Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Погрешности измерения спектров

    Погрешности измерения спектров [c.178]

    СКОЙ ПЛОТНОСТИ И концентрации окрашенных растворов, рассеивающих взвесей, эмульсий и коллоидных растворов в области спектра 315—980 нм. Пределы измерения пропускания 100—5% (Л=0-=-1,3). Основная абсолютная погрешность измерения пропускания 1 %. Характеристики светофильтров представлены в табл. 4.2. [c.210]

    Основная погрешность измерений коэффициента пропускания в области спектра от 190 до 1100 нм, % абс., не более. . I [c.130]


    Спектрофотометр СФ-26. Спектрофотометр предназначен для изучения спектров поглощения жидких, твердых и газообразных веществ в диапазоне длин волн от 186 до 1100 м. Погрешность измерения на спектрофотометре СФ-26 в области спектра от 190 до 1100 нм по шкале длин волн составляет не более 17о- Погрешность градуировки шкалы длин волн  [c.44]

    Анализ уравнения (1.10) показывает, что с уменьшением пропускания исследуемого раствора (увеличением его оптической плотности) погрешность АГр возрастает. Так, при а = 0,5% и Гр = 1 относительная погрешность измерения Z) = 1 составляет 2%, а при D=2 она возрастает до 8,75%. При Гр < Г рассеянный свет приводит к уменьшению, а при Гр > 7 — к увеличению измеряемого пропускания. В результате присутствие рассеянного света ухудшает структуру измеряемого спектра, снижает ее разрешение. При Гр = Г величина ДГр = 0, поэтому рассеянный свет не влияет или мало влияет на результаты измерения пропускания нейтральных фильтров. [c.9]

    Интеграл в выражении (9.24) можно найти путем численного интегрирования. Для этого рассматриваемую область энергий разбивают на ряд интервалов по 0,5 или 1 МэВ. По формуле Шиффа [50, 51], рассчитывают спектр тормозного излучения Фо( , макс), и, используя экспериментальные данные о форме кривой функции возбуждения для этой реакции, находят в каждом интервале произведение средней плотности потока на среднее сечение и проводят суммирование по всем интервалам. Данный расчет не только трудоемок, но и пригоден только для грубой оценки, так как дает расхождение с экспериментальными данными до 40% и более, что вызвано большими погрешностями измерений функции возбуждения и расчетами спектра тормозного излучения. Отмеченные трудности можно обойти, если иметь полученный другими исследователями [36] стандартный набор экспериментальных данных о наведенных активностях элементов, облученных тормозным излучением с различной максимальной энергией ускоренных электронов. [c.60]

    При достаточно малых напряжениях и скоростях деформации поведение полимерных систем описывается соотношениями линейной теорий вязкоупругости, и все особенности поведения материала в любых режимах деформирования могут быть определены, если известен его релаксационный спектр. Понятие о линейной вязкоупругости — это асимптотическое представление реальных свойств материала при предельно низких напряжениях. Экспериментально, в пределах Погрешности измерений, линейная область охватывает более или менее широкий диапазон условий деформирования. Граница [c.405]


    В таблице приводятся регистрируемая энергия (Е), энергетическое разрешение спектра П), основная погрешность измерения энергии (Д), число каналов, емкость, максимальная загрузка, ширина и нестабильность ширины канала, интегральная и дифференциальная нелинейность, мертвое время, диапазон измеряемых амплитуд (ампл.) временная нестабильность амплитудной характеристики (нест. ампл.), потребляемая мощность, габариты и масса приборов. [c.205]

    Наблюдению спектральной линии мешает наличие фона сплошного спектра. Из теории погрешностей следует, что если разность между суммарной интенсивностью линии и фона 7 + и интенсивностью фона 1ф равна утроенной погрешности измерения б/ [c.25]

    Этот метод удобен простотой вычислений, которые можно реализовать на простых калькуляторах. Однако существенным недостатком является трудность оценки результатов и корректировки обратной матрицы в случае необходимости. Нередки случаи, когда при решении систем уравнений могут получаться отрицательные значения неизвестных, что противоречит физическому смыслу. Если они имеют небольшие значения, то их можно считать результатом небольших погрешностей измерения масс-спектров или задания калибровочных коэффициентов и в таких случаях просто приравнивать к нулю. Однако при этом размерность системы меняется, и обратную матрицу необходимо вычислять заново. Решение квадратной системы по методу Гаусса, его модификациям или методом последовательных приближений без использования обрат- [c.335]

    В спектрах ПМР нефтяных фракций сигналы представляют собой неразрешенные горбы . Поэтому погрешность измерения интегральной интенсивности (/) определяется в основном степенью искажения базовой линии и составляет, как правило, 3—5% при планиметрическом способе измерения площадей и учете ослабления сигналов при их прохождении через узкополосный фильтр. Использование интегратора приводит к большим погрешностям измерения. [c.150]

    Гораздо существенней погрешности измерений, вызванные рефракцией воздуха, когда спектр нормалей получают в условиях, отличных от условий получения исследуемого спектра. В этом случае, кроме уже рассмотренной поправки, полученные длины волн следует умножить на множитель [c.283]

    Погрешности измерений практически полностью задаются точностью, с которой известно распределение яркости в спектре стандартного источника. Чем дальше друг от друга отстоят сравниваемые участки спектра, тем большую роль играет эта ошибка. [c.315]

    Положение максимума спектров у-излучения вдоль оси лабиринта в пределах экспериментальной погрешности измерения ( 0,09 МэВ) не изменяется. Это свидетельствует о том, что в установках такого типа во всех точках лабиринта определяющую роль играет у-излучение, многократно отраженное от его стен. В точке, расположенной за первым поворотом лабиринта на определенной высоте, происходит смещение максимума в сторону больших энергий. Это связано с тем, что за первым поворотом лабиринта на спектральный состав отраженного у-излучения влияет расположение облучателя в рабочей камере в этом случае значительный вклад вносит первично отраженное у-излучение. При удалении от источника смещение максимума прекращается, т. е. распределение излучения по высоте становится равномерным. [c.89]

    Спектрометрический аналитический метод отличается от спектрографического метода по существу только способом измерения спектра. В то время как в спектрографическом анализе интенсивность спектра измеряют через промежуточную стадию фотографирования, спектрометрический анализ основан на прямом фотомет-рировании интенсивности спектральных линий. Прямое измерение интенсивности имеет два практических преимущества из-за отсутствия продолжительной операции обработки сфотографированных спектров и связанных с ней источников погрешностей существенно [c.199]

    ФЭК-56 315—630 Погрешность измерений в пределах 1 %. Источник света лампа накаливания со сплошным спектром в видимой области и ртутнокварцевая лампа с линейчатым спектром эмиссии в УФ- и видимой областях. Масса прибора 10,5 кг, питающего устройства — 12 кг. [c.73]

    Использование компьютера позволяет проводить периодические измерения спектров в автоматическом режиме без необходимости какого-либо контроля. Непрерывное внимательное наблюдение за ходом записи хроматограммы, с тем чтобы в момент прохождения нужного хроматографического пика через максимум подключить систему масс-спектрального измерения, становится, таким образом, излишним. Простые арифметические операции, выполняемые компьютером чрезвычайно быстро, могут существенным образом улучшить качество масс-спектров. К ним относятся вычитание средневзвешенных величин, сложение и введение поправок на погрешности измерения интенсивностей, связанные с колебаниями парциального давления в ионном источнике в процессе записи спектра. Вычитание спектров выполняется в основном с целью исключения фона из спектров анализируемого образца. Этот прием может оказаться весьма эффективным применительно к разделению плохо разрешенных хроматографических пиков, в результате чего можно получить чистые спектры составляющих компонентов. При сложении в результате усреднения сигналов достигается качественное улучшение спектра. Этот прием применяют в тех случаях, когда анализируемый компонент, присутствующий в малых количествах, характеризуется спектром слабой интенсивности. [c.315]


    Из уравнения (II 1.9) следует, что для определения дозы при помощи окрашенных пленок из поливинилового спирта необходимо знать только степень их обесцвечивания, так как толщина пленки может быть стандартной. В связи с тем, что одна из полос поглощения поливинилового спирта, содержащего метиленовую голубую, находится в видимой части спектра, то для определения степени обесцвечивания пленок могут применяться не только спектрофотометры, но и фотоэлектроколориметры и колориметры различной конструкции, в том числе самые простейшие. Если известен интервал доз, в котором предполагается проводить измерения, то степень обесцвечивания, а следовательно, и величина дозы могут определяться визуально сравнением окраски пленок с цветной шкалой. Для проведения этих измерений не требуется никакой специальной подготовки оператора. Как известно, при хорошо подобранной цветной шкале погрешность измерений при визуальных определениях не превышает 5%. [c.59]

    Интерпретация изотопных пиков молекулярных ионов целесообразна только при достаточно высокой интенсивности самих этих пиков (I или П уровней, т. е. не менее 1% суммарного ионного тока). В противном случае погрешности измерения интенсивностей слабых сигналов становятся слишком большими и такой анализ невозможен. Следует также учитывать, что изотопные пики [М+1] могут быть завышены за счет перекрывания с сигналами протонированных молекулярных ионов 1М-1-Н]+ и фоновыми сигналами. Завышение интенсивностей пиков [М-1-1] вследствие протонирования иногда достигает 0,1—0,5% от максимального пика спектра, так что пренебречь этой величиной можно только при высокой интенсивности пиков молекулярных ионов. Эффект протонирования в наибольшей степени проявляется у соединений, содержащих кратные связи и (или) гетероатомы, и связан, в основном, с наличием следов воды в приборе. [c.65]

    Необходимо получить спектры нейтральной молекулы и иона. Для этого снимают спектры поглощения исследуемого вещества в сильнощелочной (pH г 12) и в сильнокислой (pH 2) средах. Если вещество является основанием, в первом случае получится спектр нейтральной молекулы, во втором — спектр иона. Для контроля снимают спектры в растворах с pH ж 13 и pH ж 1. Если отклонения в оптической плотности не превышают погрешности измерения (1%), можно считать, что растворы содержат частицы только одного сорта. [c.185]

    Спетнер Л. М. Погрешности измерения спектра, возникающие вследствие конечной длительности реализации. — В кн. Определение параметров случайных процессов. Пер. с англ. Киев, Гостехиздат УССР, 1962. [c.205]

    Погрешность определения волновых чисел или длин волн. Если шкала прибора калибрована в делениях волновых чисел или длин волн, то в паспорте прибора обычно указана погрешность измерения данных величин. Для призменных приборов погрешность измерения волновых чисел — величина переменная н зависит от волнового числа. Если же нет указаний на точность измерения волнового числа, то принимается за точность минимальный отсчет по шкале. Если шкала прибора не калибрована, то при определении каждого отсчета в спектре стандартного вещества, по которому производится калибрование шкалы, допускается пог1)ешность. Значения волновых чисел или длин волн в спектре стандартного вещества принимаются за точные. Погрешности зависят от ширины спектральных линий или полос поглощения и от других факторов. [c.67]

    Иногда под М. а. понимают только установление строения хим. соединений. При этом сначала определяют его эмпирич. ф-лу по данным качеств, и количеств, элементного анализа. Эмпирич. ф-лу и мол. массу соединения можно также определить масс-спектрометрически, напр, с помощью масс-спектрометрии высокого разрешения (погрешности измерения масс ионов 10 " -10 атомных едшшц). Спектроскопия в видимой и УФ областях позволяет установить класс (тип) соединения, наличие в его молекуле хромс -форов. С помощью ИК спектроскопии осуществляют функцион. анализ в-в. Большой объем информации о строении хим. соединения дает спектроскопия ЯМР и масс-спектро-метрия. Совместное употребление данных ЯМР, оптических и масс-спектров в подавляющем большинстве случаев позволяет однозначно установить строение хим. соединения. Дополнительно используют рентгеноструктурный анализ, рентгеноэлектронную спектроскопию и др. методы. Автоматизир. системы установления строения орг. в-в включают помимо набора спектральных, хроматографич. и комбинир. приборов также ЭВМ, банки спектральных данных и пакеты программ для ЭВМ, позволяющие обрабатывать полученные спектры, сравнивать их с данными банков, устанавливать и использовать спектрально-структурные корреляции и т. п. [c.120]

    Имеются фурье-спектрометры для пол чения спектров в разл. областях - от неск. см до десятков тыс. см в т.ч. спектров комбинац. рассеяния. На ИК фурье-спевггрометрах достигнуго разрешение до 1,3 10 см , точность определения волнового числа до lO" см". Созданы приборы для видимой и УФ областей, на к-рых получают, в частности, эмиссионные спектры ряда элементов (U, Np, Pd, Но и др.) с воспроизводимостью волновых чисел 210" см при (SIN) > 10 . Чувствительность аналит. определений на фурье-спектрометре обычно в 100-1000 раз выше, производительность в сотни раз больше, погрешности измерений на порядок меньше, чем в случае использования дисперсионных приборов. Пределы обнаружения ряда в-в достигают долей нг, а использование микроскопа позволяет анализировать включения в образцах размерами 10х 10 мкм . С помощью ФС можно изучать кинетику р-ций, протекающих за время ок. 1 мс. [c.222]

    Относительный вклад перечисленных факторов зависит от спектра поглощения анализируе.мого вещества, особенностей прибора и условий анализа. Очевидно, что при последовательных измерениях одного объекта, не связанных с перестановкой кювет, включением и выключением пр11бора, погрешность результатов можно оценивать величиной Хсх-В остальных случаях следует использовать Хвоспр или величину с. о. оптической плотности характеризующую суммарную погрешность измерения без разделения ее на составляющие погрешности. [c.13]

    С целью минимизации составляющей погрешности измерения площадей фотопиков необходимо снизить степень интерференции гамма-квантов, которая определяется как отношение активностей мешающего и определяемого радионуклидов, и зависит от сечений ядерных реакций, периодов полураспада соответствующих радионуклидов и доли выхода гамма-квантов на распад. В работах [26, 27] методом численного моделирования спектров гамма-квантов проб заданного состава определены оптимальные условия облучения и выдержки с тем, чтобы свести к минимуму или полностью исключ1ггь интерференцию при анализе образцов горных пород, содержащих до 40 элементов. Авторы [26] предлагают пакет компьютерных программ, которые можно использовать для определения оптимальных условий облучения при нейтронно-активационном анализе практически любых материалов. Оценки различных неопределенностей, контроль аналитических погрешностей, разработка программ исследований и требования к качеству НАА рассмотрены в работах [28-33]. [c.8]

    Изгибные колебания тонких дисков удобно использовать для идентификации типов колебаний, соответствующих всему измеренному спектру собственных или резонансных частот. В силу относительно невысокой изгибной жесткости тонких пластин две низшие моды изгибных колебаний обычно имеют собственные частоты, меньшие частот, соответствующих другим модам. Поэтому можно рекомендовать по двум измеренным низшим частотам колебаний дисков вычислить ориентировочные значения характеристик упругости, по ним рассчитать весь интересующий участок спектра собственных частот, по которому можно определить уточненные значения характеристик упругости, а также степень их неоднородности. Точное определение свойств материала при изгибных колебаниях затруднено сильной зависимостью собственных частот от толщины, вследствие чего при малых размерах образцов непаралдельность плоских поверхностей может привести к заметным погрешностям вычислений. Последнее особенно важно для керамических образцов. [c.76]

    Спектральная плотность акустической эмиссии при фрикционном взаимодействии твердых тел. Существенный вклад в АЭ при трении вносит непре -рывная составляющая, регистрация и анализ которой и составляют основу АЭ-трибомониторинга. Для его осуществления наиболее эффективно использование параметров, основанных на анализе частотных спектров непрерывной АЭ и сопоставлении интенсивности их различных частотных составляющих. При этом существенно уменьшаются погрешности, связанные с различием характеристик датчиков, их монтажом и перестановкой. Однако измерение спектров в широкой полосе частот весьма трудоемко. Поэтому разумным представляется развитый нами подход [56], основанный на сопоставлении интенсивностей двух-трех спектральных составляющих АЭ-процесса, совпадающих с основными собственными частотами применяемого датчика. Выбор последних определяется характером конкретной задачи мониторинга. Для обоснования выбора указанных частот необходимо знать основные закономерности формирования частотного спектра АЭ при трении. [c.185]

    Вклад в погрешность измерений вносит нестабильность аппаратуры, поскольку сопоставляются спектры, полученные неодновременно, а также дифференциальный (неодинаковый для различных фрагментов) спад намагниченности за время от первого импульса до начала считывания, неидеальность импульсов на частоте ядер С и Н, разброс реальных значений У вокруг среднего, влияние дальних КССВ Неточность определения и неоднородность импульсов на частоте ядер С будем характеризовать углами а и 2а — отклонениями от номинальных значений углов п/2 и п соответственно (см рис 1 14) Углы р и ф — отклонения направления эффективного поля эфф от оси х во вращающейся системе [c.63]

    Рж. 19-17. Гяпотетичесжий спектр поглощения определяемого вещества. Для уменьшения спек-трофотометричеокой погрешности измерение поглощения следует делать п.ри длине волны, соответствующей плоскому участку на широкой полосе поглощения (объяснения см. в тексте). [c.649]

    Измерение толщины изделий эхо-методом по второму способу основано на частотном анализе многократных отражений эхо-сиг-налов, подаваемых на амплитудно-частотный анализатор спектра. При совпадении частоты многократных отражений с частотой анализатора, на выходе последнего появляются сигналы, временное положение которых при жесткой связи частотной и временной разверток указывает на значение толщины. Этот способ позволяет уменьшить погрешности измерения толщины в диапазоне 0,5—10,0 мм до 2 % (погрешность эхо-толщиномеров для измерения временного интервала достигает 3—10 %). Толщиномеры Кварц-3 и приставка Мираж , измерение которыми основано на этом принципе, позволяют контролировать отклонение толщины с погрешностью 2 % в диапазоне толщин 1,5—10 мм. [c.190]

    Наибольшее распространение получили детекторы на основе фосфатных стекол, активированных серебром. Атомарное серебро обладает широкой полосой поглощения с максимумом при 340 нм и люминесцирует в желтой области спектра с максимумом при 600 нм [318]. Интервал доз, измеряемых с помощью радиофотолюминесцентных детекторов, составляет 0,1 — 100 Дж/кг. Погрешность измерения при этом достигает 15%. Для радиофотолюминесцентных детекторов характерна высокая чувствительность при их малом размере, способность накапли- [c.236]

    На практике в качестве эталонов оптической плотности используют чаще всего растворы стабилвных неорганических соединений, обладающих сравнительно пологими спектрами в ультрафиолетовой и видимой областях спектра [64]. Из них наибольшее распространение получил 0,006006%-ный раствор бихромата калия в 0,01 н. серной кислоте. Оптическая плотность этого раствора неоднократно измерялась на приборах разных типов [65 66 67, с. 134 и цитированная там литература ]. При этом сообщаемые разными авторами величины колеблются в довольно широких интервалах 0,7464—0,7670 для 235 нм 0,8660—0,8793 для 257 нм 0,2865—0,2955 для 313 нм и 0,6408—0,6475 для 350 нм. Эти колебания можно объяснить не только погрешностями измерений и различиями между приборами [c.14]

    Для изучения описанных здесь закономерностей мы исследовали спектры поглощения в УФ-области ацетилацетоната родия н некоторых других р-дикетонатов А1, Сг, МпиРе. Все исследуемые вещества синтезированы по известным методикам и очищены многократной перекристаллизацией. Состав вещества по данным элементарного анализа отличается от теоретически вычисленного в пределах 0,5%. Методика измерения спектров описана нами в работе [6]. Разложение спектров поглощения на гауссовы компоненты проводилось определением числа и положения компонентов по методу, описанному в работе [7], с последующим уточнением параметров кривых по методу наименьших квадратов на электронно-вычислительной машине М-20. При этом отклонение суммарной кривой компонентов от экспериментальной характеризовалось средней квадратичной погрешностью  [c.329]

    I МХ-1310 при разрешающей способности 10—12 тысяч. В табл. 1.2 представлена распечатка участка масс-спектра с точными значениями масс там же указываются погрешности определения реперных пиков ПФК, обработанных по полиномам третьей степени, и количество ионов в каждом пике по отношению к пику массой 69 (/еэ), содержащему 25 000 ионов. В табл. 1.3 приведена погрешность определения массы характеристических ликов пробы, а в табл. 1.4 — различные варианты брутто-формул лаппоконитина предполагается, что погрешность измерения массы составляет 1-10 и что максимально возможное число атомов N и О не более шести з вездочкой отмечены составы, фактически соответствующие М ыч- [c.31]

    Рассмотрим влияние результатов измерения оптической плотности раствора прн разных длинах волн на чувствительность и погрешность фотометрического определения. Допустим, что рассматриваемый комплекс имеет спектр поглош,ения, показанный на. рис, 2.8, а. Выберем участки спектра, где анализируемое соединение поглощает лучи максимально (при к = 550 им) и минимально (при % = 640 нм). Затем, приготовив окрашенные растворы с различными конпентращ1Ями так, чтобы < С.2 < g, измерим их оптические плотности при макс и А,мин- Для обеих длин волн построим графическую зависимость оптической плотности от концентрации раствора определяемого вещества (см. рис. 2.8, б). Из рисунка видно, что при изменении концентрации вещества в интервале от j до С. (АС) соответствующее ему изменение оптической плотности АЛ будет гораздо больше при Кхякс, чем при 1мин- Так как практическая погрешность измерения оптической плотности раствора приблизительно одинакова, то изменение концентрации АС (погрешность определения) будет гораздо больше при чем при Kia - Угловой коэффициент зависи- [c.44]

    В работе [121 ] показано, что обработка информации с помощью ЭВМ позволяет уменьшить погрешности измерений на спектро-фотохметрах в УФ-области. [c.85]

    Назначение. Те.хнические данные. Однолучевой фотоколориметр КФК-2 предназначен для. измерения пропускания, оптической плотности и концентрации окрашенных растворов, рассеиваюш,их взвесей, эмульсий и коллоидных растворов в области спектра 315—980 нм. Пределы измерения пропускания 100—5% (Л = = 0ч-1,3). Основная абсолютная погрешность измерения пропускания 1%. Характеристики светофильтров представлены в табл. 6.2. [c.164]


Смотреть страницы где упоминается термин Погрешности измерения спектров: [c.179]    [c.121]    [c.20]    [c.188]    [c.332]    [c.526]    [c.723]    [c.75]    [c.106]    [c.155]    [c.167]    [c.44]   
Смотреть главы в:

Аппаратурный спектральный анализ сигналов -> Погрешности измерения спектров




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Погрешности измерения, обусловленные конечным временем интегрирования. Результаты Райса. Различные методы анализа случайных процессов О возможностях сжатия спектра

Погрешность

Погрешность измерений



© 2025 chem21.info Реклама на сайте