Брэгг рентгеновский анализ

В результате мы получаем основное уравнение рентгеновского анализа п а= 2d sin 0— уравнение Вульфа — Брэгга. [c.46]

Уравнение Вульфа—Брэгга. В основе рентгеновского анализа лежит уравнение Вульфа—Брэгга [c.134]

Уравнение Брэгга особенно полезно при интерпретации дебаеграмм — рентгенограмм, полученных методом порошка. Единственной геометрической характеристикой каждого дифракционного луча в этом методе является угол между направлением этого луча и первичным пучком, всегда равный 2 . Определив О и зная Я, ио уравнению (20) получим величину n/d как параметр характеризующий данную дифракцию. Набор значений п/й вместе с оцененными относительными интенсивностями дифракционных лучей и составляет так называемый рентгеновский паспорт каждого индивидуального соединения. Такие паспорта используются в рентгенофазовом анализе как эталоны для идентификации исследуемых образцов. [c.59]

Химики часто пользуются экспериментальными данными, характеризующими форму кристаллов, поскольку это помогает идентифицировать вещества. Описание форм кристаллов является предметом специальной науки кристаллографии. Метод изучения структуры кристаллов при помощи дифракции рентгеновских лучей, предложенный в 1912 г. немецким физиком Максом фон Лауэ (1879—1960) и усовершенствованный английскими физиками У. Г. Брэггом (1862—1942) и У. Л. Брэггом (1890—1971), стал особенно полезным в последние десятилетия. Значительная часть информации о строении молекул, приводимой в данной книге, получена благодаря применению метода дифракции рентгеновских лучей (рентгеноструктурного анализа). [c.33]

Третичная и четвертичная структуры белков определяются при помощи рентгеноструктурного анализа, который впервые был проведен применительно к миоглобину и гемоглобину Дж. Кендрью и М. Перутцем в Кембридже. Значение рентгеноструктурного анализа белков трудно переоценить, так как именно этот метод дал возможность впервые получить своеобразную фотографию белковой молекулы. Для получения информативной рентгенограммы необходимо было иметь полноценный кристалл белка с включенными в него атомами тяжелых металлов, так как последние рассеивают рентгеновские лучи сильнее атомов белка и изменяют интенсивность дифрагированных лучей. Таким образом можно определить фазу дифрагированных на белковом кристалле лучей и затем электронную плотность белковой молекулы. Это впервые удалось сделать М. Перутцу в 1954 г, что явилось предпосылкой Д 1я построения приближенной модели молекулы белка, которая затем была уточнена при помощи ЭВМ. Однако первым белком, пространственная структура которого была полностью идентифицирована Дж. Кендрью, оказался миоглобин, состоящий из 153 аминокислотных остатков, образующих одну полипептидную цепь, В результате было экспериментально подтверждено предположение Л. Полинга и Р. Кори о наличии в молекуле миоглобина а-спиральных участков, а также М. Перутца и Л. Брэгга о том, что они имеют цилиндрическую форму Несколько позднее М. Перутцем была расшифрована структура гемоглобина, состоящая из 574 аминокислотных остатков и содержащая около [c.43]

В. Брэгг. Анализ кристаллов рентгеновскими лучами. Усп. химии 5, [c.213]

Для исследований с монохроматическим излучением необходимо более сложное оборудование. В некоторых случаях подходящее монохроматическое излучение можно выделить с помощью металлических фильтров, но для большей надежности необходимо работать с теми же приборами, которые используются для рентгеновского флуоресцентного-анализа (см. гл. 5, раздел IVA). В этом случае первичные рентгеновские лучи служат для возбуждения вторичного излучения, которое затем диспергируется кристаллом-анализатором. Изменяя материал вторичного излучателя и поворачивая кристалл (изменяя угол Брэгга),. [c.130]

Теория интерференции рентгеновских лучей, рассеянных идеальным кристаллом, развитая главным образом в работах Лауэ, Брэгга и Эвальда, лежит в основе современного рентгенографического анализа кристаллов. Согласно этой теории, пучок рентгеновских лучей длины волны Л, проходя через кристалл, рассеивается им так, как если бы этот кристалл обладал способностью селективно отражать указанные лучи под определенными углами 6 . Согласно соотношению Брэгга [c.28]

Точные рентгенографические анализы были предприняты для того, чтобы оценить эту версию, поскольку изучение сил, действующих в кристаллах, могло показать, из каких составных частей состоит кристалл и какими связями они удерживаются вместе. Если в качестве связующих сил действуют только силы Ван-дер-Ваальса, то кристаллы должны обладать меньшей прочностью сравнительно с тем случаем, когда между противоположно заряженными ионами действуют силы электростатического притяжения. Связь, основанная на вандерваальсовских силах, обусловливает недостаточную твердость и низкую точку плавления кристалла и, кроме того, значительное уменьшение интенсивности отражения рентгеновских лучей и увеличение угла Брэгга 0 в резуль- [c.37]

Еще В. К. Рентген делал всевозможные попытки разложить пучок открытых им лучей на его спектр, но применяемые призмы обладали настолько близкими к единице показателями преломления, что дисперсия была невозможна. М. Фон Лауэ и др. 132] выяснили, что в качестве дифракционных решеток могут быть использованы кристаллы солей. Это позволило В. Л. Брэггу [10], X. Г. Дж. Мозли [25, 26] и другим исследователям получить спектр и показать, что эмиссионные линии характерны для вещества, применяемого в качестве мишени в рентгеновской трубке. Вскоре стало ясно, чт это явление можно использовать для анализа, но трудоемкий процесс установки пробы на мишень рентгеновской трубки и откачивания воздуха из трубки препятствовал широкому использованию метода. [c.217]

Все, что мы знаем о строении веществ и особенно о расположении атомов в кристаллическом твердом теле, получено в основном с помощью рентгеноструктурного анализа. Рентгеновские лучи способны проходить через вещество, и при этом они в некоторой степени рассеиваются отдельными атомами. Картину рассеивания, или так называемую дифракционную картину, можно фиксировать на фотографической пластинке. Изучение этой картины позволяет судить об относительном расположении центров рассеивания, т. е. атомов в структуре кристалла. Пионерами в этих исследованиях были Вильям Брэгг и его сын Лоуренс Брэгг, создавшие метод рентгеноструктурного анализа. [c.87]

Реальные кристаллы никогда не бывают совершенными, т. е. полностью-упорядоченными и свободными от примесей. Однако приступать к изучению проблемы полезно с рассмотрения совершенного кристалла. В данной книге неуместно было бы пускаться в подробное рассмотрение существующих методов рентгеноструктурного анализа, но без ряда замечаний о -них здесь не обойтись. Поскольку промежуток между атомами в кристалле соизмерим с длиной волны рентгеновских лучей, кристалл на пути их распространения действует подобно трехмерной дифракционной решетке. Основные уравнения выведены Лауэ и Брэггом. Последний трактовал дифракцию рентгеновских лучей как отражение от атомных плоскостей. Один вариант уравнения Брэгга гласит, что [c.21]

Рассеяние рентгеновских лучей. Наряду с рентгеноструктурным анализом дисперсных материалов, базирующимся на условии Брэгга — Вульфа и позволяющим определять параметры кристаллической структуры углеродных материалов, в последнее время для исследования характера функции распределения областей неоднородности электронной плотности по размерам (радиусам инерции) в интервале от 0,7 до 150 нм все большее применение находит метод диффузного рассеяния рентгеновских лучей под малыми углами [46—48]. [c.24]

Основным и наиболее прямым методом определения структуры являются дифракционные методы, использующие рентгеновские лучи или же нейтронные или электронные пучки. Эти методы обычно применяются для исследования кристаллических образцов. Дифракция возникает тогда, когда излучение (в частности, это может быть видимый свет) проходит через узкую щель или через решетку, состоящую из параллельных близко расположенных щелей. При этом пучок отклоняется (дифрагирует), и дифрагированные пучки создают интерференционную картину светлых и темных полос. Характер интерференционной картины определяется длиной волны излучения и шириной щели или расстоянием между щелями в дифракционной решетке. Для получения интерференционной картины необходимо, чтобы длина волны излучения была сравнима с шириной щели или шагом решетки. Расстояния между атомами в кристаллической решетке того же порядка, что и длина волны рентгеновских лучей, поэтому кристаллы могут служить дифракционной решеткой для рентгеновских лучей. Техника рентгеноструктурного анализа кристаллов была впервые развита в 1912 г. М. Лауэ, а теоретическое обоснование этого метода было сделано В. Г. Брэггом и В. Л. Брэггом. [c.51]

В науке никогда не исчезал глубокий интерес к вопросу о связи между химическим составом и физическими свойствами кристаллических веществ. Стереохимические исследования прошлого века в этом отношении создали прочную основу наших знаний о химической структуре веи1ества. В нашей стране эти работы связаны с именем А. М. Бутлерова, положившего начало структурной теории углеродсодержащих органических соединений. С другой стороны, другому великому русскому ученому, Е. С. Федорову, принадлежит создание геометрической теории о 230 пространственных группах, по которым располагаются элементарные частицы в кристаллических структурах, и разработка метода кристаллохимического анализа вещества. Однако исключительного успеха кристаллохимические исследования достигают с момента обнаружения диффракцин рентгеновских лучей в кристаллах. Благодаря рентгеновскому анализу, а затем электронографическому анализу и другим физическим методам учение о пространственном расположении атомов сделало огромный шаг вперед. Напомним, что основной закон отражения рентгеновских лучей в кристаллах независимо от Брэгга был сформулирован у нас Ю. В, Вульфом. В наше время учение о пространственной структуре вещества стало основой физического и химического знания. [c.5]

Наиболее объективные сведения об эффективных зарядах атоМов в кристаллах, в принципе, должен дать рентгеноструктурный анализ, который позволяет экспериментально получить картину распределения электронной плотности. Такие работы были выполнены еще на заре развития рентгеновского анализа Брэггом (1926 г.), а затем Брилем и Гриммом (1939 г.). Однако в дальнейшем выяснилось, что для количественного решения этой [c.208]

Покажите, какие результаты можно ожидать от рентгеновского анализа кристалла типа s l по методу Брэгга. [c.259]

Фазовый состав катализаторов. Для общего фазового анализа катализаторов используются в основном два метода — рентгенография и дифракция электронов (электронография), хотя для некоторых специальных задач могут применяться и другие физические методы — магнитной восприимчивости, термография, ЭПР, различные виды спектроскопии. Практически наиболее широко применяется рентгенография, основанная иа дифракции характеристического рентгеновского излучения на поликристаллических образцах. Каждая фаза имеет свою кристаллическую решетку и, следовательно, дает вполне определенную дифракционную картину. На дебаеграмме каждой фазе соответствует определенная серия линий. Расположение линий на дебаеграмме определяется межплоскостными расстояниями кристалла, а их относительная интенсивность эависит от расположения атомов в элементарной ячейке. Межплоскостные расстояния d вычисляются по уравнению Брэгга—Вульфа [c.379]

Как наука К. сформировалась вскоре после 1912, когда М. Лауэ, В. Фридрих и П. Книппинг открыли дифракцию рентгеновских лучей, быстро превратившуюся в мощный метод исследования строения твердых в-в-рентгеновский структурный анализ. В послед, неск. лет У. Г. Брэгги, У. Л. Брэгги и др. изучили кристаллич. структуры мн. ме- [c.536]

СКОЛЬКИМИ кристалл-дифракцнонными спектрометрами. Наличие нескольких спектрометров, каждый из которых имеет несколько кристаллов, необходимо не только для лроведения анализа одновременно по нескольким элементам, но также позволяет оптимизировать условия анализа в различных диапазонах длин волн, испэ-... уя имеющийся набор кристаллов. В табл. 5.1 приведены параметры наиболее распространенных кристаллов-анализаторов сравнительное разрешение, отражательная способность и величина межплоскостного расстояния. Так как sin0 не может быть больше единицы, то, согласно закону Брэгга, верхний предел максимальной длины волны, дифрагировавшей на любом данном кристалле, составляет 2d. Практические пределы зависят от конструкции спектрометра, поскольку из рис. 5.3 очевидно, что при sin 0=1, т. е. при 0 = 90°, детектор должен был бы находиться в точке источника рентгеновского излучения внутри электронно-оптической колонны. Нижний предел анализируемой длины волны следует из уравнения (5.2), поскольку становится физически невозможным придвигать кристалл-анализатор слишком близко к образцу. [c.196]

В 1912 г. Лауэ предположил, что длина волны рентгеновских лучей может быть примерно равной расстоянию между атомами в кристалле таким образом, кристалл может служить дифракционной решеткой для рентгеновских лучей. Этот опыт был проведен Фридрихом и Книппингом, которые действительно наблюдали дифракцию. Вскоре Брэгг (1913 г.) улучшил эксперимент Лауэ в основном путем замены монохроматического излучения полихроматическим и тем, что дал физическую интерпретацию теории рассеяния Лауэ. Брэгг также определил структуру ряда простых кристаллов, включая Na l, s l и ZnS. Со времени возникновения рентгеновской кристаллографии как науки рентгеноструктурный анализ монокристаллов превратился в наиболее широко применяемый и самый мощный метод определения расположения атомов в твердом теле. После 50-х годов с появлением быстродействующих электронно-вычислительных машин, способных обрабатывать рентгенографические данные, стал возможен более детальный анализ структуры таких сложных соединений, как белки. [c.565]

Схема дифрактометра для анализа порошков с фокусировкой по Брэггу—Бреп-тано представлена на рис. 11.2-9. Порошковые образцы спрессовывают на металлическом держателе (Р), который можно вращать во время экспозиции вокруг оси, нормальной к его плоскости, с тем, чтобы дополнительно увеличить случайность ориентации кристаллитов. В данной схеме используется эффект парафокусировки, при котором добиваются того, чтобы линейный фокус (F) рентгеновской трубки (R) и выходная щель дифрактометра (D) лежали на одном круге, так чтобы они были эквидистантны относительно держателя образца (Р). Изогнутый кристалл-монохроматор (М), отъюстированный таким образом, чтобы выполнялось условие Брэгга Л = 2dhki sin в для сильного отп-ражения hkl (где Л — длина волны Ка-излучения), используют для того, чтобы сфокусировать рентгеновские лучи на входную щель F. Геометрия оптической схемы дифрактометра должна также обеспечивать эффективную фокусировку дифрагировавших рентгеновских лучей на щель детектора D. Расхождение падающего и дифрагировавших лучей внутри дифрактометра ограничивается пропусканием этих лучей через ряд тонких металлических пластин (S), известных как коллиматор Соллера. [c.402]

Количественные ППФ обладают следующими недостатками. Все ориентировки зерен, которые различаются лищь поворотом вокруг нормали к отражающей плоскости hkl , дают на ППФ одну точку. Действительно, для того, чтобы произошло отражение рентгеновских лучей, достаточно, чтобы выполнилось условие Вульфа— Брэгга для плоскости (hkl), но безразлично, как эта плоскость повернута вокруг нормали к ней. Кроме того, определение ориентировки кристаллитов требует специального анализа ППФ, который в случае сложных текстур с большим рассеянием ориентировок затруднителен и неоднозначен. [c.329]

Первые годы развития рентгеноструктурного анализа характеризуются как быстрой расшифровкой многих простых, но исключительно важных неорганических структур, так и быстрым развитием основных положений физической теории этого нового метода. Уже в 1915 г. Дарвин показал, что кристаллы с совершенными решетчатыми структурами встречаются чрезвычайно редко. Он ввел понятие мозаичного кристалла. Брэгг предположил, что распределение вещества в кристалле, отражающего рентгеновские лучи, можно выразить математически с помощью рядов Фурье. В это же время Дебай разработал количественнзгю теорию влияния теплового движения на интен- сивность отраженных рентгеновских лучей. Вскоре после этого он совместно с Шерером и Холлом создал простой, но важный метод использования в рентгеноструктурном анализе порошков вместо монокристаллов. Эвальд примерно в это же время разработал метод количественного расчета интенсивности отраженных рентгеновских лучей. Несколько позднее Эвальд выдвинул блестящую идею обрат-V ной решетки. [c.17]

Впервые (1912 г.) на возможность применения рентгеновских лучей для структурного анализа кристаллов обратил внимание Ла-уэ. Дебай и Шеррер в 1916 г. предложили метод порошков , который применялся главным образом для идентификации веществ, но не для структурного анализа, о котором идет речь. И только после того, как Брэггами (Ш. Н. и . Ь.) в начале 20-х годов стал разрабатываться метод съемки монокристаллов, появилась возможность изучения этим методом и органических соединений [c.171]

Затем Лоуренс Брэгг (1890), еще будучи студентом Кембриджского университета, развил теорию дифракции рентгеновских лучей (уравнение Брэгга, см. ниже) и на основании этой теории в ноябре 1912 г. определил структуру сфалерита (кубическая форма сульфида цинка) он применил свою теорию при анализе фотоснимков дифракции рентгеновских лучей сфалеритом, опубликованных Лауэ, Фридрихом и Книппипгом. Его отец Уильям Брэгг (1862—1942) сконструировал в этот период рентгеновский спектрометр (рис. 3.23), после чего за один год Л. и У. Брэггам удалось определить точную атомную структуру многих кристаллов и для целого ряда элементов установить длины волн характеристических рентгеновских лучей, испускаемых некоторыми элементами, используемыми в качестве мишеней в рентгеновских трубках. В методе Брэгга (рис. 3.23) пучок рентгеновских лучей направляется на грань кристалла, например [c.70]

В более ранних работах по исследованию катализаторов с использо1ванием рентгенографического метода рентгеновская диффракционная картина определялась для углов от 5° и более, так что анализ в основном заключался в определении межпло-окостных расстояний изучаемых образцов согласно закону Брэгга. Рассеяние под малыми углами, т. е. под углами, меньшими чем 2°, начало изучаться вслед за появлением работы Гинье [2], который экспериментально подтвердил предположение Дебая [3] о существовании в этой области непрерывного рассеяния для материалов определенного типа. Непрерывное рассеяние под малыми углами как по своему характеру, так и по теоретической интерпретации отлично от брэгговского рассеяния. Для возникновения рассеяния этого типа нет необходимости в том, чтобы образец обладал периодической структурой или представлял собой кристаллическое вещество. Необходимо только наличие резко выраженной неоднородности, существование субмикроскопических областей, между которыми имеют место изменения электронной плотности (или показателя преломления рентгеновских лучей). Такие области обычно возникают в результате неоднородности плотности. Если они существуют, то наблюдается непрерывное рассеяние в области малых углов. Интенсивность рассеяния зависит от градиента показателя преломления между этими областями (а также и от других факторов), скорость же изменения с величиной угла рассеяния зависит от размера и формы указанных областей. [c.358]

Появление дифракционных максимумов может быть истолковано как селективное отражение рентгеновских лучей от снсте.м параллельных атомных плоскостей. Такую остроумную интерпретацию дифракции рентгеновских лучей от кристаллов дали с 1912—13 гг. У. Л. Брэгг и Ю. В. Вульф . Это отражение происходит по обычному закону (угол падения равен углу отражения), но только под строго определенными углами, диктуемыми длиной волны и параметрами кристаллической решетки. Зависимость между длиной волны рентгеновских лучей к и межпло-скостным расстоянием d пространственной решетки выражается основной формулой рентгеноструктурного анализа [формула Брэгга — Вульфа) пХ — 2с1 sin 0 [c.120]

Раньше чем двигаться дальше, мы нроиллюстрируедм идеи рентгепоструктурного анализа белков с помощью простого модельного эксперимента, придулшиного Брэггом. Этот эксперимент наглядно иллюстрирует все сказанное выше. Вместо дифракции рентгеновских лучей Брэгг предложил наблюдать дифракцию видимого света, вместо пространственно решетки — плоскую решетку. Чтобы осуществить дифракцию видимых лучей, пользуются простым прибором, изображенным на рис. 41. Свет от источника А собирается конденсором в главном фокусе плоско-выпуклой линзы. Затем параллельные лучи проходят через маску О. Это черная бумага, в которой пробито несколько дырочек. Расположение дырочек соответствует расположению атомов в изучаемой нами молекуле. Например, па рис. 42 изображена маска, передающая строение гексаметилбензола [c.101]

Рентгеновская флуоресценция используется в качестве рутинного качественного и количественного анализа для определения тяжелых металлов в партиях, подвергаемых освидетельствованию красителей. Неразбавленные красящие добавки таблетируют на гидравлическом прессе при давлении около 8000 кг/см , что повышает плотность элементов и способствует получению необхо--ДИМОЙ поверхности образца. Таблетку исследуемого красителй помещают на пути прошедшего через узкую щель рентгеновского луча, который возбуждает характеристические спектры рентгеновского излучения содержащихся в образце элементов. Флуоресцентное излучение через первичный коллиматор попадает на кристалл, служащий в качестве рассеивающего монохроматора. Кристаллическая решетка является в данном случае трехмерной дифракционной решеткой, причем дифракция рентгеновских лучей происходит в результате их отражения от параллельных атомных плоскостей. Связь между длиной волны подающего излучения %, углом между направлением падающего луча и отражающей кристаллической плоскостью 0, и постоянной решетки d (расстояние между отражающими параллельными атомными плоскостями) выражается уравнением Брэгга [c.473]

Профессор Московского университета Юрий Викторович Вульф впервые установил закономерную связь между длиной волны рентгеновского луча и междуагомными отстояниями в кристаллической решетке, диффрагирующей лучи, и тем открыл широкие возможности как для структурного анализа кристаллов, так и для точного определения длин волн рентгеновского спектра позже то же самое было сделано, независимо, Брэггом. [c.54]

В основе рентгено- и электронографического анализа твердых тел лежат, как известно, теории дифракции рентгеновских лучей и электронов, развитые многими физиками (см. [32, 33]). Методы рентгенографического изучения веществ разрабатывались, начиная с 1915—1918 гг. Лауэ, затем Дебаем, Шерером, Селяковым, Бриллем, Джонсом, Кохендорфером и другими (см. 32]). Методы электронографического изучения тел создавались несколько позднее в результате работ Томсона, Тартаковского, Линника, Брэгга, Пинскера и Вайнштейна и других (см. [33]). Электронная микроскопия, в основе которой находятся начальные элементы теории электронной оптики Буша, стала создаваться только в 30—40-х годах и продолжает интенсивно совершенствоваться. Примерно в таком же порядке эти три метода (или точнее, три системы методов) начали использоваться и для исследования катализаторов первыми были привлечены рентгенографические методы, затем электронографические и, наконец, электронная микроскопия. [c.170]

Система с плоским кристаллом состоит из рентгеновской трубки, держателя образцов и спектрометра. Спектрометр в свою очередь состоит из кристалла-анализатора, коллиматора и детектора. Рентгеновскую трубку используют в качестве первичного источника рентгеновского излучения для возбугкдения вторичного (или характеристического) спектра пробы. Анализируемая проба может быть твердой, жидкой или смесью порошков. Если требуется точный анализ, то к пробе предъявляют существенное требование — однородность ее поверхности. Поскольку характеристическое излучение направлено во все стороны, для получения параллельных лучей, падающих на кристалл, применяют коллиматоры. Параллельный пучок рентгеновских лучей диффрагируется кристаллом в соответствии с законом Брэгга [c.210]

Осн. исследования посвящены теории дифракции рентгеновских лучей и рентгеноструктурпому анализу. Независимо от русского кристаллофизика Г. В. Вульфа установил (1913) соотношение мeж J y /ушной волны рассеянных кристаллом рентгеновских лучей, величиной угла отклонения этих лучей после рассеяния и константами кристаллической решетки, лежащее в основе рентгеноструктурного анализа. Определил (1925—1930) посредством рентгенографических методов строе1ше силикатов. Совм. с Дж. Д. Берналом и Л. К. Полингом заложил (1946—1950) основы структурного анализа белка. Нобелевская премия по физике (1915, совм, с У. Г. Брэггом). [c.73]

Дж. Бернал в конце 1930-х годов предложил два подхода к решению проблемы фаз в рентгеноструктурном анализе белков [180]. Оба они включали функцию Паттерсона и основывались на изменении интенсивностей отраженных рентгеновских лучей, которое обнаруживалось даже при небольших модификациях кристаллов. Первый из них, так называемый метод набухания и усадки, пытался в течение ряда лет использовать Перутц для определения фаз в дифракционной картине гемоглобина [181-187]. Заметного успеха в решении проблемы добиться не удалось. Тем не менее в этих работах Перутца были получены интересные данные, касающиеся внутреннего устройства гемоглобина. В частности, результатом наблюдения изменения интенсивностей дифракционных рефлексов, происходящего из-за диффузии солей в жидкость при кристаллизации белка, явилось правильное определение внешнего очертания полипептидной цепи макромолекулы. Полученное представление подтверждено изучением дифракционных картин кристаллических форм с разной упаковкой молекул. У. Брэггом и М. Перутцем обнаружено соответствие между рентгеновской дифракцией а-кератина и паттерсоновским синтезом гемоглобина [188, 189]. Пространственная векторная карта свидетельствовала о присутствии в структуре стержней протяженностью не менее 10,0 A, разделенных между собой фрагментами в 5,0 A. Был сделан вывод о том, что форма этих стержней соответствует структуре полипептидной цепи а-кератина. Подобные стержни вскоре были найдены Кендрью в миоглобине [190, 191]. После открытия Полингом радиальной усредненной векторной плотности пат1ерсоновского синтеза было высказано предположение, что гемоглобин представляет собой ансамбль а-спиралей. [c.43]