Рентгеновские лучи плоским кристаллом

Полихроматический метод. Схема рентгеновской камеры для получения рентгенограмм по методу Лауэ (лауэграмм) представлена на рис. 32. Пучок рентгеновских лучей ММ направлен на неподвижный кристалл плоская кассета с пленкой расположена за кристаллом. На пленке фиксируется лишь часть дифракционного спектра, даваемого кристаллом, хотя, в принципе, мож- [c.67]

Рис. 137. Отражение рентгеновских лучей от серии плоских сеток кристалла

Метод Лауэ, или метод неподвижного кристалла. Методом Лауэ называется съемка неподвижного монокристалла в полихроматическом рентгеновском излучении. Дифракционная картина фиксируется на неподвижной, чаще всего плоской фотопленке, перпендикулярной первичному пучку рентгеновских лучей и расположенной за образцом (прямая съемка на просвет) [c.79]

Для исследования поликристаллических материалов, к которым относятся практически все кристаллизующиеся полимеры, используется метод Дебая-Шеррера (метод порошка). Если на поли-кристаллический образец падает пучок монохроматического рентгеновского излучения, то в образце всегда найдутся кристаллы, которые будут находиться в условиях, когда выполняется формула Вульфа-Брэгга. Так как эти кристаллы ориентированы в образце хаотически, то при отражении от каждой системы параллельных плоскостей внутри таких кристаллов возникнет конус дифрагированных рентгеновских лучей. Ось этого конуса совпадает с направлением первичного пучка лучей. Поставив за образцом перпендикулярно лучу кассету с плоской фотопленкой, получают на пленке систему колец. [c.171]

Морфологией идиоморфных кристаллов занимается геометрическая кристаллография. В основе ее лежит учение о пространственной решетке. Еще в XIX в. на основании косвенных признаков было принято, что вершина кристалла соответствует узлу пространственной решетки, ребро —ряду узлов, а грань — плоской сетке. Позже экспериментально было установлено отражение рентгеновских лучей гранями кристалла как плоскими сетками. Это явилось прямым доказательством связи огранения кристалла с его внутренним строением. Из этого положения вытекают все законы геометрической кристаллографии, в полной мере справедливые для модельных кристаллов. [c.45]

В это же время были разработаны способы интерпретации данных по дифракции рентгеновских лучей молекулярными кристаллами сначала для плоских ароматических молекул, а затем для трехмерных органических и неорганических молекул. В наши дни использование автоматических дифрактометров и мощных электронно-вычислительных машин позволяет с большей или меньшей степенью надежности определять все большее число структур неорганических соединений. И, действительно, сейчас нередко сообщается структура соединения, получение и свойства которого еще не описаны. По всей вероятности, косвенные методы определения структуры будут использоваться в дальнейшем лишь для изучения строения соединений в растворе, где дифракционные методы малоэффективны. [c.10]

Чтобы волны, рассеянные двумя соседними плоскими сетками (а значит, и всем семейством параллельных плоских сеток), дали максимум интенсивности, необходимо выполнение основного закона дифракции рентгеновских лучей в кристаллах [c.15]

С помощью рентгеновских лучей в 1912 г. было установлено в кристаллах наличие плоских сеток, от которых лучи отражаются по закону Вульфа—Брэгга ln=2d sin Qn. В этом выражении Я — длина волны рентгеновских лучей fl — простые числа (1, 2, 3 и т. д.), показывающие порядок отражения d — межплоскостное расстояние 0л — угол отражения соответствующего порядка. [c.11]

На рис. 4.4 показана схема установки для исследования структуры жидкостей. Пучок рентгеновских лучей, вышедший из трубки 1, после формирования в коллиматоре 51 направляется на цилиндрический образец 2 жидкости. Прошедший сквозь него первичный пучок поглощается ловушкой 3. На пути рассеянных лучей находится кристалл-монохроматор 4, который отражает АГа -излучение, регистрируемое сцин-тилляционным счетчиком 5. Расположение монохроматора после образца позволяет свести к минимуму попадание в счетчик флуоресцентного излучения. Для получения картины рассеяния от плоского образца применяют 0—9-дифрактометр. Его особенность состоит в том, что в процессе съемки происходит вращение рентгеновской трубки и счетчика навстречу друг другу вокруг оси, проходящей через точку соп ри-косновения рентгеновского луча с поверхностью образца. При этом угол, под которым излучение падает на поверхность образца, сохраняется равным половине угла рассеяния. Тем самым исключается абсорбционный фактор, поскольку он не зависит от угла рассеяния. [c.98]

Если кристалл установлен так, что одна из его главных осей перпендикулярна падающим рентгеновским лучам, и вращается вокруг этой оси, то получается набор дифракционных максимумов, который фиксируется на фотопленке в виде правильно расположенных точек. Для регистрации максимумов можно применять плоскую (рис. 40) или, лучше, цилиндрическую пленку. Ось цилиндрической пленки должна совпадать с осью вращения кристалла. Если развернуть цилиндрическую пленку, то можно заметить, что дифракционные максимумы располагаются вдоль ряда горизонтальных прямых линий, называемых обычно слоевыми линиями (рис. 41). На плоской пленке слоевые линии имеют форму гипербол и только экваториальная слоевая линия прямая. Рис. 42 иллюстрирует этот метод фотографирования дифракции рентгеновских лучей. [c.77]

Сажи. Сажи (или технический углерод) [25, 26] являются продуктом неполного сгорания или термического разложения органических веществ. Форма частиц большинства саж близка к сферической. Они состоят из беспорядочно расположенных кристаллитов, включающих 3— 5 параллельных плоских решеток атомов углерода. Расстояние между плоскостями составляет 3,45—3,65 А. Решетки в кристаллите смещены друг относительно друга, что еще более увеличивает неупорядоченность структуры саж. Промежутки между кристаллитами заполнены неорганизованным углеродом, цементирующим структуру в единое целое. Таким образом, по степени упорядоченности строения сажевая частица занимает промежуточное положение между кристаллическим графитом и аморфным углеродом. Исследования, проведенные с помощью малоуглового рассеяния рентгеновских лучей [26], свидетельствуют о наличии неоднородностей внутри частиц сажи. Можно предполагать, что они обусловлены флуктуациями межслоевых расстояний и размеров слоев кристаллических блоков. В частице сажи кристаллиты стремятся располагаться концентрически, плоскостями, параллельными поверхности. Однако часть кристаллитов выходит на поверхность частицы под различными углами. [c.27]

Независимо от способа, при помощи которого достигается повышение светосилы рентгеновского спектрографа, должно быть выполнено по крайней мере два следующих условия. Во-первых, надо иметь возможность повысить мощность рентгеновской трубки спектрографа и, во-вторых, необходимо, чтобы энергия рентгеновских лучей, исходящая из рентгеновской трубки, использовалась нри регистрации рентгеновских спектров наиболее эффективным образом. Известно, что рентгеновские спектры, которые регистрируются обычно в спектрографах с плоским кристаллом (спектрограф Брегга и т. п.), гораздо менее интенсивны, чем получаемые в современных светосильных приборах. Это объясняется в первую очередь тем, что в спектрографах с плоским кристаллом обычно эффективно используется [c.3]

В обоих случаях, если толщина изогнутого кристалла много меньше радиуса его кривизны, условия отражения рентгеновских лучей будут с достаточной для практики точностью описываться совокупностью уравнений Лауэ или соотношением Брегга—Вульфа, справедливыми для плоского кристалла. [c.11]

Диффракция рентгеновских лучей от такой двухмерной изогнутой по цилиндру решетки была впервые теоретически рассмотрена В. Фоком и В. Колпинским [17]. Они показали, что в этом случае основной закономерностью, определяющей возникновение интерференционных максимумов, является соотношение, близкое к уравнению Брегга — Вульфа, справедливому для плоского кристалла. Принципиальная разница заключается лишь в том, что в полученном Фоком и Колпинским соотношении [c.21]

Мы уже видели, что математическая теория кристаллографии была завершена задолго до открытия дифракции рентгеновских лучей. Побудительной причиной этих ранних исследований явился замечательный внешний вид кристаллов. Характерные для них четкие углы и чистые геометрически плоские грани отличали их от других природных объектов. При росте кристалла в неограниченном пространстве образуется полиэдрический кристалл. Случайные причины могут вызвать неравномерный рост граней, но форма кристалла может быть легко сведена к правильной геометрической фигуре. Вскоре было открыто, что при любых изменениях формы кристалла для данного веш ества углы между соответствуюп ими гранями всегда постоянны (Стеноп, 1669 г.). Таков первый закон кристаллографии, который указывает на постоянство структуры кристалла. [c.22]

Винтовые оси создают закономерные погасания среди отражений от систем плоских сеток, перпендикулярных к ним. Так, двойная винтовая ось, параллельная оси 2 кристалла, даст погасание тех отражений 00/, при которых I будет нечетным числом четверная винтовая ось даст погасания в направлении 00/ всех отражений, за исключением тех, у которых / кратно четы.реМ. Это объясняется тем, что винтовые оси создают дополнительные, вставленные в ячейку плоскости, отражающие рентгеновские лучи. На рис. 150 эти дополнительные плоскости. [c.129]

Полировальный станок с дистанционным управлением служит для выполнения окончательных операций по приготовлению металлографических образцов перед их микроскопическим исследованием. Хотя основным назначением станка является подготовка образцов различных металлов для микроскопического исследования, его можно также использовать для подготовки плоских и надлежащим образом отполированных поверхностей для исследования больших кристаллов методом диффракции рентгеновских лучей. [c.168]

Первичный поток рентгеновских лучей 1 ударяет по пробе 2 и ио всем направлениям испускается флуоресцентное излучение. Коллиматор 3, представляющий собой связку тонких трубок или пластинок, позволяет почти параллельному пучку падать на плоский кристалл 4. Согласно закону Брэгга дифрагироваться будет только один первый порядок длин волн, и эта радиация принимается детектором 5. Механизм смонтирован так, что угловое перемещение детектора в 2 раза больше, чем кристалла, так что весь спектр может быть сканирован, и длины волн, принимаемые детектором, всегда известны из его углового положения. Диапазон длин волн перекрывается, если 0 меняется от О до 90°. [c.226]

ИЛИ колебания кристалла. При этом исследуемый образец (кристаллик размером 1 мм и менее) вращают или же заставляют колебаться около одной из его кристаллографических осей. Образец размещают на оси цилиндра, на внутренней поверхности которого закреплена фотопленка, чувствительная к рентгеновским лучам, причем пучок рентгеновских лучей направляют перпендикулярно оси цилиндра. При таком расположении образца и пленки на последней получается система пятен (их называют отражениями или рефлексами), расположенных на практически прямых слоевых линиях. Если для регистрации использовать вместо цилиндрической пленки плоскую, пятна дифракционной картины располагаются вдоль семейства гипербол. [c.231]

В настоящее время для наиболее эффективного использования в спектрографе пучка рёнтгенов.ских лучей, испускаемых трубкой, исследователи идут по одному из двух путей. Один из них основан на использовании в качестве анализатора лучей плоского кристалла в сочетании со специальной диафрагмой, получившей название коллиматора Соллера второй путь заключается в применении для фокусировки рентгеновских лучей изогнутых крсталлов. [c.5]

Структурная кристаллография исследует закономерности внутреннего строения кристаллов. Рентгенография исследует структуру кристаллов, анализируя дифракцию рентгеновских лучей от кристалла. Кристаллическим называют вещество, чьи частицы закономерно периодически повторяются в пространстве. Согласно одному из распространенных определений, кристаллом называется однородное анизотропное тело, способное самоог-раняться. Однородность кристалла проявляется в постоянстве химического и фазового состава его, в неизменности его скалярных свойств. Анизотропия кристалла состоит в том, что векторные свойства его могут оказаться разными, будучи измеренными в различных направлениях. Наконец, способность самоограняться есть также следствие правильного внутреннего строения кристаллического тела, благодаря которому атомы кристалла располагаются на определенных прямых (потенциальных ребрах кристалла) и плоскостях (потенциальных гранях кристалла). Малые скорости зарождения и роста приводят к возникновению крупных одиночных правильно ограненных кристаллов. Высокие скорости зарождения и роста приводят к конкурирующему росту множества зародившихся в расплаве или растворе микроскопически мелких кристаллов до их случайного столкновения друг с другом с образованием поликристаллического конгломерата. Минералы принадлежат к веществам, способным образовывать крупные монокристаллы, металлам же и сплавам свойственны высокие скорости зарождения и роста, поэтому они чаще дают поликристаллические массы, не имеющие огранки. Плоские грани и прямые ребра можно, однако, увидеть и у металлических кристаллов со свободной по- [c.10]

Система с плоским кристаллом состоит из рентгеновской трубки, держателя образцов и спектрометра. Спектрометр в свою очередь состоит из кристалла-анализатора, коллиматора и детектора. Рентгеновскую трубку используют в качестве первичного источника рентгеновского излучения для возбугкдения вторичного (или характеристического) спектра пробы. Анализируемая проба может быть твердой, жидкой или смесью порошков. Если требуется точный анализ, то к пробе предъявляют существенное требование — однородность ее поверхности. Поскольку характеристическое излучение направлено во все стороны, для получения параллельных лучей, падающих на кристалл, применяют коллиматоры. Параллельный пучок рентгеновских лучей диффрагируется кристаллом в соответствии с законом Брэгга [c.210]

