Линии перезарядки

АР+, Fe +, La +, Th +, такие анионы, как цитрат ион, а также сложные органические катионы основных красителей и ионы, образуемые алкалоидами, не только способны весьма сильно понизить величину -потенциала, но и вызвать даже при незначительной концентрации перемену его знака. Такое действие отдельных ионов объясняется тем, что они по отношению к поверхности обладают помимо электростатического еще и адсорбционным потенциалом е (рис. 106). Такая специфическая адсорбция связана с поляризуемостью данного иона или с поляризацией ионов или молекул, находящихся на поверхности. На рис. 107 приведена схема, поясняющая перемену знака электрокинетического потенциала. Граница скольжения между связанными и свободными противоионами обозначена АВ. Кривая падения термодинамического потенциала ab отсекает на линии А В некоторый отрезок, расположенный под осью абсцисс. Это отвечает отрицательному значению -потенциала. Последнее указывает на то, что в адсорбционной части двойного электрического слоя находится избыток анионов, что и даст S < О, и частицы с таким зарядом переносятся к аноду. Кривая ас на рис. 107 показывает изменение термодинамического потенциала до перезарядки. Здесь -потенциал имеет положительное значение. [c.326]

В отечественной шинной промышленности многопозиционные вулканизаторы применяют для вулканизации легковых (линия ВПМ-2-100), грузовых средних размеров (линия ВПМ-2-200) и грузовых больших размеров (ВПМ-2-300) покрышек. На этих вулканизаторах один перезарядчик обслуживает до 36 стационарных вулканизационных аппаратов. Вулканизационные аппараты в поточных линиях ВПМ-2-200 и ВПМ-2-300 расположены в два ряда и снабжены неубирающейся диафрагмой, в то время как вулканизационные аппараты в поточной линии ВПМ-2-100 расположены в один ряд и снабжены убирающейся диафрагмой. Линия ВПМ-2-100, кроме того, укомплектована установкой для охлаждения покрышек под давлением до температур 50-—55 °С. Применение убирающейся диафрагмы позволяет сократить продолжительность перезарядки пресс-форм, так как вулканизованная покрышка удаляется вместе с верхней полуформой, а нижняя полуформа в это время свободна, т. е. готова для загрузки следующей сырой покрышки. Технико-экономические характеристики поточных линий приведены в табл. 1. [c.25]

Описанные выше методы подготовки поверхности металла, обеспечивая требуемую прочность адгезионного соединения полимера с металлом основы, предшествуют важнейшей технологической операции процесса плакирования — формированию на поверхности полосы полимерного покрытия. При плакировании пленка полимера либо изготавливается непосредственно в агрегате плакирования методами экструзии, каландрирования и т. п., либо используются рулоны готовой пленки (рис. VI. ). Поскольку длина пленки в рулоне конечна и при высоких скоростях плакирования требуется частая перезарядка линии пленкой (иногда с остановкой Линии), а также по ряду других технологических и энергетических критериев первый принцип является более универсальным и обеспечивает большую производительность [20]. [c.183]

Многозарядные ионы Многоатомные ионы Фон рассеянных ионов Линии перезарядки Полосы перезарядки 35,36 36,5 37 38 23,33 24 24,33 24,66 25,33 17,5 18 18,25 18,5 19 14 14,6 14,8 15,2 11,66 12 12,17 12,38 12,66 140—152 210—228 Слабый фон 45—60 88—110 40 32 54 210 216 222 140 144 148 46—55,5 35—39 133—148 208—222 23,3—28,0 [c.126]

Абсолютные пределы обнаружения элементов по ионным линиям составляют 6-10" г S (5454 А) 2-10 г I (4795 А) 1 10 г F (7037 А) и Вг (4817 А) 2-10- г I (5407 А) [57]. Значительно более низкий, по сравнению с другими элементами, предел обнаружения иода объясняется аномальным усилением его ионных линий, возникающим в результате резонансной перезарядки при столкновении ионов Не с атомами иода, энергия ионизации которого ни>те, чем у Не [60]. Отсутствие понижения предела обнаружения при использовании наиболее чувствительных атомных линий элементов [62] свидетельствует о высокой степени ионизации трудновозбудимых элементов в разряде ПК. Увеличение силы разрядного тока до 500—600 ма обеспечивает повышенную заселенность метастабильных уровней ионов инертного газа. Это использовано в работах [1276, 1277] для понижения предела обнаружения иода, возбуждаемого в алюминиевом ПК, до 1 10 г. [c.199]

После перезарядки (4,5 мин) перезарядчик возвращается к первой паре пресс-форм его загрузочные патроны находятся при этом в верхнем положении. При построении режима вулканизации на поточной линии предусматривается одностороннее охлаждение покрышек в пресс-форме под давлением. При этом вначале отключают подачу пара в паровую камеру, а затем подают холодную [c.209]

Основное оборудование линии ЭЛМ. Фильтр состоит из горизонтального сварного стального корпуса-диаметром 370 и длиной 1300 мм, имеющего выпуклое днище и плоскую съемную крышку, крепящуюся к корпусу при помощи откидных болтов. Корпус снабжен обогревающей рубашкой, в которой циркулирует горячая вода. Внутри корпуса помещен двойной фильтрующий патрон, состоящий из двух сеток. Диаметр отверстий у наружной сетки 0,4 мм. Механические примеси задерживаются на поверхности фильтрующего патрона, откуда удаляются при периодической перезарядке фильтра. [c.145]

Рассмотрим теперь случай, когда перераспределение зарядов происходит за счет электрического разряда в зазоре между сблизившимися частицами без их непосредственного соприкосновения. Предположим, что напряженность электрического поля Е при которой возможен электрический разряд в диэлектрике, гораздо больше напряженности внешнего электрического поля Ед и что электрический разряд приводит к полному выравниванию потенциалов частиц, не изменяя при этом суммарного заряда. Так как в силу первого предположения Ет/Ед 1, то из выражения (12.29) и рис. 12.3 для напряженности электрического поля в зазоре между частицами следует, что подобное возможно лишь при Д 1, т. е. когда зазор между частицами достаточно мал. В силу второго предположения после перераспределения зарядов частиц выполняется условие У, = У2- При этом в силу (12.34) значение средней напряженности вдоль линии центров в узком зазоре между частицами равно нулю. Учитывая связь средней напряженности поля в зазоре с зарядами частиц (см. (12.42)), получим следующие уравнения для определения зарядов частиц после перезарядки [c.315]

При расстоянии катод — буферная диафрагма, равном 2 мж, градиент поля 1900 в см не дает возможности ионам 0 (образованным в пространстве катод — буферная диафрагма электронным ударом и перезарядкой) создавать массовую линию 32. При пуске чистого кислорода в прибор линия 32 не увеличивалась. Происходит увеличение линии с массовым числом 16, т. е. линии, созданной 0 , образованным из О2 на катоде поверхностной ионизацией. Линия с массовым числом 32 возникает только при пуске газа, содержащего примесь серы. [c.235]

Принцип работы линий достаточно прост. Сварочное (сшивающее) устройство обеспечивает соединение концов полос при перезарядке линии новым рулоном металла. Входной накопитель (петлевого или другого типа) позволяет приостановить полосу на несколько секунд (до 40) при смене рулона и сшивке (сварке) концов без изменения скорости движения полосы на следующих за накопителем участках линии. Основным фактором, лимитирующим скоростные параметры линии, является время, необходимое для подготовки поверхности металла под покрытие, формирования слоя полимера и обеспечения достаточной адгезионной прочности соединения полимер — металл. [c.180]

Вычислительная машина осуществляет изменение рецепта смеси и управляет процессом полимеризации. Различные используемые рецепты ё накапливаются в запоминающем устройстве. При составлении смеси по определенному рецепту УВМ осуществляет учет каждого компонента и его влияние на процесс полимеризации и качество получаемого продук- та. УВМ осуществляет корректировку рецепта смеси для поддержания конверсии и пластичности (по Муни) с учетом максимального приближения к заданным значениям. Например, для поддержания необходимой i степени конверсии УВМ компенсирует примеси, содержащиеся в стироле и бутадиене, путем регулирования уровня инициатора. При изменении рецепта УВМ сокращает период времени, необходимый для достижения заданной пластичности, путем определения требуемого уровня содержа- ния регулятора и его добавки при перезарядке данной линии. При изменении скорости подачи сырья УВМ осуществляют необходимое изме- нение содержания инициатора. Другая задача, выполняемая УВМ, со- S стоит в управлении температурным режимом процесса и поддержании необходимой скорости потоков. I [c.560]

При производстве ацетилена могут быть случаи образования взрывоопасных концентраций в генераторе и газгольдере в момент пуска и остановки, если не производится предварительно продувка их инертными газами, а также в загрузочном бункере — при его перезарядке карбидом кальция. При работе установки возможны также случаи образования повышенных давлений в системе и выходы ацетилена в производственное помещение. Основной причиной образования повышенных давлений являются работа генератора на мелком карбиде или с большим количеством карбидной пыли и несоответствие между расходом ацетилена и производительностью генератора. Выделение ацетилена может быть в момент спуска ила из генератора в иловые ямы и при загрузке карбидом кальция. Воспламенение ацетилена может быть от искр, высекаемых при ударе о корпус бункера кусков кремнистого железа, находящихся в карбиде кальция, от саморазложения ацетилена и от наличия раскаленных заиленных кусочков карбида кальция, оставшихся в иловой линии. [c.75]

Во время работы линии запрещается проводить регулировку, ремонт или чистку отдельных станков, поправлять ленту полотна руками, извлекать посторонние предметы, проводить перезарядку рулонов жести и бумаги. [c.270]

Однако в ряде случаев даже при кинетической энергии бомбардирующего иона 200—500 эв удается подобрать такой ион, нри перезарядке которого на данных молекулах получается масс-спектр, значительно обедненный линиями осколочных ионов по сравнению с масс-спектром, полученным при ионизации электронами с энергией 60 эв. [c.477]

Менее важной, но также существенной характеристикой масс-спектра являются линии перезаряженных ионов. Энергия иона определяется его начальным зарядом и ускоряющим потенциалом. На пути к пластине при столкновениях с другими частицами (ионами или нейтральными атомами) может происходить обмен зарядами. Характер масс-спектра перезаряженных атомов определяется местом столкновений. Если они происходят между электростатическим и магнитным анализаторами, го в спектре возникают более или менее определенные линии, отвечающие массам pjq )m, где р и —заряд иона до и после столкновения соответственно, am — масса иона. Эти линии легко отличить от линий примеси, так как из-за неопределенности акта перезарядки во время столкновения они недостаточно четки. Если столкновения происходят на других участках траектории, то возникает непрерывный спектр от масс plq )m (когда [c.192]

К изменению формы линий отдельных элементов могут привести и другие явления. Плохой вакуум в камере анализатора и эффекты перезарядки, вызываемые накоплением ионов на изолирующих слоях в районе источника или в электростатическом анализаторе, влияют более или менее одинаково на все элементы. Явление перезарядки в магнитном анализаторе связано только с определенными диапазонами масс. [c.260]

Наличие в светочувствительном слое желатины является основной причиной рассеяния ионов непосредственно при регистрации, что приводит к размытию краев спектральных линий. Уширение линий вызывается также наличием пространственного заряда, который образуется в период экспонирования пластинки из-за плохой электропроводности эмульсии. Во время больших экспозиций вблизи линий изотопов основы имеет место сильное увеличение вуали, что снижает предел обнаружения примесей в этой части пластинки, в ряде случаев для десятка близко находящихся масс. Все эмульсии, содержащие желатину, имеют плохие вакуумные характеристики из-за высокого содержания воды в ее слое. Это обстоятельство приводит к рассеиванию ионов и их перезарядке на пути к пластинке в анализаторах. Длительная откачка фотопластинок до высокого вакуума может привести к отслаиванию эмульсионного слоя. Пластинки с фоточувствительной эмульсией подвержены механическим повреждениям слоя, что осложняет их транспортировку, хранение и обращение с ними. [c.25]

На некоторых участках фотопластинки образуются размытые линии и примыкающие к ним полосы. Происхождение их связано с перезарядкой многозарядных ионов при их столкновениях с атомами и молекулами остаточного газа в анализаторе. Количество перезарядившихся ионов зависит от вакуума в системе столкновение может произойти в любой точке траектории ионного пучка в электрическом и магнитном анализаторах, а также в зазоре между ними. [c.51]

Если перезарядка произошла в зазоре между электростатическим и магнитным анализаторами, положение соответствующей линии может быть вычислено с помощью следующего равенства [c.51]

Положение линий и полос перезарядки ионов, зарегистрированных на фотопластинке [c.52]

Положение линии кремния после перезарядки будет соответствовать т = 56(1—з), т. е. ион после перезарядки займет. место рядом с массой 56 и несколько левее ее из-за потер энергии при столкновении. Аналогично линия 2( еЗ+ 2+ зарегистрируется левее массы 54. [c.52]

Рассмотрим захват и отражение капель цилиндром (рис. 13.22). Сплошной линией показаны траектории подходя-1ЦИХ капель. Вдали от цилиндра капли движутся прямолинейно, поскольку на расстояниях 2> к электрическое поле и поток жидкости практически однородны. На расстояниях 2 < к появляется составляющая силы, параллельная плоскости электрода, поэтому на расстояниях г<к/2 от сетки траектории заметно отклоняются от прямых. При г<Ес/Ке капли попадают в область возмущения, вносимого сеткой, и скорость жидкости снижается от скорости невозмущенного потока до нуля на поверхности сетки. На границе области возмущения линии тока искривляются, но абсолютная величина скорости еще близка к поэтому происходит изменение направления движения капли, и она несколько смещается вниз по потоку, приближаясь к цилиндру. Однако вблизи цилиндра скорость падает, и капля под действием электрической силы осаждается на цилиндре. Пунктирной линией показаны траектории движения отраженных капель. Существует критический угол такой, что для любого е>0 после перезарядки в точке 0 + е) капля остается в зоне фильтрования и уходит вверх против потока, а после перезарядки в точке (Кс, 9сг е) -- покидает зону и уходит вниз по потоку. Для траекторий отраженных капель при 0 > 0 наблюдается значительное искривление траекторий. Таким образом, возле сетчатого электрода возникают два встречных потока разноименно заряженных капель повышенной объемной концентрации. Эти капли могут интенсивно взаимодействовать друг с другом, что приводит к увеличению частоты столкновения и укрупнению капель. Учет этого эффекта довольно сложен и требует решения кинетического уравнения для распределения капель не только по размерам, но и по зарядам. Если этим эффектом пренебречь, то получаемый коэффициент уноса (идеальный коэффициент) будет несколько завышен. [c.346]

Итак, распределение фона на фотопластинке зависит от положения линий основы. Область наиболее сильного фона расположена вблизи одно- и двухзарядных масс анализируемого вещества. Ореолы иногда захватывают значительный участок пластинки и перекрывают линии однозарядных ионов примесей, снижая чувствительность их определения. В этих случаях примеси. можно определить по их многозарядным ионам. Чувствительность определения ряда элементов снижается также от наличия фона полос перезарядки. Особенно сильное влияние фона сказывалось в первых моделях масс-спектрометров с искровым ионным источником из-за невысокого вакуума в районе анализатора [48]. [c.56]

Ионный луч на пути следования от источника к фотопластинке управляется электрическим и. магнитным полями. В современных. масс-спектрометрах обеспечивается высокая степень откачки анализаторов тем ие менее в анализаторе происходят столкновения заряженных частиц с атомами и молекулами остаточного газа, которые изменяют траектории ионов или вызывают их перезарядку. В результате на определенных участках фотопластинки возникают полосы фона и размытые линии. При попадании ионов на фотопластинку образуются вторичные и третичные ионы, электроны и другие виды излучения, которые приводят к созданию интенсивного фона, особенно в районе основных масс и линий, прилежащих к ним. Все эти факторы определяют структуру искровых масс-спектров и должны быть тщательно проанализированы, прежде чем будут выделены составляющие, имеющие непосредственное от-нощение к исследуемому образцу. [c.68]

Агрегаты для закроя и отбора лoeJ текстильного корда. Как указывалось выше, диагонально-резательные машины снабжаются двойными раскаточными устройствами, позволяюш,ими устанавливать два рулона корда. Это исключает необходимость остановки резательной машины на перезарядку. Чрезвычайно важной операцией, определяюш ей производительность диагонально-резательных машин, является отбор нарезанных полос корда и последующая их стыковка. Для отбора и стыковки полос корда служат стыковочные столы или транспортеры, устанавливаемые под углом к резательной машине либо в одну линию к ней, а также автоматические отборш,ики-перекладчики, снабженные вакуум-присосами или механическими захватами, и пневможелобы. В процессе перекладки перекладчик автоматически ориентирует полосу корда вдоль стыковочного трнспортера. На рис. 10.12 показана схема перекладчика и его увязка с диагонально-резательной машиной и стыковочным транспортером. [c.201]

Регистрируемый спектр масс помимо однозарядных ионов содержит в своем составе группы многозарядных и однозарядных полиатомных образований в нем также содержатся ионы перезарядки, фиксируемые в виде размытых линий и полос. Таблицы искровых масс-спектров [1] позволяют для каждого простого исследуемого образца заранее знать полную картину регистрируемых масс. Сравнительно несложный спектр образуется при масс-спектрометрическом анализе веществ высокой чистоты металлов и полупроводников. По мере увеличения числа составляющих пробы масс-спектры становятся более сложными, а для многокомпонентных сплавов, жидкостей и особенно образцов геологического происхождения количество регистрируемых линий может составлять многие сотни. [c.70]

Работниками НИКТИ (научно-исследовательский конструк-торско-технологический институт) спроектирована полуавтоматическая линия перезарядки форм при вулканизации покрышек в автоклавах, в которой предусматривается механизация загрузки и выгрузки покрышек из форм . [c.460]

Шпули 1 (до 840 штук) с нитями металлокорда устанавливают на шпулярник 2 со шпуледержате-лями и тормозными устройствами. Натяжение нитей при сматывании со шпуль составляет 30 Н. Для обеспечения бесперебойной работы поточная линия снабжена двумя шпулярниками, при этом во время работы одного шпулярника на другом производится перезарядка шпуль. Концы нитей при замене шпу-лярников соединяют путем их привулканизации резиновой ленточкой в прессе 6 с электрообогревом. Из шпулярника нити металлокорда подаются в ните-сборник 3, зазор между направляющими роликами 4 и распределительную гребенку 5. Затем полученное металлокордное полотно шириной 600—800 мм пропускают над шаговым валиком 7 с канавками для равномерного распределения нитей по всей ширине-полотна. [c.18]

Для повышения производительности поточной линии предусмотрены два шпулярника (во время работы одного шпулярника на втором производится перезарядка шпуль). Шпули с металлическим кордом устанавливаются на шпуледержатели, которые расположены в несколько рядов. [c.177]

Сокращение сроков освоения вновь вводимых мощностей. ОПФ шинной промышленности и промышленности РТИ увеличится за 15 лет в 4,4 раза. А объем производства этих отраслей увеличится только в 2,7 раза, в результате фондоотдача снизится на 32,5%. Можно все объяснить общей тенденцией снижения фондоотдачи. Такая тенденция имеет место (роботизированная линия при той же мощности значительно дороже поточной линии с ручной перезарядкой форм). Но объяснить падение фондоотдачи только наличием этой тенденции означает завуалировать истинное положение дел и упустить возможность повышения фондоотдачи. Почему, например, Белоцерковский шинный завод, введенный через 5 лет после Барнаульского, имеет фондоотдачу на 40% выше Оба завода соизмеримы по мощности, оба построены в составе крупных промузлов. Основная причина, очевидно, в том, что Белоцерковский завод в нормативные сроки освоил мощности и проектные показатели, а Барнаульский не смог достичь этого, имея в запасе целую пятилетку. [c.383]

Вследствие малости коэффициента разделения, достижимого непосредственно в илазме, основные усилия, связанные с разделением изотопов в разряде с полым катодом, были направлены на использование плазмы в качестве промежуточной среды, приводящей в движение нейтральный газ. Ожидалось, что таким иутем можно соединить высокую угловую скорость с относительно низкой температурой нейтрального газа. Предлагалось создавать вращающуюся плазму в форме полого цилиндра, заполненного нейтральным газом [7.35]. Продольное магнитное иоле должно быть достаточно сильным, чтобы уравновеьцивать давление нейтрального газа толщина плазменной оболочки должна быть больше длины свободного пробега нейтральных частиц в плазме. Измерения доплеровского сдвига спектральных линий в излучении внутренней области аргоновой дуги показали, что нейтральные атомы, действительно, могут достигать скорости ионов аргона. Однако большая их доля имеет температуру, равную температуре ионов. Очевидно, что взаимодействие плазмы с нейтралами определяется, главным образом, процессами перезарядки, которые, следовательно, играют важную роль и в разряде с полым катодом. [c.294]

Таким образом, линии однозарядных ионов (которые удобнее всего использовать в качестве аналитических) элементов от углерода до никеля оказываются закрытыми линиями ионов остаточных газов. Анализ зарядового распределения ионов этих элементов показал, что интенсивности линий одно- и двухзарядных ионов близки, что, по всей видимости, также связано с высоким остаточным давлением в области ионного источника. Высокая интенсивность линий двухзарядных ионов и отсутствие в спектре остаточных газов линий с нецелочисленными массами позволяет использовать в качестве аналитических линий двухзарядных ионов. Определению элементов с порядковыми номерами более 28 линии ионов остаточных газов не препятствуют, однако и в этом случае иногда возникает необходимость использования линий много-зарядных ионов из-за интенсивного фона на участке между линиями одно- и двухзарядных ионов основы, образующегося в ре-вультате перезарядки трехзарядных ионов основы на молекулах остаточного газа. [c.166]

Кремний был выбран в качестве примера по двум причинам. Во-нер-вых, потому, что имелся весьма чистый образец кремния, на котором можно было исследовать влияние фона, и, во-вторых, потому, что спектр кремния содернгит большое чис.ю линий, обусловленных многоатомными ионами. Таким образом, в случае кремния в максимальной степени проявляется наложение линий. Следует отметить, однако, что даже в таком сложном масс-спектре наложение линий не мешает определению примесей. Оно лишь в некоторых случаях повышает предел обнаружения примесей, так как иногда для расчетов приходится пользоваться или линией мало-распространеппого изотопа (в случае примеси иттербия в кремнии), илн линтгей многозарядных ионов (в случае цезия). Гораздо более серьез-пым препятствием для понижения предела обнаружения является фон, обусловленный процессами перезарядки, обсужденными выше (табл. 1). Наличие фона повышает предел обнаружения более половины всех примесей в кремнии. Однако, несмотря на это, 32 из 73 рассмотренных элементов имеют предел обнаружения между 10 и 10 %, для 24 элементов предел [c.154]

Рис. 66/Зависимость эффективного сечения нейтрализации путем перезарядки от энергии К в различных газах при р-=. мм Не и 0° С [80, 95, 152, 153, 154] Пунктирные линии справа представляют собой эффективные сечения, полученные на основанкн классической теории.

При разложении ацетона при 825° С [16] в качестве стабильных продуктов образуются СО, СН4, Н,, СНг, СО, jHg (немного). В указанных выше условиях опыта не наблюдалось заметного роста линии 15 аем (СН4). очевидно, потому, что сечение перезарядки ионов NHg на ( Hg)2 0 более чем в 2,5 раза превосходит сечение перезарядки NH на СН4, как было показано в градуировочных опытах. Как видно из данных, приведенных на рис. 2, б, при нагревании ацетона интенсивность молекулярного иона (58 аем) падает па 33%, и при этом сильно растут интенсивности линий 43, 42. 29, 28, 27 и 15 аел1. Прирост интенсивности лини11 [c.479]

Трудности, связанные с выбором тигельных и электродных материалов для анализа жидкостей, авторы работы [15] пытались преодолеть путем использования для этой цели алюминия высокой чистоты, суммарное содержание примесей в котором не превышало 10 %. Известно, что алюминий является одноизотопным элементом с массовым номером 27, поэтому во время анализа на масс-спектрометре с вакуумной искрой в его спектре содерлсится небольшое количество многозарядных масс, а именно А1 +, АР+, АИ+, концентрации многоатомных масс этого элемента обычно незначительны. Когда алюминий был использован в качестве тигля и электрода для размещения и анализа жидкостей, было установлено, что многие участки спектра масс оказались перекрыты гидридами, гидроокисями алюминия, углеродными образованиями, окислами, хлоридами, полосами перезарядки и многими другн.ми линиями. Одним словом, масс-спектр исследуемого вещества оказался чрезвычайно [c.196]

Полосы почернения указаны линиями со стрелками, а — угол между направлением движения основных ионов и ионов или нейтральных частиц, образующих фон индексы показывают заряд иона до и после перезарядки. азо=С12о=С11о=20° 021 = 12 аз2=8". [c.173]

При зарядке ацетиленовых баллонов происходит накопление инертных примесей в газовой фазе, а при отборе газа из баллонов ацетилен, отбираемый вначале, содержит большее количество примесей, чем в последующие периоды (см. рис. VI.18). Если содержимое баллона не полностью израсходовано перед перезарядкой, то количество свежего ацетилена, необходимое для наполнения баллона, будет несколько меньшим и, следовательно, содержание инертных прпмесей в перезаряженном баллоне также будет более низким. Таким образом, определение содержания инертных примесей в отдельных пробах газа, отбираемых из баллонов, не может явиться мерой контроля качества газа, нагнетаемого в баллоны, и также не отражает качество отбираемого из баллона газа, поэтому очень трудно установить стандарты на баллонный газ. В некоторых странах были предприняты Попытки [2] стандартизовать содержание примесей в ацетилене (в США, сорт А с минимальным содержанием С2Н2 99,5% и сорт В — 98%, в СССР минимальное содержание С2Н2 не менее 98% [3]. При этом методика анализа такова, что все примеси, йа исключением нерастворимых, относят к ацетилену. Но в технических условиях, принятых в СССР, указано, на какой стадии опорожнения баллона следует отбирать пробы для анализа, а в технических условиях США это положение отмечено весьма условно ( перед продувкой линии для отбора пробы газа из баллона должно быть отобрано несколько кубических футов газа ). [c.304]

В современных приборах, хотя рабочий вакуум и достигает 1 10 мм рт. ст., уменьшение чувствительности определения многих при.месей связано с фоном, образованным линиями и полосами перезарядки. При анализе ОаР 13 элементов в области массовых чисел от 19 до 58 обнаруживаются с чувствительностью в 10 раз меньшей, чем та, которой можно было бы достигнуть при отсутствии полос перезарядки [54]. [c.56]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология