Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Рентгеновская дифракция дифракция на монокристаллах

    Что же касается измерения степени кристалличности образца, то для этой цели с успехом применяются методы измерения плотности, теплот плавления, метод рентгеновской дифракции, метод инфракрасной спектроскопии, метод ЯМР широких линий и т. д., которые основаны па модели двухфазного строения полимеров, т. е. наличие кристаллических и некристаллических (аморфных) областей. Однако в данном случае возникает принципиальный вопрос о правомочности отнесения складок к аморфным участкам. Три последних метода, в которых применяется облучение образцов, позволяют в принципе измерять анизотропию их кристалличности, если образцы получены прессованием большого числа пластинчатых кристаллов. В этом смысле перечисленные методы дают информацию непосредственно о структуре поверхностного слоя, содержащего складки. В частности, как показывают результаты исследования методом ЯМР, относительное содержание участков, обладающих подвижностью, не превышает нескольких процентов. Отсюда следует, что на поверхности монокристаллов находится слой полимера, свойства которого близки к свойствам аморфного образца [52—54]. Кроме того, оказалось, что значения степени кристалличности монокристаллов полиэтилена, определенные перечисленными выше методами, находятся в пределах 80—90% [55—59]. [c.231]


    Чтобы определить углы, при которых происходит дифракция рентгеновских лучей, ориентированный монокристалл вращают в пучке рентгеновских лучей и определяют их интенсивность при угле отражения с помощью счетчика. Исследование структуры кристаллов проводится с помощью метода вращающегося кристалла фотографическая пленка движется по мере вращения кристалла таким образом, на фотографии можно избежать наложения одних пятен на другие. [c.573]

    При регистрации на фотопленке дифракционная картина рентгеновского излучения на монокристалле состоит из серий регулярно расположенных пятен, позиции которых зависят от размера элементарной ячейки и ориентации кристалла. Брэгг в 1913 году показал, что угловое распределение таких максимумов рассеяния можно рассчитать исходя из того, что процесс дифракции подчиняется законам геометрического отражения на серии плоскостей кристаллической решетки (рис. 11.2-5). В этих условиях максимумы интерференции будут наблюдаться только в том случае, когда параллельные дифрагированные волны (1, 2, 3 и т. д.) имеют разницу в пути с ближайшими соседями в Л(2тг). Условие Брэгга [c.396]

    Недавно удалось получить данные по дифракции рентгеновских лучей на монокристаллах триметилалюминия [37] (т. пл. 15°) при низких температурах. Мостиковые атомы углерода, очевидно. [c.154]

    РЕНТГЕНОВСКИЙ СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, дифракционный метод исследования атомно-молекулярного строения в-в, гл. обр. кристаллов, основанный на изучении дифракции рентгеновских лучей с длиной волны ок. 0,1 нм. Нек-рые задачи, вапр. определение положения части атомов в кристаллах относительно простого строения, можно решать с применением поликристаллич. образцов, однако по.чное определение структуры проводят на монокристаллах размером 0,1—0,5 мм. Использование полихроматич. излучения (метод Лауэ) позволяет получать сведения о симметрии кристалла и ориентировать его правильным образом. Для полного изучения структуры измеряют интенсивность максимально возможного числа рентгеновских дифракц. отражений с использованием монохроматич. излучения чем больше таких отражений, тем больше разрешение пра определении положения атомов. Обработка результатов измерений осуществляется на больших ЭВМ. По интенсивностям отра- [c.506]

    Основное для рентгеновской дифракции представление, которое подтверждается как качественно, так и количественно, состоит в том, что атомы внутри монокристалла располагаются регулярно. Можно считать, что они расположены на равноотстоящих друг от друга плоскостях. Дифракция от такой системы плоскостей происходит только в определенных направлениях, для которых выполняется закон Вульфа — Брэгга [c.166]


    Физические свойства вещества зависят от атомного состава, структуры, характера движения и взаимодействия частиц. Для определения этих параметров используются разнообразные физические методы исследования. К ним относятся методы, основанные на явлении дифракции рентгеновского излучения, электронов п нейтронов. Явление дифракции рентгеновских лучей на монокристаллах было открыто М. Лауз в 1912 г. Оно явилось началом рентгеноструктурного анализа твердых тел, жидкостей и газов. Советские ученые А. Ф. Иоффе, С. Т. Конобеевский, Н. Е. Успенский, Н. Я. Селяков одними из первых применили рентгеноструктурный метод для определения геометрических размеров кристаллических решеток и их пространственной симметрии, нахождения координат атомов кристалла, обнаружения преимущественных ориентировок (текстур), возникающих при деформации твердых тел, исследования внутренних напряжений, построения диаграмм состояния. Их основополагающие работы в этой области получили дальнейшее развитие в трудах Г. В. Курдюмова, Г. С. Жданова, Н. В. Белова, В. И. Данилова, В. И. Ивероновой, А. И. Китайгородского, Б. К. Вайнштейна и др. [c.4]

    Из сказанного следует, что кристалл, как правило, не является идеальным. Можно считать, что реальный монокристалл состоит из небольших и близко расположенных областей, идеальных в кристаллографическом отношении, но с несколько отличающейся ориентацией. Эти области отделены друг от друга более или менее плотными рядами дислокаций. Изучение рентгеновской дифракции подтверждает эту точку зрения. Твердое поликристал-лическое вещество имеет еще более сложную структуру. Оно состоит из ансамблей монокристаллов, связанных между собой более или менее прочными мостиками из монокристаллического, но деформированного веще- [c.24]

    Дифракция рентгеновских лучей в кристаллах. Рентгеновские лучи являются, как известно, поперечными электромагнитными волнами такой же природы, что и свет, но со значительно меньшей длиной волны (10 —10 см по сравнению с 10 см у видимого света). Когда рентгеновские лучи взаимодействуют с материальными частицами (атомами или ионами), содержащимися в плоскостях кристаллической решетки, каждая частица становится центром испускания сферической волны. Этот эффект обусловлен электронными оболочками, окрун<аю-щими каждый атом (см. ниже). Испускаемые излучения интерферируют, усиливая друг друга в определенных направлениях и гася в других. Эти направления обусловлены углом падения рентгеновских лучей и расстоянием между параллельными плоскостями атомов в кристалле. Таким образом, на фотографической пленке получается ряд пятен или колец (в зависимости от того, работают ли с монокристаллом или с кристаллическим порошком, спрессованным в таблетку), по положению которых можно определить расстояние между атомными плоскостями кристалла. [c.84]

    Структура хризотила. Определение структуры хризотила затруднено тем, что выделить монокристалл этого минерала для рентгеновского исследования практически очень сложно, а волокнистые агрегаты, которые могут быть исследованы методом рентгеновской дифракции, дают слишком размытые рефлексы. [c.23]

    Анализ внутренней структуры глобулярных белков велся различными методами химическими, оптическими, в частности определением поглощения в ультрафиолетовой или инфракрасной области спектра, а также измерениями оптического вращения, или дисперсии вращения. Очень эффективным оказался метод, основанный на использовании дифракции рентгеновских лучей на монокристаллах белка. [c.39]

    При наличии в молекуле той или иной симметрии, например идентичных субъединиц или протяженных спиральных участков, задача еще более упрощается. Все же, даже в наиболее благоприятных случаях, только один метод — дифракция рентгеновских лучей на монокристалле — может дать такое количество информации, которого достаточно для определения трехмерной структуры биополимера. Однако рентгеноструктурный анализ — это очень трудоемкий метод, применение которого связано с рядом ограничений. Получение с его помощью настолько хорошего качества данных, чтобы на их основе можно было найти точные координаты атомов, — скорее исключение, чем правило. [c.8]

    Эта концепция применима к дифракции в кристалле, поскольку кристаллическая решетка может быть описана с помощью набора параллельных плоскостей с различными расстояниями с/ между ними. Если пучок рентгеновских лучей падает на любой набор плоскостей под углом, для которого выполняется соотношение Брэгга, то из кристалла будет исходить единственный вторичный пучок. И на самом деле, когда на монокристалл вещества действует пучок интенсивного рентгеновского излучения, из него в различных направлениях испускаются многие тысячи более слабых пучков или отражений, как это показано на рис. 17.9. Угол между каждым отраженным пучком и падающим пучком излучения определяется расстоянием между рассеивающими плоскостями. [c.375]


    В основу классификации экспериментальных методов рентгенографии можно положить либо способ регистрации дифракционного спектра (фотографический или ионизационный), либо агрегатное состояние исследуемого объекта (поли- или монокристалл, аморфное вещество, жидкость или газ). Несмотря на существование единого физического подхода к проблеме дифракции рентгеновских лучей (см. Введение и гл. I), различия в методических особенностях экспериментальных исследований различных объектов весьма существенны и приводят к появлению специальных областей рентгеноструктурного анализа. Например, значительная информация о белках, полимерах и ряде других объектов сосредоточена в области малых углов рассеяния от нескольких угловых минут до 3—5 градусов. С позиций физики рассеяния рентгеновских лучей между этой и всей остальной частью дифракционного спектра нет никакой принципиальной разницы, однако, специфические экспериментальные трудности, в первую очередь — малая интенсивность рассеянного излучения, привели к созданию специального рентгеновского оборудования — малоугловых рентгеновских камер и дифрактометров [1]. [c.111]

    НЕЙТРОНОГРАФИЯ — метод изучения структуры молекул, кристаллов, жидкостей с помощью дифракции (рассеивания) нейтронов имеет много общего с рентгегюграфией. Дифракция нейтронов — типичное оптическое явление, аналогичное дифракции рентгеновских лучей, в котором ярко проявляются волновые свойства нейтрона. Для нейтронографических исследований требуются пучки тепловых нейтронов высокой интенсивности. Поэтому Н. начала развиваться лишь после строительства ядерных реакторов. Для исследования структуры вещества узкий направленный пучок тепловых нейтронов из реактора падает на монокристалл. Отражение нейтронных волн от кристаллической поверхности происходит в результате взаимодействия нейтронов с ядрами кристалла. Чтобы определить структуру кристалла, надо измерить углы, под которыми наблюдаются отражения первого порядка и интенсивность его. Н. имеет ряд преимуществ по сра-внлшю с рентгенографией благодаря зк1 чительному расширениво числа объектов исследования. [c.172]

    Для макрообъектов длина волны чрезвычайно мала и волновые свойства не проявляются. Например, в случае частицы массой в 1-10-3 движущейся со скоростью 1 м/с, А,= 10- нм. Другое дело в случае микрообъектов. Например, для электронов с энергиями от 1,60-10- до 1,60-10 Дж (от 1 до 10 000 эВ) длины волн де Бройля лежат в пределах (1н-0,01) нм, т. е. в интервале длин волн рентгеновского излучения. Для них волновая природа обнаруживается достаточно четко.. Первое экспериментальное подтверждение гипотезы де Бройля было получено в 1927 г. в опытах по-дифракции электронов на монокристалле никеля и по дифракции электронов,, движущихся в поле "с ускоряющим потенциалом, на монокристалле никеля и поликристаллических пленках алюминия и золота. В первом случае при напряжении порядка 100—200 В длина волны становилась соизмеримой с раз- [c.46]

    Много усилий было затрачено на определение молекулярной конформации таких естественных полимеров, как протеины, нуклеиновые кислоты и полисахариды. В одних случаях, например при определении конформации глобулярных протеинов гемоглобина и тиоглобина, исследования проводили путем изучения рентгеновской дифракции от монокристаллов Эти кристаллы не похожи на кристаллы синтетических полимеров, рассмотренных выше в природных полимерах молекулы обычно упаковываются в отдельные эллипсоидные элементы. [c.35]

    Молекулы в кристаллической решетке постоянно испьггывают поступательное, вращательное и в общем случае (но в существенно меньшей степени) внутреннее колебательное движение. Интенсивность этих движений при увеличении температуры возрастает, что приводит к увеличению эффективных размеров атомов это можно наблюдать при помощи метода рентгеновской дифракции, использующем в среднем 10 элементарных ячеек типичного монокристалла. Результирующее размазьшание электронной плотности учитьтает-ся в уравнении 11.2-2 в температурном факторе В (фактор Дебая—Уоллера), который связан со среднеквадратичной амплитудой атомного движения (и ), обозначаемой как U  [c.397]

    Данные, получаемые при помощи метода дифракции на порошках, сд-номерны. Так как для типичной кристаллической структуры можно ожидать до 100-200 измеряемых независимых брэгговских отражений hkl на атом, то перекрывание линий будет колоссальным для всех случаев, кроме самых простых. Хотя метод дифракции на порошках, конечно, на раннем этапе развития рентгеновской дифракции применяли для определения небольших структур, его ограничения по сравнению с исследованием монокристаллов (разд. 11.2.3) привели к длительному периоду относительного застоя. Однако структурное уточнение с аппроксимацией профиля по одномерным данным об интенсивности для дифракционных картин порошков при помощи метода Ритвельда привело к возрождению метода дифракции на порошках за последние 20 лет. Хотя применимость данного метода ограничена в настоящее время структурами с менее чем 200 параметрами (см. разд. 11.2.3), метод Ритвельда является весьма важным в материаловедении, где многие соединения, имеющие технологическое значение, доступны только в микрокристаллическом виде [11.2-2, [c.406]

    Тонкие пленки титаната висмута Bi4Ti30i2 были приготовлены из ацетат-гфоизводных растворов [179]. Пленки наносили на диэлектрические, полупроводниковые и проводящие подложки. По данным рентгеновской дифракции, кристаллизация пленок начиналась при 500 °С и ниже, при 700 °С получались монофазные пленки. Кристаллографическая ориентация пленок зависела от трех факторов типа подложки, числа наносимых слоев, условий термообработки. Преимущественно ориентированные в направлении с пленки получались на подложке из серебряной фольги, в направлении а—на кремниевой и платиновой подложках. Пленки были плотными, гладкими, не имели трещин, размер зерен составлял от 20 до 400 нм. Показатель преломления пленок был тем же, что и для монокристаллов. [c.266]

    Вследствие того, что монокристаллы монтмориллонита очень малы, наиболее полные сведения о структуре растворов монтмориллонита в воде получены с Помощью рентгеновской дифракции и дифракции нейтронов [8]. Эти измерения показывают, что в растворах в воде (а также и в органических жидкостях) алюмосиликатные пластины выстраиваются параллельно, на одинаковом расстоянии друг от друга, образуя стопки, причем расстояние между алюмосиликатными пластинами в этих стопках зависит от концентрации монтмориллонита в растворе и меняется в широких пределах. Одним из интереснейших фактов, обнаруженных в результате рентгенографических и нейтронных исследований, является существование полочек на кривых, описывающих изменение пространственного периода алюмосиликатных пластин в стопке при набухании монтмориллонита (рис. 3.11). Если из величины пространственного периода, соответствующего этим полочкам , вычесть толщину собственно алюмосиликатной пластины (10 А), то оказывается, что полученная таким образом толщина водного слоя кратна толщине одноатомного водного слоя, соответствующего структуре льда-1. Таким образом, при небольшом количестве воды, прилитой к монтмориллониту, меясду алюмосиликатными пластинами укладьшается целое число монослоев воды. [c.54]

    X, определяемая методами рентгеновской дифракции и дилатометрии остается неизменной удельная теплоемкость заметно небольшое увеличение подвижности цепей, регистрируемых методом ЯМР, ЭМ изучение этой области, как правило, не указывает на изменения в отдельных монокристаллах или блочных образцах. Что касается рентгеновских исследований в области малых углов, то для матов полимеров, например, найлонов, отмечают даже небольшое (5—10 А) уменьшение L, которое связывают с более плотным прилеганием ламелей друг к другу вследствие улучшения организации поверхностей складок (Keller, см. [87]). Предположения о регуляризации складок были подтверждены ИК-спектроскопическими работами [c.67]

Рис. 9.8. Типичная про-виция электронной оло-сиости, полученная по данным дифракции рентгеновских лучей для монокристалла. Рис. 9.8. Типичная про-виция электронной оло-сиости, полученная по данным <a href="/info/503290">дифракции рентгеновских лучей</a> для монокристалла.
    После приготовления образцов для электронно-микроскопических исследований производят их оттенение, что дает возможность оценивать толнцину пластинчатых кристаллов по ширине тени и углу, под которым производится наблюдение однако в большинстве случаев для этой цели пользуются измерениями методом рассеяния рентгеновского излучения под малыми углами. Если производить медленное осаждение монокристаллов из маточного раствора, то образуется многослойный осадок — именно благодаря пластинчатой форме кристаллов. Полученный осадок затем отфильтровывают и направляют пучок рентгеновских лучей параллельно поверхности высушенной пленки. В результате наблюдается карта распределения интенсивности рентгеновской дифракции по меридиану в случае горизонтального расположения поверхности пленки (рис. П1.14). [c.172]

    Фаза е-Т12Н(С4) имеет необычную тетрагональную структуру, которая родственна обеим структурам и объемноцентрированной кубической структуре р-Т1 и гексагональной плотнейшей упаковке а-Т1. Холмберг [21] определил атомные позиции в ней методом дифракции рентгеновских лучей на монокристалле. Атомные позиции и пространственная группа оказались следующими  [c.51]

    Наиболее изученным стареющим сплавом является твердый раствор меди в алюминии. Е ще в 1938 г. Гинье [96] н Престон [97] независимо друг от друга заметили на рентгенограммах от монокристаллов дюралюминия после естественного старения дополнительные рефлекты, приписанные авторами двумерной рентгеновской дифракции от образований, имеющих форму тончайших (в несколько атомных слоев )иластинок. Эти образования были объяснены скоплением атомов меди вдоль кристаллографических плоскостей 100 решетки алюминия. В дальнейшем они получили название зон Гинье — Престона или Г. П. [c.350]

    Дифракция рентгеновских лучей, являющаяся важным методом исследования макромолекул, подробно рассматривается отдельно в гл. 13 и 14. Здесь же мы обсудим в общих чертах лищь некоторые результаты исследований дифракции на монокристаллах. Рентгеноструктурный анализ позволяет получить трехмерную картину регулярного распределения электронной плотности в кристаллической решетке. Как правило, некоторую информацию о размере и форме макромолекулы можно получить из симметрии кристалла, его плотности и размера основного повторяющегося элемента (элементарной ячейки). Во многих случаях получают также данные о числе субъединиц и симметрии их взаимного расположения. [c.186]

    Наиболее быстро прогрессирующим разделом электрохимии в настоящее время является учение о кинетике и механизме электрохимических процессов. Развитие квантовой электрохимии позволило существенно прояснить проблему природы элементарного акта переноса заряда и подойти с единой точки зрения к реакциям переноса заряда в объеме раствора и на границе фаз. Своеобразие электрохимических процессов на границе электрод — раствор определяется их реализацией в области пространственного разделения зарядов, условно называемой двойным электрическим слоем. Теоретические и экспериментальные исследования строения двойного слоя составляют важный раздел современной электрохимии, новый этап в развитии которого ознаменован разработкой молекулярных моделей двойного слоя, применением прямых оптических методов in situ и мощных современных физических методов изучения поверхности ех situ (дифракция медленных электронов, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, Оже-спектроскопия и др.), использованием в качестве электродов граней монокристаллов. [c.285]

    Волновые свойства электронов получили убедительные экспериментальные подтверждения в опытах по их интерференции и дифракции, выполненных начиная с 1927 г. американскими исследователями К. Девиссоном, Л. Джермером и советским ученым П. С. Тартаковским. Электронограммы, полученные при бомбардировке электронами монокристаллов металлов, принципиально не отличались от рентгенограмм, полученных с применением рентгеновского излучения. Эти данные подтверждают, высказанное В. И. Лениным философское положение Условие познания всех процессов мира в их самодвижении , в их спонтанном развитии, в их живой жизни, есть познание их как единства противоположностей .  [c.56]

    В рентгеновских камерах применяется фотографическая регистрация излучения. Уже в первых опытах Дебая по дифракции рентгеновских лучей была использована камера цилиндрического типа, обидая схема которой оставалась долгое время неизменной, хотя детали ее конструкции изменились довольно значительно. К камерам подобного типа относятся камеры РКД-57, РКУ 6 и РКУ-114, которые до сих пор применяются во многих лабораториях. Простота конструкции и эксплуатации этих камер компенсирует в известной степени их недостатки (невысокие точность и разрешающую способность). В камерах РКУ-86 и РКУ-114 в качестве держателя образца можно применять гониометрическую головку для съемки монокристаллов то позволяет снимать рентгенограммы вращения и качания вдоль направления, близкого к оси головки, и с хорошей точностью получать данные о межплоскостных расстояниях, отвечающих нулевой слоевой [c.16]

    А. Нартен, Ц. Венкатеш и С. Рейс изучали структуру аморфного льда методом дифракции рентгеновского излучения и нейтронов. Образцы изготовляли при медленной (4 мг/ч) конденсации паров воды на плоскую поверхность монокристалла меди, находящегося в дьюаре при температуре жидкого гелия. Использовалось монохроматическое излучение молибдена. Опыт повторяли в течение 15 дней, и при этом изменение дифракционной картины не наблюдалось. Съемка производилась при 10 и 77 К. Исследования показали  [c.314]

    Рентгеновские лу ти представляют собой электромагнитные БОЛИН длиной порядка нескольк их ангстрем. Если n , 40K таких лучей направить на монокристалл, то произойдет дифракция и, помимо первичного пучка лучей, иаправле1[[Юго на кристалл, возникнет ряд дифрагированных лучен. ЛтомЬ[ и молекулы располагаются а кристалле строго закономерно, образуя трехмерную пространственную решетку. Наименьший кирпич , из которого строится пространственная ре1нетка, называется элементарной ячейкой кристалла. Размеры элементарной ячейки имеют тот же порядок величин, что н длина волны рентгеновских лучей. Это дает возможность наблюдать дифракцию рентгеновских лучей в кристаллах и использовать это явление лпя изучения их Структуры. [c.99]

    Рентгеновские лучи рассеиваются в результате взаимодействия с электронными оболочками атомов в-ва, нейтроны — с ядрами и маш. моментами атомов, электроны — с электростатич. потенциалом, создаваемым электронами и ядрами. Отношения интенсивностей рассеянного и падающего излучения для рентгеновских лучей и для нейтронов соотв. в W и 10 раз меньше, чем для электронов. Слабо рассеивающиеся рентгеновские лучи и нейтроны использ. в осн. для изучения монокристаллов размером 0,1—1 мм, электронные пучки — для изучения молекул в газовой фазе, поликристаллич., жидких и аморфных пленок толщиной 10 —10" см, монокристаллов размером ок. 0,1 мкм, а также поверхностей кристаллич. в-в. Дифракц. картина от монокристаллов — это система четких максимумов интенсивности, что позволяет рассчитать координаты атомов. Для аморфных в-в, к-рые, как и газы, дают размытую дифракц. картину в виде концентрич. колец, определяют лишь ближ-нии порядок атомов (расстояния между ближайшими атомами и координац. число Дифракция электронов на относительно простых молекулах газа (пара) позволяет определять межатомные расстояния в молекуле. [c.186]

    Для С. а. наиб, часто применяют рентгеновский структурный анализ (РСА) и газовую электронографию. Первый используют для определения строения соед. в кристаллич. состоянии он основан на дифракции рентгеновских лучей, проходящих через монокристалл. Интенсивности дифракц. лучей 1(к к I) связаны с координатами атомов ур г в элементарной ячейке соотношениями  [c.445]

    В 1912 г. Лауэ предположил, что длина волны рентгеновских лучей может быть примерно равной расстоянию между атомами в кристалле таким образом, кристалл может служить дифракционной решеткой для рентгеновских лучей. Этот опыт был проведен Фридрихом и Книппингом, которые действительно наблюдали дифракцию. Вскоре Брэгг (1913 г.) улучшил эксперимент Лауэ в основном путем замены монохроматического излучения полихроматическим и тем, что дал физическую интерпретацию теории рассеяния Лауэ. Брэгг также определил структуру ряда простых кристаллов, включая Na l, s l и ZnS. Со времени возникновения рентгеновской кристаллографии как науки рентгеноструктурный анализ монокристаллов превратился в наиболее широко применяемый и самый мощный метод определения расположения атомов в твердом теле. После 50-х годов с появлением быстродействующих электронно-вычислительных машин, способных обрабатывать рентгенографические данные, стал возможен более детальный анализ структуры таких сложных соединений, как белки. [c.565]


Смотреть страницы где упоминается термин Рентгеновская дифракция дифракция на монокристаллах: [c.276]    [c.181]    [c.42]    [c.506]    [c.263]    [c.251]    [c.90]    [c.158]    [c.35]    [c.189]    [c.232]    [c.147]    [c.143]    [c.206]   
Аналитическая химия Том 2 (2004) -- [ c.2 , c.401 , c.406 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Дифракция

Дифракция на монокристаллах

Дифракция рентгеновских лучей и определение параметров ячейки монокристаллов

Дифракция рентгеновских лучей, исследования на монокристаллах

Монокристалл

Рентгеновская дифракция



© 2024 chem21.info Реклама на сайте