Ширина спектральных установка

Построение градуировочного графика. Подготовку стилометра СТ-7, генератора ИГ-3, электродов, а также установку электродов проводят как указано в работе 1. Включают разряд конденсированной искры напряжение 220 В, емкость 0,005 мкФ, индуктивность 0,55 мкГ, сила тока питания трансформатора 1,0 А (сложная схема). При использовании высокочастотной искры — межэлектродный промежуток 1,0 мм, сила тока питания трансформатора 0,6 А. Устанавливают ширину щели стилометра 0,08 мм. Проверяют полноту освещенности поля зрения окуляра, корректируют резкость спектра и находят спектральные линии гомологической пары. Устанавливают спектральную линию магния внутри рамки, у ее левого края (рис. 1.6,а), перемещая спектр микрометрическим винтом призмы. Рамка при этом, как и спектр, должна быть полностью освещена и находиться в исходном положении. Затем рамку с линией сравнения перемещают влево к линии меди так, чтобы между ними оставалось расстояние в 2—3 ширины спектральной линии (рис. 1.6,6). На месте рамки остается темный вырез. [c.24]

Установку ширины щели надо производить как можно точнее, особенно в тех случаях, когда спектральная ширина щели меньше, чем ширина спектральной линии. [c.110]

При определении Sb в твердом материале наиболее низкие пределы обнаружения достигаются в разряде в полом катоде или наиболее широко распространенной угольной дуге постоянного тока при помещении навески анализируемого материала в полость электрода. Снижению пределов обнаружения Sb в различных материалах способствует правильный выбор осветительной системы, спектрографа и фотоэмульсии. От осветительной системы как части спектральной установки требуется, чтобы она не ограничивала максимально возможный световой поток через апертуру спектрографа. Этому требованию отвечает из простых схем только прямое отображение источника на щель спектрографа (однолинзовая система освещения). Спектрограф должен одновременно обеспечить высокое отношение интенсивностей линии и фона и достаточно высокий для фотографической регистрации уровень освещенности в фокальной плоскости камеры. Таким образом, он должен обладать как можно большей разрешающей силой (до предела, заданного естественной шириной линии) при достаточно [c.80]

Следует указать, однако, что частотно-селективные аналитические спектральные установки обладают меньшим разрешением по сравнению со спектрографами тех же оптических параметров. В процессе сканирования на фотоумножитель поступает информация с участка спектра, на котором укладывается изображение аналитической линии и двойная ширина сканирующей щели. Это увеличивает в известной мере опасность помех со стороны соседних с аналитической линий спектра или молекулярных полос. [c.23]

В ультрафиолетовой области, нужно обращать внимание на правильную установку длины волны. В идеальном случае ширину спектральной полосы монохроматора следует установить таким образом, чтобы она составляла Vs реальной полосы поглощения исследуемых соединений. Только в этом случае можно быть уверенным, что наблюдается 99% интенсивности истинной полосы поглощения [6]. Обычно, однако, при исследовании растворов вполне достаточно, чтобы ширина спектральной полосы составляла 2 нм в видимой области и 1 нм в ультрафиолетовой области. [c.135]

Рис, 13.7. Схема установки для измерения эквивалентной ширины спектральной линии по методу широкой щели . [c.344]

В свою очередь гёл и йф зависят соответственно от интегральной яркости линии Ьл и от яркости фона Бф (в единичном интервале длин волн) в источнике света, от светосилы L спектральной установки и от спектральной ширины входной АК и выходной А Я щели прибора, т. е. [c.40]

Из выражения (18) следует, что предел обнаружения линии будет тем меньше, чем меньше яркость излучения фона по сравнению с яркостью излучения линии (но при условии, что экспозиция достаточна для отчетливой регистрации фона), чем меньше ширина аналитической спектральной линии и ширина входной щели (так как отношение А Х/Ак при условии, что А К равно ширине изображения линии, с уменьшением АЯ стремится к минимуму —единице). Предел обнаружения линии будет тем меньше, чем больше светосила спектральной установки выше эквивалентный квантовый выход приемника излучения и [c.41]

Распространенной ошибкой является установка креста не на верхнюю границу, а на середину спектральной полосы. Ширина спектральной полосы, а следовательно, и положение ее середины зависит от положения диафрагмы конденсора. Результаты измерений при такой неправильной установке креста будут ниже истинных значений показателей преломления. [c.147]

При определении интенсивности линий комбинационного рассеяния большое значение имеет их ширина, которая у различных линий варьирует в довольно широких пределах. В связи с этим встает вопрос, какая именно измеряемая величина должна быть выбрана для характеристики интенсивности линий. Для этой цели могут служить интенсивность в максимуме линии /о и интегральная интенсивность /о , мерой которой является площадь, ограниченная контуром линии. В зависимости от условий опыта можно при измерениях получить либо одну, либо другую величину. Наконец, можно получить некоторую промежуточную величину между /о и / , которая не имеет простого физического смысла и не может служить для однозначной характеристики линии, но которая тем не менее может быть использована практически при анализах. Проблема усложняется тем, что измеряемая величина интенсивности зависит от параметров спектральной установки и возбуждающего источника света, причем эта зависимость имеет разный характер при различной ширине линий. Все сказанное имеет силу как при фотографической, так и при фотоэлектрической регистрации спектров. [c.302]

При практическом применении фотоэлектрического метода к анализу смесей ширина выходной щели монохроматора может быть взята меньше той ширины, которая необходима для измерения интегральных интенсивностей. В этих условиях получаются, конечно, не интегральные интенсивности линий и не интенсивности в максимуме, а некоторые промежуточные значения, которые можно назвать аналитическими интенсивностями разрешающая способность при этом соответственно повышается по сравнению с методом измерения интегральных интенсивностей. Аналитические интенсивности не дают какой-либо однозначной характеристики линий, так как зависят от ширины щели и других параметров спектральной установки. Однако это не исключает возможности их применения в практике количественного молекулярного анализа. [c.304]

Измерение интенсивностей линий комбинационного рассеяния практически упрощается в значительной степени благодаря тому, что нас всегда интересует лишь отношение интенсивностей линий вследствие этого множители, общие для всех линий, не играют никакой роли. Это наиболее аффективно могло бы быть использовано при измерении интегральных интенсивностей линий. Действительно, можно легко показать, что отношение интегральных интенсивностей спектральных линий не зависит от параметров спектральной установки. Вместе с тем отношение интегральных интенсивностей линий комбинационного рассеяния не зависит от параметров возбуждающего источника света (ширины и формы возбуждающей линии). Использование интегральных интенсивностей могло бы, следовательно, значительно упростить задачу достижения воспроизводимости данных, получаемых в разных условиях опыта. Однако при использовании интегральных интенсивностей мы сталкиваемся с той трудностью, что для измерения этих величин необходимо работать с довольно широкой щелью спектрографа (в фотографическом методе) или [c.13]

Согласно изложенному выше, ширина щели спектрографа должна быть, с одной стороны, значительно больше нормальной ширины щели для данного спектрографа, а с другой стороны, не должна превышать того предела, при котором интенсивность в максимуме линий остается еще пропорциональной параметру Ъ. Ширина щели, удовлетворяющая одновременно обоим условиям, может быть легко определена экспериментально для данной установки промером интенсивности линий при разной ширине щели. Произведя такие измерения для наиболее узких линий комбинационного рассеяния, можно найти предельную ширину щели, при которой еще соблюдается пропорциональность между интенсивностью в максимуме и шириной щели. Поскольку выбор ширины щели сделан по наиболее узким линиям, он заведомо правилен для более широких линий. При таком выборе ширины щели относительная интенсивность комбинационных линий не будет, очевидно, зависеть от параметров спектральной установки. Данная ширина щели одновременно наиболее выгодна с той точки зрения, что при ней достигается наибольшая интенсивность даже самых узких линий без относительного повышения интенсивности фона. [c.16]

Воспроизводимость установки ширины щели надо проверять особенно тщательно, так как спектральная ширина щели почти всегда меньше, чем собственная ширина полос поглощения, и оптическая плотность сильно зависит от ширины щели. [c.336]

Рис. 2.9. Иллюстрация важности полосового фильтра. На спектре вверху большие значения имеют как спектральная ширина, так и ширина полосы фильтра. Ширина среднего спектра была уменьшена, в то время как фильтр остается неизменным все шумы, наблюдаемые в верхнем спектре, отражаются на новую область наблюдения. При правильной установке фильтра, соответствующего новой ширине спектра (внизу), сильно улучшается отношение сигнал/шум.

Методики, использующие длительные импульсы, аналогичны вышеизложенному возбуждению намагниченности растворителя с возвращением затем ее к оси +2 . В этом случае намагниченность растворителя прецессирует относительно эффективного мощного РЧ поля. Достигается это путем размещения резонанса вблизи границы спектральной ширины и уменьшения мощности передатчика. Таким образом, если сигнал растворителя располагается в центре интересующей нас области (например, протонный спектр ЯМР в водном растворе), то для получения полного спектра требуется два раздельных эксперимента. Уменьшение мощности передатчика приводит к значительному изменению фазы вдоль спектра, которое в соединении с широкими линиями (> 50 Гц) вызывает сильное искажение базовой линии спектра. Идея составного импульса заключается в том, что вместе с определенными амплитудами и фазами можно получить широкий нуль за счет установки наклона их кривой Фурье-преобразования, равных по значению, но противоположных по фазе в нуле. [c.15]

Наряду с термостатированием установки перспективно применение следящих систем, автоматически удерживающих аналитическую линию в заданном положении на выходной щели. Интересная следящая система к фотоэлектрическому стилометру предложена С. Л. Мандельштамом и реализована И. С. Абрамсоном и сотр. [31]. В основе ее лежит введенная в поле зрения прибора реперная шкала, положение и цена деления которой меняются с ростом температуры соответственно так же, как и положение и дисперсия спектра. Это дает возможность программировать положение заранее избранных аналитических линий и совмещать их с выходной щелью, управляя вращением столика с призмами сигналами световых импульсов реперной шкалы. Как показал наш опыт эксплуатации квантометра, целесообразно заменить такую шкалу спектром реперного источника со стабилизированной во времени интенсивностью узких спектральных линий, например спектром разряда в полом катоде. Ошибка совмещения вручную выходной щели и аналитической линии, излучаемой таким реперным источником спектра, составляет в благоприятных случаях 5 мк (ширина выходных щелей квантометра лежит в пределах 40—200 мк). [c.28]

При проведении многих спектроскопических исследований, например нри измерении интенсивностей спектральных линий, необходимо точно знать ширину щели спектрального прибора и быть уверенным, что заданная ширина щели воспроизводится с достаточной степенью точности (до 0,001 мм). Такая точность установки не всегда обеспечивается механизмом щели. [c.66]

Трудности, связанные с изготовлением щелей и их установкой, ограничивают ширину изображения щели примерно одной сотой миллиметра. Разрешающая способность применяемых обычно в спектроскопии фотоматериалов, в свою очередь, не превосходит 100 линий на миллиметр. Таким образом, спектральные линии, находящиеся на расстоянии < 10" см, не разрешаются спектральным прибором. [c.80]

Перед началом работы корректируют положение входной щели прибора по линии V 318,40 нм. Приготовленные эталоны и пробы анализируют на спектральной установке при следующих условиях. Сила тока дуги 5 А, верхний электрод диаметром 6 мм заточен на полусферу, частота вращения дискового электрода 3 об/мин, направление вращения дискового электрода— против часовой стрелки, размер ванночки 16x55 мм, обжиг 20 с, экспозиция 60 с, ширина входной щели 0,02 мм. Используют следующие аналитические линии (в скобках приведена ширина выходных щелей в мкм) V 318,40 нм (30), Ni [c.185]

Определения лантана в количестве 0,1—2% в сплавах и лигатурах на основе магния могут быть выполнены фотометрированием солянокислых растворов материалов, введенных в пламя смеси ацетилена с воздухом на установке, собранной на основе монохроматоров ЗРМ-3 или УМ-2. Установка снабжена механизмом для развертки спектров по максимумам молекулярных пиков лантана [743 и 794 нм ммк)] при ширине спектральной щели 0,2 мм. Записывают участок спектров 720—820 нм ммк). Возможно определение лантана с помощью фотометров пламени, снабженных интерференционными светофильтрами для определения калия. Калий в данном случае должен быть количественно отделен. Содержащиеся в магниевых сплавах алюминий и цирконий снижают интенсивность эмиссии лантана, образуя в пламени труднолетучие смешанные окислы. При введении в растворы для фотометрирования азотнокислого аммония в концентрации 150 мг1мл эмиссия лантана в присутствии циркония или алюминия практически не изменяется. Точность метода 0,05%, продолжительность анализов 30 мин. [c.323]

Спектры ядерного гамма-резонанса (ЯГР) снимались на установке электродинамического типа с постоянным ускорением. Источнике служили двуокись олова и p-Sn. В каждом эксперименте брались одинаковые навески образцов ( 900 мг). Сорбцию проводили из 0,2н раствора Sn lj на фоне 1 нНС1.Использовалась естественная смесь изотопов олова. Спектры образца I с соотношением Sb.-p = 8 1 при различных температурах показаны на рис.1. Каадый из спектров ЯГР представляет собой суперпозицию трех несколько уширенных линий (с шириной спектральной линии Г ), изомерные сдвиги которых(см.табл. 1) позволяют идентифицировать в образце одну форму олова(1У) и две Форш олова(П). Изомерные сдвиги приведены относительно двуокиси олова. Доли различных видов атомов олова определены по площадям соответствующих спектральных линий (с погрешностью + 10 ). Небольшое уширение линий при переходе от комнатной тем ратуры к 77 К связано с незначительным увеличением квадрупольного расщепления (40,20 мм/с). Температурные зависимости долей каждой из [c.52]

При количественном анализе необходимо измерить интенсивности линий. Фотоэлектрическая запись спектра коренным образом облегчает их определение, поскольку сигнал на выходе прибора обычно прямо пропорционален световому потоку, попадающему в спектрометр. Проверку линейности между световым сигналом на входе спектральной установки и электрическим сигналом на выходе можно произвести следующим образом. Освещают щель монохроматора хорошо стабилизированным источником света со сплошным фоном (лампочка накаливания или люминесценция хининсульфата). Ширину входной щели оставляют постоянной, а световой поток, падающий на фотоумножитель, изменяют с помощью раскрытия выходной щели. Если преобразование светового сигнала и усиление происходят линейно, то между сигналом на выходе установки и раскрытием щели должна существовать линейная зависимость. При этом режим работы установки (усиле- [c.341]

Сравнение интенсивностей линий, заметно отличающихся по длинам волн, можно производить только в том случае, если известна чувствительность спектральной установки в различных частях спектра. Для измерения спектральной чувствительности прибора необходимо иметь источник света с известным распределением энергии по спектру М (V). Для этого, как и в фотографической методике, удобно использовать люминесценцию хининсульфата ( 78, табл. 28). Если записать сплошной спектр люминесценции с постоянной геометрической шириной щели спектрометра, то можно построить кривую спектральной чувствительности К= =/ (V). При использовании кривой K=f (V) [c.342]

Атомно-ионизационный метод анализа был бы невозможен без использования лазеров. Поскольку наиболее селективным методом ио1П1зации атомов является нх предварительный перевод в одно из возбужденных состояний и поскольку в видимой и ультрафиолетовой областях спектра лежат спектральные линии атомов многих элементов, то имеиио лазеры, генерирующие излучение в этих областях, являются неотъемлемой частью любого прибора для атомно-ионизационного метода. В основном это лазеры, работающие на органических красителях как активных средах. Непрерывная перестройка длины волны излучения, достаточная для достижения (во многих случаях) режима насыщения, сделала лазеры на органических красителях незаменимым средством селективного возбуждения атомов многих элементов. Существует много типов таких лазеров. Наиболее часто используемые лазеры имеют следующие xapaivTepH THKH область непрерывной перестройки от —300 до 800 нм, выходная мощность 1—20 кВт в линии генерации, ширина которой варьируется от 1 до 0,01 нм при длительности 7— 12 НС в случае лазерной накачки и 1—50 мс при ламповой накачке лазера на красителях. Следующей неотъемлемой частью установки является атомизатор, в качестве которого наиболее широко, как это уже упоминалось, используется пламя, а также электротермические атомизаторы с испарением находящихся в них образцов в вакууме. Находят применение и различного вида электротермические атомизаторы, работающие при атмосферном давлении. [c.185]

Численно практическое разрешение, или спектральная ширина щели автоколлимационного монохроматора Литтрова при установке призмы в минимуме отклонения, определяется выражением [c.40]

Для различных спектрометров необходимо задавать различные спектральные диапазоны, должна регулироваться ширина полосы в этом фильтре от нескольких герц до максимально возможной для данного АЦП. При работе спектрометра установка ширины полосы фильтра часто не вндна. Ее задает про1-рамма компьютера, как только мы установим скорость выборки данных. Однако важно помнить о существовании этого фильтра. На рис. 2.9 показано, как влияет на вид спектра выбор ширины спектра и ширины полосы фильтра. Такой выбор является нетривиальной задачей, а связанные с этим разнообразные искажения в спектрах рассматриваются в других главах. [c.37]

Квадрупольный анализатор представляет собой систему из четырех стерж ней электродов, к которым приложены высокочастотное переменное и постоянное напряжения Принцип работы этого анализатора заключается в том что под действием постоянного и переменного электрических полей заряженные ча стицы о массой М испытывают стабильные колебания и могут пройти через квадрупольный фильтр только при определенных значениях постоянного и переменного напряжения на электродах Частицы с другими массами при этих аначениях напряжении движутся слишком далеко от главной оси системы н сталкиваясь со стержнями выбывают нз потока Для того чтобы ширина масс спектрального пика для ионов с массой 1000 была не более 0 1 а е м, ста бнльность частоты и значений полей должна быть не хуже Ю " а механическая точность изготовления и установки стержней около 10" Это означает допуск 1 мкм при диаметре стрежней около 8 мм Современные квадруполь-ные Масс анализаторы обычно имеют диапазон масс от 2 до 1200 минималь яая ширина пиков составляет О 3 а е м [c.16]

Промышленные телевизионные установки успешно применяются для решения задач, которые можно решить визуальным и визуаль-но-оптическим методами, причем в более широком спектральном диапазоне излучений и в большем объеме. Их применение особенно зффективно в тех случаях, когда непосредственное наблюдение или присутствие оператора в зоне контроля невозможно из-за ограниченного объема пространства, опасных излучений или условий работы и т. д. Промышленные телевизионные установки позволяют решать задачи измерения геометрических размеров, формы полуфабрикатов и изделий, обнаружения дефектов, размеры которых превышают ширину строки телевизионного растра и достаточно контрастны, а также следить за ходом производственного процесса. В крупносерийном и массовом производстве контроль геометрических показателей целесообразно вести, установив перед экраном видеоконтрольного устройства шаблоны или маски, облегчаюшие работу проверяющего. [c.258]

Особое внимание привлекают работы, направленные на повышение чувствительности фотоэлектрических методов спектрального анализа. Чувствительность анализа, достигаемая при помощи квантометров и фотоэлектрических стилометров, обычно несколько ниже, чем при фотографической регистрации спектра, если разрешающие способности оптики спектрографа и оптики фотоэлектрической установки равны. Это обусловлено способом выделения неподвижных в процессе регистрации спектральных линий системой выходных щелей спектрального аппарата, а также рядом других причин. Тепловой дрейф спектра заставляет использовать выходные щели, в несколько раз превышающие по ширине изображения спектральных линий. Флуктуирующий сигнал, обусловленный фоном спектра, возрастает пропорционально ширине выходной щели. Флуктуирующий сигнал аналитической линии в рассматриваемом случае от ширины выходной щели практически не зависит. Поэтому для квантометрических установок характерно худшее по сравнению со спектрографом отношение мощностей сигналов линии и фона. [c.21]

Основные данные прибора рабочий диапазон 1900—7000 А действующее относительное отверстие 1 30 вогнутая дифракционная решетка с радиусом кривизны 1995,3 лл , 1200 штрих мм, установлена по схеме Пашена—Рунге выходные щели при высоте Ъ мм имеют ширину 0,05, 0,10, 0,15 и 0,20 жж точность фотоэлектрической установки выходных щелей на спектральные линии 3 мк приемники излучения — фотоэлементы Ф-1 с сурьмяноцезиевым катодом продолжительность измерения концентрации [c.293]

В автоматическом режиме полный цикл экстракции длится 10—15 мин. Очищенный от нерастворимых примесей экстракт поступает для измерения в оптическую систему прибора. Излучение источника 1 конденсором 2 и объективом 3 направлено параллельным лучом через автодозирующую кювету 4, обтюратор 6, светофильтры 8 и 9 на объектив 10, который проектирует изображение диафрагмы 5 на фотоприемник 11 (фоторезистор СФ4-4). Диафрагма имеет прямоугольную форму с максимальным размером, равным высоте цилиндра обтюратора, и шириной, меньшей поперечного сечения окна обтюратора. Светофильтры выделяют аналитическую (3,417 мкм) и сравнительную (4,0 мкм) длины волн инфракрасного спектра. Обтюратор вращается электродвигателем 7 (УАД-22), прерывая спектрально различные части луча со сдвигом по фазе 90°. На оси обтюратора установлен ротор индукционного генератора 12, генерирующего опорное напряжение. Частота сигналов около 190 Гц. Статор генератора имеет плавное вращение относительно оси ротора для балансировки измерительной системы (установки нуля шкалы прибора). [c.172]