Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Применение микроскопа для изуче

    Один метод локализации со специфической физиологической активностью был позаимствован нз ПЭМ. Этот метод меток поверхности клетки, который, будучи применен к образцам для РЭМ, приводит к образованию на поверхности клетки морфологически различаемых или аналитически идентифицируемых структур. Такие методики в сочетании с растровой электронной микроскопией высокого разрешения позволяют изучать природу, распределение и динамические свойства антигенных и рецепторных состояний на поверхности клеткн. Методы нанесения меток на поверхность клетки в общем случае достаточно сложны и включают процедуры иммунохимической и биохимической очистки. Подробные ссылки на них можно найти в работах [359—361], но сущность методик состоит в следующем. Для крепления антител в определенных антигенных состояниях на поверхности клетки используются стандартные иммунологические процедуры. Хитрость состоит в том, чтобы модифицировать антитела таким образом, чтобы они также несли морфологически различимую метку, такую, как латексные шарики или сферы из двуокиси кремния, распознаваемый вирус, как, например, вирус табачной мозаики, или один из Т-четных фагов, как показано на рис. 11.18, илн белковая молекула известных размеров, как ферритин или гемоцианин. В работе [362] (рис. 11.19) использовались гранулы золота, которые имеют большой коэффициент вторичной электронной эмиссии. Одна часть антитела имеет средство для специфичного антигенного закрепления на поверхности клетки, в то время как другая часть несет морфологически различимые структуры. В настоящее время иммунологические методы достигли такого уровня, когда они не могут быть использованы для изучения как качественных, так и количественных характеристик поверхности клетки [363, 364]. [c.244]


    Влияние термомеханических обработок на стойкость рассмотренных систем сплавов к КР и водородному охрупчиванию пока изучено лишь предварительным образом, однако во всех исследованных случаях ТМО зарекомендовала себя перспективным ме тодом изменения микроструктуры. Дальнейшие исследования в этой области были бы очень ценными, как с точки зрения улучшения конструкционных материалов, так и для более глубокого понимания роли микроструктурного фактора. Что касается научного аспекта, то следует подчеркнуть важность изучения получаемых микроструктур с помощью тонкопленочной электронной микроскопии. Необходимость применения этого метода начинаю г признавать и исследователи, работающие в данной области [101, 160]. [c.120]

    До последнего времени микростроение поверхности минералов и пород проводили в просвечивающих электронных микроскопах с помощью реплик и ультратонких срезов [1—6]. Методика подготовки образцов к исследованию трудоемка и длительна [5,6]. Наличие большого количества операций в какой-то степени искажает истинное строение изучаемой поверхности минерала и требует многократной проверки и повторения. Кроме того, часто проявляется разрушающее объект влияние вакуума и вредное действие потока электронов [9]. Недостатком указанных методов является и то обстоятельство, что при работе с использованием максимального разрешения оптический и электронный микроскопы имеют малую глубину фокуса и поэтому микрофотографии дают изображение объекта в двух измерениях [10]. Применение сканирующего электронного микроскопа Л5М-2 (Япония) позволяет лучше изучить поверхностную структуру и получить изображение объекта в трех измерениях с большой глубиной резкости. Для проведения исследований на сканирующем микроскопе можно быстро и просто приготовить образцы к исследованию, наблюдать массивные объекты в виде монокристаллов или осадки любой дисперсности. При этом можно увидеть общую картину, ультраструктуру поверхности, ее пористость и агрегацию. Анализирующий электронный луч, сканирующий по объекту, имеет очень малую мощность, поэтому взаимодействие его с объектом не приводит к нагреву и разрушению даже весьма чувствительных биологических объектов. С помощью сканирующего электронного микроскопа впервые удалось различить типы красных кровяных клеток, которые трудно идентифицируются с помощью оптической микроскопии [10]. [c.27]

    Существующие методы исследования — электронная микроскопия и электронография, а особенно совместное их применение, позволяют наблюдать форму и размер отдельной коллоидной частицы, а также изучать ее структуру. Эти богатые возможности были использованы для детального изучения механизма возникновения коллоидных частиц и тех изменений, которые в них происходят в процессе старения. В качестве объектов для исследования был взят ряд типичных коллоидных систем. [c.168]


    Таким образом, для подробного исследования пористости адсорбентов надо применять несколько методов. Для исследования самых тонких пор следует применять метод определения предельно адсорбированных из растворов объемов молекул разных размеров. Этот метод перекрывается капиллярно-конденсационным методом, позволяющим изучить поры с эффективными радиусами от 12 до 100—200 А. Капиллярно-конденсационный метод перекрывается методом продавливания ртути и методом электронной микроскопии. Комбинированное применение этих методов может дать достаточно полное представление о пористости адсорбентов и катализаторов. [c.198]

    Сравните методы электронной микроскопии и электронографии, их принципы и области применения. Какими методами изучается внутренняя структура коллоидных частиц  [c.73]

    Если С. первого типа относительно подробно изучены и их поведение как равновесных систем с хорошим приближением м. б. количественно описано, то для С. второго типа из-за их неравновесности (незавершенности расслоения) количественное описание пока невозможно. Частично их структура исследована лишь качественно благодаря применению электронной микроскопии. Однако остаются недостаточно выясненными многие вопросы, связанные с механизмом генезиса матричной структуры. С точки зрения термодинамики безразлично, по какому пути происходит возникновение и выделение новых фаз из исходного метастабильного р-ра, однако структура образующегося С. во многом зависит именно от направления, какое примет в самом начале этот процесс. При более высоких скоростях роста зародышей фазы, бедной полимером, матрица должна образоваться из фазы высоким содержанием макромолекул. В противном случае непрерывной средой должна оказаться разбавленная низковязкая фаза, а возникновение каркаса явилось бы следствием контактов меж- [c.282]

    Применение электронного микроскопа дало возмоншость тщательно изучить строение эндоплазматической сети на очень тонких [c.128]

    Биологические микроскопы представляют наиболее многочисленную группу. В научных институтах для проведения детальных микроскопических исследований получили применение универсальные исследовательские микроскопы МБИ, в частности МБИ-6. Они позволяют изучать как прозрачные, так и непрозрачные препараты различными современными методами — путем визуального наблюдения и фотографирования в проходящем свете — в светлом поле при прямом и косом освещении, в темном поле, в поляризованном свете, с фазовым контрастом, а также в отраженном свете в светлом или темном поле. [c.215]

    Важной областью применения рентгеновских лучей является рентгенография металлов и сплавов, к-рая превратилась в отдельную отрасль науки. Понятие ( рентгенография включает в себя, наряду с полным пли частичным Р. а., также и другие способы использования рентгеновских лучей — рентгеновскую дефектоскопию (просвечивание), рентгеноспектральный анализ, рентгеновскую микроскопию и др. Элементы Р. а, в рентгенографии металлов используются очень широко. Определены структуры чистых металлов и многих сплавов. Основанная на Р. а. кристаллохимия сплавов — один из ведущих разделов металловедения. Ни одна диаграмма состояния металлич. сплавов не может считаться надежно установленной, если данные сплавы не исследованы методами Р. а. Благодаря применению методов Р. а. оказалось возможным глубоко изучить структурные изменения, протекающие в металлах и сплавах при их пластич. и термич. обработке. [c.331]

    В последние годы нашел широкое применение в электрохимии метод сканирующей туннельной микроскопии (СТМ), как мощный инструмент для исследования топографии ц морфологии поверхности электродов и электролитических осадков от субмикронного уровня до атомного разрещения. Указанный метод позволяет также изучать формирование адатомных слоев и кристаллитов на поверхности подложки на начальных стадиях электрокристаллизации металлов. [c.44]

    Все используемые в технике кристаллизующиеся материалы являются поликристаллитами. Иначе говоря, все они состоят из множества кристаллических областей, каждая из которых граничит с другими кристаллическими или аморфными областями. Поэтому морфология кристаллизующихся материалов носит очень сложный характер. По этой причине основные характеристики их изучают на монокристаллах. Полимеры не являются исключением. Полимерные монокристаллы выращивают из слабоконцентрированных растворов. При температуре кристаллизации способный к кристаллизации полимер высаживается из раствора в виде крошечных пластинок (ламелей), имеющих все характерные черты кристалла, например регулярные грани (видны при электронной микроскопии), и дающих дифракционные картины, присущие монокристаллам. Необходимость применения электронного микроскопа или оптического микроскопа с большим увеличением обусловлена очень малыми размерами полимерных кристаллов максимальные размеры монокристалла ПЭВП составляют несколько мкм, в то время как его толщина очень невелика — порядка 100 А. Монокристаллы других полимеров имеют форму полых пирамид, которые часто закручиваются по спирали, что свидетельствует о существовании винтовых дислокаций. Детальное рассмотрение природы монокристаллов можно найти у Джейла [51, Келлера [6] и Шульца [7]. Наиболее вал<ная и неожиданная особенность монокристаллов состоит в наличии практи- [c.47]


    Применение электронной микроскопии для определения структурных несовершенств позволяет исследовать вещества с высокой плотностью дефектов. Малининым Ю. С. с сотрудниками методом прицельных углеродных реплик изучена топография поверхности свежих сколов синтетических материалов ЗСа0-5102, 2Са0-5102 и включающего их портландцементного клинкера. Было установлено, что плотность дислокаций в алите 10 2—10 , белите (0,5— 1)-10 2, промежуточном веществе Ю м- . [c.161]

    За 50 лет, прошедшие после разработки А. А. Байковым описанной теории твердения вяжущих, процессы эти весьма интенсивно изучались в работах советских и зарубежных ученых. Использование новых методов эксперимента—рентгенографического анализа, электронной микроскопии и других — наряду с широким применением чисто химических И физико-химических методов дали возможность весьма разносто- [c.171]

    Из прямых методов наиболее перспективным является метод электронной микроскопии, дающий детальную статистику распределения пор [30, 93]. Однако обработка электронно-микроскопических фотографий представляет собой весьма трудоемкий процесс. В настоящее время применяется метод изучения шлифов пород под световым микроскопом с применением статистической обработки и построением кривых распределения расстояния между стенками пор [8]. Л.И. Орлов и В.Ф. Малинин [61] предложили изучать специально подготовленную полированную поверхность исследуемой породы под микроскопом путем подсчета с помощью интегратора площади сечения поровых каналов. Оба эти метода очень трудоемки и имеют невысокую разрешающую способность, зависящую от данньЕХ световых микроскопов. [c.68]

    Пов-сть ТВ. тела исследуют непосредственно с помо1цью растровых микроскопов. При использ. просвечивающих микроскопов предварительно получают тонкие напыленные слои (реплики), копирующие исследуемую пов-сть, или специально уменьшают толщину участков образца до неск. десятков нм. Для изучения образцов большой толщины примен. просвечивающие микроскопы с ускоряющим напряжением до 5 МВ и просвечивающие растровые микроскопы. Методами Э. м. изучают структурные дефекты и микровключения в массивных образцах, тонких пленках и порошках. Наиб, перспективно применение комплексных электрон нозондовых приборов на базе электронных микроскопов с приставками для регистрации рентгеновских, электронных и др. спектров, определения параметров кристаллич. решетки и т. д. (см. Электроннозондовые методы). Такие приборы снабжают также устройствами для нагревания или охлаждения объектов, испытания их мех. свойств и др. [c.700]

    Какие способы позволяют наблюдать и изучать in situ клеточные белки Мы увидим далее, что сохранение белков и их макромолекулярной архитектоники вследствие участия белков во всех клеточных структурах составляет первостепенную проблему для цитологов. Последовательно рассмотрим цитологические и цитохимические приемы, используемые при световой микроскопии, а затем при электронной микроскопии классическую фиксацию, ультракриотомию, криовытравливание (низкотемпературное травление). Мы увидим также, что может дать для изучения белков применение новейших цитологических методов, таких, как иммуноцитохимия и радиоавтография. Далее мы попытаемся подвести итоги современных знаний о структуре и ультраструктуре запасных белков, об их генезисе и эволюции в клетках, будь то кристаллические протеины или белковые тельца. [c.126]

    Степень поражения и восстановления клеток эпидермиса и паренхимы листа огурца после нанесения вируса табачной мозаики изучены с помощью люминесцентной микроскопии с применением флуоресцеина. Показана способность растений к частичной репарации клеток после экзогенного внесения суммы флавоноидов из надземной части герани кровяно-красной и герани луговой. [c.20]

    Важной областью применения интроскопии является контроль сложных изделий и объектов радиоэлектроники и микроэлектроники [1, 16]. Известно применение тепловых методов для контроля многослойных печатных плат, где определяется утонение, под-травливание и отслаивание печатных проводников как на наружных, так и на внутренних слоях. В микроэлектронных изделиях с помощью микротермовизоров и инфракрасных микроскопов удается изучать особенности различных областей в слоистом полупроводнике и даже изменение от значения электрического напряжения ширины зоны запирающего слоя р-п-перехода. [c.221]

    Визуально-оптическим называют неразрушаюший контроль качества с применением оптических средств, позволяющих существенно расширить пределы естественных возможностей органов зрения человека. Он является техническим продолжением визуального контроля, дает возможность обнаруживать более мелкие дефекты и производить измерения с высокой разрешающей способностью (1—5 мкм). При проведении визуально-оптического контроля надо учитывать основные особенности ( 6.5), характерные для визуального контроля, так как в обоих случаях решающую роль играет оператор. Усилить возможности человека позволяют лупы, микроскопы, телескопические устройства и другие технические средства. Главным недостатком визуально-оптического контроля является снижение производительности проведения неразрушающего контроля. Поэтому обычно проводят многоступенчатый контроль осматривают поверхность изделия без оптических средств, выявляя крупные дефекты и подозрительные места, изучают эти места через лупу (однолинзовый микроскоп), а затем исследуют отдельные участки контролируемого изделия с помощью многолинзового микроскопа, последовательно повышая кратность его увеличения. При правильном выборе условий визуально-оптического контроля размеры элементов объекта или минимальных выявляемых дефектов 1т1а (в мм) уменьшаются в соответствии с оптическим увеличением устройства Кув- [c.239]

    Вследствие необходимости применения низкого давления (предельно допустимо не более 1,32 Па, т. е. 10- мм рт. ст.) маловероятно, что промышленные каталитические реакции могут быть эффективно изучены только этими тремя методами электронной микроскопии. Наилучшее использование этих методов предполагает дополнительное определение характеристик поверхности до и после реакции или исследование образцов методами хемосорбции. ЭОС применяли преимущественно для анализа поверхности, тогда как методы УФЭС и РФЭС —для изучения химического состояния поверхностных атомов или природы взаимодействия хемосорбированных радикалов. Эту работу иллюстрируют следующие примеры. [c.158]

    Горение объемных элементов (проволоки, ленты, стержни) изучалось Глассменом с сотр. [36, 37]. В этих работах металлические проволоки и ленты помещались в реакционную камеру с окислительным газом и нагревались джоулевым теплом. За процессом горения проволок или лент наблюдали визуально или фотографировали продукты сгорания изучали под микроскопом. Полученные данные позволяют создать картину горения металлов в окислительной среде различного состава и при различном давлении. Подобный метод применен в работах [37—40]. [c.241]

    При изучении поверхности раздела электрод - раствор обьино рассматриваются следующие вопросы а) строение собственно металлической поверхности (за исключением случая жидкого металла), б) состав и свойства межфазной области, представляющей собой тонкий слой раствора у поверхности металла, в) ориентация молекул в мзжфазной области, г) профиль электрического потенциала и поле внутри этой области, а также ее диэлектрические свойства. Двойной слой на элект] оде имеет толщину от 2 до 5 А в плотной части и от 10 до 1000 А (в зависимости от концентрации раствора) в диффузной части. С точки зрения специфической адсорбции растворенного вещества и растворителя существенный интерес представляет обычно только плотная часть двойного слоя, хотя в ряде случаев специфическая адсорбция (особенно анионов) тесно связана со свойствами диффузной части двойного слоя [21, 23]. Строение собственно электродной поверхности может быть изучено классическими металлографическими методами, но в последние годы широкое применение нашла сканирующая электронная микроскопия. [c.398]

    В ряде работ при помощи метода реплик были изучены изменения рельефа поверхности обычных ненористых стекол в результате различных технологических операций, действия протравливающих агентов, царапания и т. д. [22—26]. Применялось комбинированное исследование поверхности посредством светового, электронного и интерференционного микроскопов [24, 25]. Вначале реплику со сравнительно большого участка поверхности рассматривали в световом микроскопе и выбирали наиболее интересные места. Затем с этих мест, фиксированных при помощи специального нриспособления, получали реплики, пригодные для электрОпно-микроскопического исследования. Для определения величины неровностей рельефа исследуемой поверхности также применялись специальным образом подготовленные реплики, которые исследовались в интерференционном микроскопе. Исследования в электронном микроскопе проводили нри небольших увеличениях, используя большую глубину резкости прибора. Эти работы показали, что электронный микроскоп может дать важные сведения о состоянии поверхностного слоя стекла и применение его весьма полезно для выяснения таких вопросов, как пластичность стекол, размягчение их при высоких давлениях, особенности процессов шлифования и полировки стекол. [c.245]

    Кинетику этих процессов и нх результаты наиболее удобно изучать методом оптической микроскопии и методом фрактографии с последующим микросконированием. Первый метод дает особенно ценный материал ири применении фотографирования или даже киносъемки всего процесса. Этот метод, позволяющий исследовать как медленные, так и быстрые стадии процесса образования трещин, является основным при изучении микротрещин. Метод фрактографии состоит в изучении поверхности разрушения образца под микроскопом. Он дает возможность проследить за ростом микро- и макротрещин, их взаимодействием и т. д. [c.225]

    Биологический метод не требует проведения длительных анализов и наличия большой хорошо оснащенной лаборатории. Достаточно иметь микроскоп и приборы для сбора планктона и бентоса. Достоинством биологического метода по сравнению с химическим и бактериологическим является и то обстоятельство, что при его применении изучается все население водоема Б целом население дна, толщи воды, прибрежной растительности, подводных обрастаний, а данные хими кеского и бактериологического методов основаны на результатах анализа отдельных, небольших проб воды. Следует указать, однако, что биологический метод является значительно более субъективным, чем другие методы изучения загрязнения водоемов, и лица, его применяющие, должны иметь специальные знания и большой опыт. [c.162]

    Дисперсию каолина и монтмориллонита с применением ультразвуковых волн изучал Матьё-Сико, а нефелометрическим методом — Левавассер (см. А. П1, 26). Степень дисперсности полученного суспензоида изменяется в зависимости от применяемых частот. Максимум дисперсности у каолина достигается при 960 кгц, а у монтмориллонита — при 320 кгц. Значение методов дисперсии с применением ультразвука при изучении образцов в электронном микроскопе очевидно, так как суспензоиды, полученные с помощью постоянных частот, обычно бывают монодисперсными и конечный размер зерна представляет собой функцию длины волны. [c.235]

    В б и ниже настоящей главы был описан принцип оптического определения точек плавления, облегчающий исследование энантиотропных превращений при условии, если участвующие в ней фазы обладают отчетливо различными оптическими и кристаллографическими свойствами. Во многих случаях достаточно произвести лишь ориентировочные термооптические определения точек инверсии для точного же их определения необходимо применять статические методы. С этой целью весьма рекомендуются микропечи Наккена и Энделла во многих случаях даже более простые печи для микроскопа дают удовлетворительные результаты при определении низких точек превращения (например, в кристобалите). Исчерпыв.ающие описания термооптических свойств органических модельных веществ представил Кофлер (см. В, 1, 8), изучавший их с помощью метода, основанного на применении усовершенствованного микроскопа с нагревательным столиком. Таким образом, были хорошо изучены сложные явления изополиморфизма (см. А. I, 120). [c.394]

    Эрикссон [1176—1178] изучал молекулярно-весовое распределение ультрацентрифугированием и фракционным осажде-нисхМ, применением электронной микроскопии [1179] и другими методами [1180]. [c.392]

    Новый источник излучения — лазер (разд. 2.11.3 в [20а]) особенно удобен для использования в локальном микроспектраль-ном анализе. Важное преимущество лазера заключается в том, что с его помошью можно испарить контролируемое количество материала (от 0,1 до 1,0 мкг) точно с того места исследуемого образца, которое выбрано под микроскопом. Лучшая локальность анализа достигается с помощью неконтролируемого лазера с энергией, не превьплающей 1 Вт-с (мощностью не более 1 кВт), в сочетании со вспомогательной искрой. При кратере диаметром и глубиной 0,03—0,05 мм на фотопластинках с чувствительной эмульсией можно получить спектры, дающие информацию о главных компонентах. Так, например, можно прямым путем определять включения такого размера в относительно больших дендритных кристаллах и областях обогащения или изучать диффузионные процессы. Если это возможно, то практически целесообразно работать с лазером большой энергии накачки и с кратерами порядка 0,1—0,2 мм. Параметры вспомогательной искры среднего напряжения, которая создает микроплазму из облака паров, должны выбираться в соответствии со свойствами исследуемой пробы. На интенсивность спектра оказывают значительное влияние форма и юстировка графитовых игольчатых электродов вспомогательной искры. Чтобы обеспечить благоприятные условия для образования микроплазмы, необходимо эмпирически подбирать межэлектродный промежуток и высоту вспомогательных электродов над пробой. Загрязнение материалом, осевшим на концах вспомогательных электродов, можно исключить только применением новых электродов при каждой регистрации спектра. Желательно до регистрации спектра пробы несколькими разрядами [c.114]

    Физико-химические исследования показали, что триглицериды могут кристаллизоваться в нескольких кристаллических формах (модификациях). Такое явление носит название полиморфиз-м а. Особенно четко оно проявляется у глицеридов высокомолекулярных жирных кислот. Однокислотные глицерил,ы существуют преимущественно в трех полиморфных формах. При охлаждении расплавленный глицерид кристаллизуется. Сначала образуется наименее устойчивая, обычно наиболее легкоплавкая (ме-тастабильная), кристаллическая форма. Эта форма через некоторое время переходит в наиболее устойчивую, обычно с наимень- шей температурой плавления, кристаллическую форму. Изучать полиморфизм можно с помощью рентгеноструктурного анализа, микроскопическим методом с применением поляризационного микроскопа и термическим методом, используя дифференциальный пирометр акад. Курнакова. Термический метод основан на том, что при переходе одной кристаллической формы в другую происходит выделение или поглощение тепла. Поэтому на кривой охлаждения или нагревания вещества появляются изломы, соответствующие переходу одной кристаллической формы в другую- [c.80]

    Поточный ультрамикроскоп ВДК уже ряд лет серийно выпускается промышленностью и успешно применяется для определения счетной концентрации частиц аэрозолей с твердой и жидкой дисперсной фазой. По данным авторов прибора, модель ВДК-4 позволяет определять концентрацию частиц с размерами 0,05— 5 мк. Скорость прососа воздуха через трубку кюветы 2—4 мм1сек. Увеличение микроскопа 100 . Диапазон определяемых концентраций 1 —10 частиц в 1 см . На пути применения этого прибора для определения дисперсного состава имеются значительные трудности. Они связаны с градуировкой шкалы светового клина, а также влиянием скорости адаптации и чувствительности глаза наблюдателя. Кроме того, при помощи этого прибора можно изучать только распределение частиц пыли постоянного дисперсного состава и концентрации, чего в условиях производства чаще всего не бывает. [c.230]

    Электронный микроскоп — единственный прибор, позволяющий непосредственно видеть и изучать мельчайшие частицы (агрегаты атомов и молекул), из к-рых состоит большинство твердых тел естественного и тгс-кусственного происхождения. Совокупность этих частиц (тонкая структура) в значительной степени определяет свойства тел. Для успешного применения Э. м. следует хорошо владеть разнообразной методикой препарирования и параллельно использовать другие методы исследования. [c.478]


Смотреть страницы где упоминается термин Применение микроскопа для изуче: [c.77]    [c.687]    [c.389]    [c.687]    [c.700]    [c.47]    [c.91]    [c.323]    [c.825]    [c.471]    [c.614]    [c.436]    [c.395]    [c.188]   
Химическая литература Библиографический справочник (1953) -- [ c.0 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Микроскоп

Микроскопия



© 2025 chem21.info Реклама на сайте