Мезофазные сферы в момент их возникновения и при последующем росте, по данным световой микроскопии в поляризованном свете, а также дифракционного и рентгеноструктурного анализов, являются оптически одноосными положительными кристаллами гегсагональной системы. Показанные на рис. 2-4, а изгибы слоев приводят к тому, что на краях они перпендикулярны к касательной поверхности сферы. Это, по-видимому, способствует начальной коалесценции. В условиях относительно низкой подвижности мезофазы и случайной взаимной ориентации коалесцирующих сфер образования простой слоистой структуры не происходит. При этом возникают структуры, отличающиеся множеством дефектов упаковки слоев линейных, изгибов, нарушений непрерывности. Исследования профилей рефлексов (002) рентгенограмм мезофазы с учетом эффектов гьбсорбции и поляризации рентгеновских лучей, а также фактора рассеяния атомов углерода показывают, что средние значения межслоевого расстояния 002 равны примерно 0,350 нм [2-89]. Отдельные пачки слоев с разными значениями межслоевого расстояния имеют размеры до 2 нм. При нагревании сферы мезофазы могут расщепляться и приобретать относительно плоскую конфигурацию. То же происходит и при графитации мезофазы. Флуктуация межслоевых расстояний у графитирующейся мезофазы наивысшая. [c.46]

Характеристическое флуоресцентное излучение, даваемое пробой, коллимируется, и параллельный пучок лучей после прохождения через абсорбер (ослабитель) падает на плоский кристалл анализатора. Возможно использование нескольких сменных коллиматоров и ослабителей, а также кристаллов, служащих для спектрального разложения рентгеновского излучения. В ассортимент кристаллов-анализаторов входят LiF, Ge, Si, кварц, графит и ряд других. Диспергирование излучения кристаллической решеткой с заданной постоянной происходит вследствие селективного отражения под углом, зависящим от длины волны. [c.151]

Метод порощка (метод Дебая — Шерера). Съемка рентгенограмм (дебаеграмм) ведется в камерах с использованием монохроматического рентгеновского излучения и поликристаллических образцов из тонкого порошка в виде цилиндрического столбика (диаметр обычно 0,5—0,8 мм, высота 5—6 мм), плоского щлифа или порошка, наклеенного на подложку. Регистрация рентгеновского излучения осуществляется на узкой полоске фотопленки, свернутой в цилиндр. Рентгеновские лучи отражаются от поликристаллического образца, кристаллы которого расположены хаотически. Причем некоторые из них ориентированы в направлении, удовлетворяющем уравнению Вульфа — Брегга. Рентгеновские лучи, отраженные от этих кристаллов, образуют в пространстве сплошные конические поверхности, в результате пересечения которых с узкой пленкой, свернутой в цилиндр, экспонируются линии, имеющие форму дуг. Для увеличения числа кристаллов, участвующих в отражении, и получения более четкой дифракционной картины образец во время съемки может подвергаться вращению. [c.78]

В приборах со сфокусированным пучком злектронов сигнал рентгеновского излучения довольно слабый, и можно полагать, что он исходит из точечного источника. Поэтому рентгеновские спектрометры с полной фокусировкой, работающие с изогнутым кристаллом, более широко используются по сравнению с спектрометрами, имеющими плоский кристалл. Спектрометры последнего типа обычно используются в рентгеновском эмиссионном анализе при возбуждении с помощью рентгеновской трубки. В спектрометре с полной фокусировкой типа Иоганссона, схема которого приведена на рис. 5.3, точечный источник рентгеновского излучения, образец, кристалл-анализатор и детектор перемещаются по одному и тому же кругу радиуса R, называемому кругом фокусировки. Более того, кристалл изгибается так, чтобы кристаллические плоскости имели радиус кривизны 2R, а сама поверхность кристалла шлифуется до кривизны радиуса R. При такой геометрии все рентгеновские лучи, выходящие из точечного источника, будут падать на поверхность кристалла под одним и тем же углом 0 и фокусироваться в одной и той же точке на детектО ре. Этим обеспечивается максимальная эффективность сбора рентгеновского излучения в спектрометре без потери высокого разрешения по длинам волн. Очевидно, что в случае плоского кристалла угол падения рентгеновских лучей будет изменяться по длине кристалла, что. приводит к уширению и возможному наложению пико1В, вследствие чего уменьшаются максимальная интенсивность пика и отношение сигнал/фон. Хотя применение щелей Соллера дает возможность получить более параллельный пучок лучей, падающих на кристалл, однако и в этом случае не удается избежать потери интенсивности сигнала. [c.193]

Винтовые оси создают закономерные погасания среди отражений от систем плоских сеток, перпендикулярных к ним. Так, двойная винтовая ось, параллельная оси Z кристалла, даст погасание тех отражений 00/, при которых I будет нечетным числом четверная винтовая ось даст погасания в направлении 00Z всех отражений, за исключением тех, у которых I кратно четырем. Это объясняется тем, что винтовые оси создают дополнительные, вставленные в ячейку плоскости, отражающие рентгеновские лучи. На рис. 150 эти дополнительные плоскости, перпендикулярные к винтовым осям, показаны пунктиром. По этой же причине плоскости скользящего отражения также создают закономерные погасания в системе плоских сеток с символами (МО), (Ш) или Qkl). В настоящее время имеются хорошо разработанные схемы, позволяюнще по наличию на рентгенограммах характерных погасаний определить пространственную группу симметрии. [c.112]

Малость длины дебройлевской волны для электрона означает большой радиус сферы Эвальда (см. стр. 268), ее вырождение в плоскость. Это сильно упрощает истолкование электро-нограмм, так как они оказываются прямыми изображениями плоского сечения обратной решетки кристалла. Атомные факторы для рассеяния электронов также пропорциональны атомному номеру, но по своей абсолютной величине они во много раз больше, чем для рентгеновских лучей. Иными словами, электроны взаимодействуют с веществом значительно сильнее, чем рентгеновские кванты. Поэтому они сильно поглощаются веществом, и для исследования его структуры необходимо пользоваться очень тонкими пленками толщиной порядка 10 —10 см, тогда как размеры кристаллов, изучаемых в рентгенографии, порядка 10 см. Исследование необходимо проводить в высоком вакууме. Это делает невозможным применение электронографии для изучения глобулярных белков в их нативном состоянии — вакуум высушит белок. Тем не менее электронография позволяет получить ценные результаты при исследовании фибриллярных белковых структур, синтетических полимеров и других аморфных тел. Существенное преимущество электронографии состоит в том, что она позволяет локализовать атомы водорода (подробное изложение см. в монографиях [31, 32]). [c.275]

Ароматические углеводородные системы образуют жидкие кристаллы неметаллического типа (рис. 90). Они образуются дискообразными молекулами высококонденсированных ароматических соединений плоского строения (рис. 91) или длинными молекулами в виде стержней с ароматическими фрагментами. В нематике возникают области до сотен нанометров с одинаково ориентированными молекулами. Центры тяжести нематической фазы расположены случайно, поэтому в ней не существует дальнего координационного порядка. Оси всех частиц нематики ориентированы в определенном направлении. Методами дифракции рентгеновских лучей может быть исследован ориентационный порядок, характерный длн жидкокристаллических структур. [c.168]

В спектрографах с коллиматором Соллера, получивших за последнее время достаточно широкое распространение за рубежом, на пути широкого пучка рентгеновских лучей, исходящих от анода рентгеновской трубки в направлении кристалла, располагается диафрагма, имеющая в сечении сотообразное строение. Она расчленяет пучок лучей, падающих на плоский кристалл спектрографа, на большое число узких параллельных пучков, каждый из которых отражается в одном и том же направлении, в согласии с требованиями закона Брегга — Вульфа, от соответствующей области кристалла. Одновременное отражение рентгеновского излучения заданной длины волны от большой площади поверхности кристалла позволяет получить отраженный пучок лучей значительной интенсивности и обеспечивает большую светосилу прибора. В то же время разрешающая сила такого устройства может быть достаточно велика. Она, очевидно, зависит от соотношения длины коллиматора и диаметра каждой из его секций. Эта величина тем больше, чем длиннее диафрагма и чем меньше диаметр каждой из состав-ляющих ее трубочек. Отличительной особенностью спектрографов этого типа является малая расходимость используемых в нем пучков рентгеновских лучей и то обстоятельство, что их ширина определяется величиной поперечного размера диафрагмы Соллера. Параллельность хода пучка лучей в спектрографе в некоторых отношениях очень удобна, однако большая их ширина делает невозможным использование фотографического метода регистрации спектров. Поэтому во всех таких спектрографах в качестве приемников рентгеновской радиации применяются ионизационные камеры. [c.5]

Большую интенсивность рентгеновских спектров в спектрографах с изогнутым кристаллом удается получить потому, что в них одновременно с разложением пучка лучей в спектр осуществляется фокусировка монохроматических лучей, отраженных от большой поверхности изогнутого по цилиндру кристалла. Кроме того, вследствие возможности использования непараллельных пучков лучей можно применять широкофокусные рентгеновские трубки повышенной мощности, а также пользоваться любым, в том числе и фотографическим, методом регистрации рентгеновских спектров. Уже в первых моделях спектрографов этого типа интенсивность линий рентгеновского спектра была увеличена в 10 100 раз по сравнению с использовавшимися в те ходы спектрографами с плоским кристаллом. Это в большой мере предопределило пути и масштабы применения методов рентгеноспектрального анализа в практике и сделало его одним из наиболее удобных методов для анализа руд, пород, минералов и продуктов их технологической переработки на содержание в них многочисленных редких и рассеянных элементов. [c.6]

Лауэ, Брегга и Вульфа. Первыми исследователями, указавшими на такую возможность, были М. Де Бройль и Линде-ман (1914), М. Гюи (1916) и П. Капица (1918). Однако практически осуществить одновременную фокусировку монохроматического рентгеновского пучка лучей удалось впервые лишь много позже (в 1930г.) Дю-Монду и Киркпатрику П], которые в своих опытах по созданию мультикристалл-спектрографа хотя и не пошли по линии непосредственного использования в приборе изогнутых отражающих кристаллов, но вплотную подошли к этому, использовав фокусировку лучей набором плоских кристаллов, и в большой мере предвосхитили результаты работ, выполненных в дальнейшем. [c.9]

Анализатором рентгеновских лучей в каждом из этих приборов служило устройство, состоявшее из 50 плоских, слегка повернутых друг относительно друга кристалликов кварца, вблизи отражающей поверхности которых располагали не прозрачный для рентгеновских лучей клин. Таким образом, каждый из кристаллов анализатора мультикристалл-спектрометров Дю-Монда и Киркпатрика отражал рентгеновские лучи в условиях, аналогичных тем, которые имеют место в спектрографах, работающих по методу Зеемана. Все 50 плоских кристалликов прибора ориентировали один относительно другого таким образом, чтобы монохроматические лучи после отражения их от поверхности кристалла пересекались в одной точке или в небольшой узкой области пространства. Это будет иметь место, если кристаллы расположены так, что продолжения их поверхностей (в случае, представленном на рис. 1,а) или нормалей к ним (рис. 1,6) пересекаются в одной точке. Если обозначить это расстояние буквой то сфокусированные прибором пучки монохроматических лучей различных длин волн будут располагаться на одной общей окружности, радиус которой равен Совмещая с этой окружностью — так называемой окружностью изображения — фотопленку, можно зарегистрировать на ней достаточно узкие линии рентгеновского спектра, характеризующие радиацию, излучаемую поверхностью антикатода рентгеновской трубки спектрографа. Очевидно, что ширина [c.9]

Аналогичный по существу прием, заключающийся в использовании для отражения рентгеновских лучей системы атомных плоскостей кристалла, образующих некоторый угол с его поверхностью, для спектрографов с плоским кристаллом был в целях повышения светосилы приборов предложен и широко использован Фанкухеном [23]. Более подробно об этом см. [24]. [c.31]

Полученные рентгенограммы могут также послужить основой для количественной оценки величины углов поворота блоков в изогнутом кристалле. Пусть две отражающие плоскости (остающиеся в первом приближении плоскими при повороте) поворачиваются одна относительно другой на малый угол (рис. И). Угол между нормалями к ним пусть будет а. Пусть на такие расположенные под углом друг к другу плоскости падает пучок монохроматических лучей. В точке Р (в фокусе) пересекутся оба луча, отраженные каждой из этих плоскостей. Обозначим угол, который эти лучи образуют между собой, буквой ср. Расположим далее фотопластинку на расстоянии г за фокусом и подсчитаем расстояние I между двумя штрихами на рефлексограмме, возникающими за счет отражения рентгеновских лучей от рассматриваемых блоков кристалла. Имея в виду, что ср=ос, получаем для величины расщепления I простое соотношение [c.47]