Метод характеристических поверхностей

Метод характеристических поверхностей основан на использование свойства характеристической поверхности для граничных условий (1.25). [c.48]

Найдем теперь решение той же задачи методом характеристических поверхностей. Пользуясь указанным свойством характеристической поверхности, построим вспомогательную расчетную систему, изображенную на рис. 1.17, в, которая отличается от исходной лишь тем, что граничная поверхность смещена от истинной поверхности металла на безразмерное расстояние -к, а граничные условия (1.25) заменены более простыми условиями (1.37). [c.49]

Тогда в соответствии с методом характеристических поверхностей распределение коррозионного (или защитного) потенциала на рассматриваемой поверхности определится формулой [c.49]

График функции 5l/i x= О представлен на рис. 1.19 и показывает, что при к < 1 методическая погрешность расчета потенциала рассматриваемой системы методом характеристических поверхностей в точке Х = 0 не пре- [c.50]

К недостаткам метода следует отнести 1) неприменимость метода к расчету дозвуковых течений, 2) сложность формы характеристических поверхностей, особенно нри наличии взаимодействующих ударных волн, 3) трудоемкость расчетов. [c.276]

Общее обсуждение свойств характеристик и определение характеристических поверхностей при произвольном числе зависимых и независимых переменных содержится, например, в работе [ ]. Применение метода характеристик к решению уравнений рассмотрено в работе [= ]. [c.112]

Основная идея метода характеристик состоит в уменьшении числа независимых переменных путем введения характеристических поверхностей (или характеристических направлений). Как было показано в 1.2, определяя характеристики как линии, на которых решение задачи Коши либо не существует, либо неединственно, удается систему двумерных уравнений газовой динамики в частных производных свести к системе обыкновенных дифференциальных уравнений направления и уравнений совместности, выполняющихся вдоль характеристик. Так, система уравнений в частных произ- [c.66]

Некоторые конструкции рентгеновских микроанализаторов позволяют получать изображение распределения элементов на поверхности образца с помощью характеристических рентгеновских лучей. Для этого электронный зонд, падающий на образец, специальной электромагнитной системой отклоняется так, что пробегает по некоторой площади (метод сканирования). Время, затрачиваемое электронным зондом для пробега одного растра, равно 8 с, число строк — 400. Возможные увеличения 300, 600 , 1200 и 2400. Спектрометр прибора настраивается на характеристическую линию определенного элемента. Рентгеновские кванты, попадающие в спектрометр, преобразуются счетчиком в электрические импульсы, которые модулируют электронный луч телевизионной трубки. В результате каждому зарегистрированному кванту соответствует яркая точка на экране. Поскольку развертка электронного зонда синхронна с разверткой электронно-лучевой трубки, то светящиеся точки располагаются на экране в соответствии с характером распределения элементов на анализируемой площади. [c.153]

Поверхность образца исследуют под микроскопом при освещении видимым светом Изображение поверхности получают с помощью отраженного электронного луча. Испускаемые при этом характеристические рентгеновские лучи делают возможным определение химического состава наблюдаемых участков методом так называемого микроанализа (микрозонда). Метод требует вакуума [c.150]

Параметры климатических факторов регламентированы применительно к тропическому климату земного шара (ГОСТ 24482—80) и применительно к территории СССР (ГОСТ 16350—80). Факторы и параметры коррозионной агрессивности атмосферы, методы их определения устанавливает ГОСТ 9.039—74. К таким характеристическим факторам относятся увлажнение поверхности металла фазовой или адсорбционной пленками влаги, а также загрязнение воздуха коррозионноактивными агентами. Продолл<ительность общего [c.50]

Основное различие между свойствами характеристического рентгеновского излучения и характеристическими электронами (оже-электронами) при определении состава твердого тела состоит в разной глубине выхода из образца. Как рентгеновское излучение, так и оже-электроны образуются в результате ионизации под действием электронов пучка внутренних оболочек, а поэтому полученные методом Монте-Карло картины актов ионизации (например, рис. 3.7—3.9) дают одно и то же распределение генерации рентгеновского излучения и оже-электронов в области взаимодействия. Последующее распространение рентгеновских лучей и оже-электронов в образце до его поверхности [c.93]

Достоинство метода отношения Р/В в применении к биологическим материалам заключается в том, что различные поправки, используемые в методе трех поправок, играют значительно менее важную роль. Поскольку предполагается, что процентная доза характеристического рентгеновского излучения, поглощенного в образце, такая же, как и для излучения фона, фактор поглощения (Л) отпадает. В биологическом материале эффект атомного номера (Z) мал, и в любом случае им пренебрегают, так как он по предположению оказывает одинаковое влияние на пик н непрерывное излучение. Поскольку у биологического материала низкий атомный номер, эффект вторичной флуоресценции (F) мал и его можно рассматривать как поправку второго порядка. Как в [165], так и в [166] показано, что результаты измерения Р/В нечувствительны к эффективности детектора, флуктуациям тока пучка и неточностям коррекции живого времени. Кроме того, результаты измерения Р/В менее чувствительны к изменениям геометрии поверхности, часто [c.75]

Характеристическая функция. Существует еще один метод анализа процессов извлечения растворяющихся твердых включений из реальных тел произвольной формы [2]. Рассмотрим этот метод на примере извлечения твердой фазы из полости произвольной формы (рис. 2.13). В некоторый момент времени поверхность Р разделяет пору на область I, занятую еще не растворенным веществом, и об- [c.112]

Адсорбционная хроматография представляет собой метод разделения, основанный на способности некоторых твердых веществ (адсорбентов) связывать (адсорбировать) на своей поверхности другие вещества, твердые, жидкие или газообразные. Процесс адсорбции зависит от свойств адсорбентов, адсорбируемых соединений и от растворителей. Адсорбция отдельных веществ определяется их природой и является характеристической для каждого соединения величиной при данных условиях эксперимента. Адсорбция может иметь химический или физический характер, однако между обоими типами адсорбции в ряде случаев трудно провести четкую границу. Химическая адсорбция вызывается образованием лабильной химической связи между адсорбентом и хроматографируемым веществом. Физическая адсорбция определяется многими физико-химическими факторами, которые связаны с емкостью и типом сорбента (см. разд. 1.6). Количество адсорбируемого вещества не увеличивается произвольно, а только до определенной величины, пока поверхность адсорбента не насы- [c.17]

Как мы уже указывали, частные решения вопросов были даны в работах [420] и [331]. Приближенный метод анализа был разработан С. 3. Рогинским [54, 344]. Мы упомянем лишь общие принципы этого метода, поскольку он подробно изложен в монографии [54]. Рассматривается вероятность заполнения отдельных участков поверхности как функция характеристических теплот адсорбции. Поскольку Ьг = рц (равновесное давление, при котором заполнение участков данного сорта равно /з), следовательно, [c.118]

Метод основан на теории огибающих поверхностей, из которой известно, что если имеется семейство поверхностей с одним изменяющимся параметром, то две бесконечно близкие поверхности этого семейства при бесконечно близких значениях параметра имеют кривые наибольшего сближения. Эти кривые являются или пересечением поверхностей, или такими кривыми, что их расстояние по нормали — бесконечно малая величина, и тогда поверхности стремятся слиться, а кривая в этом случае приближается к предельному положению — к характеристической кривой, т. е. к так называемой характеристике семейства поверхностей. Она будет касаться каждой поверхности семейства. [c.212]

Есть и другие способы локального анализа. Метод так называемой оже-снектроскопии позволяет определять 10" —10 г, разрешающая способность по поверхности образца не очень велика размер зонда 10—100 мкм, но в глубину этот зонд зарывается совсем неглубоко — на 1—2 нм (без разрушения). В СССР установок для оже-спектроскопии пока немного. Уникальные аналитические характеристики может иметь метод, основанный на использовании так называемых электронов, претерпевающих характеристические потери . Предел обнаружения достигается небывалый— 10 —10" г — при хорошей разрешающей способности. Однако этот способ позволяет обнаруживать только относительно легкие элементы. [c.29]

Анализ данных табл. 3 показывает, что заполнение части объема пор угля металлической ртутью приводит к существенному увеличению О, в то время как величина а изменяется при этом мало. Из этого следует, прежде всего, что в переносе сорбированного вещества внутри зерна поверхностная диффузия играет определяющую роль, так как в случае молекулярной или объемной диффузии уменьшение объема пор в результате введения ртути должно было бы однозначно привести к уменьшению скорости диффузии. Увеличение О при заполнении пор угля ртутью связано, по-видимому, главным образом с изменением характеристической кривой, а именно с уменьшением адсорбционного потенциала. Введение в поры угля окислов металлов приводит к уменьшению коэффициента внутренней диффузии. В этом случае уменьшение скорости диффузии связано, вероятно, с увеличением энергетической неоднородности внутренней поверхности зерен угля, что иллюстрируется увеличением а для пропитанных углей. Таким образом, результаты опытов с пропиткой угля и с заполнением пор угля ртутью показывают принципиальную возможность изменения кинетических свойств угля, а дифференциальный метод измерения позволяет количественно оценить [c.279]

Характеристические полосы поглощения в ИК-спектре обусловлены валентными колебаниями ковалентных связей с участием водорода и многих других элементов. С этой точки зрения инфракрасная спектроскопия является идеальным методом исследования природы связи между водородом и металлическими поверхностями. [c.119]

Методика расчета распрейеяемкя потенциала методом характеристических поверхностей заключав ся в следующем [c.48]

Погрешность полученного результата может быть определена путем его сравнения с данными точных расчетов и зависит от значения параметра к и координаты X. Так, при Х = О (посередине полосоврго электрода) относительная погрешность расчета потенциала по методу характеристических поверхностей определяется формулой [c.49]

Использование методов УФЭС и РФЭС в основном определяется природой орбиталей атомов на поверхности и молекулярных орбиталей хемоадсорбированных молекул [45—47]. Например, для двухатомных гетероядерных молекул может быть изучена характеристическая фотоэмиссия от каждого из атомов в адсорбированной молекуле [37]. Линии кислорода используются для идентификации двух типов радикалов оксида углерода, адсорбированного на вольфраме (а- и 3-формы). Химические сдвиги кислорода (1 ) были использованы при применении метода РФЭС для того, чтобы проследить за десорбцией а-СО из монослоя оксида углерода. Подобная работа, выполненная в Национальном Бюро стандартов [37, 46] с, N2, N0, О2, Н2СО и СО, показала, что 15-энергии связей адсорбированных атомов уменьшаются, так как адсорбционные силы возрастают в качественном соответствии с физическими моделями [48]. [c.159]

Одним из наиболее эффективных новых методов анализа поверхности, который мончет значительно облегчить идентификацию отдельных фаз и следов примесей в промышленных катализаторах, является метод микроанализа электронным щупом [498—500]. В основном этот метод заключается в том, что производится рентгеновский спектрохимический анализ площадок поверхности твердого образца, имеющих диаметр от 0,1 до 3 мк. Очень узкий, но мощный пучок электронов направляется на выбранный микроскопический участок поверхности образца. Падающие электроны генерируют характеристический рентгеновский спектр химических элементов, содержащихся в облучаемом участке вещества на 1—3 мк ниже уровня поверхности, а у испускаемых рентгеновских лучей анализируются длины волн и интенсивности. Это позволяет проводить как качественный, так и количественный химический анализ исследуемых объемов с микроскопическими размерами. [c.145]

Метод характеристического импеданса с отражением волны сдвига от поверхности кварца [51], описанный для жидкостей в гл. 5, может быть использован также для исследования низкомо,дульных полимеров в мегагерцном диапа- [c.150]

Фронтальный анализ по методу характеристической точки . Дозирование проводится в соответствии со скачкообразной функцией (от О до С или от С до Сг рис. ХП.4). Для вычисления на размытом фронте концентрационного профиля выбирается характеристическая точка, концентрация которой остается постоянной при движении поверхности раздела через колонку. Изотерма распределения может быть рассчитана из одной-един-ственной фронтальной хроматограммы, если последовательно исходить из различных характеристических точек, отвечающих различным концентрациям. [c.343]

К химическим методам конструирования поверхности относятся методы молекулярных отпечатков , фазового расслоения в смешаных монослоях, модифицирование со стерическим контролем и др. Более подробно перечисленные методы будут рассмотрены ниже. Коротко укажем, что физические методы наиболее хорошо подходят для создания рисунков на поверхностях с геометрией, близкой к идеальной (плоскость, шар). Минимальный размер элементов рисунка зависит от длины волны излучения или от характеристического размера контакта и находится в пределах от нескольких нанометров (электронопись и воздействие сканирующими микроскопами) до 200 нм (фотолитография). Химические методы, например в случае метода молекулярных отпечатков , в принципе позволяют конструировать фрагменты привитого слоя с молекулярной точностью. Однако они пока не в состоянии конкурировать с физическими методами при получении периодических организованных структур сколь-нибудь значительной протяженности. Химические методы являются единственно возможными средствами дизайна привитого слоя в порах или на геометрически неоднородных поверхностях. [c.251]

Используем метод автомодельности, применявщийся в разд. 3.5 для основного течения, к уравнениям (11.2.14) — (11.2.16) для течения около вертикальной непроницаемой поверхности, расположенной при X 0 в покоящейся изотермической среде. Выпишем, полученные уравнения с граничными условиями для толщины пограничного слоя и характеристической скорости [/с в случае степенного закона распределения температуры поверхности [c.15]

Рентгеновский микроанализ применялся для исследования очень малых объемов жидкости, полученной микропункцией из тканей и помещенной либо на отполированную поверхность бериллия, либо на тонкую пленку-подложку и затем высушенную в замороженном состоянии. В недавно опубликованных работах [206, 207] приводятся детали метода и процедура количественного расчета, связанная с ним. Обычно при количественных расчетах не возникает проблем, поскольку физические и химические свойства высушенных мофильной сушкой жидких образцов и эталона достаточно близки, поэтому необходимость введения поправок отпадает. Калибровочные кривые эталонов обычно представляют собой графики зависимости скорости счета инте11сив юсти характеристической рентгеновской линии от концентрации и в исследуемом диапазоне концентраций являются неизменяющимися прямыми линиями. Все, что должен сделать исследователь,— это сравнить скорости счета характеристического рентгеновского излучения от образца и эталона н по калибровочным кривым определить концентрацию. Присутствие малых количеств органического материала, такого, как протеин, может сказаться на результатах количественного анализа. Протеин может влиять на точность воспроизведения микрокапель, на процесс формирования кристаллов льда при при- [c.86]

Физические основы. Возбужденные атомы могут высвобождать свою энергию как путем излучательных переходов (см. 14.3.1) с испусканием рентгеновского излучения, так и в результате безызлучательных переходов с испусканием электронов. Последний процесс является основой метода Оже-электронной спектроскопии AES, (от англ. Auger Ele tron Spe tros opy), в котором состав анализируемого материала определяется в результате измерения энергетического распределения электронов, испускаемых с поверхности образца во время ее облучения пучком быстрых электронов или рентгеновского излучения. Глубина наблюдения находится в интервале 10-30 А. Идентификация атомов основана на определении величины энергии связи электронов. Энергия вылетающего электрона определяется разностью энергий связи, возникающей при снятии возбуждения атома путем перераспределения электронных оболочек и испускании Оже-элекгронов с характеристическими энергиями. [c.50]

Таким образом, адсорбционные методы позволяют рассчитывать константы характеристических уравнений, размеры мелких пор на основании их доступности для адсорбции молекул разного размера, поры диаметром от 10— 15 до 200 А, и построить кривую распределения объема пор по их эффективным радиусам. При помощи адсорбционных методов можно определить удельные поверхности адсорбентов. Однако адсорбционно-структурный метод имеет ряд ограничений. Так, при помощи этого метода невозможно вычислить поры молекулярных размеров, а также поры размером выше 200 А. Последние ограничения восполняются электронномикроскопическим и порометрическнм методами. [c.145]

Таким образом не удивительно, что приведенные в табл. X1V-3 отношения удельных поверхностей так хорошо соответствуют друг другу. По существу, любая изотерма, используемая для обработки адсорбционных данных (для непористых адсорбентов), должна включать параметр, пропорциональный удельной иоверхностп. Этим и объясняется успех метода точки В (разд. XIV-5) и других одноточечных методов в области характеристической изотермы при любом Р/Р° измеряемая величина адсорбции о связана с удельной поверхностью твердого тела некоторым коэффициентом пропорциональности, не зависящим от природы твердого тела. [c.466]

Наконец, еше одно существенное возражение против метода расчета Ривлина и Томаса заключается в следующем. Если каким-го способом правильно найдена из опытных данных производная [д 1дс)1 , то связать ее с характеристической энергией, строго говоря, нельзя, так как эта производная в действительности определяет суммарное уменьшение упругой энергии в образце в процессе роста надреза. Упругая энергия расходуется ие только на образование новых поверхностей и связанное с этим рассеяние энергии, но и на дополнительные процессы разгрузки в объеме, окружающем надрез, учесть которые не представляется возможным. Так, на рис. 137 прямая 1 изображает зависимость от начальной длины надреза Сд той части упругой энергии образца, которая идет только на образование новой поверхности. Тангенс угла наклона прямой / есть характеристическая энергия раздира (см. стр. 228), рассчитанная, какэто часто делается, на 1 см удлинения надреза. Наклон этой прямой постоянен, в то время как производная дWlд (кривые 2 и 5), характеризующая суммарное изменение упругой энергии, меняется с с . [c.231]

В работе [40] впервые дан метод вычисления удельной поверхности и рассмотрен путь построения интегральной и дифференциальной кривых распределения. Основной особенностью упомянутых исследований являлось вычисление распределений для цилиндрических или щелевидных [48] пор, т. е. по существу для эквивалентных модельных адсорбентов [33]. Расчеты зарубежных авторов обычно характеризовались излишней геометрической деталировкой и некритическим распространением на область микропор, вплоть до кельвиновских радиусов в 5—7 А, когда представление о мениске жидкости теряет всякий физический смысл., В работах [5, 6, 33] было показано, что капиллярно-конденсационные расчеты физически оправданы до нижней границы применимости уравнения Кельвина, отвечающей эффективному радиусу пор в 15—16 А. Соответствующие характеристические относительные давления были приведены на стр. 259. [c.263]

Как интенсивный альфа-излучатель кюрий-242 может применяться в нейтронных источниках (в смеси с бериллием), а также для создания внешних нучков альфа-частиц. Последние используют как средство возбуждения атомов в новых методах химического анализа, основанных на рассеянии альфа-частиц и возбуждении характеристического рентгеновского излучения. Такая установка была, в частности, иа борту космической станции Сервейор-У . С ее помощью был проведен непосредственный химический анализ поверхности Луны методом рассеяния альфа-частиц. [c.420]

ЛИЮ над плоской поверхностью. Поэтому их адсорбционное поведение близко к поведению непористых, в том числе и грубо дисперсных, углеродных тел. Обычно удельный объем макропор для различных активированных углей составляет 0,2—0,8 см7г, л удельная поверхность — 0,5—2,0 м7г. К этой же группе материалов могут быть отнесены сажи и графиты с близкой величиной удельной поверхности. По ряду причин, в частности и кинетического характера, практически не может быть осуществлено. заполнение макропор по механизму капиллярной конденсации. Структурные особенности пор и частиц указанных характеристических размеров могут быть выявлены с помощью оптической микроскопии [97]. Однако более детальные данные о распределении пор по размерам могут быть получены методом вдавливания ртути [107, 108]. Поскольку углеродные материалы не смачиваются ртутью (краевой угол 0- 14О°), то ртуть проникает в поры с эквивалентным радиусом г откаченного образца под давлением Р [c.45]

Для получения рентгенограмм по методу Берга—Баррета используют характеристическое излучение рентгеновской трубки с линейчатым фокусом, который располагается вдоль радиального (брэгговского) направления (уо<ба и Ур>бр). При съемке на отражение фотопластинку устанавливают либо параллельно поверхности образца, либо нормально отраженному от плоскостей hkl) излучению (рис. 15.4). Первичный пучок образует угол (> с отражающими плоскостями. Выведение кристалла в отражающее положение производят с помощью счетчика, располагающегося за фотопластинкой. По рентгенограмме можно судить о степени совершенства кристалла (развитости субзеренной структуры), определить размеры субзерен (зерен) при их величине более 3—5 мкм и об угле раз-ориентировки 1 угл. мин. [c.376]