Сканирование спектра элементов

Наибольшей гибкостью обладают эшелле-спектро-метры с телевизионными твердотельными приемниками излучения, в которых какие-либо подвижные механические элементы вообще отсутствуют. Весь спектр проецируется на фотокатод диссектора или многоэлементную матрицу, осуществляющие электронное сканирование спектра. [c.386]

Пока что частотно-селективные спектрально-аналитические установки позволяют вести определение элементов последовательно по заданной программе. Можно, однако, полагать, что в дальнейшем будут реализованы условия и для определения элементов группами. При последовательном определении элементов значительно легче создать оптимальные условия формирования сигнала фотоумножителя в процессе сканирования спектра с учетом особенностей аппаратурного профиля аналитической линии. Особенно важно учитывать этот параметр при использовании аналитических линий, склонных к самообращению. [c.23]

Кинематическая часть спектрального прибора состоит из трех основных механизмов сканирования спектра, раскрытия щелей монохроматора по заданному закону и кинетической связи пера самописца с элементом прибора, управляющим величиной светового потока (в приборах с оптической компенсацией таким элементом является фотометрический клин) все три механизма кинематически связаны между собой. [c.207]

Приборы со сканированием спектра выпускаются двух типов с перемещением щели вдоль неподвижного спектра и с поворотом диспергирующих элементов. [c.290]

В том случае, когда сканирование спектра осуществляется изменением давления, а диспергирующим элементом предварительного монохроматора является дифракционная решетка, последнюю целесообразно поместить в одну камеру с эталоном, так как тогда отпадает необходимость поворота решетки при изменении давления длина волны излучения, дифрагированного решеткой в данном направлении, и длина волны излучения, прошедшего через эталон, будут изменяться на одну и ту же величину. Покажем это. Изменение длины волны dK, вызванное изменением показателя преломления dn воздуха в эталоне, найдем, продифференцировав выражение [c.321]

На рис. 7.5 представлена схема механизма для возвратно-поступательного поворота диспергирующего элемента и регистрограмма изотопной структуры, полученная с помощью такого прибора. Для быстрого сканирования спектра непрерывное вращение диспергирующего элемента применяется редко, так как скважность такой записи слишком велика. Скважностью в данном случае мы будем называть отношение времени холостого хода к времени записи спектра. Для вращающейся призмы или решетки эта величина обычно составляет один-два порядка. Она зависит от типа призмы или решетки и регистрируемого спектрального интервала. [c.195]

Однако очень часто, особенно при определении ультрамалых абсолютных содержаний элементов, условия для фотоэлектрической регистрации весьма далеки от оптимальных. Поэтому применяют, как правило, фотографическую регистрацию, обеспечивающую при интегральном приеме близкую к теоретической возможность обнаружения слабых флуктуирующих линий на флуктуирующем сплошном фоне. По-видимому, с помощью периодического сканирования спектра можно было бы создать оптимальные условия для фотоэлектрической регистрации и в этих случаях анализа. Но неизвестно, окупится ли при этом значительное техническое усложнение метода тем выигрышем в пределе обнаружения по сравнению с фотографической регистрацией, который предсказывается теорией [748, 429], тем более, что теоретические расчеты пока не подтверждены непосредственными сравнительными экспериментами. [c.67]

В заключение остановимся на использовании для целей регистрирующей фотометрии пламени спектрографа ИСП-51 в комбинации с фотоэлектрической приставкой ФЭП-1. Для работы в видимой части спектра это, вероятно, наиболее совершенный прибор из доступных в настоящее время особенно пригодный для определения элементов со сложными молекулярными спектрами, какими являются спектры редкоземельных элементов . Прибор позволяет записывать спектры элементов с излучением в области 400—670 ммк. Для использования с целью определения щелочных металлов К, Rb, s необходимо заменить фотоумножитель ФЭУ-17 на фотоумножитель, чувствительный к инфракрасной части спектра, например ФЭУ-22, и изменить расположение призм в приборе чтобы сделать доступной для сканирования инфракрасную область спектра. Необходимо также увеличение скорости сканирования спектра, что достигается изменением конструкции механизма передачи от мотора к барабану вращения призм или установкой внешнего мотора с редуктором. [c.156]

Если используют фотометр со сканированием и записью спектра, то подготовка аппаратуры, кроме включения прибора и самописца и установки входной и выходной щелей, а также установки режима горения пламени, включает юстировку положения горелки. Для этого поступают согласно вышеописанному выводят, выключив механизм развертки спектра, аналитическую линию на выходную щель, после чего юстируют горелку. При этом в пламя вводят раствор соли определяемого элемента и контролируют юстировку, добиваясь максимального отсчета по шкале потенциометра-самописца. Затем барабан шкалы длин воли сдвигают на несколько миллимикрон от установленного положения, для того чтобы можно было получить отсчет для фона у основания аналитической линии, и прибор готов к измерениям. При фотометрировании вводят в пламя исследуемый раствор и включают механизмы сканирования спектра и передвижения бумажной ленты самописца. После окончания записи возвращают барабан развертки спектра в исходное положение и переходят к записи спектра следующего раствора. [c.177]

Прибор может быть применен и для эмиссионных измерений. Аналитическую линию во втором канале выделяют с помощью интерференционных светофильтров. Второй канал используют в приборе в основном в качестве канала сравнения для компенсации помех, вносимых пламенем, путем введения внутреннего стандарта. В некоторых случаях второй канал можно применять для одновременного определения какого-либо другого элемента. Двухлучевая осветительная система позволяет учесть флуктуации от источников излучения. В приборе имеется автоматическая система зажигания и гашения пламени, устраняющая опасность проскока пламени, что особенно важно при работе с пламенем закись азота — ацетилен. Для эмиссионных измерений предусмотрено сканирование спектра. Аналоговая схема интегратора обеспечивает интегрирование показаний, увеличивая точность получаемых данных. Результаты измерений в единицах оптической плотности или концентрации выдаются на цифровой счетчик. В модели IL-353 предусмотрена автоматическая корректировка нулевого отсчета. Кроме того, при отсчете результатов измерений в единицах концентрации производится автоматическая корректировка получаемых данных по заложенным в прибор калибровочным графикам. Существует возможность подключения двухканального самописца. Внешний вид прибора показан на рис. 10. [c.250]

Однако очень часто, особенно при определении ультрамалых абсолютных содержаний элементов, условия для фотоэлектрической регистрации весьма далеки от оптимальных. Поэтому применяют, как правило, фотографическую регистрацию, обеспечивающую при интегральном приеме близкую к теоретической возможность обнаружения слабых флуктуирующих линий на флуктуирующем сплошном фоне. По-видимому, с помощью периодического сканирования спектра можно было бы создать оптимальные условия для фотоэлектрической регистрации и в этих случаях анализа. [c.67]

В этой области, как легко показать, на сканирование спектра требуется в М раз меньше времени, чем на запись интерферограммы фурье-спектрометром, при одинаковом в обоих случаях разрешении и отношении сигнала к шуму в спектре. Предполагается, конечно, что процесс перестройки лазера по частоте во всем спектральном диапазоне много быстрее, чем время записи одного элемента. [c.188]

Были предприняты попытки решить эту задачу различными методами, основанными на сканировании спектра (например, [7— 10]). Сканирование осуществляют с помощью колеблющихся щели, зеркала или плоскопараллельной пластины. Преимущество такого метода состоит в простоте, а недостаток в том, что нельзя измерить полный контур интенсивности. Последнее приводит к уменьшению предела обнаружения. По этой же причине снижается интенсивность света, и поэтому измерение интенсивности слабой линии элемента, присутствующего в следовых количествах, становится менее точным. Наконец, метод неприменим для анализа образцов малой массы и для локального анализа. В этих случаях часто оказывается, что излучение низкой интенсивности существует очень короткое время. Однако эти способы при благоприятных условиях часто могут снижать предел обнаружения на 1—2 порядка величины. [c.215]

Значительное развитие, особенно с появлением ИСП-источ-ника возбуждения эмиссионного спектра (см. рис. III.3), получили сканирующие спектрометры. В приборах этого типа один из детекторов излучения находится в фиксированном положении и измеряет интенсивность линии элемента сравнения, а другой перемещается вдоль спектра и измеряет интенсивность линий, заданных аналитической программой. Благодаря микропроцессорному управлению, система сканирования спектра обеспечивает быстрое перемещение от одной спектральной линии к другой и автоматическую остановку выходной щели на заданных аналитических линиях [1,7]. [c.226]

Сканирование спектра при вычитании дисперсий, как и при сложении, можно осуществить одновременным вращением обоих диспергирующих элементов, например, в схеме, показанной на рис. 63, б, — вращением решеток вокруг осей и С2 с одинаковой скоростью в противоположные стороны. Но возможен и другой способ сканирования — перемещением средней щели по спектру при неизменном положении диспергирующих элементов, входной и выходной щелей. Такой способ удобен при скоростной регистрации спектров быстропротекающих процессов,так как осуществить быстрое вращение призм или решеток сложнее. Протяженность регистрируемого таким способом спектра не должна быть велика, в противном случае потребовалось бы, во-первых, увеличивать размеры объективов во избежание виньетирования пучков в крайних положениях щели, во-вторых, исправлять, как в спектрографе, аберрации объективов по полю зрения, что усложнило бы их конструкцию. [c.174]

Сканирование спектра вращением или колебанием зеркал. В качестве элемента, сканирующего спектр, чаще всего применяют зеркало в автоколлимационной схеме спектрального прибора. Типичная схема такого прибора представлена на рис. 7.7. [c.194]

Поскольку удвоение разрешения удваивает число спектральных (разрешаемых) элементов, то было высказано также соображение о том, что время сканирования должно быть увеличено в 32, а не в 16 раз [74]. Однако в зависимости от определения элемента разрешения , способа измерения и ширины измеряемого спектра поглощения любой из двух коэффициентов может считаться правильным. [c.52]

Для измерения спектров используют спектральные приборы-спектрофотометры, осн. части к-рого источник излучения, диспергирующий элемент, кювета с исследуемым в-вом, регистрирующее устройство. В качестве источников излучения применяют дейтериевую (или водородную) лампу (в УФ области) и вольфрамовую лампу накаливания или галогенную лампу (в видимой и ближней ИК областях). Приемниками Излучения служат фотоэлектронные умножители (ФЭУ) и фотоэлементы (фоторезисторы на основе PbS). Диспергирующими элементами прибора являются призменный монохроматор или монохроматор с дифракц. решетками. Спектр получают в графич. форме, а в приборах со встроенной мини-ЭВМ-в графической и цифровой формах. Графически спектр регистрируют в координатах длина волны (нм) и(или) волновое число (см )-пропускание (%) и(или) оптич. плотность. Осн. характеристики спектрофотометров точность определения длины волны излучения и величины пропускания, разрешающая способность и светосила, время сканирования спектра. Мини-ЭВМ (или микро-процеесоры) осуществляют автоматизир. управление прибором и разл. мат. обработку получаемых эксперим. данных статистич. обработку результатов измерений логарифмирование величины пропускания, многократное дифференцирование спектра, интегрирование спектра по разл. программам, разделение перекрывающихся полос, расчет концентраций отдельных компонентов и т. п. Спектрофотометры обычно снабжаются набором приставок для получения спектров отражения, работы с образцами при низких и высоких т-рах, для измерения характеристик источников и приемников излучения и т.п. [c.397]

Качественный анализ с помощью РФС в принципе очень прост и основан на точном измерении энергии или длины волны наблюдаемых флуоресцентных линий. Так как спектрометры РФСВД работают последовательно, необходимо проводить сканирование 20. Идентификация следов элементов может осложняться наличием отражений более высокого порядка или сателлитных линий основных элементов. В РФС с энергетической дисперсией полный рентгеновский спектр может быть получен одновременно. Идентификация пиков, однако, затруднена из-за более низкого разрешения спектрометра с ЭД. Программное обеспечение для качественного анализа помогает спектроскописту, показьшая маркеры KLM на спектре. Маркеры KLM показывают теоретическое положение К-, L- и М-линий элемента как вертикальные линии. Когда эти линии совпадают с наблюдаемыми максимумами пиков в спектре, элемент идентифицируют положительно (как это принято в атомной эмиссии). [c.83]

LAB-X 3000 Oxford Instruments, США Настольного типа. Определяемые элементы от Mg до Сг (8 кВ-версия) и от Mg до и (25 кВ-версия). Источник возбуждения спектров рентгеновские трубки с палладиевым, родиевым, хромовым или титановым анодом, программируемые условия возбуждения. Детектор позиционно-чувствительный газовый пропорциональный счетчик, позволяет одновременно измерять линии 7 элементов одновременно. Камера образцов для жидких и порошкообразных проб — кюветы вместимостью 20 мл, для твердых проб — держатели диаметром от 26 до 40 мм, (крупность порошков не более 150 мкм). Программное обеспечение пакеты управляющих и расчетных программ, встроенный микропроцессор, 2 К8-232 порта. Дополнительные возможности пакет M8Wlndows РС для сканирования спектров и обработки данных. Типичная продолжительность анализа одной пробы от 10 до 200 с. [c.179]

Разработана многоканальная фотоэлектрическая установка для анализа вещества по атомным спектрам абсорбции и эмиссии. Установка имеет 24 оптических канала, что дает возможность из одной пробы определять до 24 элементов одновременно. Регистрацию спектров атомной абсорбции осуществляют с помощью источника просвечивающего излучения с непрерывным спектром (лампа типа ДКСШ-150) с использованием метода периодического сканирования спектра. Установка снабжена ЭВМ, которая обеспечивает сбор и обработку информации предусмотрены градуирование прибора по стандартам и выдача результатов анализа в концентрациях. Рабочая область спектра 200—800 нм. Пределы обнаружения элементов при использовании пламенного атомизатора составляют для различных элементов 0,03—0,8 мкг/мл. Минимальная величина относительного стандартного отклонения — 1—5%. [c.10]

Скоростное сканирование спектра. Скоростные спектрометры дают возможность получать от нескольких десятков до нескольких сотен и тысяч спектров в секунду. Спектрометры с возможностью наблюдения спектра на экране осциллографа получили название спектровизоров. Сканирование спектра в принципе может быть осуществлено движением одного из трех конструктивных узлов спектрометра — диспергирующего элемента и входного или выходного коллиматоров. Проще всего перемещать отдельные элементы одного из таких узлов — автоколлимационное зеркало в призменной системе Уолша или входную щель монохроматора. По этому признаку все конструкции спектровизоров можно разделить на два типа приборы с колеблющимся (или враищющимся) зеркалом и приборы с бегущей щелью. Максимальное число спектров в секунду, полученное этими способами колеблющимся зеркалом — до 400 спектр сек (при разрешающей силе порядка 300) [31.1], бегущей щелью—до 10 —10 с/ге/стр/сек. Инерционность механических элементов существенна только в случае колеблющегося зеркала. [c.254]

Ко второму типу относится полуавтоматический стилометр ФЭС-1, выпускаемый ЛОМО. Сканирование спектра осуществляется вручную поворотом призм с визуальной проверкой установки прибора на аналитическую линию определение относительной интенсивности выведенной линии производится автоматически, после чего по градуировочному графику определяется концентрация измеряемого элемента. [c.290]

Прибор заключен в вакуумную камеру цилиндрической формы камера открывается с двух сторон. Все электродвигатели находятся вне камеры во избежание нагрева прибора. Два из них (с частотой 10 и 160 гц) служат для вращения модулятора, один (с частотой 320 гц) — для сканирования спектра коробка скоростей позволяет изменять скорости вращения решетки от 0,024 10 до 6,6 X X10 рад/мин. Источники света (глобар и ртутная лампа) установлены также снаружи. Все оптические элементы прибора крепятся на швеллере из легкого сплава, опирающемся на камеру антивибрационными амортизаторами. Входной и выходной растры расположены над дифракционной решеткой (205 X 135 мм) в фокальной плоскости коллиматора — внеосевого параболического зеркала с фокусным расстоянием 2 м модуляция осуществляется колебанием этого зеркала. Растры с наименьшим шагом в 0,05 мм обеспечивают такую же разрешающую силу, как и щель шириной [c.375]

Эффективность применения в атомной флуоресценции метода периодического сканирования непрерывного спектра ксеноновой лампы ЛКСШ-200 на частоте 410 Гц для подавления влияния фликкер-шума рассеянного света была оценена на примере определения таллия, серебра, и висмута в горных породах. При сканировании непрерывного спектра пределы обнаружения этих элементов атомно-флуоресцентным методом в 5—8 раз ниже, чем без сканирования спектра. Так, чувствительность определения Ад (328,1 нм) без сканировния 1,0-10 %, а со сканированием 7,0-10 %, которая в то же время намного меньше, чем с применением ламп с полым катодом (1,0-10 %). Аналогичное явление наблюдается для В1, Т1, РЬ, однако для Мп 403,1 нм) получается чувствительность большая со сканированием (8,Ы0 8%), что можно объяснить хорошей компенсацией фликкер-шумом зоны поглощения. [c.208]

Диспергирующий узел. Только в некоторых приборах со сравнительно невысокой дисперсией (например, ИСП-30) или в приборах с вогнутой дифракционной решеткой сразу одновременно регистрируется весь рабочий диапазон спектра. В этом случае оправа диспергирующего элемента жестко укреплена на основании прибора в определенном положении. В большинстве приборов требуется сканирование спектра для последовательного выведения на регистрирующее устройство различных его участков. Это можно осуществить поворотом диспергирующего элемента, для чего призму или решетку в оправе укрепляют в гнезде подвижного столика, который приводится во вращение либо вручную при помощи выведенной наружу рукоятки, либо электродвигателем, смонтированным в самом приборе. В некоторых автоколлимационных приборах сканирование осуществляется поворотом зеркала, стоящего за неподвижной призмой (схема Литтрова, см. рис. 84, в). [c.136]

В комплект спектроаналитических установок (стилоскопов и стилометров) входят сканирующий призменный или дифракционный спектральный прибор со стеклянной оптикой, генератор высоковольтной искры или дуги переменного тока и низковольтной искры, специальный штатив для электродов. Визуальное наблюдение спектра требует, чтобы прибор обладал достаточно высокой разрешающей способностью и линейной дисперсией. Это достига- ется установкой нескольких стеклянных призм или автоколлимационной схемой. Окуляр спектроскопа дает большое увеличение (20> , 15><), что позволяет достаточно полно использовать разрешающую способность прибора. В поле зрения окуляра одновременно наблюдается не весь рабочий диапазон спектра, а лишь небольшой его участок. Сканирование спектра осуществляется обычно поворотом диспергирующего элемента. Промышленностью выпускаются спектроскопы различных марок (см. табл. И). [c.160]

Все спектрометры и спектрофотометры сканирующие. Сканирование спектра производится в одних приборах вручную, в других— автоматически, при помощи электродвигателя, поворачивающего диспергирующий элемент. Приборы с ручным сканированием называют нерегистрирующими, приборы с автоматическим сканированием — регистрирующими. Механизм сканирования снабжен шкалой, отградуированной в нанометрах, сантиметрах в минус первой степени или в относигельных единицах. В последнем случае [c.284]

Оже-спектроскопия идентифицирует химические элементы в зоне глубиной, равной приблизительно четырем атомным слоям. Показания оже-спектрометра фиксируются осциллографом. Блок развертки обеспечивает сканирование полного спектра элементов за 0,1 с. Тем самым создается возможность фиксировать изменение элементов на движущейся поверхности в динa.vIикe. [c.100]

Спектр наладил массовое производство промышленных роботов и манипуляторов, которые в качестве главного элемента систем сканирования используют серийный робот-манипулятор. На его основе созданы самые разные роботизированные технологические комплексы диагностики (РТКД). Это совокупность серийных роботов технической диагностики, промышленных роботов, перемещающих датчики приборов относительно объекта контроля, а также специализированных устройств связи между прибором, роботом и объектом исследования. [c.29]

С практической точки зрения одним из основных достоинств спектрометра с дисперсией по энергии является скорость, с которой можно набирать и интерпретировать данные. Непрерывный набор е широком диапазоне энергий является основным преимуществом при проведении качественного анализа, которое компенсирует некоторые вышеуказанные недостатки. Кристалл-дифракционный спектрометр при механическом сканировании находится на каждой регистрируемой длине волны лишь в течение короткого промежутка времени от полного сканирования. Следовательно, при наблюдении за одним элементом или даже за частью фона информация обо всех остальных элементах отбрасывается. Так или иначе на измерение каждого отдельного пика приходится только от 1/100 до 1/1000 общего времени сбора данных, если только кристалл-дифракциопный спектрометр специально не запрограммирован на переход в положение пика. В случае спектрометра с дисперсией по энергии при времени счета 100 с и скорости счета 2000 имп./с получаемый спектр содержит 200 000 импульсов. Даже если половина этого количества импульсов принадлежит фону, большинство измеряемых примесей, присутствующих в количестве, больше.м нескольких десятых процента, по всей видимости, будут обнаружены. Более того, при использовании линий-маркеров и других вспомогательных средств для интерпретации можно за несколько минут провести качественный анализ. В случае кристалл-дифракционного спектрометра необходимо использовать несколько кристаллов, охватывающих различные диапазоны длин волн, при этом типичное время набора и пнтерпретаиии данных 10—30 мин. [c.264]

Следует выбрать самые интенсивные пики в коротковолновой области сканирования кристалла LiF и найти их длины волн. Используя полный справочник рентгеновских лучей, например [113], определить возможные элементы, которые могут дадать рассматриваемые пики в излучении Kai, 2 или Lai, 2-В параллель, используя данные о серии линий, полученные при качественном анализе с помош,ью спектрометра с дисперсией пО энергии, если какой-либо элемент уже предварительно связан с пиком Kai,2(n= ), исследователь должен сразу же отыскать сопутствующий им пик И снова отнощение интенсивностей Ка и должно равняться приблизительно 10 1. Однако из-за изменений в эффективности кристалла и детектора ожидаемое отношение может выполняться не всегда. Например, в спектре d (рис. 6.12) эффективность детектора с коротковолновой стороны Л"-края поглощения аргона приблизительно 2 раза выше. Следовательно, пик L i, интенсивность которого должна составлять примерно 60% от интенсивности La, на самом деле больше. Удвоение эффективности до /(-края поглощения аргона обусловлено тем, что в проточном пропорциональном детекторе рентгеновского излучения этого спектрометра используется газ Р-10 (90% Аг—10% метана). При заданных размерах детектора и давлении газа Р-10 некоторая часть рентгеновского излучения с длиной волны, большей, чем длина волны края поглощения, проходит через газ, не взаимодействуя с ним. Для рентгеновского излучения с длинами волн короче длины волны края поглощения большая часть (приблизительно в 2 раза) будет взаимодействовать с газом и, следовательно, будет обнаружена. Следует также отметить, что разрешения кристалл-ди-фракцнонного спектрометра с некоторыми кристаллами, например LiF и кварцем, дое-таточно, чтобы продемонстрировать по крайней мере некоторое разделение пика Ка на Kai и Ка.2 с отношением интенсивностей Ка. Ка2=2 . Если подобно этому рассматривать пик La, то следует искать полную L-серию. Необходимо отметить, что кроме тех L-линий, которые указаны на рис. 6.1 (т. е. Lai, 2, Lfiu L 2, L 3, L u Lyz, Li, Lv), благодаря прекрасному разрешению и отношению пик/фон можно обнаружить их больше. При идентификации серии линий возможна ситуация, когда из-за ограничений использования кристаллов по длине волны может быть обнаружен только главный пик (например, Gex с LiF, а Ge/ g лежит за пределами диапазона кристалла). С учетом этого факта в спектре, полученном с по- [c.294]

Быстрое увеличение числа различных типов спектральных приборов создает затруднения даже для опытного спектроскописта. Тем не менее общие принщ1пы, заложенные в их конструкции, вполне доступны для понимания. Кратко обсудим существующие в настоящее время системы ИК-спектрометров, чтобы читатель при желании мог без больших затруднений ориентироваться в более подробных описаниях. Для начала было бы полезно приспособить схему Вайнфорднера, предложенную для классификащ1и приемников излучения [86], к классификащ1и спектрометров, как показано на рис. 2.1. Приборы, в которых информация накапливается последовательно во времени, называют сканирующими. По мере сканирования каждого спектрального элемента информация накапливается с помощью одноканального приемника. Приборы с пространственным разделением, использующие многоканальные приемники, в средней ИК-области практически не применяются примером такого прибора в видимой области служит спектрограф, регистрирующий спектр на фотопластинку. Многоканальные спектрометры — это такие приборы, в которых одноканальный приемник одновременно получает много сигналов, соответствующих различным элементам спектра. Эти сигналы проходят через один канал, но расшифровываются таким образом, что дают информацию о каждом отдельном спектральном элементе. [c.16]

Последнее существенно. Мы уже ушли от принципа ТВЭ, ибо индикатор (метка), введенный в среду, характеризует температурную зависимость плотности или (с некоторыми оговорками) вязкости разных элементов объема этой среды, безотносительно к частоте. Подвижность метки либо есть, либо ее нет. Опыты основаны не на сканировании, как при первоначальном рассмотрении смысла стрелки действия, а на зондировании, притом локальном. Сигнал мы получаем от зонда, а не системы релаксаторов, занимающих определенный участок релакса-щионного спектра, а поэтому и получаемая информация при [c.299]

Рис. 10.3.3. В методе линейного сканирования [10.28] плоскость выделяется с помощью селективного возбуждения (спектр РЧ-нмпульса должен быть белым всюду, за исключением провала на одной частоте). Достигается это селективным насыщением всех элементов объема, за исключением одной плоскости, перпендикулярной осн X. Селективное РЧ-облученне прн наличии градиента поля вдоль осн у возбуждает намагниченность одной колонки элементов объема, а сигнал записывается в присутствии градиента вдоль осн г. (Ср. с рнс. 10.4.8.)

Справочник химика 21

Химия и химическая технология