатомном газе испускается свет. Исследование этого света с помощью призменного спектрометра или спектрометра с дифракционной решеткой показало, что образуются серии ярких линий с определенными длинами волн, которые оказались характерными для каждого данного элемента. Для легкого элемента, такого, как водород, линейчатый спектр довольно простой, что видно из [c.23]

Помещают держатель образцов в термовакуумную кювету и вакуумируют ее в течение I ч при комнатной температуре. Подбирают оптимальный режим работы спектрометра (щель 100—200, постоянная времени 5,6, усиление 4—8 в режиме 2, скорость развертки спектра 2, скорость ленты самописца 180, диапазон измерений самописца 2-5) и регистрируют спектр пропускания в области ООО—2600 и 1000— 500 см [c.161]

Спектрометр ИКС-14. Этот спектрометр двухлучевой. Излучение от источника света направляется одновременно через кювету с растворителем и кювету с раствором. Самописец вычерчивает на бумажной ленте кривую функциональной зависимости пропускания от длины волны X, т. е. прямо без предварительных расчетов определяется кривая поглощения исследуемого раствора. [c.259]

Работая на ИК-спектрометрах, измеряют отношение /о//, которое называется коэффициентом пропускания. Спектр поглощения представляет собой зависимость пропускания Г=[///о]-100 (в %) от частоты колебания V. [c.186]

Для выполнения закона Бера с высокой точностью полоса пропускания монохроматора должна быть не хуже 10 нм. В этом случае спектральный прибор в области 500 нм должен иметь разрешающую силу = 500/10 3 = 500000. Следует напомнить, что лучшие приборы, выпускаемые отечественной промышленностью, имеют разрешающую силу —120000. Поэтому при использовании источников непрерывного спектра в атомно-абсорбционной спектрометрии необходим монохроматор с очень высокой разрешающей силой, что непригодно для приборов массового применения. [c.142]

Серийные ИК-спектрометры записывают процент пропускания света образцом (который легко пересчитать в оптическую плотность) и осуществляют линейную развертку по волновым числам (реже по длинам волн). Если требуется точно установить положение полос поглощения в спектре вещества, то достаточно перед записью спектра образца записать спектр пленки полистирола, который дает сильные полосы при 906, 1028, 1494, 1603, 2925 и 3028 см . В дальней ИК-области калибровку можно провести по вращательному спектру какого-либо газообразного вещества, а в ближней ИК-области — по обертонам валентных колебаний жидких соединений (для бензола 1,143 и 0,874 мкм). [c.205]

В качестве примера уже приводилось уравнение Лоренца, которое хорошо описывает контур полосы поглощения карбонильных соединений. Чтобы проверить соответствие полученных экспериментальных данных этому уравнению, следует построить контур полосы поглощения. Контур полосы изображают в единицах относительной оптической плотности по оси ординат, а по оси абсцисс откладывают ширину в обратных сантиметрах. Обычно в современных ИК-спектрометрах запись спектра ведется в процентах пропускания, поэтому вначале находят значение оптической плотности в максимуме полосы поглощения, принимают его равным единице и находят значение оптической плотности [c.44]

Приведенные примеры показывают возможности оптических систем современных спектрометров. Однако качество информации может быть улучшено при объединении спектрометра и специализированной ЭВМ. Наметились две основные области применения ЭВМ при обнаружении следов соединений улучшение качества спектров с пропусканием менее 5 % и усиление слабых полос поглощения при малом содержа- [c.767]

Показанный на рпс. 5.4 пропорциональный счетчик проточного типа обычно используется для регистрации мягкого рентгеновского излучения (>ь>3 А). Использование проточного газа (обычно Р10) обусловлено трудностями достижения постоянной герметичности тонких входных окон, необходимых для снижения потерь на поглощение. Показано [103], что для А1к коэффициент пропускания окна из бериллиевой фольги толщиной 34 мкм равен 1,2%, а при толщине ее 7,5 мкм — 55%. Для майларовой пленки толщиной 1,5 мкм этот коэффициент составляет 30%, а для пленки формвара достаточно малой толщины, при которой не образуются интерференционные полосы, — 84%. Обычно кристаллические спектрометры работают в условиях вакуума для исключения возможности поглощения рентгеновских лучей в воздухе. Для того чтобы сверхтонкие окна из формвара или нитрата целлюлозы выдержали перепад давления в I атм, [c.198]

Если образец обладает поглощением в ИК-области (аттенюатор), модуль НПВО монтируют в камере образца ИК-спектрометра и регистрируют спектры, подобные ИК-спектрам пропускания. Глубина проникновения зависит от длины волны излучения, показателей преломления материала образца и призмы и от угла падения. Эмпирически установлено, что эта величина составляет порядка нескольких десятых длины волны излучения, т. е. единицы и доли мкм. Изменяя угол падения, можно в определенной степени проводить послойный анализ. В промышленно выпускаемых модулях НПВО для улучшения чувствительности используются многоходовые кюветы на основе трапецеидальных или стержневидных отражающих элементов. [c.183]

Из этого уравнения можно сделать вывод, что разделение ионов с различными тп/г можно осуществить тремя способами различие радиусов кривизны траекторий ионов с разными тп/г приводит к тому, что они разделяются в пространстве изменение В либо V приводит к тому, что ионы с разным отно-щением тп/г разделяются во времени, т. е. они детектируются последовательно при неизменном положении щели. Разрешение такого спектрометра определяется шириной входной щели (со стороны ионного источника) и выходной щели (со стороны детектора). Сужение щели приводит к улучшению разрешения, но к ухудшению пропускания ионов. Выбор разрешения для каждого конкретного случая всегда является компромиссом между требуемой селективностью и интенсивностью сигнала. [c.275]

На рис. 10.3-8 показана конфигурация прибора для проведения статической МСВИ. Работающий в импульсном режиме пучок ионов Ar" " мощностью около 10 ионов на импульс и обеспечивающий около 10 ООО импульсов в секунду с шириной импульса менее 1 не бомбардирует довольно большую область (10-1000 мкм в диаметре). При плотности ионов первичного пучка 10 -10 ион/см - с лишь очень малая часть атомного слоя удаляется в течение анализа. Вторичные ионы анализируют при помощи времяпролетного (ВП) масс-спектрометра высокого разрешения (М/АМ < 10 ООО), характеризующегося очень высоким пропусканием ( 20%), что является основой точного определения масс с низкими абсолютным пределами обнаружения, необходимыми для анализа монослоев. [c.358]

Следующим значительным шагом было усовершенствование техники изготовления термоэлектрических приемников (детекторов) с достаточно малым временем отклика, чтобы модулировать (прерывать) излучение с частотой от 5 до 10 Гц. Это новшество позволило устранить дрейф в системе регистрации спектрометра и открыло путь к созданию двухлучевых приборов , шкалу которых стало возможным калибровать в процентах пропускания в зависимости от линейной шкалы длин волн или волновых чисел [7]. [c.11]

При работе с микрообразцами исследователь должен так оптимизировать энергию пропускания, чтобы получить наилучший спектр. Что лучше сконцентрировать образец на небольшой площади и уменьшить диаметр луча или нанести образец на большую площадь, чтобы избежать виньетирования (частичного диафрагмирования) луча использовать растяжку по ординате для повышения интенсивности спектра Ответ на этот вопрос в некоторой степени зависит от типа используемого спектрометра и возможности представлять данные по поглощению в цифровом виде. Однако, вообще говоря, площадь сечения пучка в месте расположения образца должна быть как можно меньше, но в то же время соответствовать требованию заполнения щелей светом при их максимальной ширине. Некоторая потеря энергии допускается из-за виньетирования верхней и нижней частей щелей. Эта потеря существенно не зависит от длины волны [c.116]

В некоторых случаях перспективным направлением повышения избирательности и чувствительности анализа сложных смесей у-излучателей является использование метода у — у- или у — Р-совпадений. Этот метод позволяет выделять и регистрировать только те радиоактивные изотопы, которые распадаются с испусканием частиц или у-квантов разной энергии в каскаде. В [839] использован метод у — Р-совпадений для увеличения чувствительности в 6—8 раз активационного определения марганца в биологических объектах. В данном случае Р-счетчик измеряет только жесткое р-излучение Мп Е = 2,85 Мэе). Импульсы от Р-счетчика использовали для отпирания схемы пропускания у-спектрометра. Применение более сложного метода тройных совпадений позволило повысить избирательность определения марганца в биологических образцах в 100 раз [840]. [c.99]

Ширина аппаратной функции оптического гетеродинного спектрометра, определяющая его разрешающую способность, задается полосой пропускания анализатора спектра (10) и может достигать =Ь0Гц. [c.27]

Успешно также применяется метод нарушенного полного внутреннего отражения (НПВО), который позволяет записывать ИК-спектры для любых растворов, в том числе и водных. Физическая сущность метода при падении света на границу раздела двух сред А и В (рис. 76) с показателями преломления п и п.2 под углом больше критического происходит полное внутреннее отражение, если П1>П2. В области отражения луч частично проникает в оптически менее плотную среду на глубину, которая пропорциональна длине волны света и зависит также от угла падения луча и от величины критического угла. Если при изменении длины волны преломляющегося света изменяется разница между и П2 (что происходит в областях полос поглощения вещества В), то наблюдается изменение иптепсивности отраженного луча. Такие изменения можно записать на обычном ИК-спектрометре, снабженном приставкой НПВО, и получить спектр, близкий к обычному ИК-спектру пропускания вещества В. Основное различие состоит в зависимости оптической плотности полосы от места ее нахождения в спектре, так как с увеличением длины волны увеличивается и длина оптического пути в веществе В подобные искажения спектра могут быть скорректированы. В качестве рабочего тела А используют кристаллы из хлорида серебра, германия, бромнд-иодида таллия и других веществ. Для повышения чувствительности метода применяют многократное отражение луча от поверхности ра , дсла. [c.208]

Методом характеристических потерь энергии электронами (Ер=200 эВ) с угловым разрешением изучена пространственная дисперсия плазмонов в графите в интервале квазиимпульсов 0-ь 16 нм . Спектры ХПЭ получены в ФТИ им. А.Ф. Иоффе РАН. Все эксперименты выполнялись с помощью многоканального электронного спектрометра с угловым разрешением [1] с оригинальным дисперсионным энергоанализатором типа коническое зеркало [2]. Угловое разрешение прибора по полярному углу 0 и азимутальному углу <р было одинаковым (1.5 х1.5"). Значения полярньсх углов 0, определялось с точностью 0.5 . Угол падения первичного пучка электронов на образец 0=50°. Углы сбора неупруго рассеянных электронов составляли 15-55". Анализатор работал в режиме постоянного абсолютного энергетического разрешения ДЕ=0.6 эВ и был настроен на энергию пропускания 30 эВ. Измерения проведены на образцах высокоориентированного пирографита (НОРС). Определение энергии л- и о-плазмонов проведено с использованием формализма Крамерса-Кронига [3]. Величина переданного импульса (q - это квазиимпульс л-электронов) определена по следующей формуле = , [c.48]

Н. Г. Росляковой были также сняты ИК-спектры пропускания тех же образцов силикагелей (см. табл. 4) на двухлучевом спектрометре ИР-10 в интервале частот 1800—400 см- (рис. 55). По данным ИК-сиектров, были построены графики зависимостей длины волны максимума основной полосы поглощения A и ее частоты от молярного отношения SiOs/HaO a и обратной величины этого отношения 1/а соответственно (рис. 55 и 56). Как и предполагали, зависимость положения максимума основной полосы поглощения от степени полимеризации а имела вид гиперболы, а зависимость v — 1/а — вид прямой. [c.188]

В дидактических целях приводятся спектры, полученные на различных моделях современных спектрометров в разных координатах с разверткой и по частотам и по длинам волн, с регистрацией или процента пропускания или оптической плотности, а на оси ординат некоторых электронных спектров отложены логарифмы коэффициентов экстин-кции, как это делается в наиболее известных каталогах. [c.236]

Спектрометр иК-10. Спектрометр иН-Ю — автоматически регистрирующий двухлучевой, призменный прибор для изучения ИК-спекторов поглощения твердых, жидких и газообразных веществ в области волновых чисел от 400 до 5000 ом . Запись спектра осуществляется на специальной бумаге с восковым слоем, на которой вместе со спектром наносится сетка, градуированная (В волновых числах через 10 см и процентах пропускания через 2%- [c.61]

Наиб, распространены спектрофотометрич. и спектрографич. методы регистрации. Для регистрации кинетики пропускания, т е. изменения во времени поглощения света образцом, используют непрерывный или модулированный (для повыщения яркости во время измерения) источник зондирующего света и монохроматор в сочетании с фотоумножителем и импульсным осциллографом или накопителем сигналов (для улучшения отношения сигнал шум при многократном повторении эксперимента), либо электронно-оптич. преобразователем с временной разверткой. Измеряя кинетику пропускания при разл. длинах волн зондирующего света, можно построить по точкам спектры поглощения промежут. продуктов фотохим. р-ции с разл. временами жизни. Для непосредств. регистрации спектров поглощения, что особенно важно в случае узких линий поглощения продуктов, напр, в газовой или твердой фазе, используют импульсные источники света с непрерывнь№< спектром в сочетании со спектрографом и фотопластинкой (или фотоэлектрич. устройством). Используют также нано- и пикосекундные импульсы зондирующего света, синхронизированные с возбуждающим лазерньпи импульсом их создают с помощью разл. преобразователей частоты исходного лазерного импульса и оптич. линий задержки. Измеряя спектры пропускания при разл. временах задержки, можно исследовать кинетику образования и гибели промежут продуктов. Спектрофотометрич. метод, как правило, обладает значительно более высокой чувствительностью, чем спектрографический, позволяя измерять изменение поглощения до 10 Для регистрации промежут продуктов используют также методы люминесценции, кондуктометрии, ЭПР, масс-спектрометрии и др. [c.220]

Кол-во компонента в хроматографич. зоне определяют непосредственно на слое сорбента по площади зоны (обычно ее диаметр варьирует от 3 до 10 мм) или интенсивности ее окраски (флуоресценции). Используют также автоматич. сканирующие приборы, измеряющие поглощение, пропускание или отражение свега, либо радиоактивность хроматографич. зон. Разделенные зоны можно соскоблить с пластинки вместе со слоем сорбента, экстрагировать компонент в р-ритель и анализировать р-р подходя1цим методом (спектрофотометрия, люминесцентный, атомно-абсорбци-онный, атомно-флуоресцентный, радиометрич. анализ, масс-спектрометрия и т.д.). Погрешность количественного определения обычно составляет 5-10% гтределы обнаружения в-в в зонах-10 -10 мкг (по окрашенным производным) и 10" °-10 мкг (с применением люминесцентного анализа). [c.609]

Недорогие ИК-спектрометры с монохроматорами используют для рутинного качественного анализа. Они работают на основе метода нулевого оптического сигнала. При этом мощность луча сравнения регулируется в соответствии с пропусканием образца. Это достигаётся путем введения гребневидного ослабителя на пути луча сравнения. Всякий раз, когда возникает разница между интенсивностями луча сравнения и луча, попадающего на образец, движение ослабителя компенсирует эту разницу, при этом движется перо самописца. К сожалению, неизбежно происходит некоторая перекомпенсация (особенно для резких пиков) и недокомпенсация. Поэтому этот способ не рекомендуется использовать для количественного анализа в том случае, если требуется высокая точность. [c.172]

Некоторые другие методы ИК-спектроскопии находят все большее применение в анализе. Методы внешнего и диффузного отражения применяются для анализа плоских отражающих образцов или тонкоизмельченных порошков. Для наблюдения этих сигналов промышленно вьшускаются ИК-микроскопы в качестве приставок для ИКФП-спектрометров. С их помощью можно проанализировать отдельные частицы или фазы размером до 10 мкм. Диаметр луча в современных ИКФП-спектрометрах ограничен лишь длиной волны излучения. Спектры микроучастков органических образцов можно легко получать в режиме пропускания или отражения. В обоих случаях толщина образца не должна превышать приблизительно 10 мкм (почему ) Минимально анализируемая толщина слоя обычно составляет 10 нм, что соответствует пределам обнаружения около 1 нг вещества плотностью 1 г/см . Этот метод используют в фармацевтической и электронной промышленности для фазового анализа и определения загрязнений. [c.185]

В динамическом варианте МСВИ также используют квадрупольные масс-спектрометры вместо секторных приборов. Эти спектрометры проще, но обладают разрешением всего около 800 и более низким пропусканием. Главная особенность масс-спектрометрии — высокие возможности детектирования, очевидные из динамического диапазона масс-спектра, достигающего 10 °. Это означает, что в одном спектре можно увидеть сигналы как основных, так и ультраследовых компонентов. [c.362]

Преимущества спектрометра с преобразованием Адамара (СПА) включают достоинства мультиплекса, т. е. гораздо более высокое пропускание по энергии, чем у дифракционного спектрометра (чж-ленно в ]/n/2 раз), одновременную фиксацию всех длин волн, в том числе и интересуюших исследователя, и использование хорошо разработанной техники сканирующих спектрофотометров. Недостатками СПА являются необходимость применения ЭВМ для декодирования данных, ошибки в кодировании, возникающие из-за оптических аберраций, и отсутствие контроля за температурой маски. Кроме того, эффективность дифракционной решетки высока только в относительно ограниченном интервале, поэтому охват полного спектра практически невозможен. [c.37]

Суммируя, можно сказать, что если интерференционный спектрофотометр настроен на максимальное пропускание для регистрагши спектров с низким разрешением и сокращения времени сканирования, то усиление должно быть меньше, чем в аналогичном случае для дифракционного спектрометра, в 4 раза (другими словами, преимущество интерферометра перед дифракционным спектрометром меньше при низком разрешении). В то же время если для повышения разрешения интерференционного спектрофотометра нужно понизить геометрический фактор, то порядок подбора условий точно такой же, как и для дифракционного спектрофотометра. [c.57]

Самым простым способом является подача жидкости из хроматофафа непосредственно в масс-спектрометр. Естественно, что при этом может быть подана лишь небольшая часть элюата. С этой целью поток при пропускании через отверстия диаметром в несколько микрон разбивается на множество капель. Далее капли попадают в обогреваемую зону, где ббльшая часть растворителя испаряется. Оставшаяся часть паров растворителя вместе с анализируемым веществом поступает в ионный источник, где молекулы растворителя в процессе ХИ проявляют свойства газа-реагента, стимулируя образование иона [М -I- Н]". Этот метод неудобен тем, что в качестве элюен-тов можно использовать только определенные растворители, а структурная информация, получаемая из масс-спектров ХИ, весьма ограничена. [c.45]

Образец (—30 мг) и эталоны определяемых элементов (10 —10 г) облучают в течение 24 ч потоком тепловых нейтронов 5 н/см. с. Облученный образец растворяют в 3—5 каплях НР и 1 капле HNOз в присутствии носителей (10 5 г). Раствор выпаривают досуха и остаток растворяют в 0,5 М НР. Пропусканием полученного раствора через колонку (18 X 40 мм) с пористым фторопластом, пропитанным циклогексаном, отделяют основу (Та). Колонку промывают 0,5 М раствором НР (6 свободных объемов) и из алюата выделяют примеси на трех колонках с анионообменником АВ-17 X 8, находящимся в различных формах. На первой колонке (4 X 180 мм, Р-форма) сорбируют 7г, У, Мо и КЬ из среды 6 М НР и элюируют эти элементы смешанными растворами НГ и НС1 различной концентрации. Раствор элементов, не сорбировавшихся на первой колонке, выпаривают досуха, остаток растворяют в 4—5 каплях 8 М раствора НС1, содержащего 30% этанола, и полученный раствор пропускают через вторую колонку (2 X 150 мм, С1-форма). На этой колонке сорбируются Со, Си, Оа, Ре и гп. Эти элементы элюируют растворами НС1 понижающейся концентрации. Фильтрат со второй колонки выпаривают досуха, остаток растворяют в воде и раствор пропускают через третью колонку (1,5 X 50 мм, ОН-форма). В фильтрате определяют натрий. Радиоактивность регистрируют сцинтилляпионным у-спектрометром. Химический выход составляет 85—95%. Продолжительность анализа не превышает 7 ч. [c.152]

Здесь же следует подчеркнуть, что указанный предел точности прямых спектральных измерений интенсивностей полос поглощения dr ( —6)%, соответствующий погрешности, характерной для среднего серийного спектрометра, достигается далеко не часто. Результаты специально проведенных исследований [110] показали следующее. Как правило, в неспециализированных лабораториях такие обязательные по решению Международного сойза по чистой и прикладной химии (IUPA ) при наладке спектрометра манипуляции, как проверка его градуировки по шкале частот [302], проверка линейности шкалы пропускания с помощью секторного фильтра [393], определение интенсивности фона рассеяния и т. д., не выполняются. В результате этого, как показала специальная проверка, ошибки измерений положения полос поглощения и их интенсивности, проводимых специалистами смежных профессий на серийных приборах, оказываются в пять раз выше АТ 5% и Av = 12 см ) паспортных характеристик используемых спектрометров [110]. При этом важно отметить, что такое загрубление измерений является не следствием сложности природы исследуемого объекта, а элементарной неподготовленностью оборудования к подобным измерениям. Учитывая это, надо с большой осторожностью относиться к результатам количественных измерений, выполненных в неспециализированных лабораториях. [c.181]

Кроме указанной неопределенности электроонтических и динамических свойств рассматриваемых группировок ошибки их анализа могут быть обусловлены и приборно-методическими погрешностями. При определенных условиях последние могут даже начать превалировать, поэтому их следует рассмотреть самостоятельно. Наиболее известными являются аппаратные искажения, которые приводят к деформации всего контура регистрируемой полосы поглощения [139]. Однако эти изменения спектра, будучи достаточно регулярными, почти не сказываются при проведении количественного анализа. Гораздо большие погрешности возникают иногда (в случае тонких слоев) из-за неправильного определения толщины поглощающего слоя. Дело в том, что закон Бугера—Ламберта—Бера выведен и сформулирован для случая поглощения параллельного пучка света плоскопараллельным слоем исследуемого вещества. Б подавляющем большинстве современных инфракрасных спектрометров конус падающего на образец светового потока имеет угол менее 14°. При таком угле отношение путей, проходимых периферийными и параксиальными лучами света через исследуемый плоский образец, равно 1,03. Очевидно, что эта неравномерность намного меньше неточностей, вносимых регистрирующим устройством в определяемое пропускание образца, вследствие чего ею можно полностью пренебречь. Как мы увидим ниже, такое отступление от постоянства длины оптического пути для центральных и периферийных лучей приводит к ошибке измеряемой оптической плотности плоского образца менее чем на 0,1%. [c.188]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология