Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Длины волн основных аналитических линий (А)

    Спектральный анализ (эмиссионный) — физический метод качественного и количественного анализа состава вещества на основе изучения спектров. Оптический С. а. характеризуется относительной простотой выполнения, экспрессностью, отсутствием сложной подготовки проб к анализу, незначительным количеством вещества (10—30 мг), необходимого для анализа на большое число элементов. Спектры эмиссии получают переведением вещества в парообразное состояние и возбуждением атомов элементов нагреванием вещества до 1000—10 000°С. В качестве источников возбуждения спектров прп анализе материалов, проводящих ток, применяют искру, дугу переменного тока. Пробу помещают в кратер одного из угольных электродов. Для анализа растворов широко используют пламя различных газов. Качественный н полуколичественныйС. а. сводятся к установлению наличия или отсутствия в спектре характерных линий и оценки по их интенсивностям содержания искомых элементов. Количественное определение содержания элемента основано на Эмпирической зависимости (при малых содержаниях) интенсивности спектральных линий от концентрации элемента в пробе. С. а.— чувствительный метод и широко применяется в химии, астрофизике, металлургии, машиностроении, геологической разведке и др- МетодС. а. был предложен в 1859 г. Г. Кирхгофом и Р. Бунзеном. С его помощью гелий был открыт на Солнце ранее, чем на Земле. Спектроскопия инфракрасная — см. Ифракрасная спектроскопия. Спектрофотометрия (абсорбционная)—физико-химический метод исследования растворов и твердых веществ, основанный на изучении спектров поглощения в ультрафиолетовой (200—iOO нм), видимой (400—760 нм) и инфракрасной (>760 нм) областях спектра. Основная зависимость, изучаемая в С.,— зависимость интенсивности поглощения падающего света от длины волны. С. широко применяется при изучении строения и состава различных соединений (комплексов, красителей, аналитических реагентов и др.), для качественного и количественного определения веществ (определения следов элементов в металлах, сплавах, технических объектах). Приборы С.—спектрофотометры. [c.125]


    Длины волн основных аналитических линий (А) [c.92]

    Основные данные по определению элементов методом ААА сведены в таблицу (табл. 4.2). В таблице выделены длины волн основных аналитических линий, в графе тип пламени в скобках указан дополнительно рекомендуемый тип пламени приведены также основные методические характеристики. [c.200]

    В ряде справочников имеются таблицы, где для каждого элемента приводятся основные аналитические линии, диапазон поглощаемых длин волн (край поглощения), а также-коэффициент поглощения для падающего излучения различной длины волны, рассчитанный на единицу массы или на моль вещества. [c.105]

    Далее свечение пламени с помощью линзы 6 превращается в слабо расходящийся пучок лучей, который проходит через абсорбционный светофильтр, выделяющий у определяемого элемента резонансную линию (натрий, калий, кальций) или молекулярную полосу (кальций). После пластинки 8 световой пучок попадает на интерференционный светофильтр 9. При этом часть излучения с узким интервалом длин волн, соответствующим полосе пропускания интерференционного светофильтра, проходит через светофильтр и попадает на фотоэлемент 11 основного канала, остальная часть излучения частично поглощается, частично отражается. Отраженный свет направляется в компенсационный канал с помощью пластинки 8, проходит через оптический клин 12 и попадает на фотоэлемент компенсационного канала 14. Фотоэлементы основного // и компенсационного 14 каналов включены навстречу друг другу, поэтому их электрические сигналы вычитаются. Таким образом, прибор регистрирует полезный сигнал, из которого исключен сигнал мешающего элемента (за счет последнего возникает инструментальная ошибка). Уменьшая или увеличивая прозрачность оптического (17 на рис. 13) клина, можно полностью сбалансировать постороннее излучение, прошедшее через интерференционный светофильтр. Это относится к собственному излучению пламени. Такую операцию выполняют на сухом пламени перед началом работы. Следовательно, оптическая схема фотометра ПАЖ-1 позволяет регистрировать аналитический сигнал определяемого элемента, исключить фоновое излучение пламени в этом спектральном интервале и скомпенсировать спектральные помехи, возникающие в присутствии посторонних элементов, если их спектральные линии или полосы не совпадают с шириной пропускания интерференционного светофильтра. [c.29]


    Часто для улучшения воспроизводимости количественных определений используется так называемая линия сравнения, принадлежащая спектру основного элемента пробы или элемента, специально введенного во все пробы и эталоны в одинаковых количествах. Подбор линии сравнения осуществляется, исходя из ее гомологичности аналитической линии, т. е. близости ее параметров (длина волны, принадлежность к атому или иону, энергетические характеристики) к соответствующим параметрам аналитической линии, а также с учетом близости физико-химических свойств обоих элементов (см. 4.1). Иногда для слабых аналитических линий вместо линии сравнения используется регистрируемый сплошной фон в спектре, который обычно менее гомологичен аналитической линии, чем специально подобранная линия сравнения. [c.9]

    Значения /Стах прямо пропорциональны длине волны линии, числу атомов, силе осциллятора и обратно пропорциональны корню квадратному из температуры. Потенциал возбуждения данного перехода, значение которого для эмиссионных спектров велико (см. выше, стр. 53—55), не входит в формулу, так как атом получает энергию возбуждения в виде кванта поглощаемого света. Это определяет отличие абсорбционных спектров от эмиссионных из нескольких линий, появляющихся вследствие перехода электронов из основного на возбужденные уровни, наиболее интенсивными линиями поглощения оказываются те, у которых выше значение силы осциллятора f, а не наименьшее значение энергии возбуждения Е, и поэтому аналитические линии поглощения могут не совпадать с аналитическими линиями, применяемыми в эмиссионном анализе. Кроме того, в спек- [c.77]

    ЛИНИЙ, помещенные в таблицах, прилагаемых к атласам, или приведенные в более подробных спектральных таблицах [5, 6], можно использовать для идентификации, но с учетом характера возбуждения. Однако полезную информацию можно получить также из летучести элементов, о которой можно судить по спектрам, сфотографированным последовательно во времени (разд. 5.2.2). Всегда следует проверять, не присутствует ли на месте предполагаемой аналитической линии одна из слабых линий основного элемента пробы или уже обнаруженного элемента в большой концентрации. Если из таблиц спектральных линий не получена удовлетворительная информация, то происхождение интересующей пас линии следует устанавливать либо в результате точного определения ее длины волны (разд. 4.1 в [4а]), либо с помощью ниже обсуждаемого метода сравнения спектров (разд. 5.3.2). [c.26]

    В практике полуколичественного анализа основная задача наблюдателя заключается в том, чтобы найти среди эталонов аналитическую линию с такой же длиной волны и с такой же интенсивностью, как в пробе. Обычно с этой целью спектрограммы проб и эталонов рассматриваются через спектропроектор или окуляр СТЛ и на глаз сравнивается почернение выбранной аналитической линии определяемого элемента в пробе и в эталонах. Одинаковое почернение аналитических линий в исследуемой пробе и в одном из эталонов означает, что содержание искомого элемента в пробе такое же, как и в соответствующем эталоне (рис. 52). [c.133]

    Для повышения предела обнаружения рекомендуется экстрагировать полициклические ароматические углеводороды из воды органическими растворителями [554]. Полициклические ароматические углеводороды экстрагируются из 2,5—5 л воды циклогексаном (20 1) в течение 10 мин и отделяют после 1-часового отслаивания. После высушивания экстракта удаляют основную часть растворителя при 30 °С на вакуумном ротационном испарителе 5—10 мин. Затем с помощью сухого азота полностью удаляют циклогексан. Сухой остаток растворяют в смеси н-октана с циклогексаном (9 1). Содержание бензпирена определяют по низкотемпературной флуоресценции при 77 К, используя для возбуждения длину волны 375 нм, а в качестве аналитической линию 403 нм. При этом отмечается линейная зависимость интенсивности флуоресценции бензпирена в интервале концентраций 10 —10 М. Продолжительность анализа одного образца — 2 ч. При экстракции полициклических ароматических углеводородов из природных вод следует учитывать наряду с их начальной концентрацией и присутствием суспензированных твердых примесей также и время хранения пробы до анализа. Отмечено, что наличие твердых примесей, а также длительное хранение снижают определяемое количество бензпирена в пробе [555]. [c.256]

    Линии аналитической пары должны иметь близкие длины волн, тогда только будет справедливо основное условие метода при равенстве почернений двух разных линий  [c.233]

    При наличии в поглощающем слое неселективного поглощения происходит одинаковое ослабление обоих световых потоков, и поэтому прибор его не регистрирует. Однако при введении в поглощающий слой определяемого элемента возникает поглощение на длине волны аналитической линии, вследствие чего ее интенсивность уменьшается. Но так как спектральная ширина щели намного больше ширины линии, на интенсивность света дейтериевой лампы это практически не влияет. Таким образом, возникающий сигнал разбаланса соответствует реальному содержанию определяемого элемента в пробе, а дополнительное поглощение неселективного характера компенсируется. Следует учесть, что в описанном случае прибор работает фактически как однолучевой, а погрешность определяется не только флуктуациями светового потока основного источника, но также и потока дейтериевой лампы. Однако в последних моделях спектрофотометров используют схемы, позволяющие скомпенсировать флуктуации обоих источников света (см. разд. 3.7). [c.106]


    Образец нагревают при высокой температуре, чтобы молекулы разрушались и в камере прибора находились свободные атомы. Последние могут поглощать в ультрафиолетовой или видимой части спектра при определенных длинах волн. Поглощение света измеряют в областях резонансных аналитических линий, соответствующих атомам в основном состоянии. Для элементов с низкими [c.551]

    Основными причинами этого эффекта являются различия в поглощении и в фотографическом действии лучей различных длин волн, разница в условиях возбуждения аналитических линий элементов, а также некоторые геометрические эффекты (см. стр. 134), связанные с условиями фокусировки лучей в фокусирующих спектрографах рассматриваемого типа. Часть из этих факторов сравнительно просто поддается вычислению и учету. Для вычисления других не хватает экспериментальных данных. Поэтому для нас более удобно непосредственное экспериментальное изучение суммарной величины эффекта ослабления . [c.185]

    В табл. 4 приведен порядок расположения элементов в аналитических таблицах разностей длин волн настоящего издания. В этой таблице указана чувствительность определения элементов по их наиболее интенсивным линиям, в основном в силикатной основе, при испарении 20 мг образца из канала угольного электрода и возбуждении спектра в электрической дуге. В этом же порядке рекомендуется вести расшифровку спектрограммы. [c.10]

    Смит и Виггинс Р ] анализировали различные образцы на примеси редкоземельных элементов. Проба в виде окиси вводилась в кратер угольного электрода или в виде раствора хлорида наносилась на торцовую поверхность серебряного электрода. Применялась дуга переменного или постоянного тока. Спектры фотографировались на большом автоколлимациоином спектрографе фирмы Хилгер. Авторам удавалось определять Ей в концентрации —0,01% Оу, 0(1, Ьа, Ей, V, УЬ в концентрации—0,1% Се, N(1, Рг и 5гп определялись с меньшей чувствительностью. В статье указаны основные аналитические линии и линии, мешающие анализу. Приведена специальная таблица длин волн редкоземельных элементов, неправильно идентифицированных в таблицах Гарриссона [ ]. [c.298]

    Чувствительность определения некоторых элементов методом фотометрии пламени незначительна, поскольку аналитические линии этих элементов лежат в ультрафиолетовой области спектра. Поэтому для возбуждения этих спектров требуется энергия, значительно превышающая энергию частиц в пламенах. Действительно, чтобы наблюдать линию испускания в ультрафиолетовой области, необходимо иметь достаточное число частиц, находящихся на начальном высоковозбужденном уровне энергии Е (длина волны линии обратно пропорциональна разнице энергий начального и конечного уровней перехода Х=кх1Е — Е2). Для метода атомной абсорбции важна заселенность нижнего, основного уровня, поэтому на чувствительность определения не влияет спектральная область, где лежат аналитические линии определяемых элементов. [c.37]

    Линией сравнения нередко является линия основного компонента пробы или линия элемента-добавки. Аналитическая линия и линия сравнения составляют ана штическув па у. Дяя обеспечения точности линии аналитической пары долкны быть гомологичными, т.е. должны иметь близкие потенциалы возбуждения, интенсивности, длины волн. [c.15]

    Наиболее полными и точными сводками массовых коэффициентов поглощения считаются таблицы в [36-38]. Максимальное расхождение значений массовых коэффициентов поглощения, рассчитанных по разным таблицам, наблюдается в области краев поглощения. С уменьшением длины волны поглощаемого излучения и увеличением атомного числа поглотителя расхождение уменьшается. Наиболее корректной считается интерноляционная формула, приведенная в работе [38]. В неблагоприятных ситуациях (легкие элементы, близость длин волн аналитической линии определяемого элемента и края поглощения мешающего элемента) неопределенность значений массовых коэффициентов поглощения может достигать 10-15% в основной своей массе эти данные характеризуются относительной погрешностью не более 5 %. [c.356]

    Многоэлементные спектрометры прямого счета могут давать большое число аналитических данных для одного образца. Поэтому при массовом анализе на обработку результатов измерений затрачивается значительное время. В таких случаях автоматическая обработка данных является экономически целесообразной. Лоу и Мартин [2] описывают вычислительную систему для обработки результатов, получаемых на квантометре фирмы "ARL". Эта система предназначена для лаборатории, систематически выполняюшей анализы металлов в образцах нефти. Квантометр имеет 25 аналитических каналов и может контролировать 51 аналитическую линию. Результаты регистрируются на самописце фирмы "Leeds and Northrup", преобразование аналогового сигнала в цифровой код осушествляется с помощью шифратора, соединенного с самописцем. Вычислительная система включает также дистанционно управляемый пробойник перфокарт (IBM 526), маркер бумажной ленты и специальный выносной пульт с цифровой индикацией. Обработка данных, поиск и расчет выполняются на вычислительной машине IBM 360Д5. Выбор группы исследуемых элементов осуществляется с помощью соответствующего переключателя на контрольной панели. Предус.мотренный набор таких групп охватывает основные аналитические программы лаборатории. Система цифровой индикации сканирует по длинам волн выбранной комбинации элементов, выражает в цифровом виде отклонение самописца для каждого из них и печатает полученные значения на специальной карточке, бумажной ленте или на той и другой. Сканирующий механизм включает два вращающихся шаговых переключателя на 26 точек. Один из них, последовательный переключатель каналов, ступенчато проводит квантометр по всем его 25 каналам. Другой контролирует последовательность регистрации данных. Сигнал самописца может быть представлен как в кодированном, так и в цифровом (3 разряда) виде (000-999 для отклонения самописца О - 100%). Система индикации управляется релейной схемой время прохождения отраженного пучка регистрируется частотомером-хронометром с погрешностью 0,1 с. При замыкании контактов хронометра измеренное время наносится на перфокарту или маркируется на ленте. Параллельно серводвигателю самописца, перемещающему перо, подсоединено чувствительное реле, включающее [c.176]

    Одно из основных требований, предъявляемых к конструкции спектрального фотоэлектрического прибора, состоит в стабильности относительного положения выходных щелей и аналитических линий. Длины волн спектральных линий в вакууме изменяются по формуле Явак Ивозд возд. [c.49]

    В ОДНОЙ И той же спектральной области. Если соответствующие линии двух спектров имеют одинаковые длины волн и интенсивности, то составы двух сравниваемых материалов идентичны по всем обнаруженным в данных экспериментальных условиях элементам. Если материал сравнения содержит только основные компоненты пробы, то появивщиеся в спектре пробы новые линии относятся к элементам, отличным от основных компонентов пробы. Таким способом значительно упрощается идентификация аналитических линий искомых элементов. [c.297]

    НЫ в разделе IV, Е, 5, Измерение таких спектров Шпольского имеет значительные преимущества перед другими аналитическими методами. Длины волн главных максимумов можно выделить с большой точностью, что обеспечивает надежную идентификацию. Такие характерные резкие пики часто можно легко выделить на фоне широких полос испускания, обусловленных присутствием больших количеств других фосфоресцирующих веществ. Пожалуй, самое важное применение описываемого метода состоит в определении следов канцерогенного бенз-(а)-пирена. Мюэль и Лакруа [292] усовершенствовали этот метод до высокой степени чувствительности. Они использовали фильтрованный свет ртутной лампы, состоящий в основном из группы линий при 366 нм, и большой двойной монохроматор со стеклянной призмой для анализа спектров испускания растворов в я-окта-не, замороженных при 77 К- Для того чтобы скомпенсировать эффекты внутреннего фильтра, вызванные другими компонентами образца, авторы использовали метод [c.445]

    При прохождении света через атомный пар световая энергия избирательно поглощается при длинах волн, соответствующих переходам атомов с основного уровня в одно из верхних возбужденных состояний. Это явление составляет основу атомно-абсорбционного анализа. При обратном переходе, т. е. при переходе атома из возбужденного состояния в основное, поглощенная световая энергия излучается в виде квантов его резонансной линии, что также может быть, как это показано в недавно опубликованных работах [54, 55], использовано для аналитических целей. Свойства атомов, возбужденных светом, а также особенности применяемой для этого аппаратуры подробно рассмотрены в монографии Митчела и Земанского Резонансное излучение и возбужденные атомы [56]. Авторы этой монографии, равно как и авторы работ, результаты которых в ней рассматриваются, применяли для создания атомного пара элементов специальные кварцевые или стеклянные кюветы. Вместе с тем флуоресценция атомов имеет место и в пламени, что впервые было показано в [57] авторам этой работы удалось обнаружить слабую флуоресценцию паров лития, натрия, кальция, стронция и бария при распылении в воздушно-пропановое пламя концентрированных растворов этих элементов. [c.237]

    При анализе данных был применен метод основной линии , но так как спектры смесей и спектры чистых соединений были получены на разных приборах, результаты оказались менее точными, чем позволяет получить этот метод. Примененный метод требует соответствия закону Бера для длин волн, использованных при расчете. Это было показано Гопкинсом для большинства аналитических методик он разработал метод анализа по ИК-спектрам, использованный в работе Робака и Эвринга [15]. [c.29]

    В инфракрасной области спектра исследования проводятся обычно в интервале длин волн от 1 до 40 х. В области 1 (г уже начинают мещать обертоны основных колебаний, интенсивность которых составляет 10% от основных колебаний. Если такой обертон накладывается на основное колебание другой группы, то он мещает обнаружению этого колебания, особенно если полоса поглощения основного колебания не интенсивна. В спектрах комбинационного рассеяния обертоны чрезвычайно слабы (<1%), поэтому трудности такого рода отсутствуют. Кроме того, спектры комбинационного рассеяния могут давать частоты в интервале О—4000 сж , нижний предел (близкий к 0) ставится щирииой релеевской линии рассеяния. Таким образом легко доступны исследованию молекулы с колебаниями, лежащими ниже 250 СЖ . В инфракрасной области наблюдение таких колебаний надо вести в области длин волн больше 40 что затруднительно. Однако следует отметить, что современная инфракрасная техника уже освоила эту область и в отдельных случаях доходит до 50 и даже 1000 ji. Ранее считалось, что для аналитической инфракрасной спектроскопии вполне достаточная область 1 — 15 л (оптика из каменной соли), одиа-ко в настоящее время эта область расширена до 40—50 [д, путем применения оптики из кристаллов йодистого цезия. Исследования в еще более далекой инфракрасной области требуют применения специальных дифракционных решеток (эшелетт). [c.20]

    С изменением длины волны подвергается изменению и величина В ультрафиолетовой области (2500— ЗЗООА) ее изменение весьма незначительно, довольно сильный рост наблюдается в более длинноволновой области. Зависимость свойств фотографической пластинки от длины волны падающего на нее излучения ставит некоторые условия для выбора аналитических пар линий. Основное условие две спектральные линии, входящие в аналитическую пару, ДОЛЖНЫ иметь близкие длины волн, чтобы можно было пренебречь изменением спектральных свойств фотографической пластинки. В ультрафиолетовой области можно допустить разницу до 100—200А, в длинноволновой области эта разница должна быть снижена до 20—БОА. [c.86]

    Аналогично все переходы, оканчивающиеся на -уровне, образуют -линии. Поскольку -уровень состоит из трех подоболочек и многие переходы разрешены, то возникает много -линий. Длины волн спектральных серий данного атома возрастают, причем наиболее короткие волны у -линий. До недавнего времени в рентгеновской спектроскопии в основном использовали линии К- и -спектра к линиям Л/-спектра, обладающим большей длиной волны, проявлялся очень небольпсоп интерес. Однако последние достижения в области создания новых кристаллов-анализаторов и нриемни- <ов излучения позволили применять Л/-спектры и для аналитических целей. [c.205]

    Относительные интенсивности линии в пределах одной спектральной серии были предметом многочисленных исследований. Сравнительно легко получить надежные результаты по относительной интенсивности двух линий, мало отличающихся по длине волны, например для Каи а или 2-Гораздо труднее вычислить поправки для отпошепия интенсивностей линий, значительно различающихся по длине во,лны. Так, особенно трудно получить сравнительные данн1.1е по К- и -спектру одного элемента. Необходимо учитывать такие факторы, как напряжение, эффективность приемника излучения, поглощение излучения и т. д. Найдено, что отношение интенсивностей KaJKrxi всегда близко к /2, в то время как отношение интенсивностей Д.ИЯ других линий серий меняется систематически по мере изменения атомного номера. Для основных рентгеновских линий, применяемых в аналитической практике, имеют место следуюпдие приблизительные соотношения  [c.207]

    Интерес к аммиаку особой чистоты обусловлен все возрастающим использованием его в эпитаксиальной технологии. Известные методы химического [1], кулонометрического [2], газохроматографического [3, 4, 5] анализа аммиака на содержание воды недостаточно чувствительны, требуют большого количества вещества. Анализ аммиака на содержание примесей гидридов фосфора и серы не разработан. Перспективны в этой связи методы газовой микроволновой спектроскопии, для которых основным объектом наблюдения является вращательные спектры молекул в диапазоне длин волн от сантиметров до долей миллиметра. Традиционные для экспериментов с использованием когерентных радиометодов высокие чувствительность и разрешающая сила позволяют легко различа ть вращательные спектры близких по строению молекул, устраняя влияние спектра основного вещества на резулыагы анализа. Анализы методами микроволновой сиектроскопии выполнялись в хорошо освоенном сантиметровом диапазоне, где имеются серийные приборы [6]. Малая интенсивность спектральных линий в сантиметровом диапазоне ограничивает аналитическое применение микроволновой сиектроскопии. [c.64]


Смотреть страницы где упоминается термин Длины волн основных аналитических линий (А): [c.230]    [c.236]   
Смотреть главы в:

Новый справочник химика и технолога Аналитическая химия Часть 3 -> Длины волн основных аналитических линий (А)




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Длина волны

Линии аналитические



© 2025 chem21.info Реклама на сайте