Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Метод инфракрасной микроскопии

    Метод инфракрасной микроскопии [c.49]

    Метод инфракрасной поляризационной микроскопии применяют-для исследования распределения остаточных внутренних напряжений в кристаллах, связанных с дислокациями для контроля напряжений в спаях кремния с металлами для анализа типа дислокаций в кристаллах (в поляризованном инфракрасном свете вокруг дислокаций выявляются, розетки напряжений). [c.124]


    В данной главе рассматриваются наиболее важные и широка применяемые методы исследования структуры силикатов дифференциальный термический анализ, рентгеноструктурный и рентгенофазовый анализ, электронная микроскопия, инфракрасная спектроскопия, спектры комбинационного рассеяния и электронный парамагнитный резонанс. [c.150]

    Для работы методом инфракрасной микроскопии к обычному микроскопу необходима инфракрасная насадка НИК (рис. 23). Ее устанавливают вместо тубуса. Благодаря электронно-оптическому преобразователю невидимое инфракрасное изображение превращается в видимое. В комплект входят поля-фильтры, один из которых помещают иа откидное кольцо конденсора, а другой — сверху иа объектив в иасадке. [c.49]

    Экспериментальные методы, применяемые для определения и характеристики структуры полимерных цепей и их совокупностей, упоминались в общем обзоре гл. 1. Дополнительную информацию по дифракции рентгеновских лучей [3], рассеянию нейтронов [4—6], электронов и света [4, 52, 53], оптической и электронной микроскопии [3, 14Ь], термическим [3, 54] и вязкоупругим свойствам [14с, 55—57] и методу ядерного магнитного резонанса (ЯМР) [3] можно получить из источников, указанных в списке литературы к данной главе. В гл. 5 и 6 соответственно будут рассмотрены методы инфракрасного поглощения (ИКС) и ЭПР. [c.35]

    Для контроля за дисперсностью различных высокомолекулярных соединений пользуются методами светорассеяния, диффузии, ультрацентрифугирования, осмометрии, вискозиметрии, электронной микроскопии, хроматографического фракционирования [13]. Однако ни один из этих методов не является надежным, а некоторые просто неприменимы для контроля за состоянием асфальтенов в нефти без добавления к ней соответствующих растворителей. Причиной этого являются темная окраска и высокая вязкость нефти, а также высокая дисперсность асфальтеновых частиц. Кроме того, перечисленные методы не позволяют исследовать пробы пластовой нефти, содержащей растворенный газ и находящейся под высоким давлением. Этих недостатков нет у метода инфракрасной фотоколориметрии [1, 23]. Поэтому он может успешно использоваться для контроля за состоянием асфальтенов в нефти. [c.17]

    Актуальной задачей остается определение качества микроэлементов, в том числе изделий микроэлектроники и вычислительной техники. Для ее решения необходимо искать новые физические методы контроля и совершенствовать те приборы, пока очень малочисленные, которые применяются сейчас, — рентгеновские аппараты с высокочувствительной рентгеновской пленкой, рентгенотелевизионные микроскопы с 800-кратным увеличением и микрофокусными трубками 0,ЗХ1,4 мм, точечные инфракрасные пирометры, тепловизионные микроскопы с разрешением до 0,01° по температуре и некоторые другие. [c.60]


    Наиболее полные идентификационные характеристики при исследовании кристаллогидратов получают при применении дифференциально-термического анализа, а в случае достаточно крупных кристаллов — также рентгеновского анализа. Формы связи воды в кристаллах гидратов идентифицируются методом инфракрасной спектроскопии, а форма и размеры кристаллов — методами электронной и оптической микроскопии. [c.273]

    В ряде случаев для оценки биологической инертности материалов необходимо осуществлять максимально полную идентификацию выделяющихся из эластомера веществ. Для оценки индивидуальных показателей изучают миграцию в модельные среды наиболее реакционноспособных и биологически активных веществ с помощью методов хроматографии (тонкослойной и газовой), фотометрии, масс-спектрометрии, проводят качественный анализ содержания химических элементов и ионов. Исследование процессов, связанных с миграцией ряда ингредиентов на поверхность резин, оказалось возможным лишь при сочетании нескольких методов - световой микроскопии, инфракрасной спектроскопии с нарушенным полным внутренним отражением (НПВО) и наиболее эффективной вследствие высокой чувствительности и избирательности тонкослойной хроматографии. [c.557]

    Часть вторая (гл. IV—V) содержит результаты изучения процесса разрушения твердых тел современными физическими методами (инфракрасная спектроскопия, электронный парамагнитный резонанс, масс-спектрометрия, рентгеновская дифракция, электронная микроскопия, ядерный магнитный резонанс и др.). Эти методы применялись для проверки выводов, сделанных на основе феноменологических исследований (часть первая), и получения детальной информации об элементарных актах и механизме разрушения. [c.16]

    При исследовании адсорбции и десорбции используются большей частью аналитические методы определения концентрации ПАВ в исходном и равновесном растворе, а также методы с применением весов Лангмюра и меченых атомов для характеристики поверхности адсорбентов и адсорбционных связей с ней модификаторов применяются методы инфракрасной спектроскопии. Методы электронной микроскопии пригодны для изучения строения адсорбционных слоев ПАВ. [c.16]

    Для исследования кинетики кристаллизации могут быть применены методы измерения показателя преломления, диэлектрической проницаемости и метод инфракрасной спектроскопии (последний метод успешно использовали в прошлом). Все эти методы с рассмотренными выше можно разделить на две группы — методы, основанные на каком-либо свойстве, являющемся функцией общей степени превращения вещества в кристаллическое состояние и отражающем в совокупности процесс зародышеобразования и роста (типичный пример — дилатометрия), и методы, которые, подобно оптической микроскопии, позволяют исследовать отдельные структурные образования в процессе развития. Методы первой группы применяются более часто, но, как будет показано ниже, механизм кристаллизации слишком сложен, так что данные, получаемые этими методами, не могут быть вполне однозначными. Поэтому в будущем наиболее широкое развитие, по-видимому, получат методы, позволяющие раздельно исследовать процессы зародышеобразования и роста, или системы, в которых можно надежно прерывать процесс кристалли- [c.76]

    Наиболее детально развитие разрушения изучено прямыми структурными методами в твердых полимерах и главным образом в волокнах (инфракрасная спектроскопия, электронный парамагнитный резонанс, масс-спектрометрия, ядерный магнитный резонанс, рентгеновская дифракция на малые и большие углы, дифракция видимого света, электронная микроскопия, оптическая и электронно-микроскопическая фрактография и др.) [61 11.27]. [c.324]

    Попытки использовать электронный микроскоп для исследований структуры битумов пока не дали положительных результатов. Однако при помощи новых оригинальных приемов этого метода можно получать полезные данные. Сочетание микроскопии, ультрафиолетовой и инфракрасной спектроскопии может быть полезным при исследовании фракций битумов. [c.23]

    Появление кристаллов парафина наблюдали с помощью микроскопа в специальной камере со смотровыми стеклами, позволяющей проводить определения при давлении до 50 МПа и температуре до 100° С. Этот метод позволил также определить линейные размеры выпадающих кристаллов, которые составили от 5 до ЗО мкм и оказались соизмеримыми с размерами пор продуктивных коллекторов. Фотометрические измерения проводили как в видимой, так и в инфракрасной областях спектра. При термографических измерениях использовали сосуды высокого давления, рассчитанные для работы до 30 МПа и температуре до 150°С термограммы регистрировали на приборе ФРУ-64. Температуру насыщения определяли ультразвуковым методом, измеряя поглощение ультразвуковых волн (частота колебаний 1 и 3 МГц). Ультразвуковая камера позволяла вести измерения при давлении до 60 МПа и температуре до 150° С. [c.29]


    В настоящее время все большему кругу исследователей становится совершенно очевидным, что разработка проблемы потенциала ОВ на высоком научном уровне невозможна без использования современных методов органической химии, геохимии и петрографии электронной микроскопии, инфракрасной спектроскопии, дифференциального петрографического анализа, газожидкостной хроматографии, масс-спектрометрии, ЯМР, ЭПР. Молекулярный уровень исследования ОВ не является пределом их изучения видимо, для более углубленного познания вешества необходим атомарный уровень и, возможно, более тонкие, совершенные методы его исследования. [c.98]

    Наиболее широкое распространение получили методы молекулярной спектроскопии (инфракрасная спектроскопия и метод спектров комбинационного рассеяния), электронного парамагнитного резонанса и ядерного магнитного резонанса, которые играют ув настоящее время главную роль при изучении строения полимеров большое значение имеют также электронография, рентгенография и электронная микроскопия, [c.15]

    Локальные физические свойства эмульсий исследуют, изучая их диэлектрическую релаксацию, спектры ядерного магнитного резонанса [6] и инфракрасные спектры. Эти методы дают сведения о составе межфазной области в зависимости от состава обеих фаз. Размеры и распределение по размерам очень маленьких капелек или мицелл определяют по рассеянию света и дифракции рентгеновских лучей под малыми углами [8]. Довольно точным методом исследования формы капелек эмульсий и распределения их по размерам является сканирующая электронная микроскопия [8а]. [c.392]

    Размеры жидкокристаллических структур (несколько сотен ангстрем) требуют использования электронной микроскопии, а их природа (обычно периодическая) указывает на возможность применения малоуглового рассеяния рентгеновских лучей. Так же плодотворно используются некоторые другие методы дифференциальная сканирующая калориметрия, дилатометрия, поляризационная микроскопия, инфракрасная спектроскопия и круговой дихроизм. [c.208]

    Таким образом, вопрос о слабых связях крайне сложен и далек от своего разрешения. Результаты, полученные химическими методами, ненадежны по ряду причин, как-то низкая концентрация слабых связей, физическое состояние полимера, в котором эти связи реагируют, и т. д. В некоторых исследованиях для построения более полной картины структуры молекулы полисахарида применялись такие физические методы, как рентгеновская кристаллография, электронная микроскопия и инфракрасная спектроскопия. По-видимому, эти физические методы явятся главным средством, применение которого позволит в конце концов однозначно установить структуру полисахаридов. [c.111]

    Метод таблетирования применяли для определения содержания материала в количествах порядка долей миллиграмма. В данном методе уникальный спектроскопический прибор сочетает применение таблеток, состоящих в основном из материала наполнителя и позволяющих легко манипулировать с мельчайшими образцами, с системой конденсоров, позволяющей концентрировать луч прибора в предельно малое пятно на таблетке и, таким образом, полностью использовать всю доступную энергию прибора. Этот метод позволяет использовать образцы с размерами от обычно применяемых в инфракрасной спектроскопии примерно до 1 у последние можно исследовать с помощью отражающего микроскопа. Отражающий микроскоп обычно используют как однолучевой прибор [35], в то время как систему конденсоров применяют в двухлучевых приборах и таким образом получают непосредственно спектр поглощения. [c.260]

    Методами микроскопии, электронной микроскопии и рентгенографии изучалась структура бутадиенстирольных каучуков [471, 472]. Структура каучука определялась также при помощи морфологического исследования [473]. Приводятся данные об определении содержания каучуков в смесях [474, 475] при помощи ультрафиолетовой и инфракрасной спектроскопии. [c.640]

    Для исследования процессов гидратации цемента применяют электронный микроскоп, а также новые методы измерения магнитного ядерного и протонного резонансов и инфракрасную спектрометрию. [c.280]

    Хемосорбционные пленки могут быть исследованы различными методами. Важнейшими из них являются инфракрасная спектроскопия, измерение контактных потенциалов и работы выхода электронов, электронная микроскопия, метод ионного проектора, а также дифракция медленных электронов. Если первые три метода дают только интегральные сведения о виде и толщине адсорбционных пленок, то два других обеспечивают прямое определение позиций атомов и тем самым дают сведения о структуре адсорбционных слоев. [c.361]

    Современные методы исследования (электронография, рентгенография, а также методы окрашивания и измерения поглощения света в инфракрасной области) позволяют точно установить минеральный состав глии. Обычные петрографические методы (микроскопия) не всегда дают надежные результаты, так как [c.325]

    К этой группе относятся прежде всего рентгенография и электронография, электронная и световая микроскопия, а также инфракрасная спектроскопия, ядерный магнитный резонанс, метод измерения диэлектрических потерь и методы, основанные на измерении таких физических свойств, как удельный объем или плотность (дилатометрия), теплоемкость (калориметрия), теплопроводность и электропроводность. [c.57]

    На рис. 9.19—9.21 воспроизводятся электронные микрофотографии реплик поверхностей разрушения ПА-6, полученного кристаллизацией под давлением [202]. На микрофотографиях видны стопы ламелл толщиной до 700 нм. На основании обширных исследований методами инфракрасной спектроскопии, широкоуглового рассеяния рентгеновских лучей и методами электронной микроскопии авторы данной работы пришли к выводу, что ламеллы состоят из вытянутых цепей. Согласно их предположению (рис. 9.22), трещина преимущественно может распространяться либо вдоль плоскостей (010) (в которых располагаются концы цепей, а также примеси, отторгнутые фронтом роста), либо вдоль плоскостей (002) —в слоях водородных связей ламелл. В обоих процессах не происходит разрыва связей основной цепи или водородных связей. [c.393]

    Для того чтобы осуществился кванторазмерный эффект, средний размер зерен в наноструктурных полупроводниках должен быть меньше некоторого критического размера, расчетная величина которого для 81 и Се равна 5 нм [397] и 24 нм [398] соответственно. Более того, чтобы произошел значительный сдвиг спектра фотолюминесценции из инфракрасной области в видимую область спектра, средний размер зерен должен быть еще меньше — менее 3 нм в 81 и менее 3,5 нм в Се, т. е. существенно меньше, чем наблюдали методом электронной микроскопии. Объяснить это различие возможно, если принять, что основной вклад в спектр фотолюминесценции в наноструктурных полупроводниках вносит только центральная часть зерен, имеющая малоискаженную кристаллическую решетку. В согласии с развиваемой структурной моделью наноструктурных материалов (2.2) неискаженные области в ИПД материалах существенно меньше среднего размера зерен, включающего в себя приграничные сильноискаженнью области. [c.234]

    При изучении физической структуры полимеров (формы макромолекул и конформационных превращений, водородных связей, надмолекулярной структуры), а также и химического строения применяются разнообразные физические методы исследования микроскопия (световая, ультрафиолетовая, электронная) рентгеносчруктурный анализ электронография спектроскопия (ультрафиолетовая, инфракрасная, ядерного магнитного резонанса и др.) оптические методы (метод двойного лучепреломления) и др. [c.143]

    Полуфабрикаты и изделия из материалов, прозрачных или полупрозрачных в инфракрасном диапазоне (гетинакс, текстолит, стеклопластик, германий, кремний, нефтепродукты и т. д.), могут подвергаться контролю в прошедшем или отраженном излучении методами, характерными для оптического диапазона с визуализацией распределения плотности потока теплового излучения (электронно-оптические преобразователи, термовизоры, инфракрасные микроскопы и др.). Такой оперативный контроль обеспечивает хорошую достоверность, поскольку дает оператору информацию в наиболее привычном для него видимом изображении, когда информация воспринимается и анализируется наилучшим образом. Технология проведения контроля в этом случае в значительной степени совпадает с применением оптических методов, излагаемых ниже. [c.210]

    Успешно решаются задачи интроскопии, когда изучение строения в видимом диапазоне затрудняет или делает невозможным слои некоторых газов (дым, туман, пыль), жидкости (нефть, отдельные непрозрачные в видимом свете растворы) или твердые вещества, хорошо пропускающие инфракрасное излучение (синтетические смолы, полимерные материалы, германий, кремний, различные смеси). Частным случаем такого контроля является анализ качества непокрытых изделий, которые в видимом свете дают малоконтрастное или неинформативное изображение. Для контроля строения различных изделий используют термочувствительные вещества, термовизор, микротермовизор, радиовизор и инфракрасные микроскопы. Тепловые методы интроскопии можно использовать для определения формы и расположения неоднородностей обработки различных протяженных объектов (листы, полотна, трубы и др.). Так, легко различаются области неполной полимеризации синтетических пленок, горячие пятна бумаги, зоны изменения состава композиционных материалов. Наличие такой информации не только дает сведения о качестве, сортности про- [c.220]

    Важной областью применения интроскопии является контроль сложных изделий и объектов радиоэлектроники и микроэлектроники [1, 16]. Известно применение тепловых методов для контроля многослойных печатных плат, где определяется утонение, под-травливание и отслаивание печатных проводников как на наружных, так и на внутренних слоях. В микроэлектронных изделиях с помощью микротермовизоров и инфракрасных микроскопов удается изучать особенности различных областей в слоистом полупроводнике и даже изменение от значения электрического напряжения ширины зоны запирающего слоя р-п-перехода. [c.221]

    Истинную величину дихроичного отношения можно теперь получить из уравнения (2). Известны различные методы определения 7/. Рассеянный свет с длиной волны Я обычно измеряют следующим образом. В световой пучок помещают фильтр, который полностью поглощает свет с длиной волны Я, но пропускает свет более коротких длин волн, которые ответственны за рассеяние. Например, пластинка из Сар2 является удобным фильтром для области 10—15 мк. Паразитное излучение // в инфракрасном микроскопе можно определить, помещая в световой пучок полностью поглощающий объект вместо образца. Форма этого объекта должна быть такой же, как форма образца. Например, волокно можно заменить проволокой таких же размеров [13]. В другом методе определения паразитного излучения можно использовать сам образец как затемняющий объект, если этот образец имеет очень сильную полосу поглощения в нужной области длин волн. Такую полосу можно использовать для определения //, как показано на рис. 86, б. [c.247]

    Глазурованные керамические подложки в этом смысле представляют интерес, так как они сочетают гладкую поверхность стекол с хорошей теплопроводностью керамического тела. Теплопроводность этого сэндвича , в зависимости от толщины эмали, может на порядок превышать теплопроводность стекол сравнимых толщин [68]. Влияние теплопроводности дод-ложки на распределение температуры вокруг отдельных компонентов изучалось экспериментально несколькими авторами. Маклин и др. для определения температурного профиля сопротивлений из нитрида тантала использовали температурно-чувствительные мелки [69]. Для этой же цели на нихромовых [17] и углеродных [70] пленочных сопротивлениях были применены термопары. В настоящее время большинство исследователей используют инфракрасную микроскопию. В этом методе ИК излучение с поверхности образца фокусируется на чувствительный болометр, выходной сигнал с которого пропорционален падающей радиации. Для этих целей обычно используются фотодетекторы нз антимонида индия или германия, легированного золотом. Их сигнал усиливается и регистрируется стрелочны.м или записывающим прибором. Метод может иметь погрешность, не превышающую 1°С, и разрешение по площади до 630 мкм [71]. [c.529]

    Наши данные измерения Тд стекол системы Аз—5 методом ДТА приведены на рис. 40 [97]. Значения Тд для составов от Аз81,5 до Аз8з,5 хорошо согласуются с приведенными данными [89]. Для более обогащенных серой составов на термограммах были обнаружены два эндоэффекта, один из которых совпадает с температурами, отвечающими изокоме 10 пуаз. Второй эффект удовлетворительно согласуется с величинами Т , опре-, деленными методом ДТА в работе [89]. Наличие двух эффектов Тд является еще одним подтверждением заключения о микро-неоднородном строении сульфидно-мышьяковых стекол, обогащенных серой. Следует, однако, отметить, что в инфракрасном микроскопе МИК-1 границы микрофаз не обнаруживаются. [c.58]

    Все большее применение находит метод микрорентгеноспект-рального анализа (локальный микроанализатор), идея которого заключается в следующем. Образец с хорошо отполированной поверхностью облучается узким сканирующим электронным пучком диаметром около 1 мкм. Характеристическое рентгеновское излучение, испускаемое при облучении атомами образца, анализируется электронным логическим блоком. Подвергая такому исследованию поперечные сечения образцов, содержащие реагенты и продукт взаимодействия, удается изучить распределение компонентов и фаз в зоне реакции, установить геометрию фронта реакции и найти характер и последовательность превращений при твердофазном взаимодействии. В ряде случаев полезную информацию о механизме реакции дает применение метода гамма-резонансной спектроскопии (эффект Мессбауэра), а также методов инфракрасной и эмиссионной микроскопии [71]. [c.117]

    Следует, однако, отметить и некоторые различия в выводах, полученных при исследовании структуры литиевосиликатного стекла методом электронной микроскопии [40, 42] и методом инфракрасной спектроскопии. [c.324]

    Кинетическое (термофлуктуационное) разрушение связано с накоплением структурной поврежденности (микротрещип), образующейся при разрыве связи. Рассмотрим специфику этого процесса, который поддается количественному анализу с помощьюпрямых физических методов [89, 90, 160], включая инфракрасную спектроскопию (ИКС), электронный парамагнитный резонанс (ЭПР), масс-спектрометрию (МС), ядерный магнитный резонанс (ЯМР), рентгеновскую дифракцию в малых (РДМ) и больших (РДБ) углах, электронную микроскопию (ЭМ), дифракцию видимого света (ДС) и т. п. [c.135]

    Были изучены сополимеры бутадиена и у-бензилнЬ-глутамата (Б-Г), стирола и у-бензил-Ь-глутамата (С-Г), бутадиена и карбо-бензокси-Ь-лизина (Б-КК), стирола и карбобензокси-Ь-лизина (С-КК), бутадиена и Ы -оксипроиилглутамина (Б-ОГ). Эти сополимеры исследовали в сухом состоянии и в различных растворителях методами дифракции рентгеновских лучей и электронной микроскопии, инфракрасной спектроскопии и кругового дихроизма. В сополимере Б-ОГ цепи поли-М -оксипронилглутамина растворимы в полярных и неполярных растворителях, но даже в растворе в акриловой кислоте их конформация такая же, как и у гидрофобных полипептидов. Свойства сополимера Б-ОГ описаны в следующих разделах. [c.244]

    Структура нефтяных смол и асфальтенов уже давно привлекает внимание химиков и геохимиков. Сведения, имеющиеся по этому вопросу к началу 60-х годов, обобщены в монографии С Сергиенко [1964]. В структурных исследованиях последующих лет можно выделить два направления изучение смолисто-асфальтенового комплекса нефтей и битумов методами рентгеноструктурного анализа, дифракпди электронов и электронной микроскопии, с одной стороны [Erdmann, 1976 Кряжев, 1978], и спектральными методами - с другой (спектроскопия в ультрафиолетовой, видимой и инфракрасной областях, радиоспектроскопические методы - ядерный магнитный резонанс и электронный парамагнитный резонанс [Глебовская, 1971 Спектрографическая..., 1972 Ботнева и др., 1976]). Первая группа методов позволяет получить сведения о надмолекулярной структуре смол и асфальтенов, вторая - о функциональных группах и иногда о молекулярной структуре. [c.126]

    Методами рентгеновской дифракции под малыми и большими углами, дифракции света, поляризационной инфракрасной спектроскопии, ядёрного магнитного резонанса и электронной микроскопии установлено [c.377]

    Современное состояние методики проведения микротермического фазового анализа превосходно представлено в монографиях Кофлера, в особенности —Мак Крона, откуда мы заимствуем некоторые снимки установок. Необходимо заметить, что до настоящего времени еще недостаточно используются методы исследования веществ, в частности органических соединений в ультрафиолетовой и инфракрасной частях спектра, а также электронная микроскопия, хотя эффективность этих методов для многих случаев фазового анализа не требует доказательства. Точно так же еще недостаточно используется в практике зарубежных исследований такой эффективный метод фиксации явлений, как микрокиносъемка [6]. Можно предположить, что широкое использование всех достижений современной техники микроскопии и ф)отографии существенно расширит эффективность микротермического анализа. [c.256]

    Том I (1950 г.). Адсорбция рентгеновских у-луч ц. Рентгенографический дифракционный метод в применении к волокнам. Электронная дифракция. Спектроскопия и колориметрия. Эмиссионная спектроскопия. Инфракрасная спектроскопия. Раман-спектры. Поляроскопические и полярометрические методы испытания материалов в проходящем свете. Измерения показателя преломления. Электронная микроскопия. Масс-спектроскопия. В 1960 г. вышло 2-е издание этой книги. [c.231]


Смотреть страницы где упоминается термин Метод инфракрасной микроскопии: [c.826]    [c.93]    [c.106]    [c.21]    [c.340]    [c.380]   
Смотреть главы в:

Практикум по цитологии растений Изд.4 -> Метод инфракрасной микроскопии




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Микроскоп

Микроскопия



© 2025 chem21.info Реклама на сайте