Метод линейки

Результаты оптимизации, проведенной методом линейки, позволяют предположить, что хорошее разделение будет получено при ф 0,15 и ф ж 0,25. Метод линейки — самая простая и самая дешевая оптимизационная процедура. Правда, к ней относятся несколько скептически, так как она не предусматривает использования микропроцессорной техники. Конечно же, и метод линейки имеет ряд серьезных недостатков, а именно [c.251]

Альтернативой методу линейки может быть применение вторичного критерия, если окна разрешения уже определены. Например, можно выбрать состав, при котором все величины разрешения превосходят порог (в вышеприведенном примере 1,6), причем последний элюируемый пик имеет наименьший коэффициент емкости ( и). Другим вторичным критерием может быть минимальная вязкость элюента [55] (см. также [56]). [c.259]

Важно только знать, в какой мере удовлетворяют этой линейной зависимости (12-42) значения ж, и г/ . Если п измерений значений х ,- , и г/х, г/а,. Уп нанести на систему координат и вычертить от руки или с помощью линейки выравнивающую прямую, то такой метод будет произвольным, а точность его — сомнительной, несмотря на простоту и частое применение. Существует метод наиболее правильного определения хода прямой — это метод наименьших квадратов Гаусса. Отклонение измеренного значения г/, от прямой выражается разностью У1 — а — Ьх . По принципу наименьших квадратов та прямая наиболее подходит для измеренных значений, для которой сумма квадратов отклонений наименьшая [c.266]

При применении метода на просвет зазор между контролируемой поверхностью и рабочей поверхностью линейки или плиты определяют щупом (по ГОСТ 882—75) или мерами длины концевыми (по ГОСТ 13581—68 или ГОСТ 9038—73). [c.127]

Методы контроля отклонений относительного расположения деталей. Непараллельность плоскостей контролируют с помощью измерительной головки, укрепленной на стойке. Деталь устанавливают базовой поверхностью на поверочной плите, имитирующей прилегающую плоскость непараллельность определяют изменением показаний головки в разных точках свободной поверхности. При такой схеме в результате измерения не-параллельности образуется погрешность метода измерений — неплоскостность. Для исключения последней могут быть использованы контрольная линейка или пластинка с параллельными гранями. [c.183]

Сущность применяемых до последнего времени графо-аналитических методов профилирования затвора регулирующего органа ИУ [4, 9] сводится к тому, что на график наносится, ряд предварительно рассчитанных кривых, а затем с помощью лекала проводится их общая огибающая, являющаяся профилем затвора. Размеры полученного таким образом профиля замеряются линейкой, после чего корректируются так, чтобы на всем протяжении затвора соблюдалась плавность профиля. Точность этих методов зависит от субъективных качеств исполнителя и является относительно низкой. Кроме того, предварительные расчеты, связанные с построением исходных кривых, а также расчеты по корректировке размеров полученного профиля весьма громоздки и трудоемки. [c.162]

Наиболее простая схема компенсационного метода изображена на рис. 89. Источник постоянного тока 1 (хорошо заряженный аккумулятор) подключается к концам проволоки, имеющей сопротивление 16—20 ом. Проволока натянута на линейку аб (реохор-4. да Важно, чтобы сечение проволоки по всей ее длине было постоянным. Длина проволоки на линейке один метр. На реохорде нанесены деления через 1 мм. Подвижной контакт 8 позволяет снимать с аккумулятора различную э. д. с. Измерение начинают с отыскания положения компенсации аккумулятора с нормальным элементом 4. Для этого замыкают переключатели 6, 7 и 5, подвижной контакт 8 перемещают вдоль линейки до тех пор, пока стрелка включенного в цепь гальванометра 3 не будет на нуле. Это означает, что ток в цепи не проходит, и две навстречу включенные э. д. с. компенсировали друг друга. Записывается число делений (е ), которое [c.260]

Более точное определение толщины пленки производят методом косого шлифа. Для этого из пластины, подлежащей исследованию, вырезают полоску (5 х 10 мм) при помощи линейки и корундовой иглы. Полученный образец приклеивают пицеином к косой площадке 3 оправки 2 приспособления для изготовления косого шлифа,(рис. 91). Угол среза площадки 3 должен быть точно известным. Его величина меняется в пределах 5—10° в зависимости от предполагаемой толщины пленки (чем больше толщина, тем больше должен быть угол среза однако при увеличении угла уменьшается точность определения). Затем оправку с образцом 4 вставляют во втулку 1 и сОшлифовывают необходимое количество материала. Шлифование производят вручную, вращательными движениями приспособления по толстому зеркальному стеклу, на которое предварительно нанесена водная суспензия микропорошка карбида кремния MIO. После из- [c.148]

Перед выполнением работы необходимо привести в рабочее состояние установку и ее электрическую схему. Затем в стакан электрометра наливают испытуемый раствор и выдавливают из капилляра несколько капель ртути, поднимая резервуар-компенсатор. После этого при опускании резервуара 9 ртуть войдет внутрь канала и втянет за собой испытуемый раствор. Положение мениска в капилляре следует установить на такой высоте, чтобы он хорошо просматривался в микроскоп. Диаметр капилляра в базовой точке мениска измеряют описанным выше методом четыре-пять раз и берут среднее значение. Высота столба ртути в электрометрической трубке должна составлять примерно 100—150 мм от мениска. Высоту измеряют передвигающейся линейкой. [c.185]

Приборы, используемые при визуальном методе, следующие отградуированные щупы, металлические линейки, штангенциркули, кронциркули-нутромеры, глубиномеры, зеркальные и увеличительные стекла и т. п. [c.93]

Более предпочтительным является [етод оценки устойчивости по величинам расстояний между несвязанными атомами. При обычных формах кресла и ванны эти расстояния нетрудно вычислить методом векторного анализа в других случаях они могут быть измерены на модели при помощи линейки. На приведенной ниже схеме указаны вычисленные межъядерные расстояния для циклогексана и метилциклогексана в форме кресла, ориентированно , как в стероидах [c.49]

Как правило, химические задачи можно решать, пользуясь счетной (логарифмической) линейкой. Это позволяет получать ответы с точностью до третьего знака, что часто соответствует точности исходных данных. Но в некоторых случаях имеются более надежные данные, и тогда следует использовать логарифмические таблицы или более строгие методы расчета, позволяющие получить ответ с необходимой точностью. Если задача не требует особой точности, то значения атомных масс можно округлить до первого десятичного знака. [c.84]

Оптические плотности можно измерять, используя обычную миллиметровую шкалу и беря логарифм отношения 1о/1 (рис. 6.2). В более простом методе применяется прозрачная масштабная линейка, откалиброванная в оптических плотностях. Точка А = со совмещается с действительной точкой 0% пропускания бланка, а величины /о и / считываются по шкале. Разность между этими числами и есть оптическая плотность полосы. Тот же принцип реализуется на бланках спектрофотометров с нанесенными по ординате оптическими плотностями (рис. 6.2). [c.237]

Через 20—25 мин хроматограмму вынимают из стакана, высушивают и линейкой измеряют высоту пятен от центра до конца пика. За истинное принимают среднее арифметическое из трех измерений. Точность метода зависит от тщательности проведения опыта. [c.132]

Элюируемые из колонки соединения можно обнаруживать при помощи самых различных детекторов, но наиболее общеприняты следующие четыре. Рефрактометрический детектор (РД) относится к числу универсальных, так как измеряет свойство, присущее всем веществам, но он относительно малочувствителен. УФ-детектор — стандартный детектор для ЖХ, равнозначный ПИД в ГХ. Он может быть использован для наблюдения за разделением в большинстве систем ЖХ, но его чувствительность сильно зависит от строения соединения. В общем случае, особенно при наличии детектора с переменной длиной волны, перекрывающего область от 190 до 360 нм, этот тип детекторов позволяет получать прекрасные хроматограммы. Относительно недавно в практику вошли так называемые детекторы с диодной линейкой, позволяющие получить полный УФ-спектр для любой точки хроматограммы. Этот метод особенно удобен для идентификации и определения гомогенности перекрывающихся пиков. [c.58]

По методу И образцу задают статическую деформацию, рассчитав ст по формуле (9.2) и перемещая верхний пассивный захват до получения рассчитанной длины рабочего участка, контролируемый при помощи линейки. [c.144]

По методу А фиксируют появление видимых на глаз трещин в канавке каждого образца при расстоянии между зажимами 65+ <> мм и записывают показания счетчика (или часов) в протокол 8. Испытания продолжают с целью определения разрастания появившихся трещин. Измерения осуществляют линейкой и толщиномером. Оценку образцов ведут по виду трещин, их числу, длине и глубине в соответствии со следующей шкалой ступеней образования трещин [c.151]

Метод ИГИ—ВУХИН заключается в следующем. Изготавливают брикет, плотно прилегающий к стенкам трубки, и нагревают его в той же трубке, где он был изготовлен. В трубку помещают 2 г угля аналитического измельчения. После брикетирования замеряют при помощи линейки расстояние от поверхности брикета до верхнего кран трубки. Печь до начала опыта нагревают до 600°С. Выдерживают навеску угля в течение 15 мин. Число вспучиваний определяют по разности замеров высоты королька и брикета в трубке. [c.153]

Измерение высот пиков. Высоту пика измеряют линейкой или с помощью цифрового вольтметра. Этот метод измерения пиков является наиболее быстрым и простым, однако зависимость высоты пика от количества вещества линейна в меньшем диапазоне по сравнению с площадью или пропорциональной ей величиной. Поэтому при калибровке детектора по высотам необходимо иметь в виду, что перегрузка колонки может привести к уменьшению линейного диапазона детектора. Следует также учитывать, что высота пика пропорциональна количеству неподвижной фазы в колонке (чем меньше неподвижной фазы, тем выше пик). Рассчитано, что улет непривитой неподвижной фазы в колонке за 2000 ч работы (1 год) составляет около 50% ее общего количества или 0,2% в день, при этом высота пика увеличивается также примерно на 0,2% в день. Таким образом, даже незначительный улет неподвижной фазы из колонки может влиять на погрешность анализа при расчете состава по высотам пиков. [c.375]

Подобное вьшисьшание уравнений дая каждой рассчитьшаемой схемы является довольно утомительным занятием, не говоря уже о возможных при этом ошибках. Но самое главное игнорирование компактных и достаточно формальных средств — речь идет о математическом аппарате векторной и матричной алгебры — для обозримой записи и преобразований математической формулировки задач не дает возможности в полной мере классифицировать получаемые системы уравнений и оперировать с ними, а также эффективно применять численные методы линейкой и нелинейной алгебры. [c.49]

На рис. 5.18 показаны линии удерживания и критические зоны для пяти ароматических соединений. Вдоль вертикальной оси откладывается логарифм коэффициента емкости в ОФЖХ, а вдоль горизонтальной оси — отношение смешения двух изоэлюотропных бинарных фаз, составляющих в сумме тройную смесь. Разделения всех компонентов с разрешением больше 1,6 (значение, выбранное для построения рис. 5.18, а) можно достигнуть при таком составе фазы, когда никакие из критических зон не перекрываются. Оптимальный состав можно определить методом линейки (см. выше) такой состав, как указано на рисунке, характеризуется отношением смешения 0,83. Это соответствует смеси, содержащей 33% (0,83-40) ацетонитрила, [c.257]

Рис. 97. Схемы проверок а — прямолинейности линейкой и штихмассом, б — прямолинейности оптическим методом, в — перпендикулярности рамным уровнем, г — перпендикулярности угольником и щупом, д — перпендикулярности оптическим методом / — линейка, 2 — штихмасс, 3 — детали оборудования, 4 —сетка, В — труба, 6 — телескоп, 7 — угольник, 8 — рамный уровень (Л и В — точки оптического луча)

Определенные трудности возникают также и при обработке фотографии. Обычно в колонну помещается масштабная линейка, а проявленная пленка проектируется на масштабированный экран. Используется также статистический метод брошенных иголок , но которому на фотографии накладывается сетка, состоящая из отрезков равной длппы, и подсчитывается число отрезков, попавших внутрь изображения диспергированных частиц, п число пересе-ченнй отрезков с изображением поверхностп пузырьков или капель. [c.277]

Уравнение (237) может быть решено относительно г обычным графическим методом или в виде номограммы с бинарным полем. При 6 = onst уравнение (237) является уравнением четвертого номографического порядка типа Коши [226]. Номограмма этого уравнения состоит из двух параллельных шкал величин е и у4=3ае / и криволинейной шкалы величины z. На рис. 70 изображена номограмма, построенная в следующих пределах изменения величин е = 0- 1,0, Л = 1- 4 и fe = 0,8- -3,0 [225]. Как следует из рассмотрения рис. 70, удобство пользования номограммой, заключается в необходимости только однократного наложения линейки, что сводит до минимума погрешности, связанные с графическим расчетом. Пользоваться номограммой удобно, когда производится много расчетов. В противном случае целесообразнее решать уравнение (237) относительно z графическим методом. Для этого по оси ординат откладываются значения правой части уравнения (237) при разных z, откладываемых по оси абсцисс. Искомое значение z определяется по точке пересечения полученной кривой с прямой, параллельной ti H абсцнсё, с ординатой [c.180]

Расчет может быть выполиеи либо ручными методами (с помощью логарифмической линейки или микрокалькуляторов), либо иа машинах (используя программы, для которых могут потребоваться как небольшие настольные ЭВМ, так и стационарные большие ЭВМ. Любые методы расчета вручную могут быть реализованы на больших ЭВМ, но программы, созданные для ЭВМ, вообще говоря, ие могут быть использованы для расчетов на логарифмической линейке. [c.10]

В настоящее время большую роль ири расчетах играют ЭВМ. Методы проведения этих расчетов будут коротко обсуждены в этом параграфе. Основное внимание будет при этом уделено таким расчетам, которые могут быть проведены на карманном калькуляторе или с помощью логарифмической линейки, но которые мо1ут служить основой и для более детальных расчетов на ЭВМ. [c.164]

Отклонение от соосности валов машин контролируют с помощью струны и штихмассов, методом светового луча или по полумуфтам. В последнем случае отклонение от соосности проверяют в два приема выполняют предварительную проверку (линейкой и щупом) и окончательную проверку специальными скобами, щупом или индикатором, производимую после затяжки фундаментных болтов. [c.324]

Прямолинейность и плоскостность поверхностей проверяют с помощью линеек нли плит методом на просвет или на краску . При использовании первого метода зазор между контролируемой поверхностью и рабочей поверхностью линейки или плиты определяют щупом. При использовании второго метода пятна краски должны равномерно располагаться по всей контролируемой поверхности. При этом число пятен, приходящихся на площадь 25x25 мм должно быть равно на рабочих поверхностях шпоночных пазов и шпонок, фиксирующих полумуфту насоса, — не менее 12 на шпоночных пазах и шпонках, фиксирующих рабочее колесо насоса, на поверхностях разъемов, уплотняющих без прокладок, — не менее 7. [c.204]

Такие средства контроля, ка,к струна, монтажная линейка, микрометриче ские уровни, недостаточно то.чны, а для крупногабаритных деталей непригодны. Более точ,ны -и удобны. оптические методы измерения, которые можно подразделить на две гр>тппы с установкой измерительных приборов вне контролируемого изделия и на самом изделии. [c.275]

В опубликованных недавно книгах и обзорных статьях можно найти множество примеров ингибиторов, специфичных к активному центру [312, 313, 315]. Помимо химической модификации фермента и аффинного мечения за последние десять лет разработано еще несколько новых методов. Хотя эти методы и не имеют прямого отношения к бноорганнческому моделированию ферментов, о них все же следует упомянуть, так как в приложении к биологическим системам с их помощью можно получить полезную информацию, К ним относятся введение фотоаффинной метки [316] и использование флуоресцентной спектроскопической линейки [317]. Эти разработанные недавно методы включают в основном биофизические приемы, обсуждение которых выходит за рамки данной книги, но которые важны для лучшего понимания биологических процессов. Получаемая информация может быть ценным руководством к планированию и созданию новых биоорганических моделей биологически важных макромолекул. [c.450]

На клеммах заряженного аккумулятора появляется разность потенциалов. Она имеет наибольщее значение в разомкнутом или компенсированном состоянии аккумулятора и называется в этом случае электродвижущей силой Е. Можно представить себе следующий процесс равновесного проведения зарядки — разрядки аккумулятора и, следовательно, соответствующих химических превращений на катоде — сернокислого свинца в металлический, а на аноде —также сернокислого свинца в двуокись. На рис. (И. 19), показана схема, применяемая в так называемом методе компенсации Поггендорфа. Внешний источник тока (динамо-машина) / присоединен к концам Л В проволоки 2, натянутой на линейку. По линейке скользит контакт 3, передвигая который, можно задать на участке СВ любое падение напряжения внеш., к этим точкам через чувствительный гальванометр 5 присоединен аккумулятор 4. Передвигая контакт, можно добиться полной компен-хации сил (Евнеш = , кку ) ему будет отвечать отсутствие тока в цепи аккумулятора. Сдвигая контакт с точки компенсации вправо или влево, можем менять внешнее напряжение в пределах [c.63]

При решении задач по фнзг.ко-химическим методам анализа часто приходится пользоваться составлением графиков и калибровочных кривых, От выбранного масштаба и точности проведения кривой зависит результат. При расчетах можно использовать таблицы логарифмов, логарифмические линейки, счетные машины в зависимости от того, что использовалось для расчета, ответ может меняться. Нормировать составление графиков и применяемые )асчетные средства авторы не находят возможным. Тоэтому отклонение на 3—5% от приведенных в ответах величин не должно считаться ошибкой. Это отклонение лежит в пределах обычной точности физико-химических измерений в лабораторных условиях. [c.248]

Очень удобно проводить определения по высоте пика, который образуется на хроматограмме осадком анализируемого элемента. Этот метод был предложен В. Б. Алесков-ским с сотрудниками [171—1731 для определения никеля и меди, а затем для определения микроколичеств иода, брома, хлора и роданида на бумаге, импрегнированной соответствующими растворителями. На бумаге (6x16 см) проводят карандашом линию погружения бумаги в растворитель на расстоянии 0,5 см от края бумаги и линию старта на расстоянии 2—2,5 см от того же края. На линии старта на равном расстоянии друг от друга наносят растворы определяемых ионов проградуированным стеклянным капилляром объемом 0,002— 0,003 мл. Полоску бумаги с нанесенными на нее пробами подсушивают на воздухе, а затем опускают до линии погружения в стакан емкостью 500 мл с 50 мл воды или водного раствора глицерина (глицерин придает подвижному )астворителю необходимую вязкость и гигроскопичность). Лолоску закрепляют в стакане вертикально (рис. 54)..Продвигаясь вверх по бумаге, растворитель захватывает непрореагировавшие количества определяемого иона, образующийся осадок образует след в виде правильного пика, высота которого при прочих равных условиях зависит от концентрации определяемого вещества и от количества осадителя. Через 30—45 мин после образования пиков хроматограмму высушивают на воздухе и измеряют линейкой высоту пиков. Из результатов 5—10 опытов находят сред- [c.214]

Прибор для определения массы моля методом вытеснения воздуха штатив кристаллизатор на 500 мл газоизмерительная трубка на 50 см газовая горелка ампулки миллиметровая линейка. Описание прибора. Прибор для определения массы моля вещества изображен на рисунке 1. Он состоит из стеклянного сосуда /, помещенного в более широкий стеклянный или металлический цилиндрический сосуд 2. В сосуд 2 наливают жидкость, которую нагревают до кипения. Кипящая жидкость обогревает расширенную часть 3 сосуда 1, верхняя часть которого снабжека боковой трубкой 5 для отвода воздуха и приспособлением 6 для сбрасывания ампулки. Устройство приспособления для сбрасывания ампулки показано на рисунке 1, 6. Верхнее отверстие сосуда 1 плотно закрывают резиновой пробкой 7, Конец газоотводной трубки [c.6]

Цель работы. Ознакомление с установкой и методом определения электрохимического эквивалента. Принадлежности для работы. Свинцовый или щелочной аккумулятор амперметр реостат ключ медный кулонометр (ванна с электролитом и двумя медными электродами) секундомер, миллиметровая линейка аналитические весы 5-процентный раствор USO4 провода для монтажа прибора. Описание работы. При прохождении через электролит определенного количества электричества количество вещества т, выделяющегося на электроде, равно [c.74]

Выше было сказано, что для работы с комхаютером нужно дать ответ на два вопроса что такое молекула и что значит ее исследовать Оказалось, что ответ на первый вопрос не определен, но, как ни странно, это не мешает вполне точно ответить на второй Ответ будет следующим исследовать молекулу — это значит построить на количественном уровне совокупность ее моделей разного уровня иерархии Полнота исследований характеризуется степенью сложности и информативности моделей, параметры которых и подлежат определению в результате подходящих экспериментов и последующей обработке результатов измерений Вот на таком языке уже можно объясняться даже с компьютером, и он все поймет Итак, со строгой, математической (логической) точки зрения, единственно понятной компьютеру, исследовать молекулу — это значит найти числовые значения параметров, характеризующих ту или иную модель Но ведь вообще не существует методов непосредственного измерения, например, длин связей или зарядов на атомах молекулы Можно измерить спектры молекул, наблюдать дифракционную картину при рассеянии электронов на молекулах итд Другими словами, всю информацию о числовых значениях параметров молекулярных моделей приходится получать на основании не прямых (как измерение длины стола линейкой, например), а косвенных наблюдений Это, в свою очередь, возможно только тогда, когда установлена физическая связь между моделью и ее проявлением (отображением) на множестве тех величин, которые уже поддаются непосредственному измерению Если обратиться к спектральному анализу молекул, то это означает, что должна быть установлена связь между, например, значением упругости валентного угла и положением частот полос поглощения в инфракрасном спектре [c.92]

МОЖНО приготовить с помощью ВЭЖХ. Если идентифицируемое соединение присутствует в изучаемой смеси в концентрации 5% и выще, необходимое количество очищенных веществ можно получить на обычной аналитической или полупрепаративной колонке. При этом не требуется специальный препаративный хроматограф. Проблема выделения примесей, естественно, значительно сложнее, и в этом случае необходимо предварительное их концентрирование одним из доступных методов. Весьма полезной может оказаться информация, получаемая непосредственно при хроматографировании и детектировании поглощенного света в УФ- и видимой областях. Удобнее всего для этого пользоваться спектрофотометрами с диодной линейкой, позволяющими снять за один цикл разделения также спектры всех пиков. Однако эти приборы дороги и пока щироко не распространены. Некоторые конструкции хроматографов предусматривают возможность остановки потока в момент выхода пика и непосредственной регистрации спектра с помощью детектора. При несколько больших затратах труда и времени почти такую же информацию можно получить с помощью обычного спектрофотометрического детектора. [c.251]

Расшифровка структуры с помощью спектральных методов является предметом специальной литературы и здесь не рассматривается. В жидкостной хроматографии пока не удалось создать столь мощного комплексного метода идентификации, каким является газовая хромато-масс-спектроскопия. Фактически лищь спектроскопия в УФ- и видимой областях достаточно легко сочетается с основными параметрами современной ВЭЖХ. Для получения электронных спектров удобнее всего пользоваться спектрофотометрами с диодной линейкой, позволяющими получить за один цикл разделения также спектры всех пиков. Однако эти приборы дороги и пока не получили широкого распространения. Некоторые конструкции хроматографов предусматривают возможность остановки потока в момент выхода пика и непосредственного получения спектра с помощью детектора. При несколько больших затратах труда и времени почти такую же информацию можно получить с помощью обычного спектрофотометрического детектора. [c.326]

Объемная (насыпная) ыасса асфальтитовой крупки или порошка определяется по методике, заимствованной из методов анализа строительных материалов. Испытуемые образец с помощью воронки для сыпучих веществ засыпают с избытком в стакан вместимостью 250-500 мл. Никний конец воронки устанавливают на расстоянии 50 мм от верхнего края стакана. Избыток асфальтита срезают линейкой вровень с краями стакана. Стакан с асфальтитов и без него взвешивают с точностью до 0,01 г. Насыпную массу асфальтита X, кг/м , вычисляют по формуле [c.33]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология