Сканирование связанное

Многообразие узкоспециализированных систем сканирования, связанное со множеством форм и размеров объектов контроля, до последнего времени не позволяло решить проблему разработки и внедрения унифицированных автоматизированных средств дефектоскопии. Однако промышленные роботы и манипуляторы продолжали развиваться. Их массовое производство дало возможность начать создание на их основе робототехнических комплексов неразрушающего контроля (РТК НК), состоящих из серийно выпускаемых приборов неразрушающего контроля, промышленных роботов, выполняющих функции перемещения датчика прибора относительно объекта контроля, а также специализированных устройств связи прибора, робота и объекта контроля. [c.31]

Для большинства неорганических систем достаточна стабильность и однородность около 1 Гс. Стабильность достигается питанием магнита от тонко регулируемого блока питания. В современных магнитах для непосредственного детектирования изменений напряженности поля и стабилизации могут использоваться датчики на основе эффекта Холла. Система сканирования, связанная с источником питания, позволяет линейно изменять магнитное поле во времени. Для упрощения интерпретации спектров надо, чтобы изменения поля были линейны и строго воспроизводимы. [c.39]

Общий недостаток градиентных методов в оптимизации, за исключением, может быть, метода тяжелого шарика , состоит в том, что все они застревают в ближайшем локальном оптимуме, в область притяжения которого попадает выбранная начальная точка спуска. В отличие от этих методов метод сканирования никак не связан с наличием локальных оптимумов целевой функции. Поэтому его можно использовать иногда для предварительного грубого установления границ областей притяжения указанных оптимумов, после чего могут уже применяться градиентные методы спуска для измерения точной глубины каждого локального оптимума. . [c.508]

Важным понятием РЭМ, связанным с принципом сканирования и увеличением, является размер элемента изображения , или точки изображения . Элементом изображения является область на образце, на которую попадает пучок и информация из которой передается в одно пятно на экране ЭЛТ. На экране ЭЛТ высокого разрешения, используемых для фотосъемки, ми- [c.105]

Из-за требования, согласно которому в системе с дисперсией по длинам волн источник рентгеновского излучения должен находиться точно на круге фокусировки Роуланда, сканирование по большой площади может приводить к падению интенсивности излучения на краях области сканирования. Это явление проявляется заметнее с повышением разрешения кристалл-дифракционного спектрометра. Одним из способов контроля, насколько серьезно падение интенсивности рентгеновского излучения, является получение изображений в рентгеновских лучах образца из чистого элемента для различных размеров растра. Это может быть выполнено в каждом спектрометре для каждого кристалла. К счастью, такие связанные с фокусировкой трудности отсутствуют в системе с дисперсией по энергии, которая позволяет рассматривать большую площадь образца даже при коллимации (рис. 5.41, гл. 5). [c.300]

Здесь уместно обсудить скорость сканирования в связи с постоянной времени электронной системы и скоростью отклика следящей системы. Назначение полосового фильтра (через который проходят сигналы с частотой модуляции, а все остальные сигналы задерживаются) в схеме усилителя состоит в том, чтобы уменьшить случайные электрические сигналы (шум) и прохождение частоты 50 Гц из сети. Чем на более узкую полосу частот настроен фильтр, тем ниже уровень шума, но при этом вся система будет более инертной. Кроме того, в некоторых схемах устанавливается дополнительный фильтр для электронного усреднения шума. Обычно эти параметры являются лимитирующими при определении скорости сканирования, так как скорость отклика мотора пера самописца и связанной с ними электрической цепи обычно меньше, чем время отклика усилителя. [c.52]

Связанное сканирование электрического и магнитного полей по закону В1 E Jl-E используется для регистрации дочерних ионов, образующихся при выбросе одной и той же нейтральной частицы. [c.64]

Обратите внимание на разность между m/z молекулярного иона и m/z близких к нему по массе фрагментов, а также между различными осколочными ионами. Определите возможные элиминируемые нейтральные частицы подтвердите ваши предположения с помощью метастабильных пиков (если таковые имеются в спектре) или связанного сканирования (разд. 5.4.1 и 5.4.2). Здесь могут оказаться полезными данные, представленные в табл. 5.3. [c.225]

Как показано на рис. 8.9 (II и IV), при сканировании по отражению излучения ртутного источника с длиной волны 254 нм и по ослаблению флуоресценции при той же длине волны получаются пики одинаковой высоты. Однако по сравнению с методом отражения метод ослабления флуоресценции характеризуется более высоким уровнем фона, связанного с неоднородным распределением индикатора в слое сорбента. Именно поэтому, несмотря на одинаковые высоты пиков, отношение высоты пиков к уровню фона в методе отражения выше, чем в методе ослабления флуоресценции. Даже при измерении отражения на ВЭТСХ-пластинках с флуоресцентным индикатором фон значительно больше электрических помех фотометра. [c.188]

Существенный недостаток количественных методов анализа тонкослойных хроматограмм, основанных на измерении пропускания света, был связан с нелинейной зависимостью сигнала оптического детектора от количества вещества в хроматографическом пятне. Эта нелинейность обусловлена специфическим законом прохождения света в рассеивающей среде, описываемым уравнением Кубелки — Мунка, и неоднородностью пластины по толщине слоя адсорбента. Последнюю можно учесть, измеряя оптические свойства подложки непосредственно в хроматографическом пятне. Использование двухволнового метода спектрофотометрического детектирования, когда излучение одной волны Л поглощается и веществом, и адсорбентом, а другой волны Лг — только адсорбентом, позволяет выделить сигнал, связанный с поглощением излучения только анализируемым веществом. Дальнейшая обработка сигнала детектора в соответствии с уравнением Кубелки — Мунка позволяет линеаризовать зависимость оптического сигнала от количества вещества в ТСХ. Поглощение света адсорбентом может быть учтено также при спектрофотометрическом сканировании пластины на просвет и отражение. Эти принципы реализованы в лучших современных зарубежных денситометрах — флуориметрах. Менее точным, но более простым решением является линеаризация зависимости сигнал — вещество с помощью двойного логарифмирования (с использованием ЭВМ). В результате этих усовершенствований воспроизводимость результатов в современной количественной ВЭТСХ приближается к 1%. Использование двухкоординатного сканирования в случае эллипсовидных пятен (двумерное размывание зон в ТСХ) и многошагового сканирования пятен неправильной формы (дву- [c.370]

Блок формирования шкалы температур ШТ генерирует несколько нарастающих импульсов, имеющих период и длительность строчной развертки, а закон их нарастания выбран так, чтобы соответствовать линейному изменению температур. Благодаря работе блока ШТ по яркости свечения экрана можно проводить сравнение температуры участков контролируемого объекта с опорными значениями на шкале температур. Формирование напряжений для перемещения луча по экрану ЭЛТ производят генератор кадровой развертки ГК и генератор строчной развертки ГС. Синхронизация генераторов развертки осуществляется от формирователей запускающих импульсов кадровой (ФК) и строчной (ФС) разверток соответственно. Формирователь импульсов кадровой развертки ФК связан с двигателем ДК, обеспечивающим сканирование в вертикальной плоскости, что соответствует перемещению луча сверху вниз, а формирователь импульсов развертки ФС связан с двигателем ДС, вращающим призму Зг сканирования в горизонтальной плоскости, что соответствует быстрому перемещению луча слева направо. [c.203]

В лазерных сканирующих системах для движущихся объектов (см. рис. 11.2) качающимся сканирующим зеркалом управляет тактовый генератор, который должен быть связан с датчиком движения объекта для гарантии отсутствия пропусков и повторных проходов при сканировании. Механизм получения образа развертки поверхности полностью аналогичен такому механизму у систем для неподвижных объектов. [c.715]

В двухлучевых оптических спектрометрах поток от источника разделяется на два — основной и поток сравнения. Чаще всего применяется двухлучевая схема оптического нуля (рис. 11.10), представляющая собой систему автоматического регулирования с обратной связью. При равенстве потоков излучения, проходящих через образец и фотометрический клин и попеременно посылаемых модулятором на входную щель монохроматора Ф, система находится в равновесии — клин неподвижен. При сканировании монохроматора по длинам волн пропускание образца меняется и равновесие нарушается — возникает сигнал разбаланса, который усиливается и подается на сервомотор, управляющий движением клина и связанным с самописцем. Клин перемещается до тех пор, пока вносимое им ослабление потока сравнения компенсирует ослабления, вносимые образцом. Диапазон перемещения клина согласуется со шкалой (от О до 100%) коэффициента пропускания образца. [c.218]

Особенно интенсивно приступили к исследованиям и разработкам в области АЭ в середине 60-х годов в связи с насущной необходимостью создания систем предэксплуатационного и эксплуатационного контроля особо ответственных технических объектов - корпусов ракет и ядерных реакторов, трубопроводов АЭС, других крупных инженерных сооружений. Достоинство систем АЭ-конт-роля и диагностики - возможность регистрации сигналов, возникающих достаточно далеко от преобразователя, что позволяет не проводить сканирования объекта, присущего обычным УЗ-методам контроля. Поэтому АЭ-системы практически безынерционны и потенциально более надежны из-за отсутствия перемещения преобразователей. Эти достоинства послужили основой для широкого развертывания работ по созданию АЭ-систем эксплуатационного контроля объектов и связанных с ними методических и аппаратурных разработок и исследований самого явления. Однако само явление АЭ и причины, его порождающие, оказались более сложными, чем считалось в 60-х годах. По-видимому, конец 70-х годов следует рассматривать как начало второго этапа исследований в области АЭ, когда была осознана вся сложность проблем, возникающих при разработке АЭ-систем контроля, создана исследовательская аппаратура, накоплен определенный экспериментальный материал, создана база для оперативной автоматической обработки данных, достаточная для решения как исследовательских, так и технических проблем. [c.161]

Линейное движение осуществляется со скоростью, достаточной для обеспечения необходимой экспозиционной дозы >э. Диапазон линейных перемещений должен превышать размеры контролируемого объекта, что позволяет осуществлять коррекцию метрологических характеристик измерительного канала в ходе всего процесса сканирования. Это положение облегчается тем, что в системе обычно имеется еще один - опорный детектор, идентичный измерительному, но жестко связанный с излучателем и формирующий необходимый сигнал /о (/), используемый для непрерывной коррекции на мгновенные нестабильности параметров рентгеновского излучения согласно соотношению (2). [c.157]

Выбор схемы сбора измерительных данных зависит от многих противоречивых факторов. По-видимому, для задач, не требующих повышенной скорости сканирования, и для интенсивных источников (ускорителей) с относительно узкими рабочими углами излучения технико-экономически предпочтительно второе поколение. В то же время наибольшая производительность и простота механических узлов сканирования характерны для многослойных систем третьего (четвертого) поколения, что обусловлено, однако, значительно большей сложностью блока детекторов и связанных с ним электронных устройств. [c.159]

Стол пациента обеспечивает удобное и правильно выбранное с точки зрения диагностических целей исследования положение пациента и его иммобилизацию на время сканирования. Стол обычно конструктивно связан со сканирующей системой. Средние характеристики стола ширина поверхности 680 мм, высота 800 мм, диапазон вертикальных перемещений от среднего положения 150 мм, продольное перемещение пациента 350 мм (для черепной диагностики) и 1500 мм (для исследования всего тела), поворот в горизонтальной плоскости в пределах 15°, скорость механизированного перемещения вверх/ вниз 10 мм/с, скорость продольного перемещения от 4 до 200 мм/с. Верхнее значение скорости продольного перемещения предназначено для быстрого автоматического аварийного вывода пациента из зоны исследования. На случай аварийных ситуаций предусматривается питание привода от резервного источника. Точность фиксации пространственного положения стола составляет обычно 0,5 мм. [c.189]

Метод кинетической абсорбционной спектроскопии, охватывающий электронную область спектра, хорошо известен как основной метод наблюдения за концентрациями радикалов, реагентов и конечных продуктов, образующихся в результате импульсного фотолиза. Однако этот метод стал широко использоваться во многих струевых разрядных установках только недавно. Основной трудностью является низкая оптическая плотность газа, связанная с малой толщиной поглощающего слоя и низкой концентрацией радикалов (метод атомной резонансной спектроскопии, рассматриваемый ниже, — важное исключение). Из-за низких оптических плотностей сканирование полосатых спектров неизвестных химических систем затруднительно. Этот метод более всего подходит для исследования радикалов, чьи электронные спектры поглощения достаточно точно определены. [c.313]

При количественных определениях возникает ряд ошибок, связанных с вариациями скорости распыления, размера капелек, флуктуаций давления газа, изменением вязкости жидкости и поверхностного натяжения. Влияние указанных факторов можно уменьшить, используя метод внутреннего стандарта. В этом методе в растворы образцов и стандартов вводят определенное количество некоторого элемента, спектральные свойства которого близки к свойствам исследуемого элемента. Затем измеряют интенсивность излучения внутреннего стандарта (ст) и исследуемого элемента (X) одновременно (при помощи так называемых двухлучевых приборов, снабженных двумя коллекторами) либо последовательно (сканированием двух линий в эмиссионном спектре). [c.89]

Установка ДФС-44 представляет собой невакуумный вариант квантометра ДФС-40. Она предназначена для анализа металлов, сплавов и порошкообразных материалов, имеющих сложный спектр. В конструкции полихроматора предусмотрено новое устройство сканирования и автоматической корректировки положения спектра, которое осуществляется дискретным перемещением входной щели с помощью управляемого от ЭВМ шагового двигателя. В штативе прибора имеется устройство, обеспечивающее автоматическую последовательную установку 18-ти пар электродов на оптическую ось. Прибор дополнительно комплектуется источником индуктивно-связанной плазмы. [c.71]

Быстрое развитие и широкое применение ФС обусловлены рядом преимуществ фурье-спектрометра по сравнению с дисперсионными приборами. Т. наз. выигрыш Фелжета, или мультиплекс-фактор, связан с тем, чго любая точка ингерфе-рограммы содержит информаггию о всей исследуемой спектральной области. На детектор в каждый момент поступают сигналы, соответствующие всем частотам. За одно сканирование (за время ( ) регистрируется спектр с таким же отно- [c.222]

Следует выбрать самые интенсивные пики в коротковолновой области сканирования кристалла LiF и найти их длины волн. Используя полный справочник рентгеновских лучей, например [113], определить возможные элементы, которые могут дадать рассматриваемые пики в излучении Kai, 2 или Lai, 2-В параллель, используя данные о серии линий, полученные при качественном анализе с помош,ью спектрометра с дисперсией пО энергии, если какой-либо элемент уже предварительно связан с пиком Kai,2(n= ), исследователь должен сразу же отыскать сопутствующий им пик И снова отнощение интенсивностей Ка и должно равняться приблизительно 10 1. Однако из-за изменений в эффективности кристалла и детектора ожидаемое отношение может выполняться не всегда. Например, в спектре d (рис. 6.12) эффективность детектора с коротковолновой стороны Л"-края поглощения аргона приблизительно 2 раза выше. Следовательно, пик L i, интенсивность которого должна составлять примерно 60% от интенсивности La, на самом деле больше. Удвоение эффективности до /(-края поглощения аргона обусловлено тем, что в проточном пропорциональном детекторе рентгеновского излучения этого спектрометра используется газ Р-10 (90% Аг—10% метана). При заданных размерах детектора и давлении газа Р-10 некоторая часть рентгеновского излучения с длиной волны, большей, чем длина волны края поглощения, проходит через газ, не взаимодействуя с ним. Для рентгеновского излучения с длинами волн короче длины волны края поглощения большая часть (приблизительно в 2 раза) будет взаимодействовать с газом и, следовательно, будет обнаружена. Следует также отметить, что разрешения кристалл-ди-фракцнонного спектрометра с некоторыми кристаллами, например LiF и кварцем, дое-таточно, чтобы продемонстрировать по крайней мере некоторое разделение пика Ка на Kai и Ка.2 с отношением интенсивностей Ка. Ка2=2 . Если подобно этому рассматривать пик La, то следует искать полную L-серию. Необходимо отметить, что кроме тех L-линий, которые указаны на рис. 6.1 (т. е. Lai, 2, Lfiu L 2, L 3, L u Lyz, Li, Lv), благодаря прекрасному разрешению и отношению пик/фон можно обнаружить их больше. При идентификации серии линий возможна ситуация, когда из-за ограничений использования кристаллов по длине волны может быть обнаружен только главный пик (например, Gex с LiF, а Ge/ g лежит за пределами диапазона кристалла). С учетом этого факта в спектре, полученном с по- [c.294]

Несмотря на то, что МС-МС можно реализовать с большинством из описанных выше (в разд. Разделение ионов , с. 274) масс-анализаторов, в большинстве случаев используют секторные и квадрупольные анализаторы. Схематичное изображение нескольких типов приборов для МС-МС приведено на рис. 9.4-9. В спектрометрах с двойной фокусировкой с геометрией ЕВ или ВЕ ионизационную камеру помещают либо в первой, либо во второй бесполевой области. Если камера расположена в первой бесполевой области масс-спектрометра с геометрией ВЕ (рис. 9.4-9,а), детектирование дочерних ионов конкретного родительского иона проводят сканированием при постоянном отношении В/Е (так называемый В/ связанный режим сканирования). Очевидно, при таком подходе разрешение ограничено оно составляет около 1000 для родительского иона и 5000 для дочернего иона. Другие секторные спектрометры, обладающие лучшим разрешением, состоят из трех или четырех секторов с камерой столкновений, расположенной в третьей бесполевой области, либо представляют собой комбинированные спектрометры, например, с BE-q тoлкн-Q геометрией (см. рис. 9.4-9,б) и квадрупольной ионизационной камерой. В комбинированных спектрометрах ионы, проходящие через область ВЕ, замедляются перед квадрупольной камерой. Важное преимущество комбинированных спектрометров заключается в возможности выбора родительского иона с большим [c.283]

Методы связанного сканирования (linked s an). Рассмотренные выше методы анализа метастабильных ионов включали сканирование одного поля при неизменных двух других (V, Е, В). Однако возможно одновременное сканирование двух полей при фиксированном третьем поле. [c.64]

Один из вариантов включает связанное сканирование ускоряющего напряжения (V) и напряженности ( ) электростатического анализатора так, чтобы Е IV = onst. Этот способ позволяет регистрировать все дочерние ионы m2, образующиеся в одну стадию из иона nti в 1БПП. Аналогичные результаты получаются при таком связанном сканировании, когда В/Е = onst, а ускоряющее напряжение остается неизменным. В обоих случаях используется масс-спектрометр с прямой геометрией. [c.64]

Еще один тип связанного сканирования включает изменение магнитного (В) и электростатического (Е) полей по закону ВУЕ = = onst при фиксированной величине V. Здесь также используется масс-спектрометр с прямой геометрией, а метод позволяет записывать спектр всех родительских ионов т,, которые при распаде в 1БПП образуют в одну стадию одинаковые ионы m2. [c.64]

Существенным ограничением ПИА является сложность хфоведения многокомпонентных определений, а также одновременного определения двух и более компонентов из одной микропробы. Эта проблема может быть решена, по крайней мере, двумя способами 1) применением многокомпонентных детекторов (например, атомно-эмиссионного спектрометра с индуктивно связанной плазмой), созданием и использованием потокораспределительных систем с двумя и более детекторами 2) сочетанием кинетических тфинцнпов ПИА с динамическим детектором. Подход состоит в непрерывном сканировании физического параметра вдоль градиента концентрации образца, образующегося при движении инжектируемой микропробы в потоке носителя. [c.416]

Погрешности, связанные с состоянием контролируемого изделия и его фиксацией - это прежде всего пофешности из-за неконтролируемых смещений и деформаций объекта контроля или его элементов в процессе сканирования. Источниками погрешностей могут служить и слишком плотные структурные элементы, выходящие за динамический диапазон плотностей данного вычислительного томофафа. Определенное значение имеют точность установки изделия в пределах рабочего поля сканирования, вариации размеров изделия и пофешности определения пространственного положения изделия. [c.150]

Томографы первого поколения осуществляли сканирование исследуемого объекта одиночным коллимированным рентгеновским лучом, а излучение, прошедшее через объект, регистрировалось одним детектором, жестко связанным с излучателем. Система излучатель - детектор совершала поступательно-вращательное движение из 180 линейных сканирований, поворачиваясь после каждого линейного сканирования на 1°. В качестве детектора в томофафах первого поколения использовался сцинтиллятор на основе кристалла йодистого натрия и ФЭУ. [c.186]

В работах [79, 80] изучался спектр (см. разд. 1.16.3) преимущественно синдиотактического полиметилметакрилата (аналогичного полимеру /, см. разд. 3.4 и 3.5). Условия регистрации спектра не позволяли получить оптимальное разрещение, так как из-за низкой чувствительности и малого естественного содержания использовался 50%-ный раствор полимера в хлорбензоле спектр снимали при i 60° . Тем не менее, вследствие малого значения магнитного момента линии не слишком широки и можно получить полезные результаты. На рис. 3.8, а представлен спектр всех атомов углерода, за исключением углерода карбонильной группы на рис. 3.8, б — спектр карбонильного углерода. Спектры сняты на частоте 25,14 МГц (напряженность поля 23,4 КГс) и представляют собой накопление свыше 200 сканирований (на накопителе спектров САТ ). Химические сдвиги выражены в м. д. относительно внешнего эталона СЗг (см. разд. 1.17.2). Спин-спи-новые взаимодействия С—Н непосредственно связанных атомов углерода и водорода, составляющие около 125 Гц, вызывают расщепление некоторых сигналов i сигнал СНг должен быть триплетом, СНз — квадруплетом, а сигналы С=0 и четвертич- [c.92]

Кризон и Нельсон [115] получали кривые зависимости тока от V r при постоянном потенциале, регистрируя корень квадратный из частоты по тахометру, связанному с ротатором электродвигателя. Миллер и Брукенштейн [386] разработали блок электрической ре гулировки скорости, который был запрограммирован на изменение Veo пропорционально времени. Они регистрировали зависимость либо тока от со (гидродинамическая амперометрия), либо потенциала от Veo (гидродинамическая потенциометрия). Управляющее устройство позволяло также регистрировать потенциал в зависимости от тока при постоянной поверхностной концентрации реагирующих частиц путем фиксации величины 1/V при сканировании тока. Теорети ческое описание всех этих методов дано Миллером и Брукенштейном [306]. [c.183]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология