Относительные интенсивности рентгеновских линий

Оценка текстуры. Интегральная интенсивность рентгеновской линии (002) на единицу телесного угла относительно нормали к поверхности отложения может быть выражена [7-29] [c.437]

Целью издания настоящего справочника является по крайней мере частичное восполнение указанного пробела в литературе по рентгеновской спектроскопии. Для большего удобства пользования справочником было решено распределить имеюш,ийся материал в двух томах, каждый из которых представлял бы самостоятельный интерес. Настоя-ш,ая книга, являющаяся первым томом справочника, содержит достаточно полную сводку длин волн известных в настоящее время линий рентгеновских спектров элементов, данные об относительных интенсивностях этих линий, общие сведения о коэффициентах ослабления и рассеяния рентгеновских лучей, а также некоторые данные из теории строения атома, используемые в рентгеновской спектроскопии. [c.4]

МЕТОД, ОСНОВАННЫЙ НА ИСПОЛЬЗОВАНИИ ДАННЫХ ОБ ОТНОСИТЕЛЬНОЙ ИНТЕНСИВНОСТИ РЕНТГЕНОВСКИХ СПЕКТРАЛЬНЫХ ЛИНИЙ [c.42]

Относительная интенсивность рентгеновских спектральных линий для большого числа элементов в настоящее время хорошо известна. Она не зависит от условий получения спектров, химического состава пробы и содержания в ней анализируемого элемента. В принципе это позволяет использовать рентгеновские спектральные линии в качестве марок интенсивности для построения характеристической кривой эмульсии. Для этого, конечно, необходимо, чтобы спектральная чувствительность используемого для получения спектра прибора не зависела от угла отражения, иными словами, чтобы пространственная разобщенность линий рентгеновского спектра элемента на спектрограмме не приводила к искажению истинного соотношения их интенсивностей. Этому условию не удовлетворяют, например, спектрографы типа Иоганна с постоянным по величине протяженным фокусом рентгеновской трубки при равномерном качании кассеты спектрографа. По некоторым причинам здесь наблюдается систематическое искажение величины интенсивности рентгеновских спектральных линий элемента, приводящее к относительному возрастанию интенсивности коротковолновых линий. Это делает нерациональным использование описываемого метода построения характеристической кривой при работе с такими приборами. [c.42]

У более легких элементов форма и относительная интенсивность рентгеновских спектральных линий чувствительны к химическому и физическому состоянию изучаемого атома в образце. [c.42]

МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ОТНОСИТЕЛЬНОЙ ИНТЕНСИВНОСТИ РЕНТГЕНОВСКИХ СПЕКТРАЛЬНЫХ ЛИНИЙ [c.76]

Большое число методов измерения относительной интенсивности рентгеновских спектральных линий основано на использовании характеристической кривой эмульсии, которая может быть построена при помощи одного из приемов, описанных ранее. При выполнении массовых анализов можно ограничиться использованием характеристической кривой, полученной заранее для данного сорта эмульсии и выбранных условий проявления. При проведении исследований, требующих большей точности, желательно строить характеристическую кривую для каждой пленки, и для ее построения пользоваться данными, снятыми с той же самой спектрограммы, по которой осуществляется количественное сопоставление интенсивностей спектральных линий определяемых элементов. Для перехода от отношения измеренных на опыте почернений сравниваемых линий к отношению их интенсивностей нужно знать вид зависимости D=f (/). В рентгеновской области спектра сопоставление почернения спектральных линий различных элементов сильно упрощается из-за практической независимости формы кривой почернения эмульсии от длины волны. [c.76]

На том же принципе, что и использование клина при определении сравнительной интенсивности линий, основано применение ступенчатого ослабителя. Число ступеней ослабителя должно быть достаточно велико. Для количественного сопоставления интенсивности двух близко расположенных на спектрограмме линий ослабитель помещается на пути рентгеновских лучей от кристалла к фотокассете прибора. При этом каждая из линий разбивается на ряд ступеней убывающей интенсивности. Для того чтобы определить относительную интенсивность спектральных линий, сравнивают почернение одной из ступенек на линии исследуемого элемента с ближайшими к нему [c.88]

Описываемый в этом разделе метод количественного определения относительной интенсивности рентгеновских спектральных линий принадлежит к числу наиболее молодых и наименее изученных. Возникший на базе работ, посвяш,енных выяснению вида зависимости почернения от экспозиции в видимой области спектра [74], он лишь в самое последнее время начал более или менее систематически разрабатываться в качестве одного из возможных приемов рентгеноспектрального анализа [75]. [c.95]

При проведении анализа по второму из методов выравнивание почернений сопоставляемых друг с другом линий не обязательно. Более того, при использовании наиболее совершенных методов определения относительной интенсивности спектральных линий представляется целесообразным введение в пробы с различным содержанием определяемого элемента строго постоянного количества элемента сравнения, который в этих условиях может играть роль своеобразного индикатора, указывающего на степень устойчивости режима работы рентгеновской трубки спектрографа во всей серии опытов, и позволяет осуществлять грубую визуальную отбраковку спектрограмм, полученных в условиях, заметно отличающихся от нормальных. [c.143]

Очевидно, что скорость получения результата количественного определения элемента при работе с градуировочным графиком значительно больше, чем при использовании метода выравненных почернений. Точность выполнения анализа этим способом, при современных методах нахождения относительной интенсивности рентгеновских спектральных линий, может быть доведена до величин порядка 4—5%. [c.145]

Для количественного определения относительной интенсивности рентгеновских спектральных линий редкоземельных элементов, которое является важнейшим этапом анализа, в принципе может быть использовано большинство методов, описанных в главе IV. Однако некоторые специфические особенности распределения редкоземельных элементов в породах и минералах, представляющих собой один из наиболее трудных объектов анализа, ограничивают выбор методов, пригодных для решения этой задачи. [c.176]

Наряду с методом выравненных почернений , получившим развитие в работах Хевеши и его сотрудников [1] и в только что описанной серии работ Боровского и Блохина для количественного определения содержания цериевых земель, как показал В. Н. Протопопов [23], может быть без ущерба для точности анализа использован разработанный им приближенный метод определения относительной интенсивности рентгеновских спектральных линий. Напомним, что в основе метода Протопопова лежит предположение о существовании линейной зависимости между почернением линий и их интенсивностью. Для большинства эмульсий это наблюдается в области относительно малых почернений, не превышающих значений порядка 0,7—0,8. Удобным критерием, указывающим на степень правильности выбора условий проведения анализов, является совпадение величины кв—отношения почернений линий вспомогательного Ка1,2-Дублета с теоретическим значением этого отношения. Зависимость величины ошибки анализа Д от ко, полученная Протопоповым экспериментально, показана на рис. 91. [c.179]

Относительные интенсивности линий в сериях характеристического рентгеновского спектра определяются соответствующими правилами отбора, т. е. вероятностями квантовых переходов, а Зависимость выходов, флуоресценции (1) и оже-электро-частоты, как уже было сказано J,pJ, вакансии в /(-оболочке (см. равенство VI.5), дают раз- от атомного номера 2 элемента ности энергии квантовых уровней электронов. [c.139]

Рентгеновский спектрометр с дисперсией по энергии является удобным средством для качественного рентгеновского микроанализа. Тот факт, что весь спектр, представляющий интерес (область от 0,75 до 20 кэВ (или до энергии пучка)), может быть получен одно временно, обеспечивает возможность быстрой оценки состава образца. Так как эффективность 51 (Ь1)-детектора фактически постоянна (около 100%) в диапазоне энергий 3—10 кэВ, относительные интенсивности пиков для серий рентгеновских линий элементов близки к значениям, генерируемым в образце. В качестве негативной стороны следует отметить сравнительно низкое по сравнению с кристалл-дифракционным спектрометром энергетическое разрещение спектрометра с дисперсией по энергии, что часто приводит к проблемам, связанным с взаимодействием спектров, таких, как невозможность разделения линий рентгеновских серий разных элементов при низких энергиях (-<3 кэВ). Кроме того, наличие спектральных артефактов, таких, как пики потерь или суммарные пики, усложняет спектр, особенно когда рассматриваются пики с низкой относительной интенсивностью. [c.272]

Все линии, вызванные переходами электронов, оканчивающимися на К-уровне, относятся к К-серии. Из переходов, оканчивающихся на Ь-уровне, образуются линии Ь-серии и т. д. Таким образом, рентгеновские спектры состоят из серий, обозначаемых буквами К, Ь, М, Ы, О и т. д. Появление в спектре К-серии данного элемента обязательно сопровождается появлением остальных серий. Каждая серия состоит из линий, обозначаемых в порядке возрастания частоты излучения как а, р, у и т.д. Наиболее интенсивными являются линии К-серии, затем идут линии Ь-серии и т.д. Относительная интенсивность линий в серии определяется вероятностью переходов между уровнями и правилами отбора для радиационных переходов [c.5]

Поскольку сплав Си А1 (60 40) состоит в основном из металлида СиАЬ, который выщелачивается сравнительно легко, то он разрушается под действием щелочи в большей степени. На рентгенограмме катализатора видны четкие линии меди. Рассчитанное значение параметра решетки Си а составляет 0,36 нм, размер кристаллов L равен 11 нм (табл. 2.10). В катализаторе содержится СпдАЦ. При выщелачивании сплавов с большим содержанием А1 [Си А1 (50 50) и (30 70)] происходит полное перестроение решеток исходных фаз в решетку кубической гранецентрированной меди. Обращает на себя внимание относительная интенсивность рентгеновских линий Сиск- Параметр решеток а всех катализаторов одинаков составляет 0,36 нм, размер кристаллов с увеличением содержания алюминия в исходных сплавах плавно уменьшается н составляет 11,0н-9,0 нм. Следует отметить, что в катализаторах из сплавов Си А1 (50 50) и (30 70) имеется некоторое количество СигО. [c.51]

Рис. 7-12. Полюсные фигуры для структурно неориевтирован-ных и ориентирован-ных образцов ПУ [7-2]. <р — угол между нормвг лью к плоскости, соответствующей линии (002), и нормалью к плоскости отложения. hv) — относительное изменение интенсивности рентгеновской линии (002) в зависимости от угла if.

Количественцый фазовый анализ базируется на том экспериментальном факте, что интенсивности дифракционных спектров отдельных фаз зависят от их процентного содержания в исследуемом образце. Однако эта зависимость достаточно сложна и не выражается в виде удобных для расчета математических формул. Поэтому для количественного фазового анализа используют полу-эмпирические методы, заключающиеся в сравнении относительных интенсивностей дифракционных линий каждой из присутствующих в образце фаз с интенсивностями дифракционных линий для смесей тех же фаз с известным соотношением. Существуют различные способы таких сравнений, с их достоинствами и недостатками можно подробно ознакомиться по работам [4, 5). Там же детально описаны экспериментальные приемы рентгеновского количественного фазового анализа. [c.149]

В рентгеновских спектрах ширина линий и расстояние между ЛИНИЯМ сопоставимы, поэтому кривая поглощения имеет вид непрерывного контура с небольшими провалами между линиями. Для полного описания такой кривой необходи1ио знать не только частоту линий поглощения, но 1 их относительные интенсивности, фор1иу линий поглощения и форму границы сплошного спектра. [c.252]

Исследуя относительные интенсивности линий, представленные в табл. 3.7, можно видеть, что для каждого элемента имеется относительно малый набор интенсивных рентгеновских линий. Хотя возможны многие переходы, но для целей анализа обычно измеряются лишь эти главные линии . Обозначения, используемые в рентгеновской спектроскопии, учитывают относительные интенсивности линий внутри серии. Линия а имеет большую интенсивность, чем линия р, т. е. КаЖ . Внутри каждой подсерии, например а, р, и т. д., числовой индекс ука- [c.76]

МИКРОРЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬ-НЫЙ АНАЛИЗ, л о к а л ь н ы й рентгеноспектральный анализ — анализ состава микрообъема твердого материала по первичным рентгеновским спектрам содержащихся в нем хим. элементов разновидность рентгеноспектралъно-го анализа. Впервые проведен в начале 50-х гг. 20 в. во Франции и в СССР. М. а, основан на возбуждении острофокусированным до диаметра 0,1—3 мкм пучком электронов (электронным зондом) характеристического рентгеновского излучения в микрообъеме исследуемого материала. Миним. анализируемый объем зависит от размера зоны возбуждения рентгеновского излучения, определяемого диаметром пучка электронов и степенью их рассеяния в материале, и составляет 1- -10 мк.и . Различают качественный (см. Качественный анализ) и количественный (см. Количественный анализ) М. а. хим. элементов от лития до урапа. При качественном М. а. возбужденное в материале рентгеновское излучение разлагают в спектр, и линии спектра идентифицируют. При количественном М. а. измеряют интенсивность характеристических линий определяемых хим. элементов относительно интенсивности соответствующих линий от эталонов с последующим пересчетом относительной интенсивности на концентрацию. При расчете концентрации вводят поправки на различие условий возбуждения и выхода рентгеновских лучей из исследуемого матерпала и эталона. Методика расчета концентрации при использовании в качестве. эталона чистых хим. элементов обеспечивает точ- [c.817]

Рис. 1. С.хема рентгеновского многоканального флюоресцентного спектрометра с плоским (о) и изогнутым (б) кристаллами 1 — рентгеновская трубка 2 — анализируемый образец 3 — диафрагма Соллера 4—плоский и изогнутый (радиус — 2Н) кристалл-анализаторы 5— детектор излучения 6 — т. н. монитор, дополнительное регистрирующее устройство, позволяющее осуществлять измерение относительной интенсивности спектральных линий при отсутствии стабилизации интенсивности источника рентгеновского излучения Я — радиус т. н. окружности изображения.

Относительная интенсивность рентгеновских дифракционных линий компонентов в смеси зависит от процентного содержания. Однако она зависит и от ряда других факторов от ат. номеров элементов (интенсивность линий возрастает с ат. номером), от размеров и симметрии элементарной ячейки кристалла и др. Чем выше симметрия, тем меиьшее число линий содержит рентгенограмма и тем интенсивнее эти линии. Обычно фазы, присутствующие в количестве 1 %, уже не м. б. обнаружены рентгеновским методом, однако эта величина сильно варьирует в зависимости от конкретных условий. Напр., серое олово в белом обнаруживается при количестве 10%, Ni в NiO — от —2%, Na l в СаСОд, и наоборот,— от -3%, W в Ni - от -0,1%. [c.331]

Быстрый и непрерывный прогресс методов анализа легких элемент01В обусловлен в первую очередь успехами в разработке аппаратуры. Наиболее существенными являются достижения, направленные на уменьщение потерь интенсивности аналитической линии, улучшение средств регистрации рентгеновских лучей и снижение интенсивности фона относительно интенсивности аналитической линии. [c.235]

Существует большое число методов, которые могут быть использоваиы при проведении количественного рентгеноспектрального анализа для установления относительных интенсивностей спектральных линий. Для систематического рассмотрения этих методов и их анализа удобно разделить их на три группы. К первой группе можно отнести методы, оспонанные на прямом использовании характеристической кривой эмульсии ко второй — методы, требующие знания параметров так называемых преобразованных функций почернения и, иаконец, к последней группе—те из методов, которые позволяют определять относительную интенсивность рентгеновских спектральных линий искусственными приемами. Методы последней группы можно применять даже тогда, когда в явном виде неизвестна форма кривых, характеризующих фотографические свойства эмульсии. [c.76]

Рассматриваемый метод определения относительной интенсивности спектральных линий основан на использовании явления поглощения. В описанном ниже виде метод был предложен впервые для решения некоторых задач оптического спектрального анализа Террейем и Барретом [68]. В рентгеновской области спектра этот метод применил И. Г. Демьяников [69]. Идея метода заключается в следующем. На пути рентгеновских лучей перед кассетой спектрографа располагают алюминиевый клинообразный поглотитель, толщина которого уменьшается вдоль спектральных линий, например, сверху вниз. При таком расположении поглотителя поглощение монохроматических лучей в алюминиевом клине будет приводить к ослаблению начальной интенсивности линии, величина которого будет тем больше, чем дальше удалена от основания рассматриваемая точка линии Известно, что коэффициент поглощения вещества зависит от длины волны рентгеновских лучей. Поэтому излучение различного состава, вообще говоря, должно поглощаться в клине по-разному. Однако для спектральных линий с близкими длинами волн, которые наиболее часто используются для [c.86]

Проведенная нами совместно с И. Д. Шевалеевским [75] экспериментальная проверка подтвердила упомянутые свойства хИ г-Диаграммы и возможность использования этого метода для определения относительной интенсивности рентгеновских спектральных линий. Одновременно с этим была изучена также степень зависимости величины параметров, входящих в уравнение (56) (постоянных й и 6), от состава эмульсии и условий ее проявления. [c.96]

При фотографической регистрации спектра и использовании данных об относительной интенсивности спектральных линий, небольшие колебания в силе тока, проходящего через рентге1ювскую трубку, не должны оказывать существенного влияния на результаты количественного определения элементов. Р1наче обстоит дело нри применении ионизационных методов регистрации спектров. В этом случае для достижения надлежащей точности анализа необходимы либо прямая стабилизации интенсивности излучения рентгеновских трубок, либо использование специальных приемов измерения интенсивности линий [85]. [c.107]

В тех случаях, когда среди определяемых элементов находятся церий или неодим, их абсолютное содержание в пробе может быть установлено с большей точностью, чем по методу внутренних коэффициентов, посредством обычного приема домешивания в пробу внешнего по отношению к определяемому элемента сравнения. При определении церия в качестве такого элемента удобно выбирать барий [107], при анализе на неодим иногда применяется цинк [102]. Количество домешиваемого в пробу элемента сравнения зависит от того, при помощи какого из известных приемов определения относительной интенсивности рентгеновских спектральных линий предполагается проводить количественный анализ. Этот вопрос уже достаточно подробно рассмотрен выше (глава V). Здесь уместно будет лишь напомнить, что в большинстве случаев в целях упрощения анализа и повышения точности его результатов следует стремиться к тому, чтобы количество вводимого в анализируемую пробу вспомогательного элемента обеспечивало примерное равенство почернений линии определяемого элемента и линии элемента сравнения. Например, при количественном определении в пробе церия путем сопоставления его х-линии с L i-линиеп бария, используемого в качестве элемента сравнения, равенство интенсивности обеих линий наблюдается [107], если атомное содержание церия составляет 0,58 от содержания бария. [c.176]

Сопоставление полученных этими авторами результатов с данными об относительной интенсивности рентгеновских спектральных линий элементов -серии (см. табл. 14) позволяет сделать два практически важных вывода. Экспериментально полученное значение переходных коэффициентов для х-линии неодима и р -линии церия (0,59), расстояние между которыми около 28 X, практически совпадает с величиной, характеризующей отрюсительную (по сравнению с а -линией) интенсивность слабейшей из этих линий для любого из редкоземельных элементов, в то время как для более удаленных друг от друга линий N(1 <Х1 и Ьа Рх (Д>.— 180 X) оно меньше теоретического и равно 0,53. Отсюда следует, во-первых, что в условиях, принятых для проведения анализа, интенсивность линий, находящихся друг от друга на расстоянии порядка 30—60 X, не претерпевает заметных искажений, и при переходе от относительных интенсивностей линий к отношению атомных содержаний элементов в пробе можно опираться на теоретически установленные значения переходных коэффициентов. На этом основании И. Б. Боровский и М. А. Блохин принимают, что для линий Ьа и Рг х (ДХ- в X) так же, как и для линий BaZ.Pi и Се —12 X) [c.178]

Относительные интенсивности линии в пределах одной спектральной серии были предметом многочисленных исследований. Сравнительно легко получить надежные результаты по относительной интенсивности двух линий, мало отличающихся по длине волны, например для Каи а или 2-Гораздо труднее вычислить поправки для отпошепия интенсивностей линий, значительно различающихся по длине во,лны. Так, особенно трудно получить сравнительные данн1.1е по К- и -спектру одного элемента. Необходимо учитывать такие факторы, как напряжение, эффективность приемника излучения, поглощение излучения и т. д. Найдено, что отношение интенсивностей KaJKrxi всегда близко к /2, в то время как отношение интенсивностей Д.ИЯ других линий серий меняется систематически по мере изменения атомного номера. Для основных рентгеновских линий, применяемых в аналитической практике, имеют место следуюпдие приблизительные соотношения [c.207]

Сравнительно недавно [27] были получены спектры РФС газообразных веществ, ранее исследуемых методом УФС. Полученные интересные результаты основаны на относительных поперечных сечениях фотоионизащ1и валентных электронов в зависимости от энергии источника. Например, для рентгеновского излучения с больщей энергией электроны на молекулярной орбитали, составленной главным образом из атомных 5-орбиталей, имеют более высокое относительное поперечное сечение (и, следовательно, большую интенсивность спектральной линии), чем электроны на молекулярной орбитали, составленной в основном из атомных 2р-орбиталей. Сопоставление спектров РФС и УФС указывает на различные относительные интенсивности соответствующих пиков. Пик, обусловленный электронами на молекулярных орбиталях, составленных главным образом из атомных орбиталей 5-типа, имеет большую относительную интенсивность в спектре РФС, чем в спектре УФС. [c.340]

Фазовый состав катализаторов. Для общего фазового анализа катализаторов используются в основном два метода — рентгенография и дифракция электронов (электронография), хотя для некоторых специальных задач могут применяться и другие физические методы — магнитной восприимчивости, термография, ЭПР, различные виды спектроскопии. Практически наиболее широко применяется рентгенография, основанная иа дифракции характеристического рентгеновского излучения на поликристаллических образцах. Каждая фаза имеет свою кристаллическую решетку и, следовательно, дает вполне определенную дифракционную картину. На дебаеграмме каждой фазе соответствует определенная серия линий. Расположение линий на дебаеграмме определяется межплоскостными расстояниями кристалла, а их относительная интенсивность эависит от расположения атомов в элементарной ячейке. Межплоскостные расстояния d вычисляются по уравнению Брэгга—Вульфа [c.379]

Так как линии рентгеновской флуоресценции возникают вследствие переходов электронов в наиболее глубоких внутренних электронных слоях, энергия химической связи в общем слишком мала для того, чтобы изменить состояние электронов этих слоев. Напротив, в случае легких элементов в образовании связи участвуют электроны ЛI-oбoлoчки. В этом случае могут проявляться заметные смещения длин волн, например, для элемента и его окисла. Для А1/Ср-линий это различие составляет ДЯ = 0,02 А. Наряду с изменением длины волны изменяется и относительная интенсивность линий. Длины волн линий алюминия изменяются также в зависимости от его координационного числа по отношению к кислороду. Этим способом можно было бы. например, определить координационные числа алюминия в полевых шпатах и других алюмосиликатах. [c.217]

Относительные интенсивности линий. Хотя имеется большое число возможных переходов для заполнения вакансий на оболочке, за счет которых возникают линии рентгеновского излучения различной энергии, например Ка и К или вплоть до 25 различных -линий, вероятность каждого типа перехода меняется в значительной степени. Относительные интенсивности линий означают относительные вероятности образования линий внутри серии, т. е. линий, возникающих за счет ионизации данной оболочки. Отметим, что относительное соотношение линий устанавливается внутри серии, например такой, как -серия эти величины не включают в себя относительные соотношения линий между сериями, как, например, /С-серии по отношению к -серии. Относительные интенсивности линий в серии сложным образом меняются в зависимости от атомного номера. Соотношение линий в /С-серии хорошо известно, но в - и М-се.-риях они известны гораздо меньше. В табл. 3.7 в первом приближении приведены относительные интенсивности линий значительной интенсивности относительные интенсивности линий являются полезными при интерпретации спектров, наблюдаемых с помощью рентгеновского спектрометра с дисперсией по энергии. [c.76]

Метод трех поправок часто используют для получения количественных результатов, исходя из измеренных значений относительных интенсивностей. Этот метод, по-видимому, применим к любому классу образцов. Однако при анализе рентгеновского излучения с энергией меньше 1 кэВ он не дает хороших результатов главным образом из-за отсутствия знания входных параметров и аппроксимации в моделях, лежащих в основе метода. По этим причинам анализ с использованием низкоэпергетнче-ских рентгеновских линий обеспечивает меньшую точность, чем в случае использования высокоэнергетических. Точность анализа с использованием низкоэнергетических рентгеновских линий можно улучшить при использовании правильно подготовленных (гл. 8) эталонов, близких но составу к образцу. [c.32]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология