Линии спектральные последние

Основы качественного спектрального анализа изложены ранее (см. книга I, гл. III, 9). Интенсивность линий спектра элемента зависит от концентрации этого элемента в исследуемой пробе, поэтому с уменьшением концентрации интенсивность многих линий настолько уменьшается, что их нельзя различить. Для открытия элементов пользуются так называемы.ми аналитическими линиями, или последними линиями- , которые можно обнаружить в спектре исследуемой пробы при предельно малой концентрации открываемого элемента. Например, последней линией в спектре натрия является линия, длина волны (л) которой равна 5890 А. Эта линия исчезает в спектре исследуемой пробы, когда концентрация натрия становится меньше 10 %. Перечень линий всех элементов приведен в спектральных атласах. [c.225]

По таблицам спектральных линий находим последнюю линию серебра — 3280,68 А и линию меди Хси = 3273,96 Л. [c.111]

Характеристическое время данного метода измерения определяется временем жизни возбужденного состояния Д/ = т, образующегося при поглощении соответствующего кванта энергии. В спектральных измерениях информация о величинах А/ заключена в параметре естественной (т. е. освобожденной от аппаратурных факторов) ширины линии Ду. Последняя в силу действия принципа неопределенности (см. разд. 1.2) [c.460]

В аналитической практике большую роль играет абсолютная чувствительность спектральных линий. Наибольшую интенсивность в исследуемой области спектра имеют линии с низким потенциалом возбуждения и соответствующие разрешенным переходам. Такие линии называют последними, так как они исчезают в спектрах эталонных и анализируемых образцов при уменьшении содержания элементов последними после исчезновения других линий. К их числу принадлежат также резонансные спектральные линии, которые соответствуют переходу из нижайшего возбужденного уровня на основной уровень. Основной уровень имеет особое значение в процессах излучения и поглощения, так как его заполнение всегда относительно велико. [c.648]

Обычно для проведения качественного анализа выбирают характерные линии данного элемента, так как проверка наличия всех спектральных линий потребовала бы очень большого количества времени. Обычно для анализа выбирают самые чувствительные спектральные линии. Такие спектральные линии называют последними , так как они исчезают в спектре последними при уменьшении концентрации элемента в пробе. Часто эти линии соответствуют переходам на нижний основной уровень и являются резонансными линиями. [c.249]

Щели и изображения линий. Это ограничивает возможности анализа веществ, обладающих многолинейчатым спектром, и обнаружения слабых спектральных линий. В последние годы благодаря усовершенствованию фотоэлектрических приемников, спектральных приборов, способов термостатирования установок и всей системы фотоэлектрической регистрации спектров стали применяться более узкие выходные щели. [c.63]

Сущность работы. Спектральный анализ на стилоскопе сводится к нахождению характерных линий искомых элементов в поле зрения окуляра при сжигании пробы в дуге. В спектре каждого элемента имеются линии наибольшей интенсивности, которые еще видны при самых малых содержаниях элемента и исчезают последними при уменьшении содержания данного элемента. Вследствие высокой чувствительности такие линии называют последними или аналитическими .Они характерны для каждого элемента и отличаются между собой по длине волны. Каждый элемент имеет свои характерные аналитические линии. [c.151]

Получающаяся спектральная полоса со-Орбиталь Символ сТОИТ ИЗ ЭЛеКТрОННОЙ, ВращатеЛЬНОЙ И а-Разрыхляющая о кОЛебатеЛЬНОЙ ЛИНИЙ, причем последняя п-Разрыхляющая п тонкую Структуру. Так как каждая [c.214]

Спектр каждого элемента состоит из большого числа линий разной интенсивности. По мере уменьшения концентрации данного элемента в пробе интенсивность линий уменьшается, в конце концов они исчезают . Некоторые наиболее интенсивные линии исчезают последними (их так и называют последними линиями ). Это обычно резонансные линии, т. е. линии, соответствующие переходу электрона с основного уровня на ближайший возбужденный они наиболее легко возбуждаемые, для их возбуждения требуется сравнительно малая энергия. Но линии эти обладают ярко выраженной способностью к самопоглощению и самообращению — явлениям, состоящим в поглощении невозбужденными атомами излучения, испускаемого возбужденными атомами. Поэтому интенсивность резонансных линий пропорциональна концентрации данного атома лишь при малых содержаниях его, вследствие чего эмиссионный спектральный анализ пригоден для обнаружения и определения примесных атомов, а не основного вещества. Естественно, что интенсивность и число линий зависят от способа возбуждения спектра, т. е. способа подвода энергии. [c.192]

При уменьшении содержания элемента в пробе интенсивность линий этого элемента в спектре будет уменьшаться, некоторые линии исчезнут и число линий уменьшится. При какой-то очень малой концентрации останется всего несколько линий. Это и есть последние линии, по которым обычно проводится качественный анализ. Последние линии хорошо изучены, их длины волн и характеристику интенсивности можно найти в специальных таблицах и атласах спектральных линий. Это обычно, но не всегда резонансные линии. В таблицах их часто отмечают индексами и, /г и т.д. или К), Кг и т.д. Индекс 11 показывает, что при возбуждении спектра в дуге эта линия исчезает последней, линия с индексом (/г исчезает предпоследней и т.д. Индексы 1, Кг и т.д. относятся к этой же последовательности исчезновения линий в искровом спектре. Однако эта последователь- [c.29]

Какие линии называют последними Как выполняют качественный спектральный анализ а) с помощью планшетов спектральных линий б) по последним линиям [c.168]

На основании измерений почернений спектральных линий с помощью микрофотометра нами были построены графики (см. фиг. 15). На них по оси абсцисс нанесены логарифмы концентраций (Ig ), а по оси ординат величины соответствующих отношений почернения фона пластинки к величинам интенсивностей анализируемых линий, выраженные через разность этих величин (AiS) и характеризующих относительную интенсивность линий. Эта последняя величина (AiS"), как уже было указано выше, является функцией концентрации элемента в пробе. Поэтому, чем больше содержания элемента в пробе, чем больше интенсивность его линий, тем большее значение имеет AS и, следовательно, тем выше положение точки, характеризующей последнюю на кривой. [c.118]

Указать в примечании примерную интенсивность последних спектральных линий, используя следующие градации очень интенсивная, интенсивная, средняя, слабая, очень слабая. [c.32]

Спектр атомного поглощения элемента проще эмиссионного, так как состоит только из спектральных линий резонансной серии. В то же время среди линий резонансной серии имеются такие, которые в спектре эмиссии отсутствуют вследствие высоких потенциалов их возбуждения. Последние спектральные линии некоторых элементов (Со, Сг) смещены в спектре абсорбции в более коротковолновую область по сравнению с наиболее яркой эмиссионной спектральной линией. [c.49]

Значительным достижением последних лет является освоение производства голографических дифракционных решеток (плоских и вогнутых). У таких решеток в спектре отсутствуют духи спектральных линий, а также фон, возникающий в спектре нарезанных решеток за счет рассеяния света на микронеоднородностях. В результате при регистрации спектра достигается более высокое отношение сигнал — шум. Голографические решетки могут быть изготовлены с весьма малыми астигматизмом и аберрациями. [c.72]

Далее свечение пламени с помощью линзы 6 превращается в слабо расходящийся пучок лучей, который проходит через абсорбционный светофильтр, выделяющий у определяемого элемента резонансную линию (натрий, калий, кальций) или молекулярную полосу (кальций). После пластинки 8 световой пучок попадает на интерференционный светофильтр 9. При этом часть излучения с узким интервалом длин волн, соответствующим полосе пропускания интерференционного светофильтра, проходит через светофильтр и попадает на фотоэлемент 11 основного канала, остальная часть излучения частично поглощается, частично отражается. Отраженный свет направляется в компенсационный канал с помощью пластинки 8, проходит через оптический клин 12 и попадает на фотоэлемент компенсационного канала 14. Фотоэлементы основного // и компенсационного 14 каналов включены навстречу друг другу, поэтому их электрические сигналы вычитаются. Таким образом, прибор регистрирует полезный сигнал, из которого исключен сигнал мешающего элемента (за счет последнего возникает инструментальная ошибка). Уменьшая или увеличивая прозрачность оптического (17 на рис. 13) клина, можно полностью сбалансировать постороннее излучение, прошедшее через интерференционный светофильтр. Это относится к собственному излучению пламени. Такую операцию выполняют на сухом пламени перед началом работы. Следовательно, оптическая схема фотометра ПАЖ-1 позволяет регистрировать аналитический сигнал определяемого элемента, исключить фоновое излучение пламени в этом спектральном интервале и скомпенсировать спектральные помехи, возникающие в присутствии посторонних элементов, если их спектральные линии или полосы не совпадают с шириной пропускания интерференционного светофильтра. [c.29]

Если же последние линии не обнаружены или соотношение интенсивностей рассматриваемых линий не соответствует табличным данным, то из специального справочника спектральных линий следует выписать все элементы, линии которых совпадают или близки к исследуемой линии в пределах разрешающей способности спектрального прибора, т.е. в пределах 0,05 нм. Из всех выписанных элементов следует исключить такие, которые заведомо не могут присутствовать в исследуемой пробе (например, газы), а также элементы, линии которых практически не появляются в выбранном источнике возбуждения (т.е. в дуге). Оставшиеся в списке элементы отождествляют при помощи соответствующих последних линий. Во втором случае, т.е. когда на планшете нет линии исследуемого спектра, прибегают к определению длины волны исследуемой линии и ее отождествлению. Для этого выбирают в спектре железа по обе стороны от исследуемой линии две линии железа, которые различаются между собой длинами волн не более чем на 1 им. Выписывают длины волн в спектре железа из атласа (Х и Х2), затем линейкой или миллиметровой бумагой измеряют расстояние на экране спектропроектора (в мм) между исследуемой линией и обеими линиями железа (соответственно Д и Ог). Длину волны иссле- [c.202]

Нахождение в спектре пробы линий заданного элемента. Выписывают из таблицы спектральных линий (см. приложение 1) наиболее чувствительные ( последние ) линии искомого элемента. С помощью дисперсионной кривой и планшетов спектральных линий на спектропроекторе находят в спектре железа те линии, между которыми должны располагаться выписанные последние линии. Измеряют [c.203]

Строение молекулы (ее симметрия) проявляет себя отчетливо в колебательном спектре, отражаясь в его характерных особенностях — числе полос, значениях частот, поляризации линий комбинационного рассеяния, интенсивности спектральных линий и их контуре и т. п. Вся совокупность данных, а не одна из особенностей позволяет установить строение многих малых молекул. В табл. 16 отражены формы колебаний и активность в ИК- и КР-спектрах газов ряда конфигураций малых молекул. Обычно для исследуемой молекулы возможно предположить исходя из соображений симметрии или химической интуиции несколько равновесных конфигураций, для каждой из которых характерно определенное число полос, соотношение между их интенсивностями и т. д. Сопоставляя имеющиеся спектральные данные с предполагаемой моделью, определяют наиболее вероятную конфигурацию (структурный анализ). Например, для молекул ВОз можно предположить две структуры — плоскую (0 ) и пирамидальную (Сзг,). Для последней в ИК- и в КР-спектрах активны все четыре колебания М1, М2, УЗ, Для плоской конфигурации в ИК-спектре активны три частоты кроме ух), а в КР-спектре — тоже три (кроме Уа). Для молекулы B я в КР-спектре найдены всего три фундаментальные частоты 471, 956 и 243 см 1. Из них наиболее интенсивна первая. В ИК-спектре обнаружены полосы при 460, 956 и 243 м . Таким образом, пирамидальная конфигурация отпадает, молекула должна быть плоской (см. табл. 16). Линия 471 см 1 в КР-спектре должна принадлежать полносимметричному колебанию у1 как наиболее яркая в КР-и отсутствующая в ИК-спектре. Вывод о плоском строении молекулы ВСЬ подтверждается методом изотопного замещения. Из табл. 16 (см. молекулы ХУз симметрии Оз ) видно, что только в полносимметричном колебании У1 (ВСЬ) = 471 см ядро атома бора не смещается от положения равновесия. Следовательно, только частота [c.175]

Качественный спектральный анализ можно проводить визуальным и фотографическим методами. Последние линии определяемого элемента в визуальном методе отыскивают при помощи стилоскопа (см. 12). [c.225]

Эмиссионный спектральный анализ основан на изучении эмиссионных спектров (спектра испускания или излучения). Каждому химическому элементу свойственен свой индивидуальный линейчатый спектр испускания, состоящий из ряда линий с определенными длинами волн. Наличие в спектре излучения этих линий дает возможность судить о наличии искомых элементов в исследуемом образце. Сначала наблюдают их в спектре анализируемого вещества, затем по имеющимся атласам и таблицам спектральных линий определяют принадлежность этих линий тем или иным элементам, что и позволяет устанавливать присутствие последних (качественный спектральный анализ). [c.181]

На практике, однако, концентрацию определяемого элемента находят не по этой зависимости, т. е. не по измерению абсолютного почернения линии, так как оно может значительно колебаться при небольших изменениях условий испарения и возбуждения пробы, обработки фотопластинки и т. д. Поэтому при любом Количественном методе эмиссионного спектрального анализа работают с относительным почернением линии, т. е. по методу сравнения ее с другой линией спектра. Последняя может принадлежать основному компоненту пробы или специально внесенному для этой цели веществу — внутреннему стандарту. Пару линий, почернение 0-торых сравнивают, называют аналитической парой. Наиболее точные результаты получают тогда, когда линии аналитической пары являются гомологическими. В некоторых случаях можнЬ сравнивать почернение с фоном пластлнки. [c.365]

Для многих аналитических задач спектральная селективность лазеров по крайней мере столь же важна, как и интенсивность их излучения. Одним из примеров является спектроскопическое разделение изотопных молекул. Однако при использовании лазеров с фиксированной частотой излучения приходится искать благоприятных совпадений по частоте между лазерными линиями и линиями поглощения молекул. Для большинства ирименений иреимущества, даваемые лазерной спектроскопией, реализуются в полной мере только для перестраиваемых монохроматических лазеров, частоту излучения которых можно изменить таким образом, чтобы она совпадала с центром любой желаемой молекулярной линии. За последние годы в разработке перестраиваемых по частоте лазеров достигнуты значительные успехи и уже имеются несколько коммерческих образцов, перекрывающих спектральные области от ультрафиолетовой до инфракрасной частей спектра. Различные методы перестройки в представляющем интерес спектральном диапазоне обсуждаются в разд. 5.2.2. [c.243]

Интенсивность излучения элементов гораздо выше, когда проба бомбардируется пучком электронов. При этом сокращается время набора импульсов, а граница определяемых элементов значительно смещается в сторону более легких из них. Это говорит и о том, что повышается чувствительность возбуждения спектральных линий. Однако последнее не следует путать с чувствительностью самого анализа без применения амплитудной селекции импульсов, т. е. энергетической дисперсии (см. с. 241 и 246), реальная чувствительность анализа в этих случаях гораздо ниже, чем при флуоресцентном методе. В то же время анализ с нанесением пробы на анод рентгеновской трубки не совсем удобен для обычной работы и к тому же достаточно длителен. Практичнее оказались способы анализа обособленной пробы флуоресцентным методом и с рентгеновскими трубками без окон. В настоящее время особое внимание уделяется модели такой трубки, сконструированной в виде электронной пушки . В ней при высоком вакууме и в сильном электрическом поле электроны приобретают большую скорость, выходят через узкое выходное отверстие и бомбардируют электронентральную пробу. Форма пробы и ее подготовка к анализу в этом случае ничем не отличаются от применяемых в пракпп ре1 Тгенофлуоресцептного метода анализа. [c.202]

В тридцаты.х годах источник света с полым катодом широко применялся при нсследовании сверхтонкой структуры спектральных линий. За последние годы источники этого типа находят все большее применение и в спектральном анализе, хотя впервые он был использован для анализа смеси газов в 1934 г. В 1947 г. разряд с полым катодом был применен для анализа на галогены а позднее также для решения более простых задач — анализа стали и анализа щелочных элементов р ]. [c.249]

При проведении качественного анализа, когда требуется установить наличие того или иного элемента в пробе, можно пользоваться любыми подходящими линиями, исключая эффект наложения. Однако для обнаружения малых и предельно малых концентраций необходимо пользоваться наиболее интенсивными линиями, находящимися в доступных для исследования областях спектра. Такие линии называются последними, так как при уменьнтении концентрации исчезают в спектре последними. Вообще говоря, наиболее интенсивными в спектре являются резонансные линии, однако, как было указано в 6, иногда они располагаются в вакуумной области спектра, недоступной для кварцевых спектрографов, плироко применяемых для практического спектрального анализа. Сгп ски последних линий атомов и первых ионов всех элементов приводятся в справочниках для спектрального анализа и в таблицах спектральных линий. [c.28]

Исследования, проведенные в последнее время, и особенно материалы, собранные в настоящей книге, показывают, что линии комбинационного рассеяния представляют собой узкие спектральные полоски, полуширина которых значительно превышает полуширину возбуждающей линии. Эта последняя не превосходит обычно 2 см 1, если в качестве источника применяется ртутная лампа ПРК-2, горящая в нормальном режиме (ток около ЗА). В то же время собственная полуширина линий комбинационного рассеяния для большинства веществ достигает 4—6 см и нередко имеет еще большее значение. Лишь очень ограниченное число линий, соответствую1Цих нолносимметричным колебаниям некоторых ароматических и нафтеновых углеводородов, имеет собственную полушири-нз% равную примерно 2 см . Таким образом, полуширины линий, получаемых на спектрограммах, обычно бывают не меньше 5—6 см . [c.22]

Этим требованиям удовлетворяет метод появления линий (метод последних линий), который в течение ряда лет разрабатывается и усовершенствуется в лаборатории спектрального анализа ИГЕМ АН СССР. [c.110]

Стал применяться метод комбинационного рассеяния, разработанный Г. С. Ландсбергом и Л. И. Мендельштамом в СССР и С. Раманом в Индии. Этот метод заключается в следующем. Если просвечивать какое-либо вещество (в данном случае нефть или ее фракцию) монохроматическим, т. е. имеющим строго определенную длину волны, светом, то на фотопластинке, кроме спектральных линий источника света, обнаруживаются другие линии вследствие рассеяния света веществом, а также линии, характеризующие состав последнего. [c.219]

Представлены полученные на частоте 25.18 МГц с использованием методики вращения под магическим углом спектры высокого разрешения С ядерного магнитного резонанса ряда углеродных продуктов (графит, алмаз, стеклоуглерод, пироуглерод, фуллерены и фуллереновые сажи), а также промежуточных и конечных продуктов карбонизации полигетероариленов. Проведен анализ формы линии сигналов ЯМР. С помощью метода деконволюции получены спектральные характеристики основных структурных составляющих единиц исследуемых продуктов. С помощью программы расчета химических сдвигов проведено моделирование предполагаемых структурных единиц и расчет основных спектральных х )актеристик последних для ряда углеродных веществ, что позволяет высказать ряд предположений как о структуре (на уровне ансамбля атомов) углеродных продуктов, так и структурных последовательностях процесса карбонизации полимерньк веществ. [c.81]

Температура пламени ниже температуры дугового и искрового разр5[да, поэтому вероятность перехода электронов на более высокий энергетический уровень мала и интенсивность соответствующих спектральных линий невелика. В пламени, как правило, получают линейчатые спектры. Обычно в спектре появляются только резонансные и основные линии (соответствующие электронным переходам с первого возбужденного уровня на основной), которые являются наиболее интенсивными. Это и есть последние линии спектра. При подводе большого количества энергии к атому электроны могут даже удалиться из [c.373]

Рефрактометр типа РЛ. Данный рефрактометр (рис. 3, б) предназначен для определения показателя преломления жидкости и концентрации веществ в водных растворах — продуктах сахарного производства (масс. %). Пределы измерения а) по шкале показателей преломления от 1,300 до 1,540, цена деления 1 пгу, б) по шкале сахарозы от О до 95%, цена деления в интервале от О до 50% —0,2 и в интервале от 50 до 95% —0,1. Рефрактометр состоит из основания /, на котором установлена колонка 2, несущая корпус прибора. К корпусу крепятся верхняя 7 и нижняя 5 камеры Аббе. Нижняя камера 5, в которую заключена измерительная призма, жестко закреплена на корпусе. Верхняя камера 7, в которой находится осветительная призма, соединена шарниром 6 с нижней камерой и может поворачиваться относительно последней. Обе камеры полые и имеют штуцера 8, на которые надеваются резиновые трубки для соединения камер с термостатирующей установкой. Для контроля температуры служит термометр 10 в о праве, который соединен непосредственно с ниж-ней камерой. Нижняя и верхняя камеры имеют окна, которые закрываются съеглной крышкой или в нижней — крышкой, а в верхней — диафрагмой. Для направления овето вого потока в окно имеется отражательное стекло-зеркало 9, которое можно устанавливать под любым углом к оптичес <ой оси рефрактометра и фиксировать в необходимом положении. На переднюю крышку корпуса выведена шкала 11 и рукоятка 13, несущая окуляр 12, в котором нанесены три визирных штриха. Вращая рукоятку вокруг ее оси, совмещают границу светотени с в-изирной штриховой линией. На одной оси с рукояткой находится головка диаперсионного компенсатора 4, соединенного с оправой призмы Амичи, при помощи которой устраняется спектральная окраска границы светотени. Светотень во время работы должна быть резкой. [c.15]