Чувствительные линии (по длинам волн)

Таблица 20.2. Положение некоторых линий (длина волны X, нм) в атомных снеш рах ряда химических элементов и оценка предела чувствительности (и , %) их открытия по этим спектральным линиям

По таблицам спектральных линий установить длину волны наиболее чувствительной спектральной линии искомого элемента и планшет атласа, где она находится. [c.31]

Спектральный анализ (эмиссионный) — физический метод качественного и количественного анализа состава вещества на основе изучения спектров. Оптический С. а. характеризуется относительной простотой выполнения, экспрессностью, отсутствием сложной подготовки проб к анализу, незначительным количеством вещества (10—30 мг), необходимого для анализа на большое число элементов. Спектры эмиссии получают переведением вещества в парообразное состояние и возбуждением атомов элементов нагреванием вещества до 1000—10 000°С. В качестве источников возбуждения спектров прп анализе материалов, проводящих ток, применяют искру, дугу переменного тока. Пробу помещают в кратер одного из угольных электродов. Для анализа растворов широко используют пламя различных газов. Качественный н полуколичественныйС. а. сводятся к установлению наличия или отсутствия в спектре характерных линий и оценки по их интенсивностям содержания искомых элементов. Количественное определение содержания элемента основано на Эмпирической зависимости (при малых содержаниях) интенсивности спектральных линий от концентрации элемента в пробе. С. а.— чувствительный метод и широко применяется в химии, астрофизике, металлургии, машиностроении, геологической разведке и др- МетодС. а. был предложен в 1859 г. Г. Кирхгофом и Р. Бунзеном. С его помощью гелий был открыт на Солнце ранее, чем на Земле. Спектроскопия инфракрасная — см. Ифракрасная спектроскопия. Спектрофотометрия (абсорбционная)—физико-химический метод исследования растворов и твердых веществ, основанный на изучении спектров поглощения в ультрафиолетовой (200—iOO нм), видимой (400—760 нм) и инфракрасной (>760 нм) областях спектра. Основная зависимость, изучаемая в С.,— зависимость интенсивности поглощения падающего света от длины волны. С. широко применяется при изучении строения и состава различных соединений (комплексов, красителей, аналитических реагентов и др.), для качественного и количественного определения веществ (определения следов элементов в металлах, сплавах, технических объектах). Приборы С.—спектрофотометры. [c.125]

Качественный анализ с использованием дуги постоянного тока. Спектрометрия с дугой постоянного тока является одним из наиболее чувствительных методов элементного анализа. Почти 70 элементов могут быть обнаружены одновременно при концентрации от млн до млрд- С целью проведения качественного анализа, использующего возбуждение дугой постоянного тока и фотоэлектрическую регистрацию, шкала длин волн на фотографической эмульсии должна быть калибрована. Для этого на верхней половине фотопластинок фотографируют эмиссионный спектр известного элемента (например, железа), а на нижней — эмиссионный спектр пробы. Как отмечали ранее, железо имеет очень богатый спектр в дуге, состоящий из большого числа линий, длины волн которых известны с достаточно высокой правильностью. Спектр железа служит в качестве калибровочной шкалы, с помощью которой можно идентифицировать спектральные линии химической пробы, определяя их длины волн. [c.710]

Спектропроектор ПС-18 предназначен для изучения спектрограмм и их расшифровки. На экране спектропроектора получают резкое изображение снятых на фотопластинке спектров. Затем находят планшет атласа спектральных линий, соответствующий нужной области спектра, и совмещают спектры железа на изображении фотопластинки и на планшете. При этом фотопластинку помещают, на предметный столик, а планшет ла экран спектропроектора. На планшете длинными штрихами указаны положения спектральных линий элементов относительно спектра л елеза и их длины волн. При совмещении спектров железа в атласе и на пластинке искомая спектральная линия в спектре пробы должна находиться точно под штрихом на планшете. Аналогично идентифицируют еще 2—3 наиболее чувствительные линии элемента и только после этого делают вывод о его присутствии в пробе. [c.28]

С помощью таблиц спектральных линий составьте список электронов, которые можно определять в пламени с высокой чувствительностью. Укажите длины волн аналитических линий. [c.82]

Качественный анализ, как правило, проводят по наиболее чувствительным линиям определяемых элементов. Эти линии хорошо изучены и собраны в соответствующие таблицы и атласы спектральных линий. Для их идентификации используют спектры сравнения, в качестве которых служат спектры определяемых или других элементов с большим числом линий. На практике, как правило, спектром сравнения является спектр железа, который фотографируют рядом, под или над спектром исследуемой пробы при одинаковых условиях возбуждения. Наличие хороших атласов железа и спектропроекторов позволяет определять положение линий (длины волн в нанометрах) в спектре испытуемой пробы с точностью, достаточной для определения их принадлежности тому или иному элементу. [c.323]

Для полного анализа образца рекомендуется сначала выявлять основные компоненты, а затем в соответствии с их физикохимической природой выбирать условия анализа для определения примесей. При качественном анализе, в особенности для выявления малых примесей, пользуются наиболее чувствительными линиями спектра каждого элемента, которые называют также его последними линиями. Длину волны этих линий определяют по таблицам. [c.225]

Для идентификации наиболее чувствительных спектральных линий данного элемента используются таблицы последних линий . Длины волн определяются по расположению линии пробы относительно линий железа. [c.251]

Выбор между двумя последними детекторами обычно определяется длиной волны измеряемой линии. Сцинтилляционный счетчик имеет лучшую чувствительность при длинах волн примерно [c.228]

Чувствительность фотопластинок различна для разных длин волн. У обычных пластинок (рис. 49) она максимальна для участка спектра вблизи линии, характеризуемой длиной волны 400 нм, постепенно спадает для более коротковолновых излучений и резко — в области спектра 500 нм. Пластинки типа I дают мелкозернистое изображение и отличаются высокой разрешающей способностью. Их чувствительность к длине волны 255 нм оценивается в 3—7 единиц по ГОСТу. Пластинки типа И1, кроме собственной чувствительности для участка 225—495 нм, обладают еще и добавочной чувствительностью к более коротковолновым лучам. [c.118]

Для определения щелочных металлов обычно применяемые лампы с полым катодом заменяют лампами с разрядом, которые являются источниками стабильного линейного излучения. Так же как в спектрофотометрии между абсорбируемым светом и концентрацией абсорбирующих частиц в пламени существует логарифмическая зависимость. Калибровочные графики для щелочных металлов прямолинейны или близки к прямолинейным в используемом интервале концентраций. Так же как в методе фотометрии пламени, высшая чувствительность достигается при использовании резонансной линии. Длины волн, рекомендуемые для определения отдельных щелочных металлов, приведены в табл. 13. В этой же таблице указаны минимально обнаруживаемые концентрации , приводимые Биллингсом и Адамсом [12] при работе на двулучевом спектрофотометре с модуляцией. Эти предельные концентрации могут меняться от прибора к прибору [c.79]

В первом случае следует выяснить, какие элементы, кроме указанного на планшете, содержат в своих спектрах линию с длиной волны, близкой к длине волны исследуемой линии (в пределах 0,05 нм). Для этого сначала из таблицы, приведенной в приложении 1, выписывают 2-3 наиболее чувствительные (или так называемые последние) линии отмеченного на планшете элемента и находят их в изучаемом спектре. [c.202]

Гетерохромная фотометрия. Для правильной оценки относительных интенсивностей линий в общем случае необходимо учитывать как изменение спектральной чувствительности и коэффициента контрастности фотоэмульсии с длиной волны, так и изменение светосилы и дисперсии спектрального прибора на данном спектральном интервале. Задача калибровки фотоэмульсии в этом случае решается с помощью стандартного спектра, т. е. спектра с известным распределением энергии. В качестве источника такого спектра, как правило, применяют ленточную лампу накаливания с известной цветовой температурой Тц. Распределение энергии в спектре ленточной лампы накаливания достаточно хорошо описывается формулой Планка [c.128]

Выбор длин волн для измерений атомной абсорбции обычно не представляет затруднений. Наиболее чувствительные линии и их относительные интенсивности хорошо известны и имеются в многочисленных справочных руководствах. Большинство ламп с полым катодом дают спектр, состоящий из небольшого числа линий материала катода и рабочего газа. Единственное ограничение может представить случай, когда рядом с нужной линией находится линия, не испытывающая атомного поглощения (например, линия рабочего газа). В таких случаях приходится уменьшать спектральную полосу пропускания монохроматора. [c.157]

Линии гомологической пары должны быть близко расположены в спектре, т. е. разница их длин волн должна быть малой. Если чувствительность детектора резко меняется с длиной волны, то выполнение этого требования оказывается чрезвычайно важным. [c.94]

Спектрографы с большой дисперсией позволяют разрешать линии, отличающиеся на 0,1—0,2 А, а приборы средней дисперсии дают раздельное изображение спектральных линий с разностью в длине волны от 0,3 до 0,8 А в зависимости от области спектра. Несмотря на более низкую разрешающую способность во всех случаях, когда позволяет сложность спектра, а также требуемая чувствительность анализа, стараются применять спектрографы со средней дисперсией. Они имеют более высокую светосилу и относительно небольшую длину спектра, что позволяет одновременно регистрировать всю рабочую область или значительную ее часть. [c.126]

При одинаковой абсолютной интенсивности линий их яркость может казаться при визуальном наблюдении резко разной, если они имеют разную длину волны. Для аналитических целей стараются использовать линии, лежащие в середине видимой области, так как из-за малой чувствительности глаза в красной и фиолетовой областях можно работать только с достаточно интенсивными линиями и применять яркие источники света. [c.154]

Визуальная проверка установки лампы накаливания проводится аналогично установке ртутной лампы по зеленой линии 546,1 ммк. При фотоэлектрической проверке установки этой лампы учитывается, что интенсивность излучения лампы накаливания и чувствительность фотоэлементов неодинакова при различных длинах волн. Максимум приходится на область 520—550 нм. Следовательно, в этой области имеется возможность для работы с минимальной щелью. Поэтому при проверке установки лампы накаливания, скомпенсировав, как обычно, темновой ток при закрытом фотоэлементе, устанавливают по шкале длин волн значение 546,1 нм (находящееся как раз в области максимальной интенсивности излучения этой лампы). Выбирают среднюю чувствительность прибора. Для этого рукоятку 26 на СФ-4 и СФ-5 поворачивают на 4—5 оборотов от одного из крайних положений на СФ-16 ставят рукоятку потенциометра чувствительности 26 в положение 2 или 3 . Открыв шторку фотоэлемента, приводят стрелку миллиамперметра к нулю, уменьшая щель. Если стрелка миллиамперметра приводится к нулю при раскрытии щели не более чем на 0,02— 0,03 мм, то установку лампы накаливания можно считать удовлетворительной. Если для приведения стрелки к нулю требуется большее раскрытие щели, то это вызывает необходимость работать при иных длинах волн с еще более широкой щелью и снижает монохроматичность потока излучения. Поэтому плохо установленную лампу следует настроить при помощи юстировочных винтов. [c.261]

Для определения Р Щ эксперименты проводят так, чтобы регистрировать образующиеся в реакции 16 частицы R(N,n), пока они не успели столкнуться с другими молекулами. В таких условиях спектрально разрешенный спектр поглощения, излучения или возбуждения флуоресценции несет информацию о вращательном распределении для каждого колебательного состояния продукта. Основные трудности - зависимость чувствительности аппаратуры от длины волны, неодинаковое насыщение линий поглощения для различных N, возможность предиссоциации при некоторых значениях N. [c.161]

Определяемый элемент Длина волны аналитической линии, Л Чувствительность анализа. % Примечание [c.223]

Каждый спектральный прибор предназначен для регистрации спектра в определенной области длин волн. В ультрафиолетовой и видимой областях широко применяют как призменные, так и дифракционные спектральные приборы. Спектрографы с кварцевой оптикой позволяют получать спектр в области 200—600 нм, в которой расположены чувствительные линии большинства из известных элементов. Спектрографы со стеклянной оптикой используют для работы в видимой области от 360 до 1000 нм. Приборы с дифракционной решеткой позволяют получать спектр в интервале длин волн от 200 до 1000 нм. Эти приборы, обладающие большой дисперсией, дают возможность разделять спектральные линии с близкими длинами волн, что особенно важно для анализа веществ, спектр которых богат линиями. [c.323]

Природу, структуру и электронное состояние промежуточного продукта. Для абсорбционной спектроскопии можно использовать источник белого света в сочетании со спектрографом для получения фотографически зарегистрированного обзорного спектра поглощающих соединений в реакционной системе. В других случаях для сканирования спектрального диапазона может применяться монохроматор с фотоэлектрическим приемником. Многие исследуемые короткоживущие интермедиаты обладают достаточно большим оптическим поглощением из-за наличия разрешенного электронного дипольного перехода на более высокий уровень энергии, В этом случае, например, триплетные возбужденные состояния могут наблюдаться по их триплет-триплетному поглощению. В общем случае индивидуальные полосы поглощения имеют тем большую амплитуду, чем они уже. Вследствие этого эффекта атомы имеют разрешенные линии поглощения с особенно большими амплитудами. При количественных измерениях поглощения обычно выбирается длина волны, при которой наблюдается сильная полоса поглощения и на нее не накладываются полосы поглощения других соединений, В экспериментах по оптическому поглощению в качестве источника света можно применять лазеры. Очень эффективны в лазерных абсорбционных исследованиях перестраиваемые лазеры на красителях, особенно для веществ с узкими полосами поглощения (таких, как атомы и малые радикалы), поскольку лазерное излучение отличается высокой монохроматичностью и узкой спектральной полосой. Повышения поглощения можно достигнуть, заставив световой пучок многократно пересекать образец с помощью соответствующего расположения зеркал в многопроходовом абсорбционном эксперименте. Вновь для этой цели превосходно подходят лазеры благодаря малой расходимости лазерного пучка. В ряде случаев можно создать источник света, который спектрально адекватен абсорбционным свойствам именно исследуемых соединений. Например, можно сконструировать электрические разрядные лампы, содержащие подходящие газы и испускающие резонансные спектральные линии (при переходе из первого возбужденного состояния в основное) многих атомов и простых свободных радикалов. Очевидно, что резонансные спектральные линии точно соответствуют длинам волн поглощения этих же веществ, соответствующим переходу из основного электронного состояния. Если эти атомы или простые радикалы присутствуют в реакционной смеси, то будет наблюдаться резонансное поглощение. Если спектральные ширины полосы испускания источника и полосы поглощения объекта исследования совпадают, то чувствительность абсорбционных измерений может быть высокой при различающейся избирательности, так [c.195]

В методе ослабления флуоресценции применяют фотометр, снабженный только одной ртутной лампой и фильтром. Для возбуждения флуоресценции удобна спектральная линия при 254 нм (или также излучение с длиной волны 281—313 нм). Таким образом, для измерения поглощения в УФ-области, очень важной для анализа органических веществ, пригодны только несколько длин волн выше 254 нм. Метод ослабления флуоресценции проигрывает в селективности и чувствительности при определении веществ, максимум поглощения которых находится в УФ-области. Это связано с тем, что в описываемом методе возбуждающее излучение обычно пе подстраивают к максимуму поглощения определяемого вещества. На рис, 8.9 (I, II) показано, как получить оптимальную высоту пика, изменяя длину волны излучения спектрофотометра. [c.190]

Длина волны, А Энергия нижнего, уровня, эв Энергия верхнего уровня, зе Чувствительность в угольной дуге, % Мещающие линии [c.135]

Источниками возбуждающего наиряжения служат генераторы дуги пост, тока, активизированнои дуги перемен. тока (нанр., тина ДГ 2), высоковольтной конденсированной искры (наир., типа ИГ-3), генераторы с электронным управлением разряда (напр., типа ГЭУ-2). Для испарения вещества и возбуждения его атомов, ионов и молекул используют также лазер и пламя. Различают эмиссионный С. а. качественный и количественный. Качественный эмиссионный анализ не требует предварительных операций, с к-рыми обычно связан анализ химический. Для полного качественного эмиссионного анализа небольшую навеску вещества возбуждают дугой или искрой, одновременно фотографируя ее спектр. Каждый хим. элемент излучает характерный для него спектр — известный набор спектральных линий, длины волн к-рых сведены в таблицы и атласы. Чтобы установить наличие элемента в пробе, достаточно даже в очень сложном спектре обнаружить несколько его линш . Качественный эмиссионный анализ дает возможность не только устанавливать наличие, но часто и определять приблизительное содержание элемента в пробе. С этой целью используют т. н. последние линии — линии, к-рые при уменьшении содержания элемента в пробе исчезают в спектре в последнюю очередь. Выбор приборов для качественного эмиссионного анализа определяется областью спектра, где расположены самые чувствительные линии элемента, а также дисперсией и разрешающей способностью прибора. Для расшифровки спектрограмм применяют снектропроекторы (напр., типов ПС-18, ДСП-1), таблицы и атласы спектральных линий. В основу количественного эмиссионного анализа положена зависимость мензду интенсивностью спектральной линии определяемого элемента и концентрацией его атомов и ионов в облаке разряда [c.422]

Скажем еще несколько слов по поводу испытания платины на свинец, в виду важного значения чистой платины для осуществления многих научных и технических целей (термоэлементы, термометры сопротивления, катализаторы). На рис. 72 показаны отрезки спектрограмм в области спектра близь 4050, полученных с отрывной дугой. Из-за сомнительной воздушной линии при 4057,8 конденсированная искра вообше не может быть здесь применена, не говоря уже о том, что она не дает столь резких линий. На снимке а мы имеем технически чистую платину отмечены некоторые сильные железные линии и самая чувствительная линия свинца 4057,8. Снимок Ь сделав с физически чистой платиной сильнейшие линии железа едва заметны, но свинец еще вполне заметен. Снимок с сделан с платиной величайшей чистоты, изготовленной фирмой Гереус в Ганау для специальной цели здесь полностью отсутствуют и железо и свинец. — При определении свинца надо учесть одну трудность, которая легко может привести к неправильному анализу. В спектре чистейшей платины имеется весьма слабая линия, длина волны которой приблизительно 4058,5, т, е., следовательно, безусловно больше линии свинца 4057,8, но для того, чтобы отличить ее от этой последней, необходимо точное измерение и достаточная дисперсия. [c.148]

К гомохромной относится задача фотометрирования линий, длины волн которых настолько близки, что можно на этом участке пренебречь различиями характеристик фотоэмульсии (спектральной чувствительностью, характеристической кривой, фактором контрастности, постоянной Шварцшильда). [c.77]

Здесь ( —значение заряда на конденсаторе С — емкость конденсатораг I — среднее значение фототека Т — время экспозиции /ф — мгновенное значение фототока v(X) — чувствительность фотокатода к излучению данной длины волны г] Х)—коэффициент пропускания спектрального прибора I — интенсивность спектральной линии. [c.81]

Чувствительность определения некоторых элементов методом фотометрии пламени незначительна, поскольку аналитические линии этих элементов лежат в ультрафиолетовой области спектра. Поэтому для возбуждения этих спектров требуется энергия, значительно превышающая энергию частиц в пламенах. Действительно, чтобы наблюдать линию испускания в ультрафиолетовой области, необходимо иметь достаточное число частиц, находящихся на начальном высоковозбужденном уровне энергии Е (длина волны линии обратно пропорциональна разнице энергий начального и конечного уровней перехода Х=кх1Е — Е2). Для метода атомной абсорбции важна заселенность нижнего, основного уровня, поэтому на чувствительность определения не влияет спектральная область, где лежат аналитические линии определяемых элементов. [c.37]

Некоторым недостатком камер-монохроматоров, использующих для монохроматизации отражение от кристалла кварца, является присутствие паразитного излучения с длиной волны, вдвое меньшей длины волны характеристического излучения. Это не вызывает неудобств при рутинном фазовом анализе, но может быть источником неопределенностей при поисках слабо выраженной сверхструктуры. Для устранения этой неоднозначности под руководством Ю.П.Симанова была сконструирована камера-монохроматор [6], в которой для монохроматизации использовалось отражение от плоскости (111) пластически изогнутого при высокой температуре монокристалла германия. Интенсивность линий (222) в германии практически равна нулю, т.е. излучение с А /1 в монохромати-зированном пучке отсутствует. К сожалению, пластические свойства германия очень чувствительны к степени совершенства кристалла (они резко ухудшаются при уменьшении концентрац 1И дислокаций), и камеры такого типа не нашли широкого применения. Монокристаллы кварца гораздо дешевле и доступнее. [c.21]

Эмиссионный атомный спектраш.ный анализ обладает высокой чун-ствительностью и позволяет открывать элементы даже при очень небольшом их содержании в анализируемом образце (до 10 % и еще меньше). В табл. 20.2 охарактеризованы положение (длина волны в нанометрах — нм) некоторых линий в атомных спектрах ряда химических элементов и приближенная количественная оценка предела чувствительности (массовая доля открываемого элемента в процетах) идентификации этих элементов по приведенным линиям. Чувствительность метода может быть повышена по сравнению с оценкой в табл. 20.2 путем введения различных методических усовершенствований. [c.519]

Теоретические основы наиболее распространенных современных методов спектрального анализа изложены в [441]. Структура электронных оболочек атома хрома — 15 25 2р 35 3р 3й 45 — определяет сложный характер его спектра. Он состоит из 1133 спектральных линий [477]. Наиболее интенсивные линии хрома расположены в видимой области и имеют длины волн 425,43, 427,48 и 428,97 нм. Для определения малых количеств хрома используют линию 425,43 нм [178, 186]. Однако в присутствии кальция она непригодна для определения хрома из-за влияния интенсивной линии кальция 428,93 нм. В УФ-области имеется ряд менее чувствительных линий 340,53, 357,86 и 389,34 нм. Во многих случаях пользуются также линиями 278,07, 283,56, 284,32 и 284,98 нм. Например, пределы обнаружения хрома по линии 283,56 нм равны 1-10 % при возбуждении спектра в обычной дуге и 5-10 % — в дуге Столвуда [283]. [c.72]

Наиб, распространены спектрофотометрич. и спектрографич. методы регистрации. Для регистрации кинетики пропускания, т е. изменения во времени поглощения света образцом, используют непрерывный или модулированный (для повыщения яркости во время измерения) источник зондирующего света и монохроматор в сочетании с фотоумножителем и импульсным осциллографом или накопителем сигналов (для улучшения отношения сигнал шум при многократном повторении эксперимента), либо электронно-оптич. преобразователем с временной разверткой. Измеряя кинетику пропускания при разл. длинах волн зондирующего света, можно построить по точкам спектры поглощения промежут. продуктов фотохим. р-ции с разл. временами жизни. Для непосредств. регистрации спектров поглощения, что особенно важно в случае узких линий поглощения продуктов, напр, в газовой или твердой фазе, используют импульсные источники света с непрерывнь№< спектром в сочетании со спектрографом и фотопластинкой (или фотоэлектрич. устройством). Используют также нано- и пикосекундные импульсы зондирующего света, синхронизированные с возбуждающим лазерньпи импульсом их создают с помощью разл. преобразователей частоты исходного лазерного импульса и оптич. линий задержки. Измеряя спектры пропускания при разл. временах задержки, можно исследовать кинетику образования и гибели промежут продуктов. Спектрофотометрич. метод, как правило, обладает значительно более высокой чувствительностью, чем спектрографический, позволяя измерять изменение поглощения до 10 Для регистрации промежут продуктов используют также методы люминесценции, кондуктометрии, ЭПР, масс-спектрометрии и др. [c.220]

Спектры регистрируют с помощью спектрографов и спектрометров (квантометров). Имеется много типов этих приборов, различающихся светосилой, дисперсией, разрешающей способностью, рабочей областью спектра. Большая светосила необходима для регистрации слабых излучений, большая дисперсия-для разделения спектральных линий с близкими длинами волн при анализе в-в с многолинейчатыми спектрами, а также для повышения чувствительности анализа. В качестве устройств, диспергирующих свет, используют дифракц. решетки (плоские, вогнутые, нарезные, голографич., профилированные), имеющие от неск. сотен до неск. тысяч штрихов на миллиметр, значительно реже-кварцевые или стеклянные призмы. [c.393]

Характеристический рентгеновский спектр рения получается при прямом возбуждении образца потоком электронов. Спектр насчитывает большое количество спектральных линий К-, Ь- и М-серий, появление и интенсивность которых зависит от режима работы рентгеновской трубки [72, 499]. Главные линии рентгеновского спектра рения приведены в табл. 22 и относятся к //-серии. Аналитической линией является сильнейшая из них соответствуюш ая длине волны 1,429 А. Чувствительность определения рения по линии Ьа достигает 5 -10 г, по линии при 1,236 А — 5-10 г (в 50 мг М0О3) [1123]. Линия Ьа рения близка к линии Ка цинка [260]. По рентгеновскому спектру можно как определять содержание рения, так и проводить идентификацию его в образцах. Рентгеновский спектр рения был использован при его открытии [641, 1096]. [c.166]