Чувствительность микрофотометров

При фотометрировании спектральных линий по высоте приходится измерять почернения очень небольших участков спектрограмм. Чувствительность микрофотометра МФ-4, который мы использовали, оказывается в этом случае недостаточной. Приходится увеличивать ширину и высоту измерительной щели, что приводит к большим ошибкам в измерениях почернений. Для повышения чувствительности микрофотометра (на несколько порядков) можно заменить в нем фотоэлемент на фотоумножитель по схеме, приведенной на рис. 3. При такой замене прибор сохраняет высокую стабильность, а его чувствительность легко регулируется грубо — напряжением, подаваемым на фотоумножитель, и плавно — введением ослабителей, имеющихся в приборе. [c.200]

Чувствительность микрофотометров можно уменьшить либо ступенчато, либо непрерывно. В приборах с фотоэлементами это мож- [c.104]

Фотографический метод регистрации широко распространен, так как этот метод позволяет одновременно определять большое число элементов и обеспечивает его сравнительно высокую чувствительность ( 2%). При фотографической регистрации обычно не требуется никакой перестройки приборов при переходе от одного анализируемого объекта к другому. С помощью этого метода за один прием можно получить полный спектр сложного материала. Почернение спектральных линий, называемое оптической плотностью, измеряют с помощью микрофотометра. [c.45]

Плотность почернения зависит от времени экспозиции и энергии излучения. В цеховых лабораториях заводов отрасли ее определяют приближенно при помощи ступенчатого клина плотности. Для этого берут полоску пленки и экспонируют ее в одинаковых условиях таким образом, чтобы примерно каждый последующий сантиметр пленки имел экспозицию больше, чем предыдущий. Например, 30 с, 1 мин, 1,5 мин и т. д. После обработки такая пленка имеет ряд полос разной плотности почернения. Калибровку клина производят в лаборатории, имеющей денситометр или микрофотометр. Разность между значениями плотности почернения двух соседних участков снимка называется контрастностью изображения. Минимальная разность почернений, которую способен различить глаз человека, составляет примерно 0,02—0,03 [78]. Влиянием этого фактора определяется предельная чувствительность радиографического метода. [c.126]

Радиоизотопный анализ производных жирных и желчной кислот, приготовленных с использованием и разделенных методом хроматографии на бумаге, осуществляли путем непосредственного измерения радиоактивности пятен хроматограммы [91, 94, 95] или путем приготовления из бумажной хроматограммы авторадиограммы и последующего измерения интенсивности хроматографических зон с помощью записывающего микрофотометра [92, 93]. Использовали и жидкостные сцинтилляционные счетчики в комбинации с жидкостной колоночной хроматографией [96]. При использовании жидкостного сцинтилляционного счетчика в комбинации с тонкослойной хроматографией чувствительность метода, в котором применяется для определения динитрофенильных производных аминокислот [97], возрастала в сто раз, достигая 1 пМ 98] при воспроизводимости результатов d=6%. Анализируя аналогичным методом смеси кислот известного состава, можно идентифицировать анализируемые кислоты и оценить их количества. Определенным преимуществом диазометана является отсутствие пространственных эффектов при проведении вышеуказанных реакций. [c.154]

Цель работы познакомить с методом фотографической фотометрии и произвести измерение относительных интенсивностей спектральных линий. Работа состоит из двух частей. В первой части работы предлагается произвести измерение относительной интенсивности двух или нескольких спектральных линий в области одинаковой чувствительности пластинки (монохромная фотометрия), а во второй части измеряется относительная интенсивность линий, находящихся в областях разной чувствительности пластинки (гетерохромная фотометрия). В работе используются спектрографы ИСП-28 (или ИСП-22) 5и] ИСП-51 с камерой УФ-90 (УФ-89) и микрофотометр МФ-2. [c.221]

К сожалению, фотографическое детектирование спектра имеет несколько нел<елательных особенностей. Во-первых, поскольку экспозиция, проявление, закрепление и высушивание фотографической эмульсии является долгим процессом, время, необходимое для получения спектра, довольно значительное — обычно от нескольких минут до нескольких часов. Сравните это длительное время с относительно быстрыми временами срабатывания селективных детекторов, приведенными в табл. 19-1. Во-вторых, даже после того как фотографическая обработка закончена, спектральная информация, присутствующая в эмульсии, должна быть превращена в пропорциональный электрический сигнал, часто с помощью утомительной операции, требующей использования микрофотометра. В-третьих, фотографическое детектирование заве ,омо нелинейно относительно интегральной мощности излучения. Поэтому необходимо калибровать каждую отдельную эмульсию по спектральной чувствительности к излучению, если хотят получить количественные результаты. В-четвертых, хранение фотографической [c.635]

Влияние флуктуаций излучения в источнике света, дрейфа чувствительности фотоприемников и ошибки измерительного устройства может быть практически устранено модуляцией светового потока от линии периодическим сканированием спектра в окрестности линии с последующей регистрацией полученного переменного сигнала на частоте модуляции. Экспериментальная проверка этого способа [3.2] показала возможность зарегистрировать линии, интенсивность которых в 500 раз меньше интенсивности фона. При фотографической регистрации инструментальная ошибка микрофотометра при измерении разности почернений составляет 0,001—0,002 по шкале почернений. Такой точности, как правило, достаточно. Если же ее необходимо повысить, то достичь этого можно периодическим сканированием близких участков спектрограммы и измерением периодического сигнала на частоте модуляции. [c.29]

При предельно малых концентрациях определяемого элемента, когда линия видна не на всех спектрограммах, ошибка фотометрирования резко возрастает вследствие неточного выведения максимума линии на щель микрофотометра. Для исключения этой ошибки спектрограмму фотометрируют на микрофотометре МФ-4 при ширине щели 10 мкм (вместо обычных 100—200 мкм) и регистрограмму записывают на потенциометре ЭПП-09. В микрофотометре фотоэлемент заменен фотоумножителем ФЭУ-17, а потенциометр включен через катодный повторитель. Положение фона и максимума аналитической линии определяют по расстоянию от реперной линии. Сочетание этого приема с многократным последовательным фотометрированием высокой линии позволяет резко сократить ошибки фотометрирования и повысить чувствительность анализа на 1—1,5 порядка 293]. [c.122]

Рис. 3. Схема включения фотоумножителя, установленного вместо фотоэлемента в микрофотометре МФ-4 с целью увеличения его чувствительности 1 — стабилизированный выпрямитель на 500—1500 е 2 — фотоумножитель ФЭУ-25 3 — выход к гальванометру

Малые количества примесей (ЫО —1-10 5%) определяются, в основном, по последним аналитическим линиям, если же почернение последней линии превышает 100—120 единиц по логарифмической шкале микрофотометра, нужно пользоваться менее чувствительными линиями (см. таблицу). [c.487]

Чувствительность обнаружения элементов можно повысить, регистрируя некоторые спектральные линии с помощью микрофотометра [9, 10]. Сканируя окрестности аналитической линии с помощью фотоэлектрической установки и регистрируя флюктуации пропускания света в зависимости от длины волны с помощью самописца, можно выделить и надежно идентифицировать в полученной диаграмме слабые спектральные линии, которые не удается надежно наблюдать визуально под спектропроектором и которые нельзя четко отделить от флюктуаций фона или от слабых мешающих линий. [c.29]

Современные микрофотометры имеют несколько диапазонов чувствительности (обычно два-три). В этом случае высокой точности калибровки можно достичь не только на основном диапазоне 5i, но и на других диапазонах с повышенной чувствительностью. Тогда величины 5р, п и Гр, относящиеся к п-диапазону уменьшенной [c.105]

Статистический Р-вольтметр основан на принципе засвечивания фотопленки радиоактивным источником, укрепленным на его стрелке. Поскольку почернение пленки в определенной точке при данной ее чувствительности пропорционально времени, в течение которого стрелка находится против этой точки, то после обработки пленки микрофотометром можно получить кривую распределения напряжения во времени. Вид этой кривой напоминает кривую Гаусса. [c.280]

Опытным путем было найдено, что для спектральных фотопластинок, обладающих чувствительностью 1,3 ед. по ГОСТ, оптимальная экспозиция равнялась 20 сек. Фотометрирование осуществляли на микрофотометре МФ-2 при ширине щели 0,35 мм. Анализ проводили по методу трех эталонов — по абсолютным почернениям аналитических линий. Каждый образец ртути анализировали по двум параллельным навескам, т. е. по четырем спектрам. Вместе со спектрами растворов проб фотографировали спектры 3—4 синтетических (эталонных) растворов. [c.89]

Показания по Са, M/g, Fe занижены загрязнениями холостой пробы, и здесь имеется очень большой резерв повышения чувствительности. Так, например, для Са почернение линии 3933 A в холостом образце по ступени с пропусканием 100 % и применении фотопластинки СП-2 превышает 2,5 по шкале микрофотометра, и определение приходилось вести, применяя заведомо менее чувствительные фотопластинки (СП-1) и ступень с пропускаемостью 10 %. [c.107]

Использование меньшей ширины щели микрофотометра (5 мк, вместо обычных 100—200) при фотометрировании слабых линий при наличии фона привело к повышению чувствительности определения примесей в индии. Исследована [40] возможность увеличения чувствительности обнаружения путем съемки спектров на предварительно засвеченную фотопластинку при этом благодаря большей контрастности фотопластинки в области нормальных почернений по сравнению с областью недодержек достигается выигрыш в превышении сигнала от линии над фоном. Применение этого приема для дуги постоянного тока позволило повысить чувствительность обнаружения Ве по линии 3130 А с 0,05 до 0,0005 мкг. [c.130]

На одной фотопластинке (тип ЭС, чувствительность 2,8 ед. ГОСТ 2817—50) в одинаковых условиях фотографируют по 2—3 раза спектры концентратов и эталонов, помещенных в канал нижнего электрода (анода) с экспозицией 1,5 минут при ширине щели 0,015 мм . Фотопластинку со снятыми спектрами проявляют, промывают водой, фиксируют, снова тщательно промывают проточной водой и высушивают. Сухую фотопластинку фотометрируют на микрофотометре, пользуясь логарифмической шкалой и измеряя почернения линий определяемых элементов (по подходящей ступени ослабителя) и соседнего фона. [c.75]

В последнее время Цейссом выпущена новая модель микрофотометра, обладающая рядом конструктивных преимуществ (рис. 161). Проецирующая и отображающая системы построены по прежнему принципу. Пластинка располагается горизонтально, перемещение её, как и в ряде американских систем, может осуществляться не только рукой, но и мотором. Это позволяет, в соединении с короткопериодным гальванометром, довести скорость измерений до 10—-12 линий в минуту. Гальванометр и шкала соединены с прибором в одно целое. Шкала длиной в 5 см с 1000 делениями проецируется с помощью специальной системы на зеркало гальванометра и, отражаясь от него в увеличенном размере, отображается на экран М. На экране нанесён неподвижный указатель. При измерениях наблюдатель фиксирует этот указатель, — ему не приходится, следовательно, следить за меткой, движущейся по протяжённой шкале, как это имеет место в большинстве других конструкций микрофотометров. Чувствительность прибора составляет примерно 100 000—200 000. [c.152]

Несколько отличен по конструкции оптической системы микрофотометр Хильгера (рис. 162). Для увеличения яркости освещённого поля на спектрограмме используется, в соединении с объективом, цилиндрическая линза Ь. Она придаёт освещённому полю вид узкой нити с соответствующим увеличением освещённости это позволяет использовать. менее чувствительный гальванометр. Малые размеры освещённого пятна позволяют также не принимать специальных предосторожностей для устранения рассеянного света. При поисках линий и фокусировке размер освещённого поля увеличивается с помощью введения в ход лучей сферической линзы К- По удобству работы этот микрофотометр уступает моделям Цейсса. В настоящее время Хильгером выпущена усовершенствованная модель прибора. [c.152]

При уменьшении чувствительности микрофотометра в l/k раз (где e < 1) показание гальванометра, соответствующее почернению 5 = 0, будет G o = kGo, а показание, соответствующее почернению 5 для данной спектральной линии, будет G = kG. (Подобные соотношения можно также получить для шкалы пропускания.) Таким образом, если прибор с уменьшенной чувствительностью на незасве-ченном месте пластинки дает величину кажущегося почернения 5о или величину пропускания Го, которые соответствуют истинному почернению 5 = 0, то можно написать 5о = —Ig = Ig Tq. Если почернение измеряется на приборе с уменьшенной чувствительностью, то соотношения между кажущимися почернениями 5 или кажущимся пропусканием Т и истинными соответствующими величинами S и Т принимают следующий вид 5 = —Ig eG = 5о + S и —Ig Т = —Ig кТ = —Ig То — Ig Т. Эти соотношения можно преобразовать в другую форму [c.105]

При уменьшении чувствительности микрофотометра точность может возрасти, если работать с широкой щелью или если основная чувствительность прибора высока. Однако, чтобы на незасвеченном месте пластинки получить показание 5 = 0 или Г = 1 (100%), нужно существенно снизить чувствительность прибора. В противоположность этому при работе на более высоких диапазонах чувствительности можно достичь большей точности измерений. [c.106]

Под чувствительностью микрофотометра удобно понимать число делений по шкале, соответствующее прозрачному месту пластинки (//ц), делённое на площадь на пласинке, которой соответствует отсчёт (площадь щели фотоэлемента в мм", делёнг1ая на квадрат увеличения отображающего объектива). [c.152]

На основании всего этого была принята следующая методика для промеров рентгеновских спектральных линий испускания. Спектрограмма получалась при весьма мягком режиме работы рентгеновской трубки, проявлялась в стандартных строго контролируемых условиях, микрофотометрировалась при увеличениях 10, 20 или 50 раз и после дополнительного увеличения промерялась под фотоувеличителем. Измеренная нри этом величина индекса асимметрии должна была совпадать с истинным его значением, а полуширина исправлялась с помощью описанных выше кривых в соответствии с измеренной на фотометре МФ-2 величиной почернения соответствующей линии. Выборочное сравнение полученных этим методом значений истинной ширины линий с шириной целиком пересчитанных кривых неизменно приводило к хорошему совпадению результатов. Во избежание систематических ошибок измерения съемка, микрофотометрирование и промеры рентгенограмм проводились в параллельных опытах в разное время и при несколько отличающихся друг от друга чувствительностях микрофотометра. Возможная ошибка в значениях нолуширины линий, промеренных подобным методом, не превышала 4—5%. При измерении индекса асимметрии она возрастала иногда до 7%. [c.61]

Погрешность в определении координаты центра полосы при использовании микрофотометра равна 0,1 Ь (где Ь — ширина полосы на. интер-ферограмме). Это соответствует порогу чувствительности 5-10 мол. доли при Р = = 1,6 МПа. Ошибка в определении локального числа Шервуда лежнт в пределах 3— 6% [43]. [c.140]

При работе фотометодом информация об интенсивности дифракционного спектра содержится в почернении фотопленки, на которой зарегистрирована соответотвуюп1 ая дифракционная картина. Для проведения измерений почернения рентгенограмм используются специальные приборы — микрофотометры — и разработаны различные методики таких измерений [3]. При ионизационном способе регистрации дифракционного спектра его интенсивность может быть измерена непосредственно но числу квантов, рассеянных в данном направлении в единицу времени. Регистрация в этом случае осуществляется с помощью счетчиков квантов и позволяет избежать фотографической обработки пленки и измерений ее почернения. Все это сокращает время проведения рентгеновских измерений. Развитие и совершенствование электронной техники, в частности, создание новых счетчиков квантов, значительно повышает чувствительность ионизационных способов регистрации дифракционной картины. [c.119]

Таким образом, почернение становится мерой количества излучения, попавшего первоначально на фотоэмульсию. Сконструированы специальные приборы, микрофотометры, способные очень точно определять величины почернений. Бромистое серебро чувствительно не по всем длинам волрг Максимум чувствительности приходится на область около 450 пм. Чувствительность спадает быстро к 510 нм, в красную область спектра, и медленно, практически оставаясь постоянной до 250 пм, в сторону коротких длин волн. Начин 1Я с 240 нм начинает поглощать сама желатина. Поэтому фотоэмульсии, которые работают при 240 нм и короче, содержат очень малое количество желатины. [c.24]

Н. А. Ярош и сотрудники [98] описали метод определения малых количеств индия в материалах с высоким содержанием железа, возбуждая спектр в дуге постоянного тока между медным и угольным электродами. Нижний медный электрод затачивают в виде площадки 2x7 мм и обертывают медный фольгой, чтобы получить чашечку для помещения пробы. Фольгу закрепляют медной проволокой. В чашечку помещают растертую пробу, весом 20 мг. Верхний электрод заточен на усеченный конус. Спектр фотографируют на спектрографе КС-55 со стеклянной оптикой. Щель освещают трехлинзовым конденсором. Спектр фотографируют на пластинках Изоорто чувствительностью 45 единиц по ГОСТ. Экспозиция 4—5 мин. Сила тока дуги 6 а. Спектры фотометрируют на микрофотометре МФ-2. Измеряют почернение линии 1п 4511,32 А и фона вблизи линии с коротковолновой стороны спектра. Калибровочные кривые строят в координатах g и Д . В указанных выше условиях линии 1п 4101,77 и 1п 4511,32 А появляются на спектрограммах при концентрации индия 0,0005%. Однако приготовление медных электродов, обернутых фольгой, отнимает много времени. Н. А. Ярош и сотрудники [98] успешно применили угольные электроды, устраняя полосы циана при помощи хлорида натрия. Добавка к 20—25 мг пробы или эта-.лона 10—15 мг хлорида натрия полностью уничтожает полосы циана, не уменьшая чувствительности определения индия, если при трехлинзовой системе освещения применяют диафрагму высотой 1,2 мм. В нижнем угольном электроде высверливают отверстие диаметром 3 мм, глубиной 5 мм. В отверстие помещают тонко растертую смесь 20 мг пробы и 10 мг хлорида натрия. Верхний электрод заточен на усеченный конус. Экспозиция 3 мин. Сила тока дуги 5 а. Определение производят по линии 1п 4511,32 А почернение ее сравнивают с фоном. В этих условиях определят 0,0025—0,025% 1п. При определении более высоких концентраций индия работают при меньшей экспо- [c.216]

Выполнение определения. 20 м.г стандарта или предварительно истертого образца смешивают на часовом стекле с 20 мг буфера и количественно переносят в отверстие нижнего электрода глубиной 5 мм, диаметром 3,5 мм. Затем заполненный электрод, который служит катодом, помещают в угледержатель. Верхний электрод — анод, представляет собой угольный стержень, заточенный на конус, длиной 4 мм, диаметром 6 мм. Диаметр заточенной части 3,5 мм. С помощью шаблона устанавливают межэлектродный промежуток, равный 3 мм. Стандарты и образцы (по три навески каждого) сжигают в дуге постоянного тока при напряжении 220 в и силе тока 15 а, с экспозицией 3 мин. Освещение щели спектрографа трехлинзовое с промежуточным изображением, ширина щели спектрографа 0,008 мм, промежуточная диафрагма 2. Регистрация спектров производится на контрастные спектрографические пластинки, тип И (чувствительность 16 ед. по ГОСТу, размером 9X12). Фотопластинки проявляют в метолгидрохиноновом проявителе в течение 5 мин., промывают и фиксируют обычным способом. Затем на микрофотометре МФ-2 фотометрируют следующие пары аналитических линий Ga 2943,64 А и Sn 3034,1 А или Ga 2943,64 А и In 2932, 62 А. В качестве Бкутреннего стандарта можно использовать также фон вблизи аналитической линии галлия. [c.183]

Если состав анализируемых проб неизвестен, необходимо установить его на основании качественного спектрального анализа, пользуясь так называемыми контрольными линиями. Навеску пробы (эталона) смешивают с графитовым порошком (1 1), содержащим 1,5% В12О3, 60 мг смеси помещают в отверстие (диаметр 4 глубина 8 J tJ t) нижнего электрода — анода диаметром 6 мм и покрывают тонким слоем графитового порошка. Верхний электрод — катод затачивают на усеченный конус. Расстояние между электродами 3 мм, сила постоянного тока 8 а, экспозиция 60 сек. Щель спектрографа 0,015 мм. Регистрацию спектров производят на фотопластинках спектральные , тип. II. Для повышения чувствительности на одно место фотопластинки последовательно фотографируют спектры двух навесок одной пробы или стандартной смеси. На одной и той же фотопластинке трехкратно фотографируют двойные спектры каждой анализируемой пробы и нескольких эталонных смесей соответствующей серии. Экспонированную пластинку проявляют метолгидрохиноновым проявителем при 20° С в течение 4—6 мин. и фотометрируют с помощью микрофотометра МФ-2 следующие пары линий Оа I 2943,64 А и В1 I 2809,63 А. На основании данных фотометрирования строят градуировочные кривые в координатах логарифм концентрации Оа (Ое)—разность почернений линий Оа (Ое) и Вь Каждая точка на кривой представляет собой среднее значение из промера трех спектров. По данным фотометрирования в спектрах анализируемых проб тех же линий Са (Ое) и В1 по соответствующим градуировочным кривым находят содержание Оа (и Ое). [c.189]

И прибавляют третий компонент. При этом сразу возникает свечение. Позже выполнение опытов фотографическим методом было несколько усовершенствовано [46, 47]. Используют изоортохроматические контрастные пластинки чувствительностью 45—65 ед. ГОСТ, с которыми можно работать при красном свете. Обработку фотопластинки производят обычными методами, принятыми в количественном спектральном анализе проявление, закрепление, сушка. Далее пластинку фотометрируют на микрофотометре МФ-2 и определяют почернение 5 пятна и фона. Разность почернений А5 является мерой суммы света. В некоторых случаях для получения почернений в области нормальных значений приходится пользоваться ослабителями. [c.86]

Изучение спектрального, отражения производилось при помощи монохроматора УМ-2 и фотоумножителя ФЭУ-19 в области видимой части спектра й,при помощи спектрограф а ИСП-51 — в ближней инфракрасной области. Питание фотоумножителя обеспечивалось выпрямительным блоком высокого напряжения установки типа Орех . Во всех опытах напряжение, подаваемое на фoтoyмнoжиteль, было хорошо стабилизировано и составляло 1100 в. При фотографировании на спектрографе использовались фотопластинки Инфра-840 чувствительность которых увеличивалась вплоть до 1000 нм сенсибилизацией по методу, описанному в [2]. Полученные спектрограммы подвергались обработке на микрофотометре. [c.3]

Пробу помещают в кратер нижнего электрода (анода) глубиной 3 мн, диаметром 4 мм. Электроды предварительно обжигают в течение 15 сек. в дуге при силе тока 10 а. Спектры дуги фотографируют с экспозицией в 30 сек. при помощи спектрографа с дифракционной решеткой ДФС-8 (600 штрихов/лглг, область 3000А). Ширина щели прибора — 0,015 мм. На пути от источника к щели прибора устанавливается трехлинзовая конденсорная система. Применяют фотопластинки спектральные тип II, чувствительностью 16 ед. ГОСТ. Спектры проб и каждого эталона фотографируют по 3 раза на одной фотопластинке. На спектрограммах, полученных после проявления, фиксирования и сушки, измеряют почернение линий определяемых элементов при помощи нерегистрирующего микрофотометра МФ-2. м [c.197]

Этот же принцип компактности последовательно применяется и внутри каждой главы в описаниях методик по возможности избегаются многократные повторения и упор сделан на изложение дополнительных или измененных условий анализа относительно тех, которые приведены в начале каждого параграфа. Если не указаны тип и чувствительность применяемых фотопластинок, то это означает, что должен использоваться наиболее распространенный фотоматериал — спектрографические пластинки типа I. Не описываются также условия фотометрирова ния с помощью микрофотометра и некоторые другие условия, [c.9]

Измерения производились на кварцевом спектрографе ИСП-22 и микрофотометре МФ-2. Источником света служила водородная лампа БСФУ-3. Для фотографирования спектров использовались фотопластинки для научных целей, спектральные (тин 1, чувствительностью 1,4 единицы по ГОСТу). [c.173]

Вакуу.мные фотоэлементы и фотоумножители основаны на внешнем фотоэффекте. Поэтому границу чувствительности нельзя продвинуть достаточно далеко в сторону длинных волн, так как работу выхода электронов не удается достаточно сильно уменьшить. Легче осуществляется переход электронов между двумя веществами с разной работой выхода в фотоэлементах с запирающим слоем. Эти фотоэлементы не требуют внешнего источника тока и имеют чувствительность значительно большую, чем вакуумные. Их применяют в видимой и в самом близком участке инфракрасной области для измерений сравнительно больших световых потоков. К ним, например, относятся селеновые фотоэлементы, которые применены в микрофотометрах. Для измерения очень слабых световых потоков ими пользуются редко, так как трудно усилить фототок из-за низкого внутреннего сопротивления этих фотоэлементов. [c.210]

Для микрофотометра фирмы Цейсс величины 5о. измеренные на диапазонах чувствительности, соответствующих ступеням фильтра с пропусканием 50, 25 и 12,5%, равны 5о, 100/25 = 0-325, Хд дода = 0.166, 5о, 25/12,5 = 0,265 и, таким обра-8ВМ, 5о оо/25 = 0,491 и 5о оо/12,5= о,746, [c.106]

В качестве коллектора использовался угольный порошок марки ос. ч. 7-4 в количестве 60 мг. Концентрат анализировался в дуге постоянного тока (12а). В качестве электродов использовали фасонные угли марки ос. ч. 7-4 тин I и IV, расстояние между электродами 3 мм, время экспозиции 15 сек. Разрядный промежуток проектировался на входную щель спектрографа ИСП-30 ахроматическим кварцевым конденсором /= 75 мм). Ширина щели 0,015 мм. Одновременно фотографировался средний и нрикатодный участок плазмы дугового разряда на фотопластинки спектральные (тип III) чувствительностью 6 ед. ГОСТа. Аналитические линии фотометрировались на микрофотометре ИФО-451. Градуировочные графики строились в координатах As — Ig с, где As = — вф. Эталоны готовили выпариванием растворо солей определяемых элементов на угольном порошке. [c.221]

Поскольку процесс обработки и фиксации пластин подробно описан (Оуэнс, 1966, Мак-Кри, 19666, 1967), здесь будут обсуждены лишь несколько работ. Влияние проявителей различного типа и условий проявления на форму кривой чувствительности детально изучено Франценом и др. (1966). Кенникот (1966) усовершенствовал способ снижения вторичного почернения вблизи линий основы, вызванного вторичными ионами и третичными электронами. Поскольку эти частицы с низкими энергиями способны сенсибилизировать лишь поверхностные слои, процесс отбеливания проявителем эффективно снижает уровень фона, не влияя серьезно на чувствительность пластины к первичным ионам. Этот метод изучался также Кавардом (1968), который применил его к различным проявителям и увеличил чувствительность втрое (подробнее см. Кавард, 1969). После обработки фотопластины информацию можно получить либо визуально, либо — при количественных анализах — на микрофотометре, с которого ее можно передать на ЭВМ (гл. 6 и 7). [c.136]

Программы, записанные для систем пакетной обработки, исторически предшествуют программам для устройства с разделением времени, и являются основным методом машинной обработки результатов в масс-спектрометрии с искровым источником ионов. В литературе более или менее подробно рассмотрен ряд систем и программ для систем пакетной обработки. В большинстве из них исходные данные считываются с фотопластины вручную при помощи микрофотометра и печатаются на перфокартах или бумажной ленте. Одной из первых попыток обработки масс-спектрометрических данных с помощью простой программы пакетной обработки, записанной на языке ФОРТРАН, посвящена работа Кепникота (1964). Программа была основана на способе калибровки фотопластин, разработанном Черчиллем (1944). В более поздней работе (Кенникот, 1966) предложена новая система накопления данных. Система записывает на магнитной ленте в аналоговой форме профиль каждой спектральной линии, выбранной аналитиком для расчета. После проведения сканирования всех необходимых линий эта магнитная лента направляется в ЭВМ и объединяется с отпечатанными на картах дополнительными данными, необходимыми для идентификации линий и для расчета, — образуется пакет данных, ЭВМ снабжена приспособлением для перевода аналоговой записи на ленте в цифровую форму. Вулстон (1965) описал систему, в которую данные вводятся пробитыми на перфокартах. Для калибровки фотопластин было использовано уравнение Халла (1962). В формулу Халла входят два коэффициента, которые необходимо определять отдельно как для основы, так и для каждой примеси. Но программа составлена таким образом, что эти величины рассчитываются автоматически достаточно ввести в ЭВМ исходные данные для трех элементов. В программу входят все используемые обычно поправочные коэффициенты (зависимость чувствительности фотопластины от массы иона, учет фона, распределения ионов по зарядностям, коэффициенты относительной чувствительности) производится расчет пределов обнаружения, ошибок эксперимента и выдача полных результатов анализа. Эта программа была записана на языке ассемблера, соответствующем группе ЭВМ КСА-601. Очень гибкая программа на языке АЛГОЛ предложена Франценом и Шуи [c.227]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология