Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

АЭМ Аналитическая электронная

    НИИ кристалл-дифракционного спектрометра, где можно реализовать преимущества высокой скорости счета в сочетании с высоким разрещением по энергии. Ситуация, однако, отлична при исследовании тонких пленок и биологических средств, где возможно пространственное разрещение, равное или даже меньще толщины пленки. В этом случае низкий выход рентгеновского излучения влечет за собой необходимость иметь детектор с высокой как геометрической, так и общей квантовой эффективностью, характерной для полупроводниковых детекторов. Именно по этой причине они успешно применяются как в растровых, так и в аналитических электронных микроскопах. [c.264]


    Из этого уравнения следует, что области распространения электронов в твердом теле составляют величины порядка единиц микрометров. Это также означает, что объем генерации аналитического сигнала приблизительно того же порядка. Более высокого пространственного разрешения, необходимого для проведения анализа поверхности и межфазных границ, можно достичь, либо используя сигналы электронов, выходящих из внешних атомных слоев (например, оже- или вторичных электронов), либо анализируя тонкие образцы (например, 50 нм) при помощи высокоэнергетических электронов. В этом случае диффузия электронов в поперечном направлении будет практически отсутствовать. Этот подход используют в аналитической электронной микроскопии (АЭМ). [c.325]

    Аналитическая электронная микроскопия (АЭМ) [c.337]

Рис. 10.2-11. АЭМ Схема аналитического электронного микроскопа для получения изображения в режиме просвечивания и отражения, электронной дифракции, рентгеновского микроанализа и спектроскопии энергетических потерь электронов [10-12]. Рис. 10.2-11. АЭМ <a href="/info/1579513">Схема аналитического электронного</a> микроскопа для <a href="/info/1529525">получения изображения</a> в режиме просвечивания и отражения, <a href="/info/10657">электронной дифракции</a>, <a href="/info/135033">рентгеновского микроанализа</a> и спектроскопии <a href="/info/1025560">энергетических потерь</a> электронов [10-12].
    Прибор состоит из трех блоков аналитического, электронного и регистрирующего. Аналитический блок включает стеклянную электролитическую ячейку, емкость с запасным электролитом, емкость для приема отработанного электролита, маностат и два реометра для регулирования расхода кислорода и анализируемого газа. Аналитический блок термостатирован при 35 0,5 °С. Скорость подачи электролита может колебаться в диапазоне от 0,1 до 0,3 мл/мин. Расход анализируемого газа составляет 150—250 мл/мин. Прибор имеет два диапазона измерения N02 О—0,5 и О—1 об. %. Основная погрещность 5%. Постоянная времени 3 мин. [c.79]

    Аналитические электронные весы [c.133]

    Однако в период становления диффузионной теории это и не могло быть сделано, поскольку отсутствовали экспериментальные методы получения соответствующих параметров и прямого исследования процессов формирования и разрушения соединений. В настоящее время эта задача частично решена. Разработана методология получения диаграмм фазового состояния, измерения коэффициентов взаимо- и самодиффузии, определения межфазного натяжения в расплавах полимеров [270] и т. д. Один из перспективных методов, появившихся в последние годы [380] и позволяющих комплексно решать задачи формирования и разрушения адгезионных и аутогезионных соединений, связан с применением аналитической электронной микроскопии, включающей использование сканирующей, просвечивающей электронной микроскопии и рентгеноспектрального электронно-зондового микроанализа. [c.254]


    Среди методов первой группы можно выделить отдельно те, в которых используются готовые таблицы, воспроизводящие определенную часть вычислений, но сам расчет не механизируется. Вторую группу составляют методы механизированного счета. Сюда относятся, в частности, методы, использующие цифровые вычислительные машины—счетно-аналитические, электронные или магнитные. [c.375]

    Аналитическая электронная микроскопия [c.251]

    Определение перекисей. Количественное определение перекисей основано иа их окислительных свойствах. Том не менее такой аналитический метод связан с некоторыми погрешностями и ограничениями. При восстановлении гидроперекиси каким-либо реагентом, здесь обозначенным как металл Л/+, находящийся в восстановленном состоянии, за первой реакцией, нротекающей с переходом одного электрона, [c.299]

    Для разработки проекта АСУ необходимо решать задачи, связанные с анализом процессов функционирования сложного электронного оборудования оценкой структуры информационных потоков и законов управления процессами функционирования ХТС задачи синтеза алгоритмов обработки информации и оптимального планирования задачи синтеза счетно-решающих устройств, реализующих эти алгоритмы. Аналитические методы расчета сложных АСУ в настоящее время еще яе разработаны, а экспериментальное решение этих вопросов практически нецелесообразно. [c.51]

    В абсолютном большинстве случаев анализ знаковых моделей аналитическими методами невозможен. Электронно-вычислительные машины устраняют эту трудность и позволяют создать р е а л ь -п ы е математические модели химических реакторов. [c.485]

    Неорганические соединения, у которых возможен переход возбужденных электронов на основной уровень только с определенных энергетических уровней, обладают флуоресценцией. Этим требованиям удовлетворяют соединения редкоземельных элементов и урана (1П, IV, VI). Флуоресценция свойственна, в основном, органическим соединениям. Поэтому в анализе неорганических веществ используют флуорогенные органические аналитические реагенты, образующие флуоресцирующие комплексы с нонами металлов. Чем сильнее поглощает органическое соединение в ультрафиолетовой области спектра, тем интенсивней его флуоресценция. Этому условию удовлетворяют алифатические, насыщенные циклические соединения, соединения с системой сопряженных двойных связей, и в меньшей степени ароматические соединения с гетероатомами. Введение электро-нодонорных заместителей в молекулу органического соединения [c.95]

    Интеграл в (28) может быть теперь вычислен по графику, подобному на рис. 3. Простейший способ, предложенный Маркелом, заключается в том, что h —hg берется равным Ils—kg, где черточка обозначает средние значения величин на интервале от входа до выхода. Поскольку кривая hg—hw вогнутая, то нетрудно обнаружить, что значения М, полученные в таком приближении, слишком малы, хотя этот способ и привлекает своей простотой и возможностью применения в аналитических исследованиях. Но широкая доступность в настояш,ее время электронных калькуляторов и компьютеров делает такие аппроксимации ненужными и нежелательными. [c.124]

    Аналитические выражения прикладной макрокинетики, нужные для оптимизации химико-технологических процессов, некоторые авторы называют математическими описаниями работы реакторов и процессов [12, 27] или математическими моделями процессов [49, 50]. Большие перспективы применения макрокинетических моделей открываются в связи с применением электронно-вычислительных машин (ЭВМ). Однако расчетно-теоретические исследования на ЭВМ должны сочетаться с экспериментальной проверкой их результатов в критических точках на физических моделях— пилотных установках [51, 52]. [c.34]

    Анализ образцов в виде тонкой фольги представляет собой простейшую аналитическую проблему. До некоторой степени микрорентгеноспектральный анализ образцов в виде тонкой фольги проще, чем анализ плоских массивных образцов. Когда образец очень тонкий, упругое рассеяние и потери энергии уменьшаются до такой степени, что эффекты атомного номера исключаются или в лучшем случае оказываются второстепенными. Поскольку сечения как упругого, так и неупругого рассеяния уменьшаются с увеличением энергии пучка, образцы в виде тонкой фольги лучше всего анализировать с помощью аналитического электронного микроскопа (АЭМ), который обычно представляет собой комбинацию просвечивающего и просвечивающего растрового электронных микроскопов, работающих при ускоряющем напряжении 100 кВ и снабженных рентгеновским спектрометром с дисперсией по энергии. В случае отсутствия АЭМ можно использовать РЭМ или рентгеновский микроанализатор, работающий при ускоряющем напряжении 40—60 кВ, хотя роль эффектов атомного номера в зависимости от состава фольги или ее толщины может стать значительной. Как поглощение, так и флуоресценция также становятся незначительными для тонкой фольги в зависимости только от толщины фольги и независимо от энергии пучка. Таким образом, при анализе образцов в виде тонкой фольги можно пренебречь всеми матричными эффектами — влиянием атомного номера, поглощением и флуоресценцией, па которые должна вводиться поправка при анализе массивных образцов. В результате анализ тонкой фольги можно провести ири помощи простого метода относительной чувствительности, [169, 170]. [c.57]


    Сочетание сигналов вторичных электронов, дающих изображение топограг фии поверхности, и сигналов отраженных электронов, дающих картину распределения среднего атомного номера, с качественным и количественным рентгеновским анализом делают ЭЗМА важнейшим методом анализа твердых тел. Он стал рутинным для решения любых типов задач и анализа любых типов материалов (идентификация частиц в металлах, фаз в геологических объектах, пылевых токсичных частиц, асбестовых волокон). Главным ограничением метода является размер аналитического объема—обычно 1-3 мкм диметром и глубиной, что мешает проводить количественный рентгеновский анализ нанофаз, хотя их можно увидеть, используя сигналы вторичных или отраженных электронов. Можно детектировать поверхностные слои толщиной не менее нескольких нанометров, но провести селективный анализ в этом случае не представляется возможным, и очевидно, что необходимо использовать другие методы — аналитическую электронную микроскопию и электронную оже-спектроскопию для микроанализа с высоким разрешением по глубине (единицы нанометров). [c.335]

Рис. 60. Аналитические электронные весы Меттлер НЬ-32 и НЬ-52. Рис. 60. Аналитические электронные весы Меттлер НЬ-32 и НЬ-52.
    Аналитические электронные весы Меттлер НЬ-32 и Меттлер НЬ-52 (рис. 60). Точность взвешивания на весах НЬ-32 — до 0,1 мг на НЬ-52 — до 0,02 мг. Предельная нагрузка соответственно 161 и 160,1 г. Установка нуля с любой тарой в пределах 160 г производится нажатием кнопки Тара при этом на светящемся сегменте появляются цифры, показывающие массу навески. [c.65]

    Общим методом подготовки ткани для электронной микроскопии является ее фиксация 2,5%-ным раствором тлутарового альдегида в 0,1 М фосфатном буфере, pH 7,4, в течение 1 ч при комнатной температуре. В некоторых случаях, например у голубей, первичную фиксацию осуществляют путем перфузии фиксатором всего животного. В других случаях, например у пчел, ткань выделяют препарированием и фиксируют погружением в среду. После первичной фиксации ткань извлекают из организма, промывают в буфере в течение 30 мин, а затем дополнительно фиксируют в 1%-ном растворе четырехоксида осмия в фосфатном буфере в течение 1 ч. При аналитической электронной микроскопии обработку осмием не производят. Ткань обезвоживают проволкой через ацетон и заключают в пластмассу Ро1уЬес1 (Ро1у8с1епсе8) или эпон 812. Эпон более предпочтителен для аналитической микроскопии, но он малодоступен в настоящее время. Для обычной микроскопии пригодны любые пластмассы, имеющиеся в продаже. [c.250]

    Во всех областях техники часто приходится довольствоваться практически допустимыми приближениями, так как справочные данные не всегда полны и точны, а математические трудности часто слишком велики и непреодолимы, если располагать ограниченным временем. Поэтому часто применяют приближенные методы решения кинетических уравнений. Даже в тех случаях, ко№ можно найти точное решение, бывает целесообразно воспользоваться приближенными методами. Последние, будучи в принципе довольно простыми, обычно весьма трудоемки. Однако все возрастающее применение электронно-счетных машин облегчает инженеру этот труд. Кроме того, электронные машины, давая возмсжнссть вести расчеты в очень малых интервалах изменения параметров, позволяют получить решения, не уступающие по точности аналитическим. [c.15]

    Существуют две основные разновидности вандерваальсовых сил. На коротких межмолекулярных расстояниях наиболее важное значение имеет отталкивание между заполненными орбиталями атомов соседних молекул. Это отталкивание электронных пар схематически иллюстрируется на рис. 14-11. Для описания энергии межмолекулярного отталкивания часто используется следующее аналитическое выражение  [c.611]

    Начнем с рассмотрения электронных состояний атома, водорода. Заметим, что задача эта представляет собой пример одной из немногих квантовомеха нических задач, имеющих точное аналитическое решение, что обусловлено возможностью разделения переменных в сферической системе координат (г, 0, ф). Иными словами, волновая функция (или АО — здегь эти понятия совпадают) ф(г, 0, ср), описывающая движение единственного электрона водородного атома, может быть представлена в виде произведения  [c.80]

    Мы видим, что описание строения атома водорода далеко не простое дело. Для многоэлектронных атомов проблема еще более усложняется. Как правило, в этом случае одноэлектронное приближение используется в рамках модели центральносимметричного поля, т. е. считается, что электрон взаимодействует с. ядром по некоторому закону и г). Это позволяет произвести разделение переменных г, 0, ф и при рассмотрении многоэлектронных атомов. Но точное аналитическое выражение для радиальных функций Яы г) при этом, к сожалению, не получается. Эти [c.83]

    Параметры катализатора на выходе лз I зоны ( р, Т) являются начальными условиями для И зоны и на выходе из И — начальными для П1 зоны. Очевидно, для расчетоов процесса регенерации в таком регенераторе необходимо решать систему (8.18) для каждой из трех зон с соответстиующимн начальны/ми условиями и коэффициентами. При этом следует иметь в виду, что система (8.18) аналитически не интегрируется и для расчетов наиболее удобно воспользоваться численным решением с использованием электронной вычислительной Машины (ЭВМ). Предварительно представлялось не-обходимьим уточнить численные значения коэффициентов математического описания (кд, Е, Ьп, X,, /2. 0)- [c.181]

    Процесс платформинга проводится в системе из трех последовательно соединенных адиабатических реакторов с промежуточным подогревом потока. Необходимо использовать математическое описание для определения оптимальных температур на входе в аппараты. Математическое описание процесса в виде системы дифференциальных уравнений аналитически не интегрируется, но его можно репшть численно на электронно-вычислительной мапшне. [c.143]

    В зависимости от типа реакционного процесса, конструкции аппарата объем и детализация расчетов каждого вида существенно различаются. Большую роль при этом играет наличие достаточно полных экспериментальных данных по основным характеристикам процесса, а также их аналитического пpeд тaвлeн fя. Последнее имеет большое значение в связи с широким внедрением в практику расчетов цифровых электронно-вычислительных машин (ЭВМ). Это обстоятельство позволило существенно упростить решение многовариантных задач, характерных для реакционных аппаратов, и учитывать достаточно сложные взаимосвязи различных сторон рассчитываемого химического процесса. [c.396]

    Природа взаимодействия столь различающихся по энергии квантов с веществом принципиально неодинакова. Так, излучение уквантов связано с ядерными процессами, излучение квантов в рентгеновском диапазоне обусловлено электронными переходами во внутренних электронных слоях атома, испускание квантов УФ- и видимого излучения или взаимодействие вещества с ними — следствие перехода внешних валентных электронов (сфера оптических методов анализа), поглощение ИК- и микроволновых квантов связано с переходом между колебательными и вращательными уровнями молекул, а излучение в ра-диоволновом диапазоне обусловлено переходами с изменением ориентации спинов электронов или ядер атомов. Для решения разнообразных задач наибольшее значение имеют спектральные методы анализа, оперирующие с излучением рентгеновского, оптического, ИК- и радиоволнового диапазонов. В данном практическом руководстве по физико-химическим методам анализа рассматриваются оптические методы, которые традиционно делятся па оптическую атомную и оптическую молекулярную спектроскопию. В первом случае аналитические сигналы в области спектра от 100 до 800 нм являются следствием электронных переходов в атомах, во втором — в молекулах. [c.7]

    Выполнение работы. Построение градуировочного графика. Включают прибор, устанавливают в рабочее положение лампу с полым катодом на медь и дают прогреться электронной системе в течение 15—30 мин. Доводят разрядный ток лампы до значения, указанного в инструкции. Устанавливают необходимые усиления, напряжения для фотоумножителя и постоянной времени. Выводят на щель монохроматора аналитическую линию меди 324,7 нм по максимальному отклонению стрелки измерительного прибора. Устанавливают измерительную стрелку на 100 по щкале пропускания Т, или на О по шкале поглощения А, изменяя ширину щели. Ширина щели не должна превышать 0,1 мм. В противном случае увеличивают напряжение тока для фотоумножителя или степень усиления. Устанавливают по ротаметрам вначале нужный расход воздуха (480 л/ч), затем пропан-бутановой смеси и поджигают пламя. Поджиг начинают несколько раньше, чем подачу горючего газа.. Проверяют работу распылителя и стабильность пламени. Внутренний конус пламени должен иметь минимальную высоту при сохранении зеленовато-голубой окраски. Корректируют нуль прибора при распылении в пламя дистиллированной воды. Поочередно фотометрируют стандартные растворы не менее трех раз каждый, начиная с наименее концентрированного. После каждого стандартного раствора устанавливают нулевое поглощение прибора по дистиллированной воде. По результатам измерения абсорбции стандартных растворов строят градуировочный график в координатах абсорбция — концентрация меди (в мкг/мл). [c.51]

    В аналитической оптической молекулярной спектроскопии наблюдают и исследуют аналитические сигналы в области 100— 800 нм, вызванные электронными переходами внешних валентных электронов. Поглощение излучения в ИК- и микроволновой области, связанное с изменением вращения и колебания молекул, часто используют в целях идентификации различных со-гдиненнй. Методы аналитической оптической молекулярной спектроскопии удобны для решения практических задач широкого профиля и имеют наибольшее значение в аналитической химии. [c.52]

    Яо1г). При этом вероятность поглощения и связанная с ней интенсивность поглощения пропорциональны величине 01р. В многоатомных молекулах разрешены переходы между электронными уровнями, соответствующими электронным состояниям с различной симметрией распределения заряда, и переходы без изменения суммарного спина системы (синглет-синглетные переходы). Им в спектре чаще всего соответствуют полосы интенсивного поглощения. В отличие от них электронные переходы с изменением спина (например, синглет-триплетные) запрещены. В фотометрическом анализе за поглощение аналитических форм ответственны именно переходы без изменения спина. Теоретическое рассмотрение спектров поглощения сложно и не всегда осуществимо, поэтому при химико-аналитическом использования электронных спектров, как правило, исходят из эмпирически полученного материала. [c.54]

    За формирование аналитического сигнала ответственными являются d— -d переходы, переходы, с переносом заряда d—>-л, я— d и л—-переходы.ii— - -Переходы характер- ны для аква-ионов и некоторых комплексов соединений d-эле-JweHTOB с неполностью заполненными d-орбиталями, когда возможность осуществления переходов возникает вследствие нарушения симметрии распределения электронной плотности и расщепления основного электронного состояния иона металла в поле лиганда. Переходы с переносом заряда возможны при наличии в молекуле или сложном ионе доноров и акцепторов электронов, когда имеет место электронный переход с орбитали, локализованной на атоме акцептора, на орбитали, локализованные на атоме донора или, реже, наоборот, что, например, объясняет интенсивную окраску тиоцианата железа (1П), гетерополисоединений, сложных ионов типа М.ПО4 , Сг04 , комплексов -элементов с бесцветными органическими реагентами, например, никеля с диметилглиоксимом, железа с 1,10-фенантроли-ном и молекул органических соединений, когда в них одновременно входят электронодонорные и электроноакцепторные заместители. [c.55]


Смотреть страницы где упоминается термин АЭМ Аналитическая электронная: [c.39]    [c.314]    [c.322]    [c.593]    [c.629]    [c.54]    [c.112]    [c.314]    [c.99]    [c.26]    [c.55]   
Аналитическая химия Том 2 (2004) -- [ c.0 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

АЭМ Аналитическая электронная микроскопия

Аналитический электронный микроскоп

Аналитическое использование электронных спектров поглощения

Аналитическое применение электронов низких энергий

Гафний, аналитическая химия электронное строение

Грибов ПРИМЕНЕНИЕ ЭЛЕКТРОННО-ВЫЧИСЛИТЕЛЬНЫХ МАШИН В АНАЛИТИЧЕСКОЙ химии

Зависимость химико-аналитических свойств ионов от электронной структуры образующих их элементов

Зависимость химико-аналитических свойств катионов и анионов от электронной структуры образующих их элементов

Информационные базы и общие вопросы аналитической химии Основные печатные и электронные справочные источники по аналитической химии

Иттрий, аналитическая химия электронное строение

Применение рентгеновых лучей и электронных пучков в аналитической химии

Применение электронной спектроскопии для аналитических целей

Применение электронных схем в аналитических приборах

Скандий, аналитическая химия и реагенты электронное строение

Структуры внешних электронных слоев, ионные потенциалы и аналитические группы катионов

Структуры внешних электронных слоев, ионные потенциалы и аналитические труппы катионов

Электронные схемы в аналитических приборах



© 2025 chem21.info Реклама на сайте