Эффект сканирования

Применение полученной математической модели к исследуемому конкретному процессу вызывает необходимость в некоторой детализации представления отдельных уравнений. Так, для исследованного процесса осушки воздуха силикагелем характерно наличие петли гистерезиса у изотермы адсорбции. Явление гистерезиса в процессах адсорбции описано, например, в [98], однако в литературе отсутствуют какие-либо сведения о математическом моделировании гистерезиса, который в случае циклического процесса осложняется еще эффектом сканирования. [c.108]

Многие исследователи, использующие двухлучевые спектрофотометры, пренебрегают возможностью почти полного поглощения в некоторых областях атмосферными парами воды и углекислым газом, особенно при 2320 и 1400-1700 см , в результате чего перо может становиться инертным и малочувствительным к оптическим сигналам. Быстрое сканирование в этих областях может дать спектр с явно повышенным уровнем шума, так как скорость сканирования сравнима со скоростью модуляции и два луча видят различные части атмосферных полос поглощения. (Аналогичный эффект можно наблюдать, если в монохроматоре пути обоих лучей не совсем одинаковы или количество рассеянного света в двух пучках различно, что возможно из-за загрязнений зеркал осветителя.) [c.58]

При контроле полуфабрикатов и изделий, имеющих форму, удобную для организации сканирования по их поверхности, наилучшие результаты дает проведение дефектоскопии с помощью нескольких способов получения и обработки информации. Например, дефектоскоп СН-20П [1] реализует дифференциальный метод с амплитудно-фазовой обработкой информации в сочетании с использованием поляризационных эффектов. [c.150]

Для контроля ПКМ и керамики предложен метод нелинейной трансформации упругих колебаний на дефектах [429, докл. 185]. В дефектной зоне упругий гистерезис больше, в результате вводимые колебания искажаются и появляются высшие гармоники. Искажение колебаний происходит также в результате трения поверхностей дефекта, его схлопывания. Принимают колебания путем сканирования поверхности пьезопреобразователем с воздушным акустическим контактом. Возможен также вариант с использованием виброметра. Приведен пример, когда при возбуждении колебаний частотой 225 кГц дефектная область фиксировалась на второй гармонике - 450 кГц. Метод выгодно отличается тем, что позволяет выбирать только опасные дефекты, влияю-шие на эффект упругого гистерезиса. [c.511]

Камеры Соколова не могут быть без затруднений использованы для изображения ультразвуковых импульсов ввиду более медленного (по сравнению с частотой ультразвука) процесса электронного сканирования, поскольку в пьезоэлектрическом приемнике нет эффекта запоминания (накапливания). По этим же причинам нельзя диафрагмировать ограниченные диапазоны времени прохождения ультразвука. Это является существенным недостатком, так как мешающие отражения не могут быть отсеяны. Ввиду отсутствия эффекта запоминания электронное сканирование при ультразвуковых импульсах действует только во время самих импульсов. Для построения полного изображения поэтому необходимо большое число ультразвуковых импульсов, так что время установления изображения получается очень большим. [c.300]

Статистика показывает, что 80 % всех дефектов (типа плен, царапин, строчечных неметаллических включений, вкатанной окалины и т.п.) вытянуты вдоль направления прокатки и движения полосы. Наилучшие условия для их выявления (образование максимальных магнитных полей дефектов и их фадиентов) достигаются при контроле в приложенном поле, имеющем направление, поперечное вытянутости дефекта. Поэтому при контроле центральной части полосы, в которой встречается до 70 % всех дефектов, требуется максимальная чувствительность. Полоса намагничивается и сканируется индукционным преобразователем в поперечном направлении, а ее края (где невозможно применить поперечные намагничивание и сканирование из-за краевого эффекта) - в продольном. [c.356]

Электрооптические и магнитооптические эффекты находят применение преимущественно в системах модуляции и сканирования света. Естественная оптическая активность широко используется в пищевой и химической промышленности для контроля качества различных веществ, в основном, растворов. [c.515]

Эффект смещает потенциал пика вдоль оси потенциалов (катодный пик в катодном направлении, анодный в анодном), уменьшает высоту пиков, сглаживает максимумы. Сложность заключается в том, что эффект изменяется нелинейно со временем сканирования. [c.93]

Изменение давления газа. Сканирование спектра изменением давления газа в камере с эталоном Фабри—Перо является простым и надежным способом, однако оно дает существенный эффект только при больших толщинах эталона. Показатель преломления газа п связан с давлением р линейной зависимостью [c.318]

Последний эффект достигается при условии правильного выбора частоты сканирования, отвечающего уровню флуктуаций в приемнике и частотному распределению флуктуаций в источнике света [748, 750]. Это положение иллюстрируется рис. 17 для дуги постоянного тока. (Аналогичная картина имеет место для дуги переменного тока н ряда других источ- ников.) Из рис. 17 видно, что величина флуктуаций в, источнике спадает с увеличением частоты, шум же в приемнике является белым и уровень его зависит от светового потока, падающего на приемник. Это обстоятельство дает возможность в каждом конкретном случае выбрать такую частоту сканирования, при которой флуктуации в источнике будут значительно меньше флуктуа ций в приемнике света. Таким образом, общая случайная ошибка анализа будет определяться в основном статистическими свойствами приемника излучения, т. е. будут созданы оптимальные условия для обнаружения слабых спектральных линий (см. 2.1.3). Следовательно, метод периодического, сканирования позволяет приблизиться к наименьшему пределу обнаружения аналитического сигнала, достижимому с помощью данного фотоэлектрического приемника. [c.64]

Излучение от радиоактивной пробы распространяется по всем направлениям, и некоторая доля излучения будет испускаться в направлении, почти параллельном пластинке. Когда детектор установлен стационарно и находится на незначительном расстоянии от пластинки, это излучение не регистрируется. Чем выше установлен детектор, тем больше потери, поэтому кажущаяся эффективность детектора уменьшается с высотой. В случае сканирования существует определенная вероятность, что излучение, испускаемое почти параллельно иластинке, попадает в чувствительный объем детектора в то время, когда детектор находится уже не над зоной это приводит к возрастанию числа зарегистрированных импульсов. Чем больше высота детектора, тем сильнее этот эффект. [c.162]

Для большинства неорганических систем достаточна стабильность и однородность около 1 Гс. Стабильность достигается питанием магнита от тонко регулируемого блока питания. В современных магнитах для непосредственного детектирования изменений напряженности поля и стабилизации могут использоваться датчики на основе эффекта Холла. Система сканирования, связанная с источником питания, позволяет линейно изменять магнитное поле во времени. Для упрощения интерпретации спектров надо, чтобы изменения поля были линейны и строго воспроизводимы. [c.39]

Для композиции на основе ПРЭ точки перегиба и максимума динамического модуля сдвинуты в область более высоких температур (478 и 508 К соответственно). Подтверждением того факта, что наблюдаемые эффекты действительно обусловлены химическим взаимодействием, могут служить результаты сканирования тех же систем, прогретых при 453 К в течение 8 ч (рис. 7.10, кривые 3, 3, 4, 4 ). Видно, что в данном случае максимумы tg б и перегибы на зависимостях Ig G — Т в указанном диапазоне температур не проявляются. В силу этого для отверждения эпоксидных композиций полиарилатом был выбран режим 453 К/8 ч. [c.149]

Важной особенностью при проведении зонального сканирования с прямым смешением адсорбента и раствора сцинтиллятора является необходимость вводить поправку на гашение. Одним из основных источников ошибок является разная скорость десорбции различных веществ в раствор сцинтиллятора. Эффективность счета в этом случае может меняться от пробы к пробе, и ее приходится измерять для каждого образца в отдельности. Несколько лучшие результаты дает применение тиксотропного геля, позволяющего получить суспензию адсорбента в сцинтилляторе. Для того чтобы избежать эффектов, связанных с различной растворимостью со- [c.93]

Перед сканированием необходимо убедиться, что с хроматограммы удалены все следы элюирующих растворителей. Некоторые органические растворители проявляют эффект гащения , величина которого может меняться по мере испарения растворителей в процессе [c.107]

Точное изменение чувствительности, которое свойственно фотоумножителю при изменении масс или энергий ионов, несомненно, зависит от диапазона масс и энергий ионов, а также природы материалов, используемых в конструкции первого динода. Тем не менее при электростатическом сканировании можно ожидать обратно пропорциональной зависимости между энергией и массой, поскольку энергия иона, входящего в фиксированную щель детектора, пропорциональна М) К При больших ионных токах в некоторой степени должны проявляться эффект масс и эффект насыщения, специфичный для каждого прибора. Если неизвестные образцы сравниваются со стандартными, то необходимость в калибровке показаний фотоумножителя отпадает. Однако наиболее перспективным представляется использование фотоумножителя для подсчета отдельных ионов, сводящее к нулю влияние небольших изменений чувствительности. [c.266]

Эффект постоянной времени самописца и скорости сканирования. Эти факторы обычно заметно влияют на контур линии, но в определенных широких пределах оказывают меньшее влияние на интегральные интенсивности. [c.31]

Пример № 6. На рис. 5.7 приведен типичный пример зависимости 0 = = /( ). Температура Та на кривой соответствует началу размягчения, интервал температур Тд—Тв—области текучего состояния и температура Тв— началу химических процессов, приводящих к потере текучести из-за структурирования (образования трехмерной сетки химических связей). Зависимость G = f T) и, соответственно, расположение точек Тд и Тв (в большей степени Тв) зависит от временного режима испытаний. При увеличении продолжительности выдержки (в случае изотермических испытаний, при которых температура при измерении G = f(Г) повышается ступенчато), а также при уменьшении скорости повышения температуры (сканирование по температуре) зависимость G=f(T) смещается (пунктирная линия), так что интервал Тд—Тв сокращается вследствие снижения Тв- Этот эффект — естественное следствие кинетических процессов, приводящих к тем более глубоким химическим превращениям, чем больше степень вытяжки при выбранной температуре испытаний. Сокращение интервала Тд—Тв приводит к усложнению процесса переработки (или формования изделия), так как требует увеличения скорости деформирования, что не всегда возможно. Может оказаться так, что интервал Тд—Тв вообще исчезнет, и поэтому в процессе переработки неизменно будут протекать термохимические процессы. [c.219]

Природу, структуру и электронное состояние промежуточного продукта. Для абсорбционной спектроскопии можно использовать источник белого света в сочетании со спектрографом для получения фотографически зарегистрированного обзорного спектра поглощающих соединений в реакционной системе. В других случаях для сканирования спектрального диапазона может применяться монохроматор с фотоэлектрическим приемником. Многие исследуемые короткоживущие интермедиаты обладают достаточно большим оптическим поглощением из-за наличия разрешенного электронного дипольного перехода на более высокий уровень энергии, В этом случае, например, триплетные возбужденные состояния могут наблюдаться по их триплет-триплетному поглощению. В общем случае индивидуальные полосы поглощения имеют тем большую амплитуду, чем они уже. Вследствие этого эффекта атомы имеют разрешенные линии поглощения с особенно большими амплитудами. При количественных измерениях поглощения обычно выбирается длина волны, при которой наблюдается сильная полоса поглощения и на нее не накладываются полосы поглощения других соединений, В экспериментах по оптическому поглощению в качестве источника света можно применять лазеры. Очень эффективны в лазерных абсорбционных исследованиях перестраиваемые лазеры на красителях, особенно для веществ с узкими полосами поглощения (таких, как атомы и малые радикалы), поскольку лазерное излучение отличается высокой монохроматичностью и узкой спектральной полосой. Повышения поглощения можно достигнуть, заставив световой пучок многократно пересекать образец с помощью соответствующего расположения зеркал в многопроходовом абсорбционном эксперименте. Вновь для этой цели превосходно подходят лазеры благодаря малой расходимости лазерного пучка. В ряде случаев можно создать источник света, который спектрально адекватен абсорбционным свойствам именно исследуемых соединений. Например, можно сконструировать электрические разрядные лампы, содержащие подходящие газы и испускающие резонансные спектральные линии (при переходе из первого возбужденного состояния в основное) многих атомов и простых свободных радикалов. Очевидно, что резонансные спектральные линии точно соответствуют длинам волн поглощения этих же веществ, соответствующим переходу из основного электронного состояния. Если эти атомы или простые радикалы присутствуют в реакционной смеси, то будет наблюдаться резонансное поглощение. Если спектральные ширины полосы испускания источника и полосы поглощения объекта исследования совпадают, то чувствительность абсорбционных измерений может быть высокой при различающейся избирательности, так [c.195]

НО В X- И У-направлениях. Типичная система сканирования с двойным отклонением, как показано на рис. 4.1, имеет две пары отклоняющих катушек, расположенных в полюсном наконечнике конечной (объективной) линзы, которые отклоняют нучок сначала от оси, затем возвращают его на оптическую ось, причем второе пересечение оптической оси происходит в конечной диафрагме. Такая система обладает преимуществом, состоящим в том, что, помещая отклоняющие катушки внутри линзы, мы оставляем незанятым пространство под линзой, и образец можно устанавливать близко к линзе (при уменьшении рабочего расстояния уменьшается коэффициент сферической аберрации). Помещая ограничивающую диафрагму во втором кроссовере, можно получать малые увеличения (большие углы отклонения) без уменьшения поля зрения диафрагмой [68]. Пучок за счет процесса сканирования перемещается во времени через последовательные положения на образце (например 1, 2, 3 на рис. 4.1), зондируя свойства образца в контролируемой последовательности точек. В аналоговой системе сканирования пучок движется непрерывно вдоль линии (развертка по строке), например в Х-направлении. После завершения сканирования вдоль линии положение линии слегка сдвигается в У-направлении (развертка по кадру), и процесс повторяется, образуя на экране растр. В цифровой системе развертки пучок адресуется в определенное место X— У-растра. В этом случае пучок может занимать только определенные дискретные положения по сравнению с непрерывным движением в аналоговой системе однако суммарный эффект остается одним и тем же. Дополнительным преимуществом цифровой системы является то, что цифровой адрес местоположения пучка точно известен и может быть воспроизведен, а следовательно, информация о взаимодействии электронов может быть закодирована по адресному коду по X и У в виде //, представляющей собой интенсивность каждого /-го измеряемого сигнала. [c.100]

Эффект такой анизотропии в некотором смысле можно. преодолеть за счет использования рртогональных разверток, когда поле зрения сканируется дважды во взаимно перпендикулярных направлениях и оба изображения складываются [89]. Более того, могут быть использованы дополнительные функции от производной, такие, как абсолютное значение первой производной (ёз/сИ), когда происходит обращение знака для спадающих сигналов, и вторая. производная по времени (1 5/сИ- [89]. Примеры формы сигналов, возникающих при такой обработке, схематически приведены на рис. 4.51. Эффекты дифференцирования и ортогонального сканирования на примере изображения края отверстия показаны на рис. 4.52. При сканировании в одном направлении а изобраи<ении, полученном в сигнале первой производной по времени (рис. 4.52, з), край отверстия выглядит светлым с одной стороны и темнее фона с другой. В месте, где [c.177]

Отражения более высоких порядков имеют место при значениях Ь, кратных его значению для отражений первого порядка. Обычно в спектрометрах выдаются показания непосредственно в значениях Ь. Реально в большинстве спектрометров с полной фокусировкой используются кристаллы, лишь изогнутые по радиусу кривизны 2Н, без шлифовки их поверхности до полного совпадения с кругом фокусировки, так как шлифовка кристалла приводит к потере разрешающей способности из-за увеличения количества дефектО В и зон с мозаичной структурой. Такой компромиссный вариант, известный как оптика Иоганна, приводит к некоторой расфокусировке изображения на детекторе, но не вызывает заметного ухудшения разрешающей способности. В другом типе спектрометра с оптикой Иоганна поддерживается постоянньгм расстояние от источника до кристалла и кристалл изгибается так, чтобы К менялась с изменением Я в соответствии с (5.2). Несмотря на то что механическое устройство спектрометра такого типа несколько проще, чем линейного спектрометра, лишь только некоторые кристаллы, такие, как слюда и Ь1Р, допускают повторный изгиб без значительных повреждений. По этой причине спектрометры с изгибаемым кристаллом практически не используются в микроанализе. Оптика Иоганна была реализована в другом приборе — в спектрометре с полуфокусировкой , в котором также остается постоянным расстояние от источника до кристалла. Но в этом приборе в карусельном устройстве монтируются несколько изогнутых кристаллов с различными радиусами кривизны, каждый из которых можно устанавливать в рабочее положение, вместо одного изгибаемого кристалла. Однако условие фокусировки для каждого кристалла строго выполняется только для одной длины волны, и поэтому для других длин волн будут иметь место некоторая расфокусировка и потеря разрешающей способности и максимальной интенсивности. Достоинство этого устройства заключается в том, что положение источника рентгеновского излучения на круге фокусировки менее критично, в связи с чем рентгеновское изображение, получаемое при сканировании электронного луча по поверхности образца, менее подвержено влиянию эффектов расфокусировки, поскольку изображение уже расфокусировано в целом. [c.194]

Еще раз подчеркнем .еобходимость иметь действительно плоскую поверхность образцов для всех случаев линейного или шагового сканирования, а также в случае их комбинации, когда образец механически перемещается относительно пучка электронов. В таких случаях регистрируемый поток рентгеновского излучения может меняться кай с уровнем фокусировки образца, так н из-за неровности его поверхности. При некоторых схемах геометрического расположения спектром1етра и образца этот эффект может привести к аномальным изменениям потока рентгеновского излучения для аиалиэируемых элементов и затруднить интерпретацию полученных. результатов. [c.166]

Этот эффект используют в аналитических целях, анализируя отраженные и прошедшие электроны. Измеряя интенсивности отраженных электронов как функцию местоположения тонко сфокусированного электронного пучка, можно получить изображение, контраст которого зависит от средних атомных номеров различных микроучастков образца. Изображение в отраженных электронах (ОЭ), получаемое при сканировании пучком поверхности образца, позволяет увидеть микроструктуру образца, обусловленную распределением среднего атомного номера (рис. 10.2-2). Этот ценный для микроанализа прием часто используют в ЭЗМА и РЭМ. [c.325]

Так же как и в СТМ, в методе АСМ можно работать в двух различных режимах режиме постоянной силы или режиме постоянной высоты. В режиме постоянной силы отклонение кантилевера (и, следовательно, величина силы) поддерживается постоянной при помощи перемещения образца в вертикальном направлении в соответствии с топографией поверхности. В этом режиме можно получить изображения больших и достаточно грубых участков образца без разрушения иглы и/или поверхности образца. В режиме постоянной высоты вертикальная позиция образца постоянна и регистрируется меняющееся отклонение кантилевера. В этом режиме можно достичь более высоких скоростей сканирования, что выгодно для устранения термических сдвигов при получении изображения с высоким разрешением. Однако следует избегать больших областей сканирования, поскольку становятся возможными эффекты разрушения иглы и/или поверхности. [c.376]

В ряде систем проекционной литографии принято Оопт = 0,7, что, с одной стороны, повышает крутизну пограничной кривой, дает при некоторых заданных пространственных частотах большие значения ОПФ (ЧКХ), а с другой стороны, еще не приводит к значительным осцилляциям интенсивности (что может, например, дать оконтуривание изображения — двойной край ), резонансным эффектам, характерным для когерентного освещения. Учет подобных эффектов, ограничивающих возможности фотолитографии, становится особенно важным при использовании лазеров в качестве источников излучения для формирования микроизображений [33]. При использовании лазеров в качестве мощных источников монохроматического излучения основной проблемой является именно уменьшение когерентности, существенно ухудшающей ( когерентный шум ) качество изображения и приводящей к резонансным эффектам в изображении, что особенно опасно при передаче сложной конфигурации. Снижение пространственной когерентности излучения может быть осуществлено различными способами—от временного усреднения путем вращения рассеивающих компонентов или сканирования по зрачку [33] объектива до создания специальных, например эксимерных, лазеров, дающих некогерентное излучение [21, 34]. [c.30]

В разделе 5.4 уже кратко отмечалось, что при измерениях по АРД-диаграмме при различных частотах можно получить некоторые дополнительные сведения о дефектах ввиду расширения характеристики направленности обратного излучения при более низких частотах даже и плоский дефект приближается к идеальному положению совпадения, пока его наклон в луче не слишком велик. Следовательно, при более низких частотах размер его получится большим, т. е. погрешность измерения уменьшится. Однако это уже дает сведения и о его форме круглый отражатель пе обеспечивает такого эффекта. Если этот принцип дополнительно сочетать с поясняемыми на рис. 19.13 и 19.14 наклонным сканированием и методом половинного значения, то согласно Кросгаку [276] мон<но будет составить алгоритм оценки дефектов (рис. 19.15). [c.394]

При выборе подходящей задней стенкн в качестве эквивалентного отражателя иногда приходится проявлять находчивость. Так, например, в случае очень большого корпуса двигателя с длинными цилиндрическими усиленными углами, предназначенными для размещения болтов, встретились трудности при их прознучнпанни по длине. Гораздо более благоприятный эффект был достигнут при радиальном сканировании. [c.510]

Так как диаметр детекторного элемента электрометра и расстояние между этими элементами составляют около 260 мкм, нерезкость изображения, сформированного с использованием указанных систем сканирования, составляет не менее 0,3 мм, что сравнимо с комбинацией вольфраматный экран - пленка, но превышает нерезкость многих промышленных систем визуализации радиационных изображений, например электрорентгено-фафических систем с использованием порошкового способа формирования изображений, которые могут выявить очень тонкие детали в радиационном изображении с помощью эффекта подчеркивания краев изображений. [c.99]

Для анализа состава и топологии распределения элементов по поверхности объекта (например, полупроводника) используют эффект ВРМБ (вынужденное рассеяние Мандельштама - Бриллюена). При облучении мощным лазером в спектре отраженного от объекта излучения возникают дополнительные частоты (линии-спутники), интенсивность и частота (длина волны света) которых характеристичны. Каждый элемент имеет свою характерную линию вторичного спектра, интенсивность которой пропорциональна его концентрации. В приборной реализации метода также используется механическое сканирование образца под лазерным лучом. [c.519]

Баллонная система напуска предусмотрена в большинстве конструкций масс-сиектрометров, предназначенных для исследования органических соединений (например, в отечественных приборах серии МХ). Она представляет собой нагреваемую камеру объемом 0,5—1,0л, связанную с источником ионов специальным устройством, обеспечивающим постоянную скорость попадания в него паров анализируемого соединения (молекулярный натекатель), и позволяет вводить в спектрометр не менее г индивидуальных веществ, достаточно летучих при давлениях 0,1—10 Па. К преимуществам этой системы относятся простота эксплуатации, возможность получения хорошо воспроизводимых спектров термически стабильных соединений и отсутствие ограничений на скорость сканирования. Главные недостатки — сравнительно большие требуемые количества вещества, возможность термического и каталитического разложения лабильных соединений на большой поверхности системы и значительные эффекты памяти (загрязнение анализируемого образца остатками предыдущих). Эти эффекты могут приводить к заметным искажениям масс-спектров фоном прибора и большим затратам времени на подготовку спектрометра к следующему анализу. Регистрация спектров соединений ряда классов (меркаптанов, пероксидов и гидропероксидов, гидроксиламинов, гидразинов и др.) с помощью такой системы практически невозможна. [c.22]

Предел регистрации следов элементов при помощи масс-спектрометра зависит от вторичных эффектов, которые будут описаны в следующем разделе. Небольшая часть ионов, соответствующих основе, распределяется по всему масс-спектру. Этот фон и ограничивает способность обнаружения следов. Фон можно снизить до величины, меньшей 1 млн" для массовых чисел, достаточно удаленных от интенсивных пиков. Для этого необходимы тщательное изготовление прибора и высокий вакуум в системе. Несмотря на эти меры, фон вблизи линий основы мо-м- ет достигать одной тысячной части их интенсивности. Наиболее-эффективный метод подавления фона — использование двух последовательно расположенных масс-спектрометров. Это было-установлено Герцогом (1959), Пиром (1963), а также Уайтом и Форманом (1967), которые достигли чувствительности анализа 1 млрд Ч Юстировка подобных тандемных приборов более трудна. Дополнительная сложность вызвана необходимостью одновременного сканирования обеих секций таким образом, чтобы они были с высокой точностью настроены на одни и те же массовые числа. Упрощенная модификация подобного прибора, имеющего одинарную фокусировку и поэтому лишь среднее разрешение, выпускается фирмой Аегоуас и обеспечивает чувствительность 10 млрд для газовых примесей на уровне следов. К сожалению, тандемные масс-анализаторы нельзя использовать в масс-спектрографах. [c.85]

Одно из преимуществ узкополосного перестраиваемого лазера заключается в возможности сканирования по линии, что позволяет непос1)едственно наблюдать весь контур коэффициента поглощения. Преимущества наблюдения всего контура при измерениях в химическом анализе, включающие разрешение перекрывающихся линий поглощения, будут обсуждены ниже. Немного контуров поглощения было непосредственно измерено с помощью техники сканирования спектра с использованием эффекта Зеемана [21] или с помощью непрерывного источника при сканировании монохроматором, синхронизованным с интерферометром [30]. Недостатком обоих этих методов являются экспериментальные сложности и ограниченное разрешение по длине волны, что делает необходимым для получения истинного контура поглощения устранение искажения экспериментальных результатов, вносимых аппаратной функцией. Эти методы не применялись в повседневной работе для аналитических измерений. Когда это возможно, легче наблюдать контур испускания в отсутствие самопоглощения и использовать этот контур как контур коэффициента поглощения [28]. Такой метод также включает процедуру восстановления истинных контуров по экспериментально наблюдаемым результатам. [c.149]

В более ранних спектральных исследованиях в средней ИК-области, за исключением работы Энна и соавторов [42], использовали обычные дисперсионные приборы. При этом наблюдалась только одна узкая область ИК-спектра при медленном сканировании частоты в различных температурных режимах. До недавнего времени это считалось оптимальной организацией эксперимента. Однако с разработкой алгоритма быстрого преобразования Фурье появились новые возможности в связи с созданием нового метода — инфракрасной фурье-спектроскопии (ИКФС). Применение этого метода для исследования полимерных систем обсуждается в недавно опубликованных обзорах [58, 59]. В двух монографиях [60, 61] применение метода рассмотрено глубже в связи с обычной дисперсионной спектроскопией. Основными достоинствами ИКФС для изучения температурных эффектов является быстрота, чувствительность и способ представления результатов. Вся средняя ИК-область (4000 — 400 см" ) может быть исследована, с такой же легкостью и затратами времени, как и узкая частотная область при использовании обычных дисперсионных приборов. Это преимущество становится очевидным, когда возникают трудности с термостабилизацией образца. Поэтому спектроскопистов больше не пугают затраты времени или тепловые флуктуации при исследовании всей средней ИК-области в разных температурных режимах [c.116]

Подробное рассмотрение зависимости формы градуировочных графиков от контура спектральных линий осуществлено в [220]. Применяя высокоразрещающий прибор (эталон Фабри—Перо в качестве интерференционного спектрометра со сканированием спектра путем изменения давления), а также обычную атомно абсорбционную аппаратуру, авторы провели измерения величин интегрального поглощения резонансных линий и поглощения в максимуме абсорбционных линий. Показано, что метод, основанный на измерении поглощения в максимуме абсорбционной линии, более чувствителен, чем метод, в котором измеряется полное поглощение. Авторами изучено также и влияние на форму градуировочных графиков эффектов реабсорбции в источнике света. [c.79]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология