Масс-спектрометрия с искровым источником ионов

Развитие искровой масс-спектрометрии основано на последних достижениях ионной оптики, электроники, физики вакуумного разряда, материаловедения, вакуумной и электронно-вычислительной техники и применении высокочувствительных устройств для регистрации ионных токов. Основным достоинством элементного анализа при помощи масс-спектрометров с искровым источником ионов и двойной фокусировкой являются, с одной стороны, высокая абсолютная г) и относительная 10 %) чувствительность, а с другой — возможность одновременной регистрации на фотопластине нескольких десятков элементов-примесей— от лития до урана. Этим методом осуществляется анализ проводящих, полупроводящих и непроводящих компактных материалов, а также дисперсных, легкоплавких и замороженных жидких веществ. [c.5]

Особенность масс-спектрометрии с искровым источником ионов состоит в том, что аналитическая информация о наличии или отсутствии в образце почти всех встречающихся в природе и получаемых искусственно элементов регистрируется на одной пластине размером 5—25 см. Отнощение максимально определяемой концентрации элемента к наименьщей составляет 10 1 в этом динамическом диапазоне и регистрируется содержание каждого элемента. Цель настоящей главы — обсудить пути и способы наиболее эффективного получения данных при помощи этих пластин. [c.186]

Масс-спектрометр с искровым источником ионов является весьма ценным прибором для определения примесей в твердых телах. Ниже перечислены основные особенности метода, которые делают его очень привлекательным для анализа. [c.157]

Необходимость регистрации, идентификации и количественного определения примесей и легирующих добавок в современных полупроводниковых материалах стимулировала развитие нового масс-спектрометрического метода, в котором для получения ионов используется электрический разряд. Наиболее часто применяется источник ионов с пульсирующим искровым разрядом, поэтому этот метод называется масс-спектрометрией с искровым источником ионов. [c.9]

Одно из преимуществ масс-спектрометрии с искровым источником ионов состоит в том, что состав ионного тока, регистрируемого после разделения по массам, сравнительно мало отличается от состава для исходного твердого образца. Однако отличие обычно не столь мало, чтобы им можно было пренебречь. В гл. 8 обсуждены различные аспекты этой проблемы величина [c.11]

На ранней стадии развития масс-спектрометрии с искровым источником ионов низкой точности метода и недостаточной воспроизводимости результатов не уделялось должного внимания, однако в последние годы эти вопросы стали основными. Одним из важных факторов, ограничивающих достижение лучших ре- [c.12]

Создание таких условий, при которых ионный ток соответствует составу плазмы, имеет большое значение в области масс-спектрометрии с искровым источником ионов. Рассмотрим один [c.14]

Другой методикой предварительного концентрирования, которая может оказаться полезной для масс-спектрометрии с искровым источником ионов, является использование современной ионообменной бумажной хроматографии. В тонком слое бумаги можно сконцентрировать вещества, распределенные в большом объеме жидкости, а затем проанализировать непосредственно на масс-спектрометре, если использовать соответствующий противоэлектрод для поддержания искрового разряда. [c.17]

Сигналы, регистрируемые в масс-спектрометре с искровым источником ионов, представляют собой повторяющиеся импульсы ионного тока. Длительность импульсов и частота их повторения определяются режимом искрового источника. На рис. 5.1 и 5.2 представлены осциллограммы типичных сигналов для ионного тока, соответствующие отдельной массе. На рисунках видны временные вариации сигнала. Хотя среднее его значение зависит от интенсивности ионного тока, сфокусированного на щель коллектора, высота отдельных импульсов изменяется в пределах примерно одного порядка величины, как показано на рис. 5.1. Наблюдаются флуктуации внутри отдельных импульсов искрового разряда, что иллюстрирует рис. 5.2. Третья особенность сигнала — возможность изменения средней интенсивности полного ионного тока примерно на один порядок величины. [c.142]

Ошибки измерений отношения сигналов могут быть связаны с электронным оборудованием. Среди возможных причин следует отметить неточный подбор постоянных времени в измерительных цепях, искажение сигнала, нелинейность усилителей, измерения вне заданных пределов динамического диапазона, небольшое отношение сигнала к шуму. Эти ошибки могут стать критическими, если время измерения мало, но обычно они сводятся к минимуму, если период измерения составляет 0,1 с или больше (время измерения должно превышать длительность одиночного импульса искрового разряда). Во всяком случае, необходимо всегда проверять электронную цепь для того, чтобы определить ограничения, которые могут встретиться при работе с предельно малыми и непостоянными сигналами, с которыми приходится иметь дело в масс-спектрометрии с искровым источником ионов. [c.162]

Рис. 5.12. Система электрической регистрации для масс-спектрометра с искровым источником ионов, в которой используется магнитная селекция пиков

Еще в ранних работах, посвященных электрическому сканированию масс-спектра в приборах с искровым источником ионов, было отмечено, что уровень фона вблизи линий основы гораздо ниже, чем при фотографической регистрации. Очень высокая чувствительность является одним из основных преимуществ масс-спектрометров с искровым источником ионов, причем это свойство наиболее ярко проявляется при электрической регистрации спектров (Халл, 1969). Ниже обсуждены некото- [c.172]

Когда требуется дать быстрый ответ о составе образца, нужно рассмотреть работу аналитической лаборатории в нескольких аспектах. Поскольку большинство лабораторий имеют только один масс-спектрометр с искровым источником, расписание его работы должно быть составлено таким образом, чтобы допускать включение срочных анализов. Для этого нужно иметь связь с заказчиками, образцы которых должны быть проанализированы в первую очередь. Во всяком случае, время, необходимое для подготовки образца, его закрепления в держателях, введения в источник ионов и создания вакуума, нельзя значительно сократить. Некоторый выигрыш во времени можно получить, помещая в источник ионов сразу несколько образцов либо используя для их ввода вакуумный шлюз. Для нормального помещения одного образца в масс-спектрометр с искровым источником ионов минимальное время операций составляет 15 мин. После этого в принципе можно немедленно начинать сканирование или переключение пиков, но желательно перед получением аналитических результатов произвести обыскривание электродов. Учитывая возможность использования автоматических устройств, действительное время, расходуемое на получение аналитических данных, можно сократить. Это положение относится главным образом к тем случаям, когда заказчик требует ответа немедленно, так как опыт работы в лаборатории авторов свидетельствует о том, что при этом обычно определяются лишь несколько примесей. [c.176]

Другими словами, использование электрической регистрации позволяет изменять в широких пределах абсолютную чувствительность масс-спектрометра с искровым источником ионов.— Прим. перев. [c.179]

Электрическая регистрация может быть полезна при определении градиента концентрации примесей в образце. О больших возможностях метода свидетельствуют начатые исследования, в которых проводится анализ поверхности слитков ванадия, очищенных методами электропереноса. На рис. 5.19 приведены некоторые предварительные данные для образца ванадия длиной 1,2 см, содержащего 5 больших зерен. Результаты свидетельствуют о возможной зависимости распределения концентраций примесей от расположения границ зерен. Несмотря на то что эти результаты носят предварительный характер, они показывают потенциальные возможности масс-спектрометра с искровым источником ионов и электрической регистрацией в подобных исследованиях. [c.180]

Рис. 5,20. Распределение железа ( ) и никеля (О) в области ванадиевой диффузионной пары (аналитические результаты получены при помощи масс-спектрометра с искровым источником ионов и электрической регистрацией).

Потенциально полезным для масс-спектрометрии с искровым источником ионов является детектор ионов, использующийся при исследовании изотопных отношений методом вторичной ионной эмиссии (Андерсен и др., 1964). Прибор настраивается так, что два измеряемых изотопа располагаются по разные стороны от оптической оси прибора (см. рис. 13.11). На отклоняющие пластины подается переменный потенциал таким образом, что изотопы последовательно направляются на щель коллектора, расположенную на оптической оси. На выходе прибора расположен фотоумножитель, сигналы которого синхронно с переключением пиков направляются в соответствующие ячейки. Отсчеты накапливаются и затем производится измерение изотопных отношений. В этом важном для развития метода устройстве амплитуда переключения достаточно мала, так что можно осуществить накопление только ионных токов, соответствующих двум изотопам, массы которых отличаются от средней меньше чем на 7,5%. Во время переключения пиков на счетчик подается запирающий импульс длительностью 50 мкс, так что в заданном интервале можно измерять любые две линии, несмотря на то что между ними могут располагаться другие пики. [c.182]

Независимо от способа анализа, необходимо выбрать соответствующее оборудование. Иногда достаточно иметь экран с подсветкой и увеличительное стекло. В некоторых случаях простые методы оказываются более эффективными. Их недостатком является лишь относительно небольшой объем получаемой информации и необходимость высокой квалификации аналитика. Другая крайность — применение полностью автоматизированной системы, обеспечивающей гораздо больший объем информации и более точные результаты. Для использования автоматизированной системы расшифровки требуются разносторонние знания. Конструктор системы должен быть знаком с методом масс-спектрометрии с искровым источником ионов, чтобы выделить действительно аналитические проблемы, электронным оборудованием и, вероятно, с электронно-вычислительной техникой для обработки данных анализа. При использовании совершенной автоматизированной системы более точные анализы может получить и менее квалифицированный специалист. Такая система сама выбирает последовательность анализа и исключает ошибки аналитика. [c.187]

ПЛАСТИНЫ ДЛЯ МАСС-СПЕКТРОМЕТРИИ С ИСКРОВЫМ ИСТОЧНИКОМ ионов [c.188]

К моменту написания данной главы большинство анализов следов элементов в твердых телах выполнялось в основном на масс-спектрометрах с искровым источником ионов и двойной фокусировкой с использованием ионно-чувствительных пластин (фотопластин) для детектирования ионов. При определении концентраций примесей проводят следующие операции измеряют оптическую плотность линий, образованных ионами на фотопластине, и относят результаты, соответствующие определяемой примеси, к тому же элементу в эталонном образце, или к примеси — внутреннему стандарту, в частности к основе. При этом вводят ряд корректирующих факторов по методике, изложенной в соответствующих главах этой книги. Затем рассчитывают средние значения концентраций и стандартные отклонения, характеризующие разброс данных относительно среднего значения. Эти конечные результаты представляют в виде таблиц. Весь этот процесс или отдельные его части можно выполнить при помощи ЭВМ. [c.219]

Хотя рамки этой главы ограничены рассмотрением использования ЭВМ для анализа твердых неорганических веществ на масс-спектрометре с искровым источником ионов, необходимо коротко упомянуть фундаментальные работы, выполненные в масс-спектрометрии высокого разрешения для исследования органических соединений. Эта область очень существенна для ЭВМ. Множество расчетов, обработка огромного числа данных, вычисление масс ионов с высокой степенью точности были бы абсолютно невозможны при работе вручную. Эта область науки, столь важная во многих отраслях промышленности, появилась лишь в 1964 г. и в наши дни стала одним из главных разделов масс-спектрометрии. Масс-спектрометры высокого разрешения. [c.237]

В методе масс-спектрометрии с искровым источником ионов существует много причин, вызывающих элементную дискриминацию. Маловероятно, например, что плазма искры имеет элементный состав, точно соответствующий составу твердого образца. Аналогично выходящий из щели пучок положительных ионов не идентичен плазме. Различные элементы часто имеют неодинаковый разброс ионов по энергиям, что сказывается на эффективности их прохождения в пределах масс-спектрометра к детектору, который в свою очередь обычно отличается избирательностью при регистрации масс. Таким образом, искровая масс-спектрометрия представляет собой чрезвычайно неселективный метод как правило, все компоненты определяются с чувствительностями, лежащими в пределах КОЧ 3—10. Это означает, что без введения поправок и использования стандартных образцов этот метод позволяет определить полный элементный состав твердых веществ с КОЧ = 3 для большинства элементов. Несмотря на сравнительно низкую точность, искровая масс-спектрометрия оказалась особенно полезной для определения примесей на уровне ниже 1 ат. млн , поскольку такая чувствительность превосходит пределы обнаружения для большинства других методов. Однако возросший интерес к физике и химии твердого тела и требования производства в последние годы стимулировали исследования, направленные на снижение погрешности метода. [c.246]

Иногда приходится полагаться на имеющиеся в распоряжении стандарты, приготовленные для других целей, наряду с немногими, предназначенными для масс-спектрометрии. Если отсутствуют стандартные образцы с необходимыми комбинациями основы и примесей, ошибка в определении абсолютных содержаний увеличивается. С этой точки зрения полезно знать, как ведут себя эти примеси в других основах. Получены некоторые эмпирические формулы для оценки чувствительности определения примесей при анализе различных соединений методом масс-спектрометрии с искровым источником ионов. [c.247]

В результате всех этих работ абсолютная точность метода масс-спектрометрии с искровым источником ионов при строго контролируемых условиях может достигать 2—10% в общем случае точность составляет 20—40%. При использовании метода изотопного разбавления некоторые элементы можно определять с точностью 2—4%). [c.247]

Масс-спектрометрия с искровым источником ионов используется для анализа широкого круга веществ. Если материал электропроводен, вакуумный разряд осуществляется непосредственно между электродами, изготовленными из самого образца. Для анализа изоляторов их обычно измельчают, смешивают с порошком чистого серебра или графита и прессуют электроды. [c.248]

В. Специфические проблемы масс-спектрометрии с искровым источником ионов [c.286]

Изотопное разбавление расширяет возможности метода масс-спектрометрии с искровым источником ионов. Последняя служит для идентификации элементов и определения их приблизительных концентраций, а изотопное разбавление используется для точного анализа отдельных элементов. Метод мало подвержен помехам, особенно если не требуется полного восстановления образца. Помехи от изобаров или многозарядных ионов можно исключить подбором изотопов. Около 20 моноизотопных элементов (примерно половина долгоживущих) можно использовать при определенных условиях, а остальные принадлежат к числу редко анализируемых. Отрицательные эффекты природных загрязнений можно снизить, если сам образец содержит не природные изотопные комбинации (продукты распада), когда изотопы индикатора и образца можно легко отличить от загрязнений. [c.295]

Очень эффективно использование искровой масс-спектрометрии в многоэлементном анализе сложных по составу твердых веществ, в том числе геологических, космохимических и биологических образцов. Так, например, первые данные по химическому составу лунных пород как в СССР, так и в США получены на масс-спектрометрах с искровым источником ионов (гл. 12). [c.5]

Состояние исследований в области масс-спектрометрии с искровым источником ионов было суммировано в монографии, выпущенной под редакцией Ахерна (1966). Хотя с тех пор опубликован ряд обзорных статей, мне представляется, что настало время для более широкого рассмотрения и обсуждения приемов анализа следов элементов с помощью этого метода. Настоящая книга в основном посвящена масс-спектрометрическим методам, использующим источники ионов с электрическим [c.9]

Многие авторы предпринимали попытки улучшить основные характеристики фотографической эмульсии как детектора ионов (Ахерн, 1966), несмотря на то что ряд принципиальных недостатков фотографического метода регистрации ионов ограничивает его возможности. В некоторых лабораториях ведутся работы над созданием систем электрической регистрации ионных токов для масс-спектрометров с искровым источником ионов. Основные условия, которые для этого необходимы, и некоторые предварительные результаты, полученные в этой области, обсуждаются в настоящей главе. [c.139]

Для более полного изучения вопроса целесообразно рассмотреть кратко историю развития метода. В 30-х годах, работая над проблемами создания ионно-оптических систем с хорошими характеристиками для точных измерений масс и для образования ионов из трудных веществ, Маттаух, Герцог и Демпстер заложили основы современной масс-спектрометрии с искровым источником ионов. Маттаух и Герцог (1934) разработали ионнооптическую систему, которая позволяет использовать фотопластину, а Демпстер (1935, 1936)—искровой источник ионов, в котором на электроды подается высокочастотное напряжение. Демпстер (1946) продемонстрировал также потенциальные возможности масс-спектрометрии с искровым источником ионов в аналитической химии. В конце 40-х — начале 50-х годов несколько исследователей построили приборы этого типа, предназначенные для аналитических целей. В 1959 г. появились первые выпускаемые промышленностью приборы, и в последующие годы наблюдалось бурное развитие этого метода. [c.140]

Сигналы, регистрируемые коллектором монитора, в большинстве случаев достаточно велики для того, чтобы использовать электронные усилительные схемы. Однако для аналитического коллектора обычно необходимы электронные умножители с изменяюшимся коэффициентом усиления, максимальное значение которого достигает 10 . В масс-спектрометрии с искровым источником ионов применяются обычные электронные умножители, отличающиеся лишь наличием дополнительных экранов, исключающих рассеянные ионы (Халл, 1969). Первые эксперименты, проведенные в лаборатории авторов, выявили временную потерю стабильности умножителя типа Аллена, после того как на его первый динод попадали интенсивные ионные токи (среднее значение 10 —10 °А), соответствующие изотопам основы. Впоследствии эксперименты, проведенные с другими типами умножителей, подтвердили, что стабильность коэффициента усиления за большой промежуток времени значительно улучшается, если ограничить максимальный ионный ток, достигающий умножителя. Поэтому была введена практика регистрации масс-спектра, при которой на умножитель попадают только ионные токи, не превышающие ХЮ А. Сканирование производится автоматически вплоть до линий основы, затем ионный пучок частично отклоняется в источнике ионов, и пики основы прописываются вручную. Таким образом, гарантируется постоянство коэффициента усиления умножителя. Подобный прием не упоминался в сообщениях других лабораторий. В литературе нет также указаний на возможное ухудшение характеристик первого динода после длительного воздействия на него ионов различных металлов. [c.145]

Другие проблемы, возникающие при использовании электронных умножителей, связаны с тем, что коэффициент усиления для различных видов ионов неодинаков вследствие того, что эффективность эмиссии вторичных электронов из первого динода зависит от массы, заряда, электронной конфигурации и энергии ионов. Халл (1969) использовал общепринятое предположение, что коэффициент усиления обратно пропорционален квадратному корню из массы падающих частиц. Однако следует отметить, что при высоких напряжениях, которые используются для ускорения ионов в масс-спектрометрах с искровым источником ионов, эмиссия вторичных ионов нелинейно зависит от перечисленных факторов, причем в основном эти зависимости недостаточно хорошо изучены (Каминский, 1965 Гоффект и др., 1966). По-видимому, сканирование масс-спектра или переключение пиков (см. ниже) путем измерения магнит- [c.145]

В прошлом сканирование всего масс-спектра в приборах с искровым источником было трудно осуществить вследствие нестабильности ионного тока. Ионные токи часто прерывались, так как искровой разряд прекращался, и для того, чтобы он возник вновь, необходимо было вручную регулировать положение электродов. В результате во время сканирования пропускались некоторые участки спектра. Другая трудность была связана с тем, что для регистрации данных в масс-спектрометрии с искровым источником ионов обычно требуются измерительные схемы с большим динамическим диапазоном. Горман и сотр. (1951) в своей работе, важной для развития рассматриваемой области, впервые показали возможность сканирования масс-спектра. После этой работы были предложены различные подходы для преодоления возникших трудностей. В упоминавшейся выше работе Дупчика и сотр. (1964) использовалось быстрое сканирование и непрерывное усреднение результатов. Прекращение искры не приводило к серьезным трудностям, но динамический диапазон и чувствительность этого устройства были ограничены. [c.155]

Преимуществом электрической регистрации является то, что при определении примесей на любом заданном уровне концентраций можно расходовать самые различные количества вещества . Эта особенность масс-спектрометрии с искровым источником ионов пока не использовалась, возможно, по той причине, что за очень малые промежутки времени трудно осуществить точные измерения. Рассмотрим кратко эксперимент, свидетельствующий об одной из возможностей в этой области. Образцы низколегированной стали NBS SRM-461 были лишь частично исследованы на гомогенность. Вся серия стандартов SRM-460 анализировалась на масс-спектрометрах с искровым источником ионов с использованием как фотографической, так и электрической систем регистрации (Капеллен и др., 1965). Образцы взвешивались до и после анализа, а полная экспозиция, регистрируемая монитором, поддерживалась постоянной. Средняя потеря [c.179]

Программы, записанные для систем пакетной обработки, исторически предшествуют программам для устройства с разделением времени, и являются основным методом машинной обработки результатов в масс-спектрометрии с искровым источником ионов. В литературе более или менее подробно рассмотрен ряд систем и программ для систем пакетной обработки. В большинстве из них исходные данные считываются с фотопластины вручную при помощи микрофотометра и печатаются на перфокартах или бумажной ленте. Одной из первых попыток обработки масс-спектрометрических данных с помощью простой программы пакетной обработки, записанной на языке ФОРТРАН, посвящена работа Кепникота (1964). Программа была основана на способе калибровки фотопластин, разработанном Черчиллем (1944). В более поздней работе (Кенникот, 1966) предложена новая система накопления данных. Система записывает на магнитной ленте в аналоговой форме профиль каждой спектральной линии, выбранной аналитиком для расчета. После проведения сканирования всех необходимых линий эта магнитная лента направляется в ЭВМ и объединяется с отпечатанными на картах дополнительными данными, необходимыми для идентификации линий и для расчета, — образуется пакет данных, ЭВМ снабжена приспособлением для перевода аналоговой записи на ленте в цифровую форму. Вулстон (1965) описал систему, в которую данные вводятся пробитыми на перфокартах. Для калибровки фотопластин было использовано уравнение Халла (1962). В формулу Халла входят два коэффициента, которые необходимо определять отдельно как для основы, так и для каждой примеси. Но программа составлена таким образом, что эти величины рассчитываются автоматически достаточно ввести в ЭВМ исходные данные для трех элементов. В программу входят все используемые обычно поправочные коэффициенты (зависимость чувствительности фотопластины от массы иона, учет фона, распределения ионов по зарядностям, коэффициенты относительной чувствительности) производится расчет пределов обнаружения, ошибок эксперимента и выдача полных результатов анализа. Эта программа была записана на языке ассемблера, соответствующем группе ЭВМ КСА-601. Очень гибкая программа на языке АЛГОЛ предложена Франценом и Шуи [c.227]

Многоэлементный анализ базальтовых пород на масс-спектрометре с искровым источником ионов был проведен Моррисоном и Кацубой (1969). Моррисон и сотр. (1970а, б) определили 56 элементов в лунной пыли и породах (доставленных космическим кораблем Аполлон-11) при помощи масс-спектрометра с искровым источником ионов и нейтронно-активационного метода. [c.301]

При фотографической регистрации аналитик может использовать ЭВМ только после того, как анализ образца на масс-спектрометре закончен и фотопластина проявлена. В противоположность этому при электрической регистрации ЭВМ может принимать непосредственное участие в процессе накопления данны.х. Использование для этой цели систем с разделением времени рассмотрено в разд. 7.4, однако очевидно, что для этой цели еще более подходят ЭВМ специального назначения, способные не только непосредственно считывать данные при помощи быстрого аналого-цифрового преобразователя, но и контролировать ток электромагнита, напряжение на электростатическом анализаторе, коэффициент усиления электронного умножителя и другие параметры прибора. Ранее уже упоминалась система, описанная Эвансом и др. (1969), в которой использовали специальный настольный калькулятор (микро-ЭВМ) и переходное устройство для накопления данных и их обработки, последовательно элемент за элементом. Более сложные системы описаны Бингхемом и др. (1969, 1970 а—в), а также Брауном и др. (1971), использовавшими ЭВМ РОР-81 с основной памятью объемом 4К и вспомогательным дисковым запоминающим устройством объемом 64 К. Эти системы, осуществляющие обработку данных в процессе эксперимента, значительно облегчили процесс анализа на масс-спектрометре с искровым источником ионов. [c.239]

Точность метода масс-спектрометрии с искровым источником ионов во многом зависит от использования стандартных образцов. С их применением точные абсолютные результаты можно получить при ф)Отометрировании фотопластин, не вводя много инструментальных поправок. Если же применение стандартов невозможно, то на основании масс-спектрометрических данных концентрации должны рассчитываться только с учетом различных поправок на массу, ширину линий, энергию и т. д., причем формулы поправок специфичны для каждого масс-спектро-метра. [c.267]

В этой главе обсуждены методы и приемы анализа изоляторов, порошков и микрообразцов. Определение примесей в объеме микрообразцов, которые можно использовать как электроды, а также анализ жидкостей, пленок и определение примесей на поверхности твердых тел рассмотрены в других главах. Авторы полагают, что читатель знаком с основными положениями анализа следов элементов в твердых телах при помощи масс-спектрометра с искровым источником ионов. [c.300]

Высокая чувствительность определения большинства примесей и малая селективность для всех элементов делает прибор с искровым источником идеальным для анализа следов в большинстве проводящих веществ, если из них нетрудно изготовить электроды. Цель данной главы-—показать, что масс-спектромет-рия с искровым источником ионов является подходящим методом для анализа изоляторов, порошков и микрообразцов. Работы, которые были выполнены в этом направлении до 1964 г., описаны в прекрасном обзоре Гутри (1966), к которому авторы отсылают читателя. В следующих разделах описаны различные приемы анализа специальных образцов методом масс-спектрометрии с искровым источником ионов. [c.300]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